IEC60068-2/GB2423電工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)標(biao)準(zhun)

IEC60068-2/GB2423電工(gong)電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)標(biao)準(zhun)適(shi)用(yong)於(yu)（電(dian)氣(qi)、機(ji)電(dian)、電子(zi)設備(bei)和(he)裝置(zhi)及(ji)其組(zu)件、分(fen)組(zu)件、元件(jian)以下(xia)統(tong)稱樣(yang)品(pin)）有(you)關規(gui)範(fan)使用，以(yi)便(bian)使該產品的(de)環境(jing)試驗(yan)到達統(tong)壹而(er)又具再(zai)現性(xing)。通(tong)過環境(jing)試驗(yan)把樣(yang)品暴露(lu)於(yu)自然和(he)人工環境(jing)中(zhong)，從而(er)對(dui)其在實際中(zhong)遇到的(de)使用、運(yun)輸和貯存(cun)條(tiao)件下(xia)的性能作(zuo)出(chu)評價。

壹、電子(zi)電工(gong)產品IEC60068-2/GB/T2423
1、低(di)溫試驗(yan)    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.1:2008;IEC60068-2-1:2007
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)A:低(di)溫
試驗(yan)目的    確(que)定元件(jian)、設備(bei)或(huo)其他產品在(zai)低溫(wen)環境(jing)下(xia)的使用、運(yun)輸或貯存(cun)的(de)能力
試驗(yan)方法(fa)/條件    Ab非(fei)散熱試驗(yan)樣(yang)品溫(wen)度(du)漸(jian)變的(de)低(di)溫試驗(yan)
Ad非(fei)散熱試驗(yan)樣(yang)品溫(wen)度(du)漸(jian)變的(de)低(di)溫試驗(yan)-溫(wen)度穩(wen)定(ding)後通(tong)電
Ae非散熱試驗(yan)樣(yang)品溫(wen)度(du)漸(jian)變的(de)低(di)溫試驗(yan)-整(zheng)個(ge)過(guo)程通(tong)電
嚴酷等(deng)級    溫(wen)度(du):-65℃;-55℃;-50℃;-40℃;-33℃;-25℃;-20℃;-10℃;-5℃;5℃
時間(jian)    2h，16h，72h，96h
匹配(pei)設備(bei)    小(xiao)型(xing)環境(jing)試驗(yan)箱(xiang)、小(xiao)型(xing)超低(di)溫試驗(yan)箱(xiang)、高低(di)溫(濕(shi)熱)試驗(yan)箱(xiang)、高性(xing)能高低(di)溫(濕(shi)熱)試驗(yan)箱(xiang)、壹體式步入試驗(yan)室
設備(bei)要(yao)求    溫度變化(hua)速(su)率(lv)不(bu)超過(guo)1K/min(不(bu)超過(guo)5min的平均(jun)值)
試驗(yan)空(kong)間(jian)溫度容(rong)差±2K
    
2、高溫(wen)試驗(yan)    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.2:2008;IEC60068-2-2:2007
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)B:高溫(wen)
試驗(yan)目的    確(que)定元件(jian)、設備(bei)或(huo)其他產品在(zai)高溫(wen)環境(jing)下(xia)的使用、運(yun)輸或貯存(cun)的(de)能力
試驗(yan)方法(fa)/條件    Bb非(fei)散熱試驗(yan)樣(yang)品溫(wen)度(du)漸(jian)變的(de)低(di)溫試驗(yan)
Bd非(fei)散熱試驗(yan)樣(yang)品溫(wen)度(du)漸(jian)變的(de)低(di)溫試驗(yan)-溫(wen)度穩(wen)定(ding)後通(tong)電
Be非散熱試驗(yan)樣(yang)品溫(wen)度(du)漸(jian)變的(de)低(di)溫試驗(yan)-整(zheng)個(ge)過(guo)程通(tong)電
嚴酷等(deng)級    溫(wen)度(du):1,000℃;800℃;630℃;500℃;400℃;315℃;250℃;175℃;155℃;70℃;65℃;60℃;55℃;50℃;45℃;40℃;35℃;30℃
時間(jian)    2h，16h，72h，96h，168h，240h，336，1,000h
匹配(pei)設備(bei)    小(xiao)型(xing)高溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)、高溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)、小(xiao)型(xing)環境(jing)試驗(yan)箱(xiang)、高低(di)溫(濕(shi)熱)試驗(yan)箱(xiang)、高性(xing)能高低(di)溫(濕(shi)熱)試驗(yan)箱(xiang)、壹體式步入試驗(yan)室
設備(bei)要(yao)求    溫度變化(hua)速(su)率(lv)不(bu)超過(guo)1K/min(不(bu)超過(guo)5min的平均(jun)值)
試驗(yan)空(kong)間(jian)溫度容(rong)差±2K
    
3、濕熱試驗(yan)    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.3:2006;IEC60068-2-78:2001
GB/T2423.4:2008;IEC60068-2-30:2005
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)Cab:恒(heng)定濕(shi)熱試驗(yan)
電(dian)工電(dian)子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)Db:交(jiao)變濕(shi)熱(12h+12h循(xun)環)
試驗(yan)目的    確(que)定元件(jian)、設備(bei)或(huo)其他產品在(zai)高濕(shi)環境(jing)下(xia)的使用、運(yun)輸或貯存(cun)時的(de)適(shi)應性
試驗(yan)方法(fa)/條件    恒(heng)定(ding)濕(shi)熱試驗(yan)
嚴酷等(deng)級    溫(wen)/濕(shi)度(30±2)℃(93±3)%RH;(30±2)℃(85±3)%RH;(40±2)℃(93±3)%RH;(40±2)℃(85±3)%RH;
時間(jian)    12h，16h，24h，2d，4d，10d，21d，56d
匹配(pei)設備(bei)    小(xiao)型(xing)恒溫(wen)恒濕試驗(yan)箱(xiang)、小(xiao)型(xing)環境(jing)試驗(yan)箱(xiang)、高低(di)溫(濕(shi)熱)試驗(yan)箱(xiang)、高性(xing)能高低(di)溫(濕(shi)熱)試驗(yan)箱(xiang)、壹體式步入試驗(yan)室
設備(bei)要(yao)求    試驗(yan)空(kong)間(jian)溫度容(rong)差±2K，任何(he)兩(liang)點偏差小(xiao)於(yu)1K，短(duan)期(qi)波動小(xiao)於(yu)0.5K
    
4、溫(wen)度(du)/濕(shi)度(du)組(zu)合循(xun)環試驗(yan)    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.34:2005;IEC60068-2-38:2009
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)Z/AD:溫(wen)度/濕(shi)度(du)
試驗(yan)目的    主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)元器(qi)件類(lei)試驗(yan)樣(yang)品，以(yi)加速(su)方式(shi)來確(que)定試驗(yan)樣(yang)品在(zai)高溫(wen)、高濕(shi)和低(di)溫(wen)條條件作(zuo)用(yong)下(xia)的耐受性能。
(采用(yong)高相(xiang)對濕(shi)度(du)下(xia)的溫度(du)循(xun)環並(bing)產生水汽(qi)進(jin)入(ru)部(bu)分(fen)密封試驗(yan)樣(yang)品的(de)“呼吸(xi)”作(zuo)用(yong);還包含(han)低(di)溫(wen)暴露(lu)，以(yi)測(ce)定周(zhou)期性(xing)結冰對(dui)試驗(yan)樣(yang)品的(de)影(ying)響(xiang))。
試驗(yan)方法(fa)/條件    (25±2)℃(93±3)%→1.5h～2.5h→(65±2)℃(93±3)%5.5h→1.5h～2.5h→(25±2)℃(93±3)%8h→
1.5h～2.5h→(65±2)℃(93±3)%13.5h→1.5h～2.5h→(25±2)℃(93±3)%24h(17.5h)→0.5h→(-10±2)℃21h→1.5hh→(25±2)℃(93±3)%24h(3.5h)24h為(wei)壹個(ge)循(xun)環，壹般10個(ge)循(xun)環;前(qian)9個(ge)循(xun)環內(nei)5個(ge)循(xun)環加入(ru)低(di)溫(wen)試驗(yan)
嚴酷等(deng)級    
時間(jian)    
匹配(pei)設備(bei)    小(xiao)型(xing)環境(jing)試驗(yan)箱(xiang)、高低(di)溫(濕(shi)熱)試驗(yan)箱(xiang)、高性(xing)能高低(di)溫(濕(shi)熱)試驗(yan)箱(xiang)、壹體式步入試驗(yan)室
設備(bei)要(yao)求    1.5h～2.5h內溫度在(25±2)℃～(65±2)℃之間變化(hua)恒(heng)溫和升溫(wen)期(qi)間，相(xiang)對濕度保(bao)持(chi)在(zai)(93±3)%，
降(jiang)溫時能保(bao)持(chi)在(zai)80～96%30min以內能夠(gou)從(cong)(25±2)℃降(jiang)到(-10±2)℃;90min(-10±2)℃升到(25±2)℃
    
5、溫(wen)度(du)變化(hua)試驗(yan)    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)N:溫(wen)度變化(hua)
試驗(yan)Na:規(gui)定(ding)轉換(huan)時間(jian)的(de)快(kuai)速(su)溫度變化(hua)
試驗(yan)目的    確(que)定元件(jian)、設備(bei)和(he)其他產品經(jing)受環境(jing)溫(wen)度(du)迅(xun)速(su)變化(hua)的(de)能力
試驗(yan)方法(fa)/條件    溫(wen)度(du)從(cong)低溫試驗(yan)和(he)高溫(wen)試驗(yan)規(gui)定(ding)的試驗(yan)溫(wen)度中(zhong)選(xuan)取
循(xun)環次數(shu)5次或者(zhe)相(xiang)關標(biao)準(zhun)規(gui)定(ding)
嚴酷等(deng)級    嚴酷等(deng)級由(you)高低(di)溫度(du)值、轉(zhuan)換(huan)時間(jian)和(he)循(xun)環次數(shu)確(que)定
時間(jian)    暴(bao)露(lu)時間(jian)為(wei)3h，2h，1h，30min或(huo)10min轉(zhuan)換時間(jian)(2～3)min，(20～30)s，＜10s恢復(fu)時間(jian)≤0.1暴(bao)露(lu)時間(jian)

匹配(pei)設備(bei)    小(xiao)型(xing)提籃式(shi)冷熱沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)、大型(xing)提籃式(shi)冷熱沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)、冷熱沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)
設備(bei)要(yao)求    風速小(xiao)於(yu)2m/s;恢復(fu)時間(jian)小(xiao)於(yu)10%暴(bao)露(lu)時間(jian);箱(xiang)壁溫(wen)度不(bu)超過(guo)試驗(yan)溫(wen)度的(de)3%(高溫(wen))和8%(低(di)溫(wen))(開(kai)爾(er)文溫(wen)度)且(qie)樣(yang)品(pin)不(bu)直(zhi)接(jie)受到輻(fu)射
    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)N:溫(wen)度變化(hua)
試驗(yan)Nb:規(gui)定(ding)溫度(du)變化(hua)速(su)率(lv)的溫度(du)變化(hua)
試驗(yan)目的    確(que)定元件(jian)、設備(bei)和(he)其他產品耐(nai)環境(jing)溫(wen)度(du)變化(hua)的(de)能力和在(zai)環境(jing)溫(wen)度(du)變化(hua)期(qi)間的工(gong)作(zuo)能力
試驗(yan)方法(fa)/條件    
嚴酷等(deng)級    嚴酷等(deng)級由(you)高低(di)溫度(du)值、轉(zhuan)換(huan)時間(jian)和(he)循(xun)環次數(shu)確(que)定
溫(wen)度(du)從(cong)低溫試驗(yan)和(he)高溫(wen)試驗(yan)規(gui)定(ding)的試驗(yan)溫(wen)度中(zhong)選(xuan)取
溫(wen)變速(su)率(lv)為不(bu)超過(guo)5min的平均(jun)值，(1±0.2)℃/min、(3±0.6)℃/min、(5±1)℃/min
循(xun)環次數(shu)2次或者(zhe)相(xiang)關標(biao)準(zhun)規(gui)定(ding)
時間(jian)    暴(bao)露(lu)時間(jian)為(wei)3h，2h，1h，30min或(huo)10min
匹配(pei)設備(bei)    小(xiao)型(xing)快速(su)溫度變化(hua)試驗(yan)箱(xiang)，快速(su)溫度(du)變化(hua)試驗(yan)箱(xiang)，溫度(du)循(xun)環試驗(yan)箱(xiang)
設備(bei)要(yao)求    風速小(xiao)於(yu)2m/s、恢復(fu)時間(jian)小(xiao)於(yu)10%暴(bao)露(lu)時間(jian)、箱(xiang)壁溫(wen)度不(bu)超過(guo)試驗(yan)溫(wen)度的(de)3%(高溫(wen))
和8%(低(di)溫(wen))(開(kai)爾(er)文溫(wen)度)且(qie)樣(yang)品(pin)不(bu)直(zhi)接(jie)受到輻(fu)射。
    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)N:溫(wen)度變化(hua)
試驗(yan)Nc:兩(liang)液槽法溫(wen)度(du)快速變化(hua)
試驗(yan)目的    確(que)定元件(jian)、設備(bei)和(he)其他產品經(jing)受環境(jing)溫(wen)度(du)快(kuai)速(su)變化(hua)的(de)能力
試驗(yan)方法(fa)/條件    低(di)溫(wen)槽裝有(you)相(xiang)關規(gui)範(fan)規(gui)定(ding)的低(di)溫(wen)TA液體(ti)(0℃)、高溫(wen)槽裝有(you)相(xiang)關規(gui)範(fan)規(gui)定(ding)的高溫(wen)TB液體(ti)(100℃)、
低溫槽溫度(du)不(bu)超過(guo)溫度(du)值的(de)2℃、高溫(wen)槽溫度(du)不(bu)低於(yu)溫(wen)度(du)值的(de)5℃
嚴酷等(deng)級    嚴酷等(deng)級由(you)規(gui)定(ding)的槽液溫(wen)度、轉換(huan)時間(jian)及(ji)循(xun)環數(shu)來(lai)確(que)定(兩(liang)組(zu)標(biao)準(zhun)條(tiao)件(jian))
循(xun)環次數(shu)為(wei)10次或者(zhe)相(xiang)關規(gui)範(fan)規(gui)定(ding)
時間(jian)    t2=(8±2)s5min≤t1＜20min(t2:轉(zhuan)換(huan)時間(jian)、t1:暴(bao)露(lu)時間(jian))
t2=(2±1)s15s≤t1＜5min
匹配(pei)設備(bei)    液槽試冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)
設備(bei)要(yao)求    高低(di)溫液槽，便(bian)於(yu)樣(yang)品(pin)浸入及(ji)迅速(su)轉(zhuan)換(huan)
低溫槽溫度(du)不(bu)超過(guo)溫度(du)值的(de)2℃、高溫(wen)槽溫度(du)不(bu)低於(yu)溫(wen)度(du)值的(de)5℃
液體(ti)與(yu)試驗(yan)樣(yang)品的(de)材(cai)料和(he)保(bao)護層適應
    
6、潤濕性(xing)非(fei)飽和高壓蒸煮(zhu)試驗(yan)
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.40-1997;IEC60068-2-66/1994
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)Cx:未(wei)飽和高壓蒸汽恒(heng)定(ding)濕(shi)熱
試驗(yan)目的    試驗(yan)樣(yang)品在(zai)相(xiang)對短(duan)的(de)時間(jian)內(nei)承(cheng)受*的未飽和濕(shi)熱蒸汽的(de)作(zuo)用(yong)
試驗(yan)方法(fa)/條件    如(ru)相(xiang)關(guan)規(gui)範(fan)有要(yao)求，應在暴露(lu)期(qi)間給(gei)試驗(yan)樣(yang)品施(shi)加偏(pian)壓
試驗(yan)結束(shu)，箱(xiang)內的(de)壓力、溫度(du)和相(xiang)對濕度在(zai)1~4h內(nei)回(hui)復(fu)到測(ce)量和(he)試驗(yan)用(yong)標(biao)準(zhun)大(da)氣(qi)條件
嚴酷等(deng)級    
時間(jian)    
匹配(pei)設備(bei)    高壓加速(su)老(lao)化(hua)試驗(yan)箱(xiang)
設備(bei)要(yao)求    能夠(gou)產生要求的溫度和相對濕度，並能維(wei)持(chi)給定(ding)的壓力
提供(gong)受控(kong)試驗(yan)條(tiao)件並(bing)按(an)要求的斜率(lv)上升或(huo)下(xia)降(jiang)到規(gui)定(ding)的試驗(yan)條(tiao)件
能夠(gou)監(jian)測(ce)溫度(du)和(he)濕度，試驗(yan)前(qian)可(ke)以(yi)水(shui)蒸氣把空(kong)氣(qi)排(pai)出(chu)，不(bu)允(yun)許(xu)冷(leng)凝水跌落在試驗(yan)品(pin)上
結構(gou)材(cai)料不(bu)應引(yin)起(qi)試驗(yan)樣(yang)品腐(fu)蝕或(huo)加濕(shi)水(shui)的(de)水質劣化
    
7、絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)可(ke)靠(kao)性(xing)測(ce)試    
標(biao)準(zhun)編號    JPCA-ET04:2007
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)試驗(yan)
試驗(yan)目的    對實裝(zhuang)前印刷電(dian)路板(ban)在(zai)高溫(wen)高濕(shi)及(ji)加電(dian)的(de)條(tiao)件下(xia)進(jin)行(xing)電子(zi)化學遷移及(ji)絕(jue)緣(yuan)劣化進(jin)行(xing)評價試驗(yan)
試驗(yan)方法(fa)/條件    (JPCA-ET01～09:2007，日本(ben)電子(zi)回(hui)路(lu)工業會，01通(tong)則，0240℃93%RH，0360℃90%RH，0485℃85%RH，
05溫度(du)循(xun)環，06溫(wen)濕(shi)度(du)組(zu)合(低(di)溫)，07溫(wen)濕度(du)組(zu)合，08不(bu)飽和蒸汽壓，09結露(lu)循(xun)環)
嚴酷等(deng)級    10E12以(yi)上電阻(zu)測(ce)量，DC5～100V
時間(jian)    2,000h連(lian)續(xu)運(yun)行(xing)可(ke)能
匹配(pei)設備(bei)    
設備(bei)要(yao)求    溫濕度箱(xiang):出(chu)風口(kou)風速2.5m/s以上;分(fen)布±2℃±3%RH;不(bu)會造(zao)成試樣(yang)及(ji)加濕(shi)水(shui)汙染(ran);無凝露(lu)水(shui)滴落(luo)
絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)測(ce)試儀(yi):測(ce)量範(fan)圍E6～E12Ω(E13Ω參(can)考值);內(nei)置(zhi)電(dian)源，試驗(yan)電(dian)壓及(ji)測(ce)量電(dian)壓能夠(gou)任意選(xuan)擇;測(ce)量電(dian)阻(zu)範圍能夠(gou)自動選(xuan)擇，加電(dian)時間(jian)能夠(gou)滿(man)足規(gui)範(fan)JISZ3197(ANSIJSTD004)要求
    
9、鹽霧試驗(yan)    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.17:2008;IEC60068-2-11:1981
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)Ka:鹽霧
試驗(yan)目的    適用於(yu)比(bi)較具有相似(si)結構(gou)的試樣(yang)的(de)抗(kang)鹽霧腐(fu)蝕的(de)能力，也(ye)適用(yong)於(yu)評(ping)定(ding)保(bao)護性塗(tu)層的質量以及(ji)均勻(yun)性(xing)
試驗(yan)方法(fa)/條件    鹽溶液濃(nong)度(5±1)%(質量(liang)比(bi))，(35±2)℃時PH值6.5～7.2內(nei)
試驗(yan)箱(xiang)的溫(wen)度維(wei)持在(35±2)℃，收集(ji)鹽霧每(mei)小(xiao)時的(de)沈(chen)降(jiang)量在(zai)1.0～2.0mL之間(jian)及(ji)測(ce)試PH值
嚴酷等(deng)級    
時間(jian)    16h，24h，48h，96h，168h，336h，672h
匹配(pei)設備(bei)    SQ系(xi)列
設備(bei)要(yao)求    試驗(yan)條(tiao)件維(wei)持(chi)在規(gui)定(ding)的容(rong)差(cha)內(nei)35±2℃,1ml～2ml/80cm^2•h;
足(zu)夠(gou)的(de)空(kong)間(jian)內條件(jian)穩定均(jun)壹，鹽霧不(bu)能直(zhi)接(jie)噴射到樣(yang)件(jian)上，冷凝水不(bu)能跌落到樣(yang)品(pin)上
有排(pai)氣口(kou)(防(fang)風(feng)保(bao)護)維持(chi)箱(xiang)內的(de)壓力，噴霧裝(zhuang)置(zhi)形(xing)成細(xi)小(xiao)、潤(run)濕(shi)、濃(nong)密的霧
    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.18:2000;IEC60068-2-52:1996
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)Kb:鹽霧，交(jiao)變(氯(lv)化(hua)鈉溶液)
試驗(yan)目的    適用於(yu)預(yu)定(ding)耐(nai)受含鹽大(da)氣的(de)元件(jian)或設備(bei)，其(qi)耐受程度隨(sui)選(xuan)用(yong)的(de)嚴酷等(deng)級定(ding)
試驗(yan)方法(fa)/條件    鹽溶液濃(nong)度(5±1)%(質量(liang)比(bi))，(20±2)℃時PH值6.5～7.2內(nei)
噴(pen)霧溫(wen)度(du)在(zai)15～35℃，收集(ji)鹽霧每(mei)小(xiao)時的(de)沈(chen)降(jiang)量在(zai)1.0～2.0mL之間(jian)
嚴酷等(deng)級    嚴酷等(deng)級(1):(2h噴(pen)霧周(zhou)期+7天(tian)的濕(shi)熱貯存(cun))*4次
嚴酷等(deng)級(2):(2h噴(pen)霧周(zhou)期+20h～22h濕(shi)熱貯存(cun))*3次
嚴酷等(deng)級(3):(2h噴(pen)霧周(zhou)期+20h～22h濕(shi)熱貯存(cun))*3次+標(biao)準(zhun)大(da)氣(qi)3天貯存(cun)
嚴酷等(deng)級(4),(5),(6):分(fen)別為(3)*2次、4次、8次
時間(jian)    
匹配(pei)設備(bei)    SQ系(xi)列+J系列
設備(bei)要(yao)求    試驗(yan)條(tiao)件維(wei)持(chi)在規(gui)定(ding)的容(rong)差(cha)內(nei)35±2℃,1ml～2ml/80cm^2•h;足(zu)夠(gou)的(de)空(kong)間(jian)穩定均(jun)壹、鹽霧不(bu)能直(zhi)接(jie)噴射到樣(yang)件(jian)上、冷凝水不(bu)能跌落到樣(yang)品(pin)上、有排(pai)氣口(kou)(防(fang)風(feng)保(bao)護)維持(chi)箱(xiang)內的(de)壓力、噴霧裝(zhuang)置(zhi)形(xing)成細(xi)小(xiao)、潤(run)濕(shi)、濃(nong)密的霧。
濕(shi)熱箱(xiang):(93-3+2)%、溫度(du)40℃±2℃
標(biao)準(zhun)大(da)氣(qi)箱(xiang):溫度(du)23℃±2℃、濕度(du)45%～55%
    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T10125:1997;ISO9227:2006
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    人造氣(qi)氛(fen)下(xia)的腐(fu)蝕實驗(yan)-鹽霧試驗(yan)
試驗(yan)目的    適用於(yu)比(bi)較具有相似(si)結構(gou)的試樣(yang)的(de)抗(kang)鹽霧腐(fu)蝕的(de)能力，也(ye)適用(yong)於(yu)評(ping)定(ding)保(bao)護性塗(tu)層的質量以及(ji)均勻(yun)性(xing)
試驗(yan)方法(fa)/條件    鹽溶液濃(nong)度(5±1)%(質量(liang)比(bi))，(35±2)℃時PH值6.5～7.2內(nei)試驗(yan)箱(xiang)的溫(wen)度維(wei)持在(35±2)℃，收集(ji)鹽霧每(mei)小(xiao)時的(de)沈(chen)降(jiang)量在(zai)1.0～2.0mL之間(jian)及(ji)測(ce)試PH值
嚴酷等(deng)級    
時間(jian)    16h，24h，48h，96h，168h，336h，672h
匹配(pei)設備(bei)    SQ系(xi)列
設備(bei)要(yao)求    試驗(yan)條(tiao)件維(wei)持(chi)在規(gui)定(ding)的容(rong)差(cha)內(nei)35±2℃,1ml～2ml/80cm^2•h;足(zu)夠(gou)的(de)空(kong)間(jian)穩定均(jun)壹、鹽霧不(bu)能直(zhi)接(jie)噴射到樣(yang)件(jian)上、冷凝水不(bu)能跌落到樣(yang)品(pin)上、有排(pai)氣口(kou)(防(fang)風(feng)保(bao)護)維持(chi)箱(xiang)內的(de)壓力、噴霧裝(zhuang)置(zhi)形(xing)成細(xi)小(xiao)、潤(run)濕(shi)、濃(nong)密的霧
    
11、振動試驗(yan)    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.10:2008;IEC60068-2-6:2007
GB/T2423.56:2006;IEC60068-2-64:2008
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)Fc和(he)導則(ze):振動(正(zheng)弦(xian))
電(dian)工(gong)電(dian)子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)Fh:寬(kuan)帶隨(sui)機振動和導(dao)則(ze)
試驗(yan)目的    確(que)定元件(jian)、設備(bei)或(huo)其他產品經(jing)受規(gui)定(ding)嚴酷程(cheng)度(du)(正(zheng)弦(xian)、寬(kuan)帶隨(sui)機)振動的能力
試驗(yan)方法(fa)/條件    Fc的(de)嚴酷等(deng)級--有(you)三(san)個(ge)參(can)數(shu)確(que)定:頻(pin)率(lv)範圍、振動幅值、耐(nai)久(jiu)試驗(yan)的(de)持續(xu)時間(jian)(定(ding)頻(pin)耐(nai)久(jiu)、掃(sao)頻(pin)耐(nai)久(jiu));規(gui)範(fan)中(zhong)選(xuan)取
Fh的(de)嚴酷等(deng)級—有(you)四(si)個(ge)參(can)數(shu)確(que)定:頻(pin)率(lv)範圍、加速(su)度(du)譜(pu)密(mi)度值、加速(su)度(du)譜(pu)密(mi)度的(de)譜(pu)型(xing)、試驗(yan)持(chi)續時間(jian);規(gui)範(fan)中(zhong)選(xuan)取
嚴酷等(deng)級    
時間(jian)    
匹配(pei)設備(bei)    電(dian)動振動試驗(yan)系(xi)統(tong)
DC-3200-36:31.36KN(3,200kgf),980m/s2,51mmp-p,2～2,500Hz
設備(bei)要(yao)求    
    
12、溫度振動試驗(yan)    
標(biao)準(zhun)編號    GB/T2423.35:2005;IEC60068-2-50:1983
GB/T2423.36:2005;IEC60068-2-51:1983
標(biao)準(zhun)名稱(cheng)    電(dian)工電子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)Z－AFc:散熱和(he)非(fei)散熱試驗(yan)樣(yang)品的(de)低(di)溫－振動(正(zheng)弦(xian))綜(zong)合試驗(yan)
電(dian)工電(dian)子(zi)產品環境(jing)試驗(yan)第(di)2部(bu)分(fen):試驗(yan)方法(fa)試驗(yan)Z-Bfc:散熱和(he)散熱試驗(yan)樣(yang)品的(de)高溫(wen)－振動(正(zheng)弦(xian))綜(zong)合試驗(yan)
試驗(yan)目的    確(que)定元器(qi)件、設備(bei)或(huo)其他產品在(zai)(低溫(wen)/高溫(wen))與(yu)振動綜(zong)合條(tiao)件下(xia)使用、貯存(cun)和(he)運輸的適(shi)應性。
試驗(yan)方法(fa)/條件    
嚴酷等(deng)級    低(di)溫(wen)試驗(yan)/高溫(wen)試驗(yan)確(que)定溫(wen)度(du)的(de)嚴酷等(deng)級
從(cong)振動試驗(yan)Fc確(que)定振動的嚴酷等(deng)級
時間(jian)    
匹配(pei)設備(bei)    溫(wen)度、濕度(du)、振動三綜(zong)合試驗(yan)設備(bei)
設備(bei)要(yao)求