產(chan)品中(zhong)心(xin)

• 氫(qing)檢儀(yi)氣密(mi)性(xing)檢(jian)漏(lou)檢測儀(yi)
• 國(guo)產(chan)源(yuan)表，替代keithley
  • > 替代進(jin)口(kou)功(gong)率分析(xi)儀(yi)
  • > 替代進(jin)口(kou)電(dian)源
  • > 替代進(jin)口(kou)環(huan)境(jing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 國(guo)產(chan)替代進(jin)口(kou)射(she)頻儀器(qi)
  • > 替代進(jin)口(kou)高(gao)阻(zu)表
  • > 電(dian)池測試儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)替代HIOKI
  • > SMU源表替代KEITHLEY2400
  • > 萬用(yong)表/信號(hao)源替代是德(de)
• 體(ti)積電(dian)阻(zu)率(lv)/表面電(dian)阻(zu)測(ce)試
• 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)橋LCR
• 半(ban)導體(ti)I-V/C-V/I-R測試
• 介電(dian)常數(shu)/電(dian)導率測(ce)試方案
• 大眾(zhong)VW80000/通(tong)用GMW3172/ISO16750標準測試
  • > 微(wei)中(zhong)斷(duan)
• 電(dian)化學工(gong)作站/恒電(dian)位儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池/光伏/汽(qi)車(che)充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測試
  • > 靜(jing)電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘(chui)表面靜(jing)電(dian)電(dian)阻(zu)/電(dian)阻(zu)率(lv)
  • > 靜(jing)電(dian)場/靜電(dian)消散/離子平衡
  • > 離子風(feng)機/無(wu)風型(xing)靜(jing)電(dian)消除器(qi)
  • > 手(shou)腕帶(dai)防(fang)靜電(dian)工(gong)鞋(xie)人體(ti)綜合測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜電(dian)吹(chui)吸塵(chen)器(qi)/抽(chou)煙(yan)機
  • > EMIT工(gong)位接(jie)地電(dian)阻(zu)監(jian)測(ce)儀(yi)
  • > 平板(ban)測試儀(yi)/離子風(feng)機測(ce)試儀(yi)/靜電(dian)監測器(qi)
  • > 靜電(dian)電(dian)荷(he)庫(ku)倫(lun)電(dian)量(liang)/衰(shuai)減(jian)
• 體(ti)積電(dian)阻(zu)，電(dian)阻(zu)計(ji)，記(ji)錄儀
  • > 高(gao)阻(zu)表/高(gao)阻(zu)計(ji)
  • > 耐壓(ya)絕緣(yuan)漏(lou)電(dian)流(liu)測試儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋/阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 功率(lv)計/功率分析(xi)儀(yi)
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• 吉時(shi)利KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
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  • > 快速(su)溫度變化(hua)濕熱試驗(yan)箱(xiang)
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  • > I²C、I²S、SPI總線(xian)協議
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  • > 其(qi)他虛擬示(shi)波器(qi)/協議解(jie)碼(ma)
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)兼容(rong)
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  • > 拋負(fu)載(zai)
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  • > 諧(xie)波和閃爍(shuo)
  • > 射(she)頻傳(chuan)導抗(kang)擾(rao)度測試系(xi)統
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  • > 振鈴(ling)波發(fa)生(sheng)器(qi)
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  • > 耐壓(ya)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > 絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > 安規綜(zong)合測(ce)試儀(yi)
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  • > 雷擊浪湧(yong)/EMC電(dian)磁(ci)兼容(rong)測(ce)試
  • > 接(jie)地導通(tong)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜電(dian)放(fang)電(dian)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 安規綜(zong)合校(xiao)準盒
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• 物(wu)料輪廓(kuo)顏(yan)色(se)缺料(liao)視覺(jiao)篩選
• 博(bo)勒飛(fei)Brookfield
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  • > 質(zhi)構分析(xi)儀(yi)
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  • > 水分、固含(han)量(liang)、灰(hui)分測(ce)定(ding)儀
• 賓德(de)BINDER試驗(yan)箱(xiang)
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  • > 高(gao)低(di)溫交變(bian)氣候箱(xiang)
  • > 微(wei)生物(wu)培養箱(xiang)
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  • > 安全幹(gan)燥箱(xiang)
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  • > 冷/熱(re)鑲嵌(qian)機
  • > 磨拋機(ji)/研(yan)磨機
  • > 金(jin)相(xiang)耗(hao)材(cai)
  • > 電(dian)子天(tian)平/顯(xian)微(wei)鏡
• 紅外熱像(xiang)儀(yi)
• 美(mei)國(guo)BK PRECISION
  • > 信(xin)號(hao)源(yuan)等儀器(qi)
  • > 電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 萬用(yong)表
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛(ai)德(de)萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式(shi)數(shu)字萬(wan)用(yong)表
  • > I-V曲(qu)線測(ce)試系(xi)統
  • > 直流(liu)電(dian)源/恒流(liu)電(dian)流(liu)源
  • > 高(gao)阻(zu)表/體(ti)積電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)
  • > 光功率(lv)計/光波長計
• COSMOS氣體(ti)/鐵(tie)粉濃(nong)度計
• ITECH艾(ai)德(de)克(ke)斯/NGI恩(en)智
  • > LED測試專(zhuan)用電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 回饋(kui)式(shi)電(dian)網模擬器(qi)交流(liu)電(dian)源
  • > 可(ke)編程(cheng)三(san)路(lu)直流(liu)電(dian)源
  • > 雙向電(dian)源和回(hui)饋式(shi)負(fu)載(zai)
  • > 新(xin)能源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試系(xi)統
  • > 可(ke)編程(cheng)直流(liu)電(dian)源
  • > 小功(gong)率電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 大功(gong)率直流(liu)電(dian)源和電(dian)子負(fu)載(zai)壹體(ti)的機(ji)器(qi)
  • > 大功(gong)率電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 能量(liang)回(hui)饋(kui)式(shi)直流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > AC交流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 大功(gong)率直流(liu)電(dian)源
  • > 新(xin)能源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙(shuang)極性電(dian)源
  • > AC交流(liu)電(dian)源
  • > 直流(liu)電(dian)源
• 羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦茨R&S（惠美(mei)HAMEG）
• 同惠(hui)/長盛/安柏(bai)
  • > 半導(dao)體(ti)參(can)數(shu)分析(xi)儀(yi)
  • > 揚聲(sheng)器(qi)喇叭電(dian)機馬(ma)達測(ce)試
  • > 功(gong)率分析(xi)儀(yi)/電(dian)參(can)數(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 皮安表/高(gao)阻(zu)計(ji)/靜(jing)電(dian)計
  • > 直流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，微(wei)歐(ou)姆計
  • > 交流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，電(dian)池測試儀(yi)
  • > 線材(cai)，線(xian)纜(lan)，線(xian)束(shu)測試儀(yi)
  • > 脈沖線(xian)圈測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)感測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)容(rong)測(ce)試儀(yi)
  • > 溫度采集記(ji)錄儀
  • > LCR電(dian)橋阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 高(gao)阻(zu)測(ce)試
  • > 安規接(jie)地電(dian)阻(zu)/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安規耐壓(ya)絕緣(yuan)
• 標準源/計(ji)量(liang)校(xiao)準檢定(ding)設備
• 晶圓(yuan)、芯(xin)片、屏幕(mu)Particle
• 日置(zhi)HIOKI/國(guo)產(chan)替代
• 鎖(suo)相放(fang)大器(qi)
• 噪聲(sheng)/振動/聲(sheng)學測試方案
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲(sheng)器(qi)件測試設備
• 長盛耐壓(ya)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)安規測(ce)試
  • > 200mA大電(dian)流(liu)耐壓(ya)儀
• 永磁(ci)軟磁(ci)磁(ci)通(tong)量(liang)測(ce)試
• 汽車(che)電(dian)子標準波形(xing)可(ke)編程(cheng)電(dian)源
• SHIMAZU島(dao)津
• 德(de)維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率分析(xi)儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀(yi)記錄儀
• ARC電(dian)池絕熱(re)量(liang)熱(re)儀(yi)/熱安全性(xing)能

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