產(chan)品中(zhong)心

• 氫(qing)檢儀(yi)氣密(mi)性(xing)檢漏(lou)檢測(ce)儀(yi)
• 國(guo)產(chan)源表，替代(dai)keithley
  • > 替代(dai)進口(kou)功率分(fen)析儀(yi)
  • > 替代(dai)進口(kou)電源
  • > 替代(dai)進口(kou)環境試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 國(guo)產替代(dai)進口(kou)射頻(pin)儀(yi)器(qi)
  • > 替代(dai)進口(kou)高阻(zu)表
  • > 電池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池(chi)絕(jue)緣電阻(zu)替代(dai)HIOKI
  • > SMU源(yuan)表替代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用(yong)表/信號源替代(dai)是(shi)德(de)
• 體積電阻(zu)率/表面電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)
• 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗分析儀(yi)
  • > 電(dian)橋LCR
• 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
• 介(jie)電常數/電(dian)導率測(ce)試(shi)方案(an)
• 大眾VW80000/通(tong)用(yong)GMW3172/ISO16750標準測(ce)試(shi)
  • > 微中(zhong)斷
• 電(dian)化學工(gong)作站(zhan)/恒(heng)電(dian)位儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
• 電池(chi)/光伏/汽(qi)車充電樁(zhuang)測(ce)試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜電測(ce)試(shi)
  • > 靜電CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘表面靜(jing)電(dian)電阻(zu)/電阻(zu)率
  • > 靜(jing)電(dian)場/靜電(dian)消散(san)/離子(zi)平衡
  • > 離子(zi)風機(ji)/無風型靜(jing)電(dian)消除器(qi)
  • > 手(shou)腕(wan)帶防(fang)靜(jing)電工鞋人(ren)體(ti)綜合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜(jing)電吹(chui)吸(xi)塵(chen)器(qi)/抽煙機(ji)
  • > EMIT工位接(jie)地(di)電阻(zu)監測(ce)儀(yi)
  • > 平板測(ce)試(shi)儀(yi)/離子(zi)風機(ji)測(ce)試(shi)儀(yi)/靜(jing)電監測(ce)器(qi)
  • > 靜(jing)電電(dian)荷庫(ku)倫電量(liang)/衰減(jian)
• 體(ti)積電阻(zu)，電阻(zu)計(ji)，記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > 高阻(zu)表/高阻(zu)計(ji)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣漏電流(liu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋/阻(zu)抗分析儀(yi)
  • > 功(gong)率計(ji)/功(gong)率分(fen)析儀(yi)
  • > 萬(wan)用(yong)表/多(duo)用(yong)表
  • > 電能(neng)質(zhi)量(liang)分析儀(yi)
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 數(shu)據采(cai)集記錄(lu)儀(yi)
  • > 微(wei)電阻(zu)計(ji)/微(wei)歐(ou)姆(mu)計(ji)
• 吉(ji)時(shi)利KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
  • > 半(ban)導體(ti)圖(tu)示儀(yi)
  • > 示波器(qi)
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  • > 函數信號發(fa)生器(qi)
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• 愛(ai)斯佩克(ke)ESPEC環境試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 穩(wen)定性(xing)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
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  • > 冷(leng)熱沖擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 烘(hong)箱(xiang)/幹(gan)燥箱(xiang)/高溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高低溫(wen)濕熱(re)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒濕(shi)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐蝕(shi)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 步進式(shi)恒溫(wen)老化(hua)試驗(yan)室
  • > 高低溫(wen)濕振(zhen)動復合試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高壓加速老(lao)化(hua)試驗(yan)箱(xiang)
  • > IP砂塵(chen)防(fang)水(shui)淋雨試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 快(kuai)速除濕(shi)設備(bei)/除濕(shi)櫃(gui)/惰性(xing)氮(dan)氣防(fang)潮(chao)櫃(gui)
• 普源(yuan)RIGOL/致遠ZLG/鼎陽(yang)SIGLENT
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  • > 萬(wan)用(yong)表
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  • > 頻(pin)譜(pu)分(fen)析儀(yi)
  • > 函數信號發(fa)生器(qi)
• Chroma致茂/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
  • > 電(dian)源自動測(ce)試(shi)系統
  • > 光照度(du)/亮(liang)色(se)度(du)測(ce)試(shi)
  • > 電參數測(ce)量(liang)功率計(ji)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 其(qi)他測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 交(jiao)流(liu)電源(yuan)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣/泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)/接(jie)地(di)
  • > 電子(zi)負載
  • > 直(zhi)流電(dian)源
• 邏輯(ji)分析儀(yi)/總(zong)線(xian)協議(yi)測(ce)試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議(yi)分(fen)析
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻(pin)總(zong)線(xian)協議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線(xian)協議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線(xian)測(ce)試(shi)
  • > 其他虛擬(ni)示波器(qi)/協議(yi)解(jie)碼(ma)
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹(gan)擾兼容(rong)
  • > 汽(qi)車設備電(dian)源(yuan)故(gu)障(zhang)模擬(ni)器(qi)
  • > 拋(pao)負載
  • > 電(dian)纜(lan)束(shu)註(zhu)入敏感度(du)測(ce)試(shi)系統
  • > 寬帶(dai)功(gong)率放(fang)大(da)器(qi)
  • > 汽(qi)車電(dian)子(zi)電磁(ci)兼容(rong)EMC/波(bo)形
  • > 耦合去(qu)耦(ou)合(he)
  • > 諧波(bo)和(he)閃爍(shuo)
  • > 射頻(pin)傳導抗(kang)擾度(du)測(ce)試(shi)系統
  • > 阻(zu)尼(ni)振蕩(dang)磁(ci)場測(ce)試(shi)系統
  • > 振鈴(ling)波(bo)發(fa)生器(qi)
  • > 電(dian)壓跌(die)落(luo)模擬(ni)器(qi)
  • > 電(dian)快速(su)瞬(shun)變(bian)脈(mai)沖群(qun)發(fa)生器(qi)
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 絕(jue)緣電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直(zhi)流耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 雷(lei)擊(ji)浪湧(yong)/EMC電(dian)磁(ci)兼容(rong)測(ce)試(shi)
  • > 接(jie)地(di)導通(tong)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電放電(dian)發(fa)生器(qi)
  • > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)校準盒(he)
• 愛(ai)色麗(li)X-Rite/電色(se)NIPPON
  • > 標準光源/對色燈(deng)箱(xiang)
  • > 色(se)差儀(yi)/測(ce)色(se)儀(yi)/分(fen)光光度(du)計(ji)
• 梅特勒METTLER
  • > 熱(re)機(ji)械分析儀(yi)
  • > 分(fen)析天平
• 物(wu)料(liao)輪廓(kuo)顏(yan)色缺料(liao)視覺(jiao)篩(shai)選
• 博(bo)勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀(yi)
  • > 粘(zhan)度(du)計(ji)
  • > 質(zhi)構(gou)分(fen)析儀(yi)
  • > 粉(fen)體流動測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 恒(heng)溫(wen)水浴(yu)
  • > 粘度(du)標準液(ye)/矽油標準液(ye)
  • > 水分、固(gu)含量(liang)、灰(hui)分(fen)測(ce)定儀(yi)
• 賓(bin)德BINDER試驗(yan)箱(xiang)
  • > 二(er)氧化碳CO₂培養箱(xiang)
  • > 高低溫(wen)交(jiao)變(bian)氣候箱(xiang)
  • > 微(wei)生物(wu)培養箱(xiang)
  • > 真(zhen)空(kong)幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 安(an)全幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 幹(gan)燥箱(xiang)和(he)烘箱(xiang)
  • > 生物(wu)生長(chang)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒濕(shi)箱(xiang)
  • > 超(chao)低(di)溫(wen)冰箱(xiang)
• 金相切割(ge)/鑲嵌(qian)/研磨拋(pao)光
  • > 冷(leng)/熱鑲嵌(qian)機(ji)
  • > 磨拋(pao)機(ji)/研磨機(ji)
  • > 金相耗材
  • > 電(dian)子(zi)天平/顯微鏡(jing)
• 紅外(wai)熱像(xiang)儀(yi)
• 美(mei)國(guo)BK PRECISION
  • > 信號源等儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子(zi)負載
  • > 示波器(qi)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 電源(yuan)
• ADCMT愛(ai)德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺式(shi)數字(zi)萬(wan)用(yong)表
  • > I-V曲線(xian)測(ce)試(shi)系統
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)/恒流(liu)電流(liu)源(yuan)
  • > 高阻(zu)表/體積(ji)電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 光功率計(ji)/光波長(chang)計(ji)
• COSMOS氣體/鐵(tie)粉(fen)濃(nong)度(du)計(ji)
• ITECH艾德克(ke)斯/NGI恩智
  • > LED測(ce)試(shi)專用(yong)電子(zi)負載
  • > 直(zhi)流電(dian)子(zi)負載
  • > 回(hui)饋(kui)式(shi)電(dian)網模擬(ni)器(qi)交(jiao)流(liu)電源(yuan)
  • > 可(ke)編(bian)程(cheng)三路(lu)直(zhi)流電源
  • > 雙(shuang)向電(dian)源和(he)回饋(kui)式(shi)負載
  • > 新(xin)能(neng)源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池(chi)/充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試(shi)系統
  • > 可編(bian)程(cheng)直(zhi)流電(dian)源
  • > 小(xiao)功(gong)率電(dian)子(zi)負載
  • > 大(da)功率直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)和(he)電子(zi)負載壹(yi)體(ti)的機(ji)器(qi)
  • > 大(da)功率電(dian)子(zi)負載
  • > 能(neng)量(liang)回饋(kui)式(shi)直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負載
  • > AC交(jiao)流(liu)電子(zi)負載
  • > 大(da)功率直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 新能(neng)源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池(chi)/充(chong)電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙(shuang)極性(xing)電(dian)源
  • > AC交(jiao)流(liu)電源(yuan)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• 羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦茨(ci)R&S（惠美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠/長(chang)盛/安(an)柏(bai)
  • > 半導體(ti)參(can)數分析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲器(qi)喇(la)叭電(dian)機(ji)馬達(da)測(ce)試(shi)
  • > 功率分(fen)析儀(yi)/電(dian)參數測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 皮(pi)安(an)表/高阻(zu)計(ji)/靜(jing)電(dian)計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，微歐姆計(ji)
  • > 交(jiao)流(liu)低電(dian)阻(zu)，電池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 線(xian)材，線纜(lan)，線(xian)束(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 脈(mai)沖線圈測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 電(dian)感測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 電(dian)容(rong)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 溫(wen)度(du)采(cai)集記錄(lu)儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋阻(zu)抗分析儀(yi)
  • > 高阻(zu)測(ce)試(shi)
  • > 安(an)規(gui)接(jie)地(di)電阻(zu)/漏電流
  • > 安(an)規(gui)耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣
• 標準源(yuan)/計(ji)量(liang)校準檢定設(she)備(bei)
• 晶(jing)圓(yuan)、芯(xin)片、屏幕(mu)Particle
• 日(ri)置HIOKI/國(guo)產(chan)替代(dai)
• 鎖(suo)相放大器(qi)
• 噪聲/振動/聲學測(ce)試(shi)方案(an)
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲器(qi)件測(ce)試(shi)設備
• 長(chang)盛耐壓絕(jue)緣電阻(zu)安(an)規(gui)測(ce)試(shi)
  • > 200mA大電流耐(nai)壓(ya)儀(yi)
• 永磁軟(ruan)磁(ci)磁通(tong)量(liang)測(ce)試(shi)
• 汽(qi)車(che)電子(zi)標準波(bo)形可(ke)編程電(dian)源(yuan)
• SHIMAZU島津(jin)
• 德維創(chuang)DEWETRON
  • > 功率分(fen)析儀(yi)
  • > 數(shu)據采(cai)集儀(yi)記(ji)錄儀(yi)
• ARC電(dian)池(chi)絕(jue)熱量(liang)熱儀(yi)/熱(re)安(an)全性(xing)能(neng)

15000330092
在(zai)線客(ke)服免(mian)費解答(da)