產品中(zhong)心

• 氫(qing)檢儀(yi)氣密性(xing)檢漏(lou)檢測(ce)儀(yi)
• 國(guo)產源(yuan)表(biao)，替(ti)代(dai)keithley
  • > 替(ti)代進口(kou)功率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 替(ti)代(dai)進口(kou)電(dian)源(yuan)
  • > 替代(dai)進口(kou)環境試(shi)驗箱(xiang)
  • > 國產替(ti)代(dai)進口(kou)射(she)頻儀(yi)器(qi)
  • > 替(ti)代(dai)進口(kou)高(gao)阻表(biao)
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池(chi)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻替代HIOKI
  • > SMU源(yuan)表(biao)替(ti)代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬用(yong)表(biao)/信(xin)號源(yuan)替代(dai)是德(de)
• 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗分析儀(yi)
  • > 電(dian)橋(qiao)LCR
• 體(ti)積電(dian)阻率(lv)/表(biao)面電(dian)阻測(ce)試
• 半(ban)導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介(jie)電(dian)常數(shu)/電(dian)導率(lv)測(ce)試方(fang)案(an)
• 大(da)眾VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準測(ce)試
  • > 微(wei)中斷(duan)
• 電(dian)化(hua)學(xue)工(gong)作站(zhan)/恒(heng)電(dian)位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池(chi)/光(guang)伏/汽(qi)車(che)充電(dian)樁測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測(ce)試
  • > 靜(jing)電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重錘(chui)表(biao)面靜(jing)電(dian)電(dian)阻/電(dian)阻率(lv)
  • > 靜(jing)電(dian)場/靜(jing)電(dian)消散/離(li)子平(ping)衡
  • > 離(li)子風(feng)機/無風(feng)型(xing)靜(jing)電(dian)消除器
  • > 手腕帶防(fang)靜(jing)電(dian)工(gong)鞋(xie)人(ren)體(ti)綜合測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜(jing)電(dian)吹(chui)吸(xi)塵器(qi)/抽(chou)煙(yan)機
  • > EMIT工(gong)位(wei)接地(di)電(dian)阻監測(ce)儀(yi)
  • > 平(ping)板測(ce)試儀(yi)/離(li)子風(feng)機測(ce)試儀(yi)/靜(jing)電(dian)監測(ce)器
  • > 靜(jing)電(dian)電(dian)荷庫(ku)倫電(dian)量(liang)/衰(shuai)減(jian)
• 體(ti)積電(dian)阻，電(dian)阻計，記(ji)錄儀(yi)
  • > 高(gao)阻表(biao)/高(gao)阻計
  • > 耐壓絕緣漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)/阻抗分析儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 萬用(yong)表(biao)/多用(yong)表(biao)
  • > 電(dian)能(neng)質(zhi)量(liang)分(fen)析儀(yi)
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集記(ji)錄儀(yi)
  • > 微(wei)電(dian)阻計/微(wei)歐(ou)姆(mu)計
• 吉時利KEITHLEY/泰(tai)克Tektronix
  • > 半導體(ti)圖(tu)示(shi)儀(yi)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > 皮安表(biao)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集/開關矩(ju)陣
  • > 高(gao)阻表(biao)/靜(jing)電(dian)計
  • > 源(yuan)表(biao)
  • > 電(dian)源(yuan)
  • > 萬用(yong)表(biao)
  • > 函(han)數(shu)信號發生器
• 安捷(jie)倫Agilent/是德(de)KEYSIGHT
  • > 移動(dong)通(tong)信專用(yong)電(dian)源(yuan)，帶電(dian)池(chi)仿(fang)真
  • > 射(she)頻RF/脈(mai)沖(chong)碼(ma)型(xing)發生器
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 萬用(yong)表(biao)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > 手持(chi)式示波(bo)表(biao)/手(shou)持(chi)式小表(biao)
  • > 函(han)數(shu)信號發生器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀(yi)
  • > 源(yuan)表(biao)/高(gao)阻表(biao)/皮安表(biao)微(wei)安計(ji)
  • > 頻(pin)率(lv)計(ji)/頻(pin)譜儀(yi)/網絡(luo)分析儀(yi)
• 愛斯佩克ESPEC環境試(shi)驗箱(xiang)
  • > 穩定性(xing)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 小型(xing)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 快速溫(wen)度變(bian)化(hua)濕(shi)熱試驗箱(xiang)
  • > 溫(wen)度/結露(lu)循(xun)環試(shi)驗箱(xiang)
  • > 冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)試驗箱(xiang)
  • > 烘箱(xiang)/幹燥箱(xiang)/高(gao)溫(wen)試驗箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫(wen)濕(shi)熱試驗箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 鹽霧腐(fu)蝕試(shi)驗箱(xiang)
  • > 步進式恒(heng)溫(wen)老化(hua)試(shi)驗室(shi)
  • > 高(gao)低溫(wen)濕(shi)振(zhen)動(dong)復(fu)合(he)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 高(gao)壓加(jia)速老化(hua)試(shi)驗箱(xiang)
  • > IP砂塵防(fang)水(shui)淋雨試驗箱(xiang)
  • > 快速除濕(shi)設(she)備/除濕(shi)櫃(gui)/惰性(xing)氮(dan)氣防(fang)潮(chao)櫃(gui)
• 普源(yuan)RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
  • > 手持(chi)式示波(bo)表(biao)
  • > 射(she)頻微(wei)波網絡(luo)分析儀(yi)
  • > 可(ke)編(bian)程(cheng)直(zhi)流(liu)電(dian)子負載
  • > 射(she)頻信(xin)號源(yuan)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > 萬用(yong)表(biao)
  • > 直(zhi)流(liu)穩壓電(dian)源(yuan)
  • > 頻譜(pu)分(fen)析儀(yi)
  • > 函(han)數(shu)信號發生器
• Chroma致(zhi)茂/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
  • > 電(dian)源(yuan)自(zi)動(dong)測(ce)試系(xi)統
  • > 光(guang)照度/亮色度測(ce)試
  • > 電(dian)參數(shu)測(ce)量(liang)功(gong)率(lv)計(ji)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 其他測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 耐壓(ya)絕(jue)緣/泄漏(lou)電(dian)流(liu)/接地(di)
  • > 電(dian)子負載
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• 邏(luo)輯分(fen)析儀(yi)/總線協議(yi)測(ce)試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議(yi)分(fen)析
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻(pin)總線協議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線協議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線測(ce)試
  • > 其他虛(xu)擬(ni)示(shi)波(bo)器/協議(yi)解(jie)碼(ma)
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹(gan)擾兼容
  • > 汽(qi)車(che)設備電(dian)源(yuan)故障模(mo)擬(ni)器(qi)
  • > 拋(pao)負載
  • > 電(dian)纜束註(zhu)入(ru)敏(min)感度(du)測(ce)試系(xi)統
  • > 寬(kuan)帶功率(lv)放(fang)大(da)器(qi)
  • > 汽(qi)車(che)電(dian)子電(dian)磁兼容EMC/波(bo)形(xing)
  • > 耦(ou)合去(qu)耦合
  • > 諧(xie)波(bo)和(he)閃爍
  • > 射(she)頻傳(chuan)導抗擾度(du)測(ce)試系(xi)統
  • > 阻尼(ni)振(zhen)蕩磁場(chang)測(ce)試系(xi)統
  • > 振(zhen)鈴波發生器
  • > 電(dian)壓跌(die)落(luo)模(mo)擬(ni)器(qi)
  • > 電(dian)快速瞬變(bian)脈(mai)沖(chong)群(qun)發生器
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > 絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > 安(an)規綜(zong)合測(ce)試儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直(zhi)流(liu)耐(nai)壓測(ce)試儀(yi)
  • > 雷(lei)擊(ji)浪(lang)湧/EMC電(dian)磁兼容測(ce)試
  • > 泄漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > 接地(di)導通電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)發生器
  • > 安(an)規綜(zong)合校準盒(he)
• 美(mei)國(guo)BK PRECISION
  • > 信號源(yuan)等儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子負載
  • > 示波器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬用(yong)表(biao)
  • > 電(dian)源(yuan)
• 愛(ai)色(se)麗(li)X-Rite/電(dian)色NIPPON
  • > 標(biao)準光(guang)源(yuan)/對色(se)燈(deng)箱(xiang)
  • > 色差儀(yi)/測(ce)色儀(yi)/分(fen)光(guang)光(guang)度計
• 梅特勒METTLER
  • > 熱機械(xie)分(fen)析儀(yi)
  • > 分(fen)析天平(ping)
• 紅(hong)外熱像儀(yi)
• ADCMT愛德(de)萬ADVANTEST
  • > 臺式數(shu)字萬用(yong)表(biao)
  • > I-V曲(qu)線測(ce)試系(xi)統
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源(yuan)
  • > 高(gao)阻表(biao)/體(ti)積電(dian)阻率(lv)測(ce)試儀(yi)
  • > 光(guang)功(gong)率(lv)計(ji)/光(guang)波長(chang)計(ji)
• 物料(liao)輪廓顏(yan)色缺(que)料視覺篩選
• 博勒飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀(yi)
  • > 粘(zhan)度(du)計(ji)
  • > 質構分析儀(yi)
  • > 粉(fen)體(ti)流(liu)動(dong)測(ce)試儀(yi)
  • > 恒(heng)溫(wen)水(shui)浴(yu)
  • > 粘(zhan)度(du)標(biao)準液/矽油(you)標(biao)準液
  • > 水(shui)分、固含量(liang)、灰(hui)分測(ce)定儀(yi)
• 金相切割(ge)/鑲嵌(qian)/研磨拋光
  • > 冷(leng)/熱鑲嵌(qian)機
  • > 磨拋機/研磨機
  • > 金相耗材(cai)
  • > 電(dian)子天平(ping)/顯微(wei)鏡(jing)
• 賓(bin)德(de)BINDER試驗箱(xiang)
  • > 二氧化(hua)碳(tan)CO₂培(pei)養箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫(wen)交(jiao)變(bian)氣候箱(xiang)
  • > 真空(kong)幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 微(wei)生物培(pei)養箱(xiang)
  • > 安全幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 幹燥箱(xiang)和(he)烘箱(xiang)
  • > 生物生長(chang)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)箱(xiang)
  • > 超低溫(wen)冰箱(xiang)
• ITECH艾(ai)德(de)克斯/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試專用(yong)電(dian)子負載
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子負載
  • > 回饋式電(dian)網模(mo)擬(ni)器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 可編(bian)程(cheng)三路(lu)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 雙向電(dian)源(yuan)和(he)回饋式負載
  • > 新(xin)能(neng)源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池(chi)/充電(dian)樁測(ce)試系(xi)統
  • > 可(ke)編(bian)程(cheng)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 小功(gong)率(lv)電(dian)子負載
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)和(he)電(dian)子負載壹體(ti)的(de)機器
  • > 大(da)功(gong)率(lv)電(dian)子負載
  • > 能(neng)量(liang)回饋式直(zhi)流(liu)電(dian)子負載
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)子負載
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 新(xin)能(neng)源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池(chi)/充電(dian)樁
  • > 雙極(ji)性(xing)電(dian)源(yuan)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• COSMOS氣體(ti)/鐵(tie)粉(fen)濃度計(ji)
• 羅德(de)與(yu)施瓦(wa)茨R&S（惠(hui)美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠(hui)/長(chang)盛(sheng)/安柏
  • > 半(ban)導體(ti)參數(shu)分析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲器喇(la)叭電(dian)機馬達測(ce)試
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)/電(dian)參數(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 皮安表(biao)/高(gao)阻計/靜(jing)電(dian)計
  • > 直(zhi)流(liu)低電(dian)阻，微(wei)歐(ou)姆(mu)計
  • > 交(jiao)流(liu)低電(dian)阻，電(dian)池(chi)測(ce)試儀(yi)
  • > 線材(cai)，線纜，線束測(ce)試儀(yi)
  • > 脈(mai)沖(chong)線圈(quan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)感測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)容測(ce)試儀(yi)
  • > 溫(wen)度采集記(ji)錄儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)阻抗分析儀(yi)
  • > 高(gao)阻測(ce)試
  • > 安(an)規接地(di)電(dian)阻/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安(an)規耐(nai)壓絕緣
• 標(biao)準源(yuan)/計量(liang)校(xiao)準檢定設(she)備
• 晶(jing)圓、芯(xin)片、屏幕(mu)Particle
• 日(ri)置(zhi)HIOKI/國(guo)產替(ti)代(dai)
• 鎖相放(fang)大(da)器(qi)
• 噪聲/振動(dong)/聲學測(ce)試方(fang)案(an)
• 日(ri)本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲器件測(ce)試設(she)備
• 長(chang)盛(sheng)耐壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻安規測(ce)試
  • > 200mA大(da)電(dian)流(liu)耐(nai)壓儀(yi)
• 永(yong)磁軟磁磁通(tong)量(liang)測(ce)試
• 汽(qi)車(che)電(dian)子標(biao)準波(bo)形(xing)可(ke)編(bian)程(cheng)電(dian)源(yuan)
• SHIMAZU島(dao)津
• 德(de)維創DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀(yi)記(ji)錄儀(yi)
• ARC電(dian)池(chi)絕(jue)熱量(liang)熱儀(yi)/熱安全性(xing)能(neng)
• 德(de)國GMC-I高(gao)美

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