Keysight是(shi)德B298絕(jue)緣(yuan)材(cai)料電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)

Keysight是(shi)德B298絕(jue)緣(yuan)材(cai)料電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)

Keysight是(shi)德B298絕(jue)緣(yuan)材(cai)料電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)序言(yan)

Keysight B298和 B2987A靜(jing)電計(ji)/高(gao)阻(zu)表(biao)通(tong)過在前(qian)面(mian)板(ban)上提供的電阻(zu)或(huo)電流(liu)隨(sui)時(shi)間(jian)的變化(hua)信(xin)息(xi)， 簡(jian)化(hua)了絕(jue)緣(yuan)材(cai)料表(biao)面電阻(zu)率(lv)和(he)體積(ji)電阻(zu)率(lv)的表(biao)征(zheng)。
您可用(yong) Keysight 16008B電阻(zu)盒對薄膜或(huo)片(pian)狀(zhuang)材(cai)料的表(biao)面電阻(zu)率(lv)或(huo)體積(ji)電阻(zu)率(lv)進(jin)行測量(liang)， 還能用(yong)定(ding)制(zhi)的電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)夾具(ju)來測(ce)量(liang)其(qi)他形(xing)狀(zhuang)的樣(yang)品。
Keysight B298和(he)B2987A靜電計(ji)/高(gao)阻(zu)表(biao)具(ju)有*的10aA(0.01fA) 電流(liu)測量(liang)分(fen)辨(bian)率(lv)， 使(shi)用(yong)內(nei)置的1000V電壓源可測量(liang)zui高(gao)10PΩ (10 16Ω)電阻(zu)。
根(gen)據(ju)ASTM D257標(biao)準(除(chu)非(fei)另作(zuo)說(shuo)明(ming))， 絕(jue)緣(yuan)和(he)表(biao)面電阻(zu)通(tong)常是(shi)在施加(jia)測(ce)試電壓(帶(dai)電)60秒(miao)之(zhi)後(hou)測(ce)得， 因此(ci)能(neng)夠測量(liang)這(zhe)些(xie)參(can)數(shu)隨(sui)時(shi)間(jian)的變化(hua)是(shi)很(hen)重要(yao)的。
B298和 B2987A提供計時(shi)器(qi)觸(chu)發和(he)運算(suan)功(gong)能(neng)， 可在的時(shi)間(jian)對測量(liang)數(shu)據進(jin)行計(ji)算， 以得出(chu)不(bu)同(tong)點(dian)上的電阻(zu)率(lv)數(shu)據。 另外， B298/B2987A還在顯示屏上提供電阻(zu)率(lv)與(yu)測試時(shi)間(jian)的趨(qu)勢(shi)圖(tu)， 使用(yong)戶(hu)能夠(gou)查看(kan)在記錄(lu)zui終電阻(zu)率(lv)值(zhi)之前的電阻(zu)率(lv)變化(hua)。
本(ben)技(ji)術(shu)概(gai)述(shu)介(jie)紹了如(ru)何(he)使(shi)用(yong)B298/87A和(he)16008B進行(xing)的電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)。
註(zhu): B2987A 提供內置充電電池(chi)選(xuan)件， 在不(bu)接(jie)到交流(liu)電的情況(kuang)下也(ye)能(neng)正常(chang)操(cao)作(zuo)。
本(ben)文中的重要(yao)詞匯(hui):
極小電流(liu)測量(liang)中(zhong)的公制(zhi)單位(wei)前(qian)綴:
‾ peta(P)=10 15
‾ tera(T)=10 12
‾ giga(G)=10 9
‾ pico(p)=10 -12
‾ femto(f)=10 -15
‾ atto(a)=10 -183

Keysight B298/B2987A靜(jing)電計(ji)/高(gao)阻(zu)表(biao)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)
1. 測(ce)量(liang)基(ji)礎知(zhi)識(shi)
電阻(zu)率(lv)測(ce)定(ding)有兩種(zhong)基本(ben)方法(fa): 體積(ji)和(he)表(biao)面。
下面(mian)章(zhang)節將會(hui)講(jiang)解(jie)這(zhe)兩(liang)種(zhong)方法。
體積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)
體積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)壹般(ban)采(cai)用(yong)圖(tu) 1所示(shi)的測試夾具(ju)電極配(pei)置— 將電壓源 Vs施加(jia)到(dao)上電極， 流(liu)經測(ce)試樣(yang)品的大電流(liu)為 Im， 隨(sui)後(hou)體積(ji)電阻(zu)率(lv) Rv 用(yong)公式 Rv = Vs/Im 計(ji)算。 從(cong)測(ce)試樣(yang)品流(liu)向保(bao)護(hu)電極的大電流(liu)和從(cong)上電極流(liu)向保(bao)護(hu)電極的表(biao)面電流(liu)都屬(shu)於泄露(lu)電流(liu)； 然(ran)而這(zhe)些(xie)電流(liu)都會(hui)進入(ru) Vs的低側(ce)， 不(bu)會(hui)對用(yong)於(yu)計算(suan) Rv的電流(liu)表(biao)電流(liu)(Im)的大小造成(cheng)影(ying)響(xiang)。
體積(ji)電阻(zu)率(lv)Rv可用(yong)公式 rv=EAR/STHxRv計(ji)算出(chu)， 其(qi)中(zhong):
EAR=Effective area有效面積(ji)
STH=Sample thickness樣(yang)品厚(hou)度(du)
表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)
表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)壹般(ban)采(cai)用(yong)圖(tu) 2 所示(shi)的電極配(pei)置 — 將電壓源 Vs 施加(jia)到(dao)護(hu)環電極， 在測(ce)試樣(yang)品表(biao)面上的電流(liu)從保(bao)護(hu)電極流(liu)向主(zhu)電極， 表(biao)面電流(liu)被(bei)為(wei) Im。 表(biao)面電阻(zu) Rs 可用(yong)公式 Rs = Vs/Im 計(ji)算。 從(cong)護(hu)環流(liu)向上電極的電流(liu)是(shi)泄露(lu)電流(liu)； 然(ran)而這(zhe)個(ge)電流(liu)會流(liu)入 Vs 的低側(ce)， 不(bu)會(hui)對用(yong)於(yu)計算(suan) Rv 的電流(liu)表(biao)電流(liu)(Im)的大小造成(cheng)影(ying)響(xiang)。
表(biao)面電阻(zu)可用(yong)公式 rs=EPER/GLENxRs計(ji)算出(chu)， 其(qi)中(zhong):
EPER=Effective perimeter有效周長(chang)
GLEN=Gap length間(jian)隔(ge)長(chang)度(du)
B2985/87A可利用(yong)內(nei)置的MATH功(gong)能(neng)計(ji)算和顯示上述(shu)參(can)數(shu)。
圖(tu)1. 體積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)
圖(tu)2. 表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)
Rv=Vs/Im
上電極
16008B
電阻(zu)率(lv)電池(chi)
(剖面圖(tu))
保(bao)護(hu)電極
主(zhu)電極
Vs
Im
測(ce)試樣(yang)品
電流(liu)流(liu)向
主(zhu)電極 表(biao)面邊(bian)緣(yuan)
泄露(lu)電流(liu)
電流(liu)表(biao) 泄露(lu)
電流(liu)
電壓源
Vs高(gao)
Vs低(di)
0v
+ -
電流(liu)從表(biao)面
流(liu)向主(zhu)電極
Rv=Vs/Im
16008B
電阻(zu)率(lv)電池(chi)
(剖面圖(tu))
上電極
主(zhu)電極
Im
電流(liu)表(biao)
0v
0 + -
v
測試樣(yang)品
Vs
電壓源
保(bao)護(hu)
電極
泄露(lu)

2. 測量(liang)支持功(gong)能(neng)
B298和(he)B2987A具(ju)有多個適用(yong)於(yu)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)的特性(xing)。
測(ce)量(liang)時(shi)間(jian)設(she)置:
電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)通(tong)常是(shi)在施加(jia)壹個(ge)激(ji)勵(li)信號後的時(shi)間(jian)內(nei)進(jin)行， 因為絕(jue)緣(yuan)材(cai)料的電阻(zu)率(lv)壹般(ban)不(bu)會(hui)迅(xun)速(su)收(shou)斂於壹個(ge)穩(wen)定(ding)值， 這(zhe)就要(yao)求(qiu)任何的電阻(zu)率(lv)技(ji)術(shu)指(zhi)標都(dou)必須(xu)對應電阻(zu)測(ce)量(liang)時(shi)間(jian)點(dian)。 除(chu)非(fei)另作(zuo)說(shuo)明(ming)， 我(wo)們通(tong)常是(shi)在輸(shu)入壹個(ge)激(ji)勵(li)信號 (帶(dai)電) 60 秒(miao)後(hou)開始進行(xing)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)(根(gen)據(ju)ASTM D257標(biao)準)。
B298和B2987A允(yun)許(xu)您(nin)在輸(shu)入激(ji)勵(li)信號之後(帶(dai)電)開始測量(liang)的確切時(shi)間(jian)。
濕(shi)度(du)和溫(wen)度(du)測量(liang):
由(you)於電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)會(hui)受到環境(jing)溫(wen)度(du)和濕(shi)度(du)的影響(xiang)， 因(yin)此(ci)有必要(yao)記錄(lu)每壹次(ci)測(ce)量(liang)的數(shu)據， 以(yi)方便(bian)用(yong)戶(hu)比(bi)較不同材(cai)料的電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)結(jie)果。
B298和B2987A允(yun)許(xu)您測(ce)量(liang)和(he)記錄(lu)環境(jing)溫(wen)度(du)和濕(shi)度(du)以及電阻(zu)測(ce)量(liang)數(shu)據。
趨(qu)勢(shi)圖(tu)顯示:
由於(yu)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)通(tong)常會在輸(shu)入電壓激(ji)勵(li)信號之後有所改變， 儀(yi)表(biao)能夠顯示電阻(zu)率(lv)從(cong)輸(shu)入激(ji)勵(li)信號到zui終測量(liang)結(jie)束(shu)過(guo)程(cheng)中(zhong)的變化(hua)， 這(zhe)會(hui)為(wei)用(yong)戶(hu)帶(dai)來(lai)極大便(bian)利。B298和(he)B2987A允許(xu)您通(tong)過圖(tu)表(biao)來監測(ce)電阻(zu)率(lv)隨(sui)時(shi)間(jian)的變化(hua)。
16008B電阻(zu)盒
B2987A
N1413A
高阻表(biao)夾具(ju)
適配(pei)器
電流(liu)表(biao)
輸(shu)入
互鎖(suo)連接(jie)
高壓輸(shu)出(chu)
16088B
體積(ji)/表(biao)面
選(xuan)擇(ze)器(qi)
控制(zhi)開關(guan):
- PULL 位(wei)置

本(ben)節介(jie)紹了如(ru)何(he)使(shi)用(yong)Keysight B298/B2987A靜(jing)電計(ji)/高(gao)阻(zu)表(biao)和16008B 電阻(zu)盒進行電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)。
圖(tu)3顯示了B2987A和16008B進行電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)的連接(jie)後視(shi)圖(tu)。
請確(que)保(bao)儀表(biao)已經通(tong)過互鎖(suo)電纜(lan)連接(jie)，將 N1413A 的控制(zhi)開關(guan)切換(huan)到(dao) PULL 位(wei)置； 並(bing)且(qie)啟用(yong)"Floating DUT"模(mo)式(shi)。
使(shi)用(yong)圖(tu) 4所示(shi)的 16008B體積(ji)/表(biao)面選(xuan)擇(ze)器(qi)上的旋鈕， 就可以切換(huan)體積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)和(he)表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)。
使(shi)用(yong)16008B電阻(zu)盒進行電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)的實(shi)例圖(tu)5. 測試電極的尺寸和(he)電阻(zu)率(lv)計(ji)算參(can)數(shu)在本(ben)例中， 夾具(ju)的測試電極是(shi)16008B電阻(zu)盒的標準配置。 電極尺(chi)寸為(wei):
‾ 主(zhu)電極: 直(zhi)徑(jing)50mm
‾ 防護(hu)電極: (內(nei))直(zhi)徑(jing)70mm
體積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)實(shi)例所使(shi)用(yong)的測試樣(yang)品是(shi)壹種(zhong)與(yu)靜電隔(ge)離袋(dai)材(cai)質(zhi)相同(tong)的塑料(liao)薄(bo)膜， 適(shi)用(yong)於(yu)放置靜電敏(min)感(gan)器(qi)件。
表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)實(shi)例所使(shi)用(yong)的測試樣(yang)品是(shi)橡(xiang)膠(jiao)薄(bo)片(pian)。
電阻(zu)率(lv)計(ji)算的詳(xiang)細(xi)內容可參(can)見圖(tu)5。

圖(tu)3. B2987A和16008B進(jin)行電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)的配置
圖(tu)4. 16008B體積(ji)/表(biao)面選(xuan)擇(ze)器(qi)的開關(guan)
50 mm
70 mm
- EPER: 有效周長(chang) (mm)
π x (50+70)/2 = 188.5 mm
- GLEN: 間(jian)隔(ge)長(chang)度(du) (mm)
(70-50)/2 = 10 mm
- EAR: 有效區域 (mm^2)
(π x (50+10)^2) /4 = 2827.4 mm^2
- STH: 樣(yang)品厚(hou)度(du) (mm)
0.02 mm (20 μm)
保(bao)護(hu)電極
EPER
GLEN
EAR
主(zhu)電極

實(shi)例1. 體積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)
以(yi)下步(bu)驟(zhou)演示(shi)了如(ru)何(he)設(she)置和執(zhi)行(xing)體積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)。
B298前(qian)面板(ban)操(cao)作(zuo)及測(ce)量(liang)步(bu)驟(zhou)
1. 在16008B電阻(zu)盒中放入測(ce)試樣(yang)品。
註(zhu): 本(ben)例使用(yong)了與(yu)靜電隔(ge)離袋(dai)材(cai)質(zhi)相同(tong)的塑料(liao)薄(bo)膜。
將16008B體積(ji)/表(biao)面選(xuan)擇(ze)器(qi)的開關(guan)切換(huan)到(dao)"體積(ji)(Volume)"位(wei)置。
2. 按(an)下[視(shi)圖(tu)(View)]鍵(jian)， 以顯示功(gong)能(neng)鍵(jian)View的菜單。 接(jie)下來(lai)按(an)下[儀表(biao)視(shi)圖(tu)(Meter View)]功(gong)能(neng)鍵(jian)， 並(bing)按(an)下[AMPS(I)]輔助鍵(jian)。
3. (1) 檢查電壓源(Voltage Source)字(zi)段是(shi)否設置為0V。
(2) 如(ru)果不是(shi)， 將字(zi)段指(zhi)針移動到電壓源值(zhi)， 再(zai)按(an)下[旋鈕(knob)]進(jin)行(xing)電壓編(bian)輯。
(3) 字(zi)段指(zhi)針變為(wei)綠色編(bian)輯(EDIT)狀態(tai)。
(4) 設置電壓為0V。 用(yong)箭(jian)頭鍵(jian)選(xuan)擇(ze)想(xiang)要(yao)編(bian)輯的數(shu)字(zi)。

(1) 按(an)下 鍵(jian), 顯示視(shi)圖(tu) (View) 功(gong)能(neng)鍵(jian)。
(2) 按(an)下 鍵(jian),
(3) 再(zai)按(an)下 鍵(jian)。
(1) 如(ru)果電壓源的值不(bu)是(shi) 0 V, 要(yao)執(zhi)行(xing)以下步(bu)驟(zhou)。
(2) 旋轉 , 將字(zi)段指(zhi)針移動到電壓源值(zhi)，
(3) 字(zi)段指(zhi)針變為(wei)綠色編(bian)輯 (EDIT) 狀態(tai), 狀態(tai)信息(xi)
將變成(cheng)可編(bian)輯 (EDIT)。
(4) 通(tong)過旋轉 可將電壓設置為 0 V, 按(an)下以固定(ding)數(shu)值。
然(ran)後(hou)按(an)下旋鈕進(jin)行(xing)電壓編(bian)輯。

4. 設置運算(suan)(MATH)參(can)數(shu)， 以進(jin)行體積(ji)電阻(zu)率(lv)和(he)表(biao)面電阻(zu)率(lv)計(ji)算:
5. 運算(suan)變量(liang)輸(shu)入面(mian)板(ban)已打開。
將索(suo)引(yin)(Index)設置為"01"(參(can)見下(xia)圖(tu)中的步(bu)驟(zhou)"a")。
執(zhi)行(xing)下圖(tu)中的步(bu)驟(zhou)"b"至"i"， 將索(suo)引(yin)7中的變量(liang)設(she)為188.5(mm)， 參(can)見步(bu)驟(zhou)h。
步(bu)驟(zhou) 1. 按(an)下 [視(shi)圖(tu) (View)] 鍵(jian), 以顯示 [系(xi)統菜(cai)單 (System Menu)] 功(gong)能(neng)鍵(jian)。
步(bu)驟(zhou) 2. 按(an)下 [系(xi)統菜(cai)單 (System Menu)] 鍵(jian), 再(zai)按(an)下 [功(gong)能(neng) (Function)] 鍵(jian)。
步(bu)驟(zhou) 3. 按(an)下 [運算 (Math)] 鍵(jian)。
步(bu)驟(zhou) 4. 按(an)下 [變量(liang) (Variable)] 鍵(jian)。
b. 點擊(ji)編(bian)輯
(EDIT)模(mo)式(shi)
旋轉到(dao)索(suo)引(yin)“07， EPER”
(有效周長(chang))字(zi)段。
d. 點(dian)擊(ji)移(yi)動
(MOVE) 模(mo)式(shi)
旋轉到(dao) “數(shu)值 (Value)” 字(zi)段。
點(dian)擊(ji)並(bing)輸(shu)入 EPER 值(zhi)。
使(shi)用(yong) [旋鈕 (knob)] 和(he)箭(jian)頭鍵(jian)
來輸(shu)入數(shu)值。
h. 將 “EPER” 參(can)數(shu)設為(wei) 188.5 (mm)。
i. 對 “08” 至 “10” 索引值(zhi)重復相同的步(bu)驟(zhou)。

6. 在對索引08到10的變量(liang)完(wan)成(cheng)上述(shu)步(bu)驟(zhou)之後(hou)， 所有的參(can)數(shu)應當(dang)按(an)照下圖(tu)進行(xing)設置。
按(an)下[應用(yong)(Apply)]， 再(zai)按(an)下[OK]鍵(jian)， 可以保(bao)存(cun)數(shu)值和(he)關閉(bi)運算變量(liang)(Math Variable)輸(shu)入面(mian)板(ban)。
7. 設(she)置測量(liang)所用(yong)到(dao)的測試電壓。
(1) 按(an)下[儀表(biao)視(shi)圖(tu)(Meter View)]功(gong)能(neng)鍵(jian)。
(2) 連續兩次(ci)按(an)下[More...1 of 3]輔助鍵(jian)， 以顯示[More...3 of 3]功(gong)能(neng)鍵(jian)。
(3) 按(an)下[顯示電壓源功(gong)能(neng)(Show VS Func.)]輔(fu)助鍵(jian)， 以顯示VS功(gong)能(neng)菜(cai)單。
8. 將VS功(gong)能(neng)改為(wei)編(bian)輯(EDIT)模(mo)式(shi)， 並(bing)選(xuan)擇(ze)[線(xian)性(xing)單掃(sao)描(miao)(LINEAR SINGLE)]輔(fu)助鍵(jian)。
所有的電阻(zu)率(lv)運(yun)算參(can)數(shu)都已設置好。
按(an)下 [應用(yong) (Apply)], 再(zai)按(an)下 [OK] 鍵(jian), 可以設(she)置和關(guan)閉(bi)運算變量(liang)
(Math Variable) 輸(shu)入面(mian)板(ban)。
(3) 按(an)下 鍵(jian)。
3 .
(1) 按(an)下 鍵(jian),
(2) 按(an)下 鍵(jian)兩次(ci), 直(zhi)至出(chu)現(xian) . 鍵(jian)。
1 .
2 .
3 .
(1) 使用(yong) 點(dian)擊(ji) VS 功(gong)能(neng), 會(hui)使輔助鍵(jian)菜單發(fa)生(sheng)變化(hua)。
(2) 按(an)下 輔助鍵(jian)。
1 .
通(tong)過旋轉 可以將光(guang)標(biao)移動到 VS 功(gong)能(neng)。

9. 通(tong)過下圖(tu)中的步(bu)驟(zhou)可以完(wan)成(cheng)掃(sao)描(miao)參(can)數(shu)的設置。
(1) 電源(Source)形(xing)狀(zhuang)指示(shi)器應當(dang)改為(wei)指(zhi)示線(xian)性(xing)單掃(sao)描(miao)。
(2) 按(an)照下列(lie)數(shu)值編(bian)輯掃描(miao)參(can)數(shu)。
‾ 開始(Start): 500V
‾ 停止(zhi)(Stop): 500V
‾ 點(dian)數(shu)(Points): 1
(3) 按(an)下[隱藏電壓源功(gong)能(neng)(Hide VS Func.)]輔(fu)助鍵(jian)。
VS範圍(wei)設置模(mo)式(shi)已打開。
(4) 將字(zi)段指(zhi)針移動到"Spot Source Range"， 然(ran)後(hou)按(an)下[旋鈕(Knob)]可將字(zi)段更改為(wei)編(bian)輯(EDIT)模(mo)式(shi)。
(5) 按(an)下[+1000V]輔助鍵(jian)， 將VS範(fan)圍(wei)設置為1000V。
10.(1) VS範(fan)圍(wei)指示(shi)出(chu)電壓被(bei)設(she)定(ding)在1000V。
(2) 連續兩次(ci)按(an)下[More..3 of 3]輔助鍵(jian)， 直(zhi)至它處於[More...2 of 3]。
(3) 按(an)下[顯示觸(chu)發(Show Trigger)]輔(fu)助鍵(jian)。
(4) 點擊(ji)觸(chu)發(Trigger)模(mo)式(shi)， 並(bing)更改為(wei)編(bian)輯(EDIT)模(mo)式(shi)。 輔(fu)助鍵(jian)更改為(wei)觸(chu)發(Trigger)選(xuan)擇(ze)菜(cai)單。
(5) 按(an)下[手(shou)動(MANUAL)]輔助鍵(jian)。
(6) 觸(chu)發(Trigger)模(mo)式(shi)更改為(wei)手(shou)動(MANUAL)模(mo)式(shi)。
11.手(shou)動觸(chu)發(Manual Trigger)參(can)數(shu)的輸(shu)入字(zi)段已打開。
在本(ben)例中， 將觸(chu)發設(she)為5秒(miao)間(jian)隔(ge)， zui終采樣(yang)設在60秒(miao)。
(1) 按(an)照下列(lie)數(shu)據更改手(shou)動觸(chu)發(Manual)參(can)數(shu):
測量(liang)計(ji)數(shu): 13
測量(liang)時(shi)延(yan): 500ms(設(she)置在偏(pian)置電壓輸(shu)出(chu)後(hou)有500ms時(shi)延(yan)。 )
測(ce)量(liang)時(shi)間(jian): 5秒(miao)(每隔(ge)5秒(miao)執(zhi)行(xing)采樣(yang)。 )
源計(ji)數(shu): 1(開始-停止(zhi))
測(ce)量(liang)和(he)源觸(chu)發: 自(zi)動 (AUTO)
(2) 按(an)下[隱藏觸(chu)發(Hide Trigger)]輔(fu)助鍵(jian)。
(3) 按(an)下[顯示滾降(jiang)(Show Roll)]輔(fu)助鍵(jian)， 為接(jie)下來(lai)的測量(liang)做準備。
屏幕(mu)的下半(ban)部(bu)分會顯示儀表(biao)視(shi)圖(tu)和滾(gun)降視(shi)圖(tu)。

12.可選(xuan)設(she)置
如(ru)果您在使(shi)用(yong)濕(shi)度(du)傳(chuan)感器(qi)和/或熱電偶(ou)， 可將其(qi)接(jie)到B298/87A的後面(mian)板(ban)輸(shu)入端(duan)， 這(zhe)樣(yang)您就能測(ce)量(liang)在測(ce)試環境(jing)中的濕(shi)度(du)和溫(wen)度(du)。
註: 由於(yu)濕(shi)度(du)對電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)的影響(xiang)很(hen)明(ming)顯， 因此如(ru)果您在壹個(ge)不(bu)可控的環境(jing)內進(jin)行(xing)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)， 那(na)麽您應當(dang)監(jian)測濕(shi)度(du)指標。
13.輸(shu)出(chu)打(da)開。
(1) 按(an)下電壓源[通(tong)/斷(duan)(On/Off)]鍵(jian)， 以輸(shu)出(chu)0V電壓。
(2) 然(ran)後(hou)按(an)下電流(liu)表(biao)[通(tong)/斷(duan)(On/Off)]鍵(jian)， 以連接(jie)這(zhe)個(ge)電流(liu)表(biao)。
(3) 自動執(zhi)行(xing)單次(ci)電流(liu)測量(liang)。
註(zhu): 如(ru)果已接(jie)到濕(shi)度(du)和溫(wen)度(du)傳(chuan)感器(qi)， 也會顯示這(zhe)壹數(shu)據。
14.按(an)下[OHMS(R)]輔助鍵(jian)， 將測(ce)量(liang)參(can)數(shu)更改為(wei)電阻(zu)。
a. 儀(yi)表(biao)視(shi)圖(tu)(Meter View)的單位(wei)更改為(wei)"Ω"。
b. 下(xia)面步(bu)驟(zhou)將設(she)置運算(suan)(MATH)功(gong)能(neng)並(bing)計(ji)算體積(ji)電阻(zu)率(lv)。
執(zhi)行(xing)下圖(tu)中b部(bu)分所列(lie)出(chu)的第1至3個步(bu)驟(zhou)。
1 . 2.
3 .
(1) 電壓源接(jie)通(tong)
(2) 電流(liu)表(biao)接(jie)通(tong)
(3) 自動執(zhi)行(xing)測量(liang)。
1.
2 .
(1) 點(dian)擊(ji)前(qian)面(mian)板(ban)上的 鍵(jian)。
運算(suan)表(biao)達式 (Math Expression) 面板出(chu)現(xian)在顯示屏上。
(2) 點擊(ji) 旋鈕，將模(mo)式(shi)更改為(wei)編(bian)輯 (EDIT) 模(mo)式(shi)。
(3) 滾(gun)動到 “VRESISTIVITY” MATH 功(gong)能(neng), 然(ran)後(hou)點擊(ji)
旋鈕。
按(an)下 [OHMS(R)] 輔助鍵(jian)。測量(liang)模(mo)式(shi)更改為(wei) OHMS 模(mo)式(shi)。

15."運(yun)算(suan)(MATH)"指(zhi)示器顯示了VRESISTIVITY功(gong)能(neng)已經設置好。
通(tong)過運算功(gong)能(neng)計(ji)算出(chu)來(lai)的數(shu)據在主(zhu)要(yao)測量(liang)數(shu)據顯示字(zi)段中(zhong)顯示。
電阻(zu)數(shu)據在次(ci)要(yao)測量(liang)數(shu)據顯示字(zi)段中(zhong)顯示。
16.以下(xia)操(cao)作(zuo)適(shi)用(yong)於(yu)體積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)。
按(an)下[單次(ci)(Single)]測(ce)量(liang)按(an)鈕。
體積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)的時(shi)間(jian)是(shi)5到(dao)60秒(miao)。
電阻(zu)率(lv)的單位(wei)"PO"表(biao)示Peta-Ohm/cm。
註: 體積(ji)電阻(zu)率(lv)的單位(wei)是(shi)Ωcm。
V Resistivity
Resistance
(1) 旋轉 把(ba)焦(jiao)點移動到單位(wei) (Unit) 輸(shu)入字(zi)段。
(2) 點(dian)擊(ji) 旋鈕, 把(ba)單位(wei)設(she)置為 “O” (即, 歐(ou)姆(mu))。
(3) 按(an)下 [OK] 鍵(jian)來設(she)置 VRESISTIVITY MATH 功(gong)能(neng)。

滾(gun)降視(shi)圖(tu)可以繪制(zhi)電阻(zu)數(shu)據的趨(qu)勢(shi)。
註: 滾(gun)降視(shi)圖(tu)不能(neng)繪制(zhi)運(yun)算數(shu)據， 但(dan)可用(yong)於(yu)查看(kan)測量(liang)數(shu)據趨(qu)勢(shi)。
17.運算(suan)數(shu)據不(bu)能在圖(tu)形視(shi)圖(tu)中顯示。
通(tong)過下列(lie)步(bu)驟(zhou)來繪制(zhi)體積(ji)電阻(zu)率(lv)與(yu)帶(dai)電時(shi)間(jian)的關系(xi)圖(tu)。
(1) 按(an)下 鍵(jian), 顯示視(shi)圖(tu) (View) 功(gong)能(neng)鍵(jian)。
(2) 按(an)下 鍵(jian), 顯示圖(tu)形視(shi)圖(tu) (Graph View)。
(3) 用(yong) 旋鈕按(an)照下列(lie)數(shu)據設(she)置坐標(biao)軸(zhou)。
Y: 運算
X: 時(shi)間(jian)(秒(miao))
將會(hui)得到下(xia)圖(tu)。
點擊(ji) [單次(ci) (Single)] 鍵(jian)。 [ARM] 指示(shi)器亮起, 掃描(miao)測(ce)量(liang)開始進行(xing)。
註: 在測(ce)量(liang)過(guo)程中(zhong)， 運(yun)算(suan)數(shu)據不(bu)能實(shi)時(shi)繪制(zhi)。
運(yun)算數(shu)據隨(sui)時(shi)間(jian)的變化(hua)會(hui)在掃(sao)描(miao)測(ce)量(liang)結(jie)束(shu)後(hou)自(zi)動開始繪制(zhi)。

實(shi)例2. 表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)
表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)基(ji)本(ben)上與(yu)體積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)相(xiang)同， 但(dan)包(bao)括(kuo)以下(xia)幾種(zhong)例外情況(kuang)。
您可以參(can)考(kao)實(shi)例1中的相同(tong)步(bu)驟(zhou)進行(xing)表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)， 但(dan)要(yao)註意(yi)以下(xia)幾(ji)點不同(tong)。
1. 在16008B電阻(zu)率(lv)電池(chi)中(zhong)放(fang)入測試樣(yang)品。
註(zhu): 本(ben)例使用(yong)了橡膠(jiao)薄(bo)板(ban)作(zuo)為(wei)測試材(cai)料。
將16008B體積(ji)/表(biao)面選(xuan)擇(ze)器(qi)的開關(guan)切換(huan)到(dao)"表(biao)面(Surface)"位置。
2. 下面(mian)步(bu)驟(zhou)將設(she)置運算(suan)(MATH)功(gong)能(neng)並(bing)計(ji)算表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)。
按(an)照下圖(tu)中的第(1)至(4)步(bu)驟(zhou)操(cao)作(zuo)。
3. 開始進行(xing)表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)。
按(an)下[單次(ci)(Single)]測(ce)量(liang)按(an)鈕。
表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)的時(shi)間(jian)是(shi)5到(dao)60秒(miao)。
電阻(zu)率(lv)的單位(wei)"PO"表(biao)示Peta-Ohm。
點擊(ji)[單次(ci)(Single)]鍵(jian)。 [ARM]指示(shi)器亮起, 掃描(miao)測(ce)量(liang)開始進行(xing)。
(1) 點擊(ji)前(qian)面(mian)板(ban)上的 鍵(jian)。運算(suan)表(biao)達式
(2) 點擊(ji) 旋鈕, 將模(mo)式(shi)更改為(wei)編(bian)輯模(mo)式(shi)。
(3) 滾(gun)動到 “SRESISTIVITY” MATH 功(gong)能(neng)。
(4) 按(an)下 [OK] 鍵(jian)來設(she)置 SRESISTIVITY MATH 功(gong)能(neng)。
(Math Expression) 面(mian)板出(chu)現(xian)在顯示屏上。
實(shi)例2. 表(biao)面電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang) (續(xu))
4. 顯示了圖(tu)形視(shi)圖(tu)(Graph View)結(jie)果。
實(shi)例3. 保(bao)存(cun)測(ce)試設置
您可以把(ba)測(ce)試配置和測(ce)試設置保(bao)存(cun)到(dao)內存(cun)或(huo)外部(bu) USB 存(cun)儲(chu)設備(bei)， 無需重復輸(shu)入參(can)數(shu)即
可再(zai)次(ci)進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)。
下(xia)面實(shi)例介(jie)紹了如(ru)何(he)保(bao)存(cun)測(ce)試設置到內(nei)存(cun)。
1. 按(an)下[保(bao)存(cun)(Save)]鍵(jian)。 出(chu)現(xian)壹個(ge)"選(xuan)擇(ze)要(yao)保(bao)存(cun)的路(lu)徑(jing)"彈出(chu)窗(chuang)口。
2. 按(an)下在儀(yi)器(qi)底(di)部(bu)顯示的功(gong)能(neng)鍵(jian)位置中的任意(yi)壹個(ge)， 即可選(xuan)擇(ze)當(dang)前(qian)設置要(yao)保(bao)存(cun)的內存(cun)
路(lu)徑(jing)。
稍後通(tong)過按(an)下[調用(yong)(Recall)]鍵(jian)並(bing)選(xuan)擇(ze)設(she)置， 您能(neng)夠(gou)調用(yong)這(zhe)個(ge)設(she)置。
(1) 按(an)下 鍵(jian), 顯示視(shi)圖(tu) (View) 功(gong)能(neng)鍵(jian)。
(2) 按(an)下 鍵(jian), 顯示圖(tu)形視(shi)圖(tu) (Graph View)。
(3) 用(yong) 鍵(jian)按(an)照下列(lie)數(shu)據設(she)置坐標(biao)軸(zhou)。
Y: 運算
X: 時(shi)間(jian) (秒(miao))
將會(hui)得到下(xia)圖(tu)。
按(an)下 鍵(jian), 然(ran)後(hou)選(xuan)擇(ze)其(qi)中(zhong)壹個(ge)存(cun)儲(chu)密匙(chi)來保(bao)存(cun)設(she)置。
已保(bao)存(cun)的設置可通(tong)過按(an)下鍵(jian)來調用(yong)。

Keysight是(shi)德B298絕(jue)緣(yuan)材(cai)料電阻(zu)率(lv)測(ce)量(liang)總結(jie)
Keysight B298和(he) B2987A靜電計(ji)/高(gao)阻(zu)表(biao)可與(yu) 16008B電阻(zu)盒搭配使用(yong)， 提供更出(chu)色(se)的表(biao)面電阻(zu)率(lv)和(he)體積(ji)電阻(zu)率(lv)材(cai)料表(biao)征(zheng)能力(li)。 另外， 它們還提供直(zhi)觀的圖(tu)形用(yong)戶(hu)界(jie)面和(he)的測量(liang)精(jing)度(du)。
Keysight B298/B2987A 靜電計(ji)/高(gao)阻(zu)表(biao)使用(yong) 1000 V 測(ce)試電壓源可測量(liang)zui高(gao) 10 PΩ (10 16Ω)電阻(zu)。
您(nin)可以在施加(jia)測(ce)試電壓之後(hou)任意(yi)的測量(liang)時(shi)延(yan)， 包(bao)括(kuo)ASTM D257標準規(gui)定(ding)的60秒(miao)。
B298/B2987A使(shi)用(yong)內(nei)置運算(suan)功(gong)能(neng)對測量(liang)數(shu)據進(jin)行計(ji)算， (根(gen)據(ju)測(ce)試夾具(ju)和測(ce)試樣(yang)品的尺寸)能(neng)夠(gou)顯示體積(ji)電阻(zu)率(lv)和(he)表(biao)面電阻(zu)率(lv)。
計(ji)時(shi)器(qi)觸(chu)發和(he)趨(qu)勢(shi)圖(tu)特性(xing)可使您(nin)十分(fen)靈活地(di)表(biao)征(zheng)新興(xing)的材(cai)料和(he)器件。