產(chan)品(pin)中(zhong)心

• 氫(qing)檢儀氣密性檢漏(lou)檢測(ce)儀
• 國(guo)產源(yuan)表(biao)，替代(dai)keithley
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)功率分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)電(dian)源(yuan)
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)環(huan)境試驗箱
  • > 國(guo)產替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)射(she)頻(pin)儀(yi)器(qi)
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)高(gao)阻(zu)表(biao)
  • > 電(dian)池測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池絕(jue)緣(yuan)電阻替代(dai)HIOKI
  • > SMU源(yuan)表(biao)替代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用表(biao)/信(xin)號(hao)源(yuan)替(ti)代(dai)是(shi)德
• 體(ti)積電阻(zu)率/表(biao)面電(dian)阻測(ce)試
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電橋LCR
• 半(ban)導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介電常(chang)數/電(dian)導(dao)率測(ce)試方(fang)案(an)
• 大(da)眾(zhong)VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測(ce)試
  • > 微(wei)中(zhong)斷
• 電(dian)化(hua)學(xue)工(gong)作站/恒(heng)電位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池/光(guang)伏(fu)/汽(qi)車(che)充電樁(zhuang)測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測(ce)試
  • > 靜電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重錘(chui)表面靜電(dian)電阻/電阻率
  • > 靜電(dian)場/靜電(dian)消(xiao)散/離子(zi)平衡
  • > 離子(zi)風(feng)機/無風(feng)型(xing)靜電(dian)消(xiao)除器(qi)
  • > 手(shou)腕(wan)帶防靜電(dian)工(gong)鞋(xie)人體(ti)綜(zong)合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防靜電(dian)吹(chui)吸(xi)塵(chen)器(qi)/抽(chou)煙(yan)機
  • > EMIT工(gong)位(wei)接地電阻(zu)監測(ce)儀
  • > 平板測(ce)試儀(yi)/離(li)子(zi)風(feng)機測(ce)試儀(yi)/靜電(dian)監測(ce)器(qi)
  • > 靜電(dian)電荷(he)庫(ku)倫電(dian)量(liang)/衰減
• 體(ti)積電阻(zu)，電阻(zu)計(ji)，記錄儀(yi)
  • > 高(gao)阻表(biao)/高阻計(ji)
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋/阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 功率計(ji)/功率分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 萬(wan)用表(biao)/多用表
  • > 電能(neng)質量分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電池測(ce)試儀(yi)
  • > 數據采(cai)集記錄儀(yi)
  • > 微(wei)電阻(zu)計(ji)/微(wei)歐(ou)姆(mu)計(ji)
• 吉(ji)時利(li)KEITHLEY/泰(tai)克Tektronix
  • > 半(ban)導(dao)體(ti)圖(tu)示儀(yi)
  • > 示波器(qi)
  • > 皮安表(biao)
  • > 數據采(cai)集/開(kai)關(guan)矩陣(zhen)
  • > 高(gao)阻(zu)表/靜電(dian)計(ji)
  • > 源(yuan)表(biao)
  • > 電源(yuan)
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 函(han)數信(xin)號(hao)發(fa)生器(qi)
• 安捷(jie)倫Agilent/是(shi)德(de)KEYSIGHT
  • > 移(yi)動(dong)通信(xin)專用電(dian)源(yuan)，帶電池仿(fang)真(zhen)
  • > 射(she)頻(pin)RF/脈(mai)沖(chong)碼(ma)型(xing)發(fa)生器(qi)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 示波器(qi)
  • > 手(shou)持式示(shi)波表/手(shou)持式小表
  • > 函(han)數信(xin)號(hao)發(fa)生器(qi)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 數據采(cai)集儀(yi)
  • > 源(yuan)表(biao)/高阻表/皮安表(biao)微(wei)安計(ji)
  • > 頻(pin)率計(ji)/頻(pin)譜(pu)儀/網(wang)絡(luo)分(fen)析(xi)儀(yi)
• 愛(ai)斯(si)佩克ESPEC環(huan)境試驗箱
  • > 穩(wen)定性(xing)試驗箱
  • > 小型(xing)恒(heng)溫恒(heng)濕試驗箱
  • > 快(kuai)速(su)溫(wen)度變化(hua)濕熱試驗箱
  • > 溫(wen)度/結(jie)露(lu)循環(huan)試驗箱
  • > 冷熱沖(chong)擊(ji)試驗箱
  • > 烘箱(xiang)/幹燥箱(xiang)/高(gao)溫試驗箱
  • > 高(gao)低溫濕(shi)熱試驗箱
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕試驗箱
  • > 鹽(yan)霧腐(fu)蝕試驗箱
  • > 步進(jin)式(shi)恒(heng)溫老化(hua)試驗室
  • > 高低溫濕(shi)振動(dong)復合(he)試驗箱
  • > 高(gao)壓加速(su)老化(hua)試驗箱
  • > IP砂塵防水(shui)淋(lin)雨試驗箱
  • > 快(kuai)速(su)除濕設(she)備(bei)/除濕櫃(gui)/惰(duo)性氮氣防潮(chao)櫃
• 普源(yuan)RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎陽SIGLENT
  • > 手(shou)持式示(shi)波表
  • > 射(she)頻(pin)微(wei)波網(wang)絡(luo)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 可編程直流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 射(she)頻(pin)信(xin)號(hao)源(yuan)
  • > 數據采(cai)集儀(yi)
  • > 功率計(ji)/功率分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 示波器(qi)
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 直流(liu)穩(wen)壓電(dian)源(yuan)
  • > 頻(pin)譜(pu)分析(xi)儀(yi)
  • > 函(han)數信(xin)號(hao)發(fa)生器(qi)
• Chroma致(zhi)茂/EEC華儀EXTECH
  • > 電源(yuan)自(zi)動(dong)測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 光(guang)照(zhao)度(du)/亮(liang)色(se)度測(ce)試
  • > 電(dian)參(can)數測(ce)量功率計(ji)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 其他(ta)測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)/泄漏(lou)電(dian)流(liu)/接地
  • > 電子(zi)負(fu)載
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)
• 邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)/總線(xian)協議測(ce)試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議分析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻(pin)總線(xian)協議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線(xian)協議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線(xian)測(ce)試
  • > 其(qi)他(ta)虛擬示(shi)波器(qi)/協議解碼(ma)
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹擾兼容
  • > 汽(qi)車(che)設(she)備(bei)電源(yuan)故(gu)障模擬(ni)器(qi)
  • > 拋(pao)負載
  • > 電纜束(shu)註(zhu)入敏(min)感(gan)度(du)測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 寬(kuan)帶功率放(fang)大(da)器(qi)
  • > 汽(qi)車(che)電(dian)子(zi)電(dian)磁兼容EMC/波形
  • > 耦(ou)合(he)去(qu)耦(ou)合(he)
  • > 諧波和閃(shan)爍(shuo)
  • > 射(she)頻(pin)傳(chuan)導(dao)抗擾度測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 阻(zu)尼(ni)振蕩磁場(chang)測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 振鈴(ling)波發生器(qi)
  • > 電(dian)壓跌落模擬(ni)器(qi)
  • > 電(dian)快速(su)瞬(shun)變脈沖(chong)群(qun)發生器(qi)
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)電阻測(ce)試儀(yi)
  • > 絕(jue)緣(yuan)電阻測(ce)試儀(yi)
  • > 安規綜(zong)合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直流(liu)耐(nai)壓(ya)測(ce)試儀(yi)
  • > 泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > 雷擊浪湧(yong)/EMC電磁兼容測(ce)試
  • > 接地導(dao)通電阻測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜電(dian)放電發生器(qi)
  • > 安規綜(zong)合(he)校準盒(he)
• 愛色(se)麗(li)X-Rite/電(dian)色(se)NIPPON
  • > 標準(zhun)光(guang)源(yuan)/對(dui)色(se)燈箱(xiang)
  • > 色(se)差(cha)儀(yi)/測(ce)色(se)儀/分(fen)光(guang)光(guang)度計(ji)
• 梅特勒METTLER
  • > 熱機械(xie)分析(xi)儀(yi)
  • > 分析(xi)天(tian)平
• 物料(liao)輪廓顏色(se)缺(que)料(liao)視(shi)覺篩(shai)選
• 博(bo)勒(le)飛Brookfield
  • > 流(liu)變儀
  • > 粘(zhan)度計(ji)
  • > 質構分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 粉(fen)體(ti)流(liu)動(dong)測(ce)試儀(yi)
  • > 恒(heng)溫水(shui)浴(yu)
  • > 粘(zhan)度標(biao)準液(ye)/矽油標準(zhun)液
  • > 水(shui)分(fen)、固含量、灰分測(ce)定儀(yi)
• 賓(bin)德BINDER試驗箱
  • > 二氧化(hua)碳(tan)CO₂培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 高低溫交(jiao)變氣候(hou)箱(xiang)
  • > 微(wei)生物培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 真(zhen)空幹燥箱(xiang)
  • > 安全(quan)幹燥箱(xiang)
  • > 幹燥箱(xiang)和烘箱(xiang)
  • > 生物生長(chang)箱
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕箱(xiang)
  • > 超低溫冰(bing)箱
• 金(jin)相切(qie)割(ge)/鑲嵌(qian)/研(yan)磨拋光(guang)
  • > 冷/熱鑲(xiang)嵌機
  • > 磨拋(pao)機/研磨(mo)機
  • > 金(jin)相耗(hao)材
  • > 電(dian)子(zi)天(tian)平/顯微鏡(jing)
• 紅(hong)外(wai)熱像(xiang)儀
• 美國BK PRECISION
  • > 信(xin)號(hao)源(yuan)等(deng)儀器(qi)
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 示波器(qi)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 電源(yuan)
• ADCMT愛德(de)萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺式數字(zi)萬(wan)用表(biao)
  • > I-V曲(qu)線(xian)測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源(yuan)
  • > 高(gao)阻表/體(ti)積電阻(zu)率測(ce)試儀(yi)
  • > 光(guang)功率計(ji)/光(guang)波長計(ji)
• COSMOS氣體(ti)/鐵(tie)粉(fen)濃(nong)度計(ji)
• ITECH艾德(de)克斯(si)/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試專用電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 直流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 回饋式(shi)電(dian)網(wang)模擬(ni)器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 可(ke)編程三路(lu)直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 雙(shuang)向(xiang)電源(yuan)和回(hui)饋(kui)式負(fu)載
  • > 新能(neng)源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池/充電樁(zhuang)測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 可(ke)編程直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 小功率電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 大功率直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)和電(dian)子(zi)負(fu)載壹(yi)體(ti)的(de)機器(qi)
  • > 大(da)功率電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 能(neng)量(liang)回饋式(shi)直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > AC交流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 大功率直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 新能(neng)源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池/充電樁(zhuang)
  • > 雙(shuang)極(ji)性(xing)電源(yuan)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• 羅(luo)德與(yu)施(shi)瓦茨R&S（惠(hui)美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠(hui)/長盛/安柏(bai)
  • > 半(ban)導(dao)體(ti)參(can)數分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 揚聲(sheng)器(qi)喇叭(ba)電機馬達測(ce)試
  • > 功率分(fen)析(xi)儀(yi)/電參(can)數測(ce)試儀(yi)
  • > 皮安表(biao)/高(gao)阻(zu)計(ji)/靜電(dian)計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低電阻(zu)，微歐(ou)姆(mu)計(ji)
  • > 交(jiao)流(liu)低電阻(zu)，電池測(ce)試儀(yi)
  • > 線(xian)材，線纜，線束(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 脈(mai)沖(chong)線(xian)圈(quan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)感測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)容測(ce)試儀(yi)
  • > 溫(wen)度采(cai)集記錄儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 高阻測(ce)試
  • > 安規接地電阻(zu)/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安規耐壓(ya)絕緣(yuan)
• 標(biao)準源(yuan)/計(ji)量(liang)校準檢定設備(bei)
• 晶(jing)圓(yuan)、芯片、屏(ping)幕(mu)Particle
• 日(ri)置HIOKI/國產(chan)替代(dai)
• 鎖(suo)相放(fang)大器(qi)
• 噪聲(sheng)/振動(dong)/聲(sheng)學(xue)測(ce)試方(fang)案(an)
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲(sheng)器(qi)件(jian)測(ce)試設(she)備(bei)
• 長(chang)盛(sheng)耐壓絕(jue)緣(yuan)電阻安規測(ce)試
  • > 200mA大(da)電(dian)流(liu)耐(nai)壓(ya)儀(yi)
• 永(yong)磁(ci)軟磁磁通量測(ce)試
• 汽(qi)車(che)電(dian)子(zi)標(biao)準波形可(ke)編(bian)程電源(yuan)
• SHIMAZU島津
• 德維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功率分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 數據采(cai)集儀(yi)記錄儀(yi)
• ARC電(dian)池絕(jue)熱量(liang)熱儀(yi)/熱安全(quan)性(xing)能(neng)

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