“精"——上海市(shi)先(xian)進(jin)企業(ye)!

“專(zhuan)"——專(zhuan)註(zhu)工業(ye)測(ce)試十六年!

“特"——德國(guo)萊茵(yin)TUV認證(zheng)供(gong)應商(shang)!

“新(xin)"——註(zhu)冊(ce)資本(ben)實繳(jiao)壹(yi)仟萬元!實繳(jiao)資(zi)金(jin)同(tong)行業(ye)中居前(qian)茅(mao)!抗(kang)風險能力(li)強(qiang)!

專(zhuan)業(ye)儀(yi)器(qi)設備(bei)與(yu)測試(shi)方(fang)案供(gong)應商(shang)——上海(hai)堅(jian)融實業(ye)有(you)限公司(si)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jian)友(you)（上海）測量儀(yi)器(qi)有限公司(si)JETYOO INSTRUMENTS，專(zhuan)註(zhu)工(gong)業測試行業(ye)十六年，誌在破(po)舊(jiu)立(li)新！填BU進(jin)口(kou)儀(yi)器(qi)設備(bei)大(da)多數(shu)廠家僅(jin)在國(guo)內設銷(xiao)售(shou)點(dian)，但技術(shu)支(zhi)持薄弱(ruo)甚至(zhi)沒(mei)有(you)，而代理(li)經(jing)銷(xiao)商也只(zhi)做商(shang)務，不做(zuo)售(shou)前(qian)技術(shu)支(zhi)持/測試(shi)方(fang)案和售(shou)後使用(yong)培(pei)訓/維修校準的空白(bai)。我(wo)們(men)的技術(shu)型銷(xiao)售(shou)均(jun)為本(ben)科以上(shang)學歷(li)，且(qie)均有10年以上(shang)測(ce)試(shi)行業(ye)經驗，以(yi)我(wo)們(men)先(xian)進(jin)獨TE的經營理念，與(yu)客戶(hu)互惠互(hu)利合作雙(shuang)贏(ying)，重(zhong)在協(xie)助(zhu)用(yong)戶(hu)采購與(yu)技術(shu)工程(cheng)師的工作(zuo)，提(ti)供(gong)具競爭(zheng)力(li)的供(gong)應鏈(lian)管(guan)理與(yu)售(shou)前(qian)售(shou)後技術(shu)支(zhi)持。

堅(jian)融實業(ye)——致(zhi)力(li)於(yu)為祖國(guo)用(yong)戶(hu)提供(gong)儀(yi)器(qi)設備(bei)售(shou)前(qian)演(yan)示實測(ce)、測(ce)試(shi)方(fang)案應用(yong)、技術(shu)使用(yong)培(pei)訓及(ji)售(shou)後維修計(ji)量，全面(mian)服(fu)務的儀(yi)器(qi)設備(bei)綜(zong)合服(fu)務商!

經(jing)營品牌(pai)及產(chan)品：

壹(yi)、測(ce)試(shi)技術(shu)方(fang)案【我們(men)根(gen)據用(yong)戶(hu)實際應用(yong)，撰(zhuan)寫有(you)上百篇技術(shu)測試(shi)應用(yong)文章】：

USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I²C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xie)議(yi)測試(shi)、半(ban)導(dao)體I-V測(ce)試(shi)、表面(mian)電(dian)阻(zu)/體積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)、靜(jing)電(dian)壓(ya)/離(li)子消(xiao)散(san)衰減、介電常數(shu)/電導率(lv)/阻(zu)抗(kang)分析、GaN/SiC/IGBT特性(xing)分析、IoT低(di)功(gong)耗(hao)、材(cai)料(liao)耐(nai)壓絕緣(yuan)電阻漏電流(liu)、ESD靜(jing)電(dian)放(fang)電/EMC電磁/雷擊浪(lang)湧、材料(liao)高低(di)溫/冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗、大(da)眾(zhong)VW80000/ISO16750標(biao)準測(ce)試(shi)、材(cai)料(liao)切(qie)割(ge)鑲樣磨(mo)拋(pao)金(jin)相(xiang)分析......

二(er)、環(huan)境(jing)可靠性(xing)試(shi)驗/拉力(li)試(shi)驗/幾何精密測(ce)量/機(ji)器(qi)人手(shou)臂：

愛斯(si)佩(pei)克ESPEC/賓(bin)德BINDER/廣(guang)五所(suo)GWS/偉思(si)富奇Weiss-Technik烘箱(xiang)、

高低(di)溫試(shi)驗箱(xiang)、恒溫恒濕箱(xiang)、冷熱(re)沖(chong)擊箱(xiang)、鹽(yan)霧(wu)箱(xiang)。沖(chong)擊跌(die)落機(ji)、振動臺(tai)、英(ying)斯(si)特朗(lang)INSTRON拉力(li)試(shi)驗機(ji)。海(hai)克斯(si)康HEXAGON/蔡(cai)司(si)ZEISS三(san)坐標(biao)測量儀(yi)/智(zhi)能機(ji)械(xie)人手(shou)臂。

三(san)、靜(jing)電(dian)檢測(ce)消(xiao)除(chu)：

DESCO/KLEINWACHTER/ACL防(fang)靜電電(dian)阻(zu)測試儀(yi)、靜(jing)電測試(shi)儀(yi)、離(li)子風機(ji)、靜(jing)電吸塵器(qi)、手(shou)腕帶(dai)防(fang)靜電鞋(xie)ESD測(ce)試儀(yi)、電(dian)荷(he)電(dian)量庫(ku)侖計(ji)、MET ONE百級潔凈室塵(chen)埃(ai)粒(li)子計(ji)。

四(si)、電(dian)子測(ce)量儀(yi)器(qi)：

是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源(yuan)RIGOL/鼎(ding)陽SIGLENT/致(zhi)茂Chroma/羅(luo)德R&S/德國(guo)EA電源(yuan)、電(dian)子負(fu)載、萬用(yong)表、數(shu)據采集、皮(pi)安表、源(yuan)表、靜(jing)電計(ji)、高阻表、半(ban)導(dao)體圖(tu)示儀(yi)、信(xin)號(hao)源(yuan)、示波器(qi)、頻譜(pu)儀(yi)、網(wang)絡分析儀(yi)、功(gong)率(lv)計(ji)、電(dian)池(chi)測(ce)試儀(yi)。孕(yun)龍(long)ZEROPLUS/皇晶Acute邏輯分析儀(yi)、穩(wen)科Wayne Kerr/同(tong)惠TONGHUI LCR電(dian)橋(qiao)、阻(zu)抗(kang)分析儀(yi)、FOTRIC紅(hong)外熱像(xiang)儀(yi)、菊(ju)水KIKUSUI/華(hua)儀(yi)EEC/高美GMC-I耐壓絕(jue)緣(yuan)接地漏電流(liu)測(ce)試(shi)儀(yi)。

五(wu)、生(sheng)物(wu)制(zhi)藥化學(xue)實驗儀(yi)器(qi)/傳感(gan)器：

賽(sai)默(mo)飛Thermo元(yuan)素分析儀(yi)、博勒飛BrookField粘(zhan)度(du)計(ji)、流(liu)變(bian)儀(yi)、島(dao)津(jin)SHIMADZU色譜(pu)/質譜(pu)/光譜(pu)儀(yi)、分光光度(du)計(ji)、梅(mei)特勒METTLER/萬通(tong)Metrohm/賽(sai)多(duo)利斯(si)Sartorius/雷(lei)磁/壹恒水分儀(yi)、滴(di)定儀(yi)、天(tian)平、PH計(ji)、溶(rong)解(jie)氧(yang)測定(ding)儀(yi)、電(dian)化(hua)學(xue)工作(zuo)站、電(dian)導(dao)率(lv)儀(yi)、水(shui)質分析儀(yi)、發(fa)酵罐(guan)、攪拌器(qi)、熱重(zhong)分析儀(yi)、熱(re)機(ji)械(xie)分析儀(yi)。愛色(se)麗X-rite/美能達(da)Minolta色(se)彩分析儀(yi)、光度(du)/亮度(du)/照(zhao)度(du)計(ji)。COSMOS潤(run)滑油(you)鐵粉(fen)濃(nong)度計(ji)。

六、金(jin)相(xiang)設備(bei)耗(hao)材：

賀(he)利氏(shi)Heraeus/標(biao)樂(le)Buehler切(qie)割(ge)機(ji)、研(yan)磨(mo)拋(pao)光機(ji)、鑲(xiang)嵌(qian)機(ji)、顯(xian)微(wei)鏡、硬度計(ji)。

     企業(ye)在(zai)銷(xiao)售(shou)過(guo)程(cheng)中根(gen)據給用(yong)戶(hu)實際測試(shi)使用(yong)撰(zhuan)寫有(you)《芯片集成(cheng)電(dian)路I2C、SPI測試》、《存儲器SD4.1、eMMC5.1測試》、《電(dian)腦(nao)周邊USB3.0、UART測試(shi)》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電(dian)子總線測(ce)試(shi)》、《MVB、WTB總線軌道(dao)交通(tong)測(ce)試(shi)方(fang)案》、《電源(yuan)管(guan)理系統(tong)BMS測(ce)試》、《音視(shi)頻多媒(mei)體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測(ce)試(shi)》、《GB/T國(guo)標、ANSI/ASTM美標之材(cai)料(liao)表面(mian)電(dian)阻(zu)和(he)體積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)方(fang)案》、《防(fang)靜電地板/臺(tai)面(mian)/鞋(xie)服(fu)/橡膠絕緣(yuan)材料/薄(bo)膜(mo)/包(bao)裝(zhuang)材料(liao)ANSI/ESD規(gui)範防(fang)靜電測(ce)試(shi)》、《電子電(dian)器/防(fang)靜電產(chan)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biao)準靜(jing)電(dian)消(xiao)散(san)測試(shi)》、《基於(yu)LCR電(dian)橋/阻(zu)抗分析儀(yi)/網(wang)絡分析儀(yi)之(zhi)介電常數(shu)、電導率(lv)測(ce)試(shi)評估》、《6517B與(yu)B2985A高阻表測(ce)量電阻(zu)/體積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)》、《新(xin)材(cai)料(liao)先(xian)進(jin)半(ban)導(dao)體微(wei)電(dian)流(liu)/微(wei)電(dian)阻(zu)/低(di)噪(zao)聲測試》、《循(xun)環伏安法(fa)CV電(dian)化(hua)學實驗系統(tong)工(gong)作站測(ce)量線性(xing)掃描(miao)伏安特性(xing)CV、電流(liu)-時(shi)間曲(qu)線(xian)I-t、電(dian)勢(shi)、電(dian)沈(chen)積、電阻率(lv)》、《基於(yu)源(yuan)表和(he)轉換(huan)開關(guan)的霍爾(er)效(xiao)應與(yu)範德堡(bao)測試(shi)》、《MOSFET/CMOS/IGBT半(ban)導(dao)體晶體管(guan)特性(xing)曲(qu)線(xian)分析》、《電波(bo)暗(an)室EMC電(dian)磁兼容(rong)測(ce)試(shi)》、《基於(yu)頻譜(pu)分析儀(yi)的EMI輻射(she)預(yu)測試》、《相(xiang)噪(zao)/頻響(xiang)/數字(zi)模(mo)擬高速(su)信(xin)號(hao)采集/射(she)頻微波(bo)測試(shi)》、《音(yin)視(shi)頻綜合(he)測試(shi)分析》、《Wi-Fi/藍牙Bluetooth/LTE/GPS測試(shi)》、《大眾(zhong)VW80000/通(tong)用(yong)GMW3172/ISO7637瞬(shun)態傳(chuan)導抗(kang)擾/ISO16750電源(yuan)故(gu)障(zhang)模(mo)擬標準測(ce)試(shi)》、《鑲嵌(qian)機(ji)、磨(mo)拋(pao)機(ji)在(zai)電子零(ling)部件(jian)中的應用(yong)》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數(shu)據采集監測多路溫度/電(dian)壓/電(dian)阻》、《精密電(dian)流(liu)源(yuan)/納(na)伏表納(na)米(mi)超(chao)導(dao)材(cai)料(liao)，繼電(dian)器開(kai)關(guan)，汽車電(dian)子連(lian)接器(qi)微(wei)小電阻(zu)測試(shi)》、《靜電電(dian)量Static Charge電荷(he)庫(ku)侖Coulomb測(ce)試方(fang)案》、《基於(yu)KEITHLEY6514靜(jing)電計(ji)，DMM7510圖(tu)形萬用(yong)表和(he)高速(su)示波器(qi)之nanogeneration納(na)米(mi)發(fa)電(dian)機(ji)實驗》、《基於(yu)皮(pi)安表的元器(qi)件(jian)/電路(lu)板泄漏電流(liu)，二(er)極(ji)管(guan)暗(an)電流(liu)測(ce)試(shi)》、《基於(yu)KEITHLEY2460-EC電(dian)化學(xue)工作站/恒電位測試(shi)》、《石墨烯/碳納米(mi)/晶體管(guan)測試》、《半(ban)導(dao)體材(cai)料(liao)SiC，GaN等(deng)電流(liu)/電(dian)壓(ya)特性(xing)分析和功(gong)能測(ce)試(shi)》、《光電(dian)子/納(na)米(mi)電(dian)子器(qi)件(jian)測試(shi)》、《LED照(zhao)明(ming)測試》、《OLED，TFT LCD液晶顯(xian)示集成(cheng)電(dian)路及材料測(ce)試(shi)》、《IoT物(wu)聯網(wang)設備(bei)低(di)功(gong)耗(hao)測(ce)試(shi)》、《大(da)功(gong)率(lv)編(bian)程(cheng)電源(yuan)/負(fu)載的太陽能光伏、新能源(yuan)汽車、充(chong)電樁、燃料(liao)電池(chi)測試(shi)》、《機(ji)電(dian)/材料/生(sheng)物(wu)醫(yi)學(xue)/汽車電(dian)子雲(yun)熱像(xiang)》、《ABS防(fang)抱死(si)制動系統(tong)、SRS汽車安全(quan)氣(qi)囊、TPMS胎壓(ya)監測測試系統(tong)》、《薄(bo)膜(mo)/膠(jiao)片介電擊穿(chuan)/電(dian)氣(qi)強(qiang)度(du)試驗》、《橡(xiang)膠(jiao)/電(dian)芯/陶(tao)瓷(ci)絕緣(yuan)電阻試(shi)驗》、《符(fu)合(he)IEC61215、IEC61730光伏標準耐(nai)壓(ya)測試(shi)方(fang)法》、《GB/T 1695硫(liu)化(hua)橡(xiang)膠擊(ji)穿(chuan)電(dian)壓(ya)強(qiang)度(du)和耐電壓(ya)測定方(fang)法》、《GB/T 24344工(gong)業(ye)機(ji)械(xie)電氣設備(bei)耐(nai)壓試(shi)驗規(gui)範》、《基於(yu)GB/T、IEC、EN、UL、VDE、JIS等(deng)各國(guo)安全(quan)規(gui)範要(yao)求》、《符(fu)合IEC、JIS、UL各類標(biao)準的醫(yi)療(liao)器械泄漏電流(liu)測(ce)試(shi)》、《燈(deng)具/開關(guan)插座/EV充電樁接地電阻(zu)測(ce)試》、《幹(gan)濕球(qiu)、不飽和、濕潤(run)飽和模(mo)式(shi)高壓加速(su)老(lao)化試(shi)驗》、《腐蝕性(xing)物(wu)質高低(di)溫環(huan)境(jing)可靠試(shi)驗》、《汽車電(dian)子零(ling)部件(jian)/內飾(shi)件(jian)高低(di)溫冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗》、《樹(shu)脂(zhi)、塗料、油(you)漆(qi)、膠帶(dai)易燃物(wu)質防(fang)爆(bao)型(xing)高溫烘箱(xiang)》等(deng)上百篇技術(shu)測試(shi)應用(yong)解(jie)決方(fang)案文章，為(wei)工業(ye)測試(shi)行業(ye)做出(chu)了(le)我(wo)們(men)應(ying)有的貢獻(xian)。

     堅(jian)忍(ren)不拔(ba) 圓(yuan)融通(tong)達(da) 是我們(men)秉(bing)承的理念，嚶(ying)其(qi)鳴(ming)矣 求其(qi)友(you)聲，我們(men)渴望(wang)跟更(geng)多誌同(tong)道(dao)合的同(tong)仁共建(jian)至(zhi)真(zhen)至(zhi)誠共贏(ying)合作(zuo)，為(wei)祖國(guo)測試(shi)行業(ye)“添磚加瓦(wa)"！

代理(li)授(shou)權證(zheng)/技術(shu)培訓(xun)證：

用(yong)戶(hu)培訓(xun)：