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電(dian)路(lu)板，LED，磁性(xing)材料環境(jing)試驗(yan)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)/成(cheng)功(gong)案(an)例
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電路(lu)板，LED，磁性(xing)材料環境(jing)試驗(yan)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)/成(cheng)功(gong)案(an)例
近年(nian)來(lai)國內(nei)外電子(zi)整(zheng)機(ji)的失(shi)效(xiao)統(tong)計(ji)顯示(shi)，元器(qi)件造(zao)成的失(shi)效(xiao)占50%的比例。多(duo)年來(lai)壹直(zhi)居(ju)高(gao)不(bu)下(xia)，引(yin)起(qi)人(ren)們(men)普遍關註。元(yuan)器件本(ben)身(shen)及(ji)使用的可靠性(xing)提高(gao)對(dui)於(yu)整機(ji)可靠性(xing)的提高(gao)具(ju)有關鍵(jian)的作(zuo)用(yong)。
行業(ye) | 檢(jian)測(ce)對(dui)象(xiang) | 用途(tu) | 工藝(yi) | 解決(jue)方(fang)案(an) |
電子(zi)部品(pin) |
印(yin)制(zhi)電路(lu)板 | 生產(chan) | 絕緣(yuan)層(ceng)塗(tu)料硬化幹(gan)燥(zao) | 高(gao)溫試(shi)驗(yan)箱 |
層(ceng)間(jian)接合(he)硬(ying)化 | 真空高(gao)溫試(shi)驗(yan)箱 | |||
脫泡 | 250℃真空高(gao)溫箱 | |||
評價(jia) | 熱循(xun)環加(jia)速試(shi)驗(yan) | 冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱＋導(dao)通電(dian)阻(zu)評(ping)估系統(tong) | ||
溫濕(shi)度(du)偏(pian)壓(ya)電(dian)壓(ya)加(jia)速(su)試驗(yan) | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)）＋絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)劣(lie)化評估系統(tong) | |||
高(gao)溫高(gao)壓(ya)材料耐濕試(shi)驗(yan) | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)）＋絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)劣(lie)化評估系統(tong) | |||
LED | 生產(chan)/檢(jian)查 | 脫泡試(shi)驗(yan) | 真空高(gao)溫試(shi)驗(yan)箱 | |
評價(jia) | 高(gao)溫試(shi)驗(yan) | 高(gao)溫試(shi)驗(yan)箱 | ||
低(di)溫放(fang)置(zhi)試驗(yan) | 中型高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱 | |||
溫度(du)循(xun)環試(shi)驗(yan) | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)） | |||
磁性(xing)材料 | 生產(chan) | 幹燥(zao) | 高(gao)溫試(shi)驗(yan)箱 | |
評價(jia) |
| 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)） | ||
| 高(gao)壓(ya)加(jia)速(su)老(lao)化(hua)試驗(yan)箱 |
信息(xi)通(tong)訊(xun)
信息(xi)通(tong)訊(xun)設備使用範圍從(cong)室內到(dao)野(ye)外，從(cong)熱(re)帶到(dao)寒帶，不(bu)同(tong)地方(fang)經(jing)受這(zhe)多(duo)樣的環境(jing)條(tiao)件(jian)。同(tong)時(shi)伴(ban)隨(sui)市場(chang)的小型化、便(bian)攜(xie)性(xing)要求(qiu)的日(ri)益提高(gao)，裝置(zhi)密(mi)度也(ye)不(bu)斷(duan)增(zeng)加。因此，元器件(jian)選擇、系統(tong)設計(ji)、產(chan)品定(ding)型、制造(zao)工藝(yi)及(ji)失(shi)效(xiao)分析(xi)都(dou)對(dui)可靠性(xing)提出(chu)了(le)嚴格(ge)的要求(qiu)。
行業(ye) | 檢(jian)測(ce)對(dui)象(xiang) | 用途(tu) | 工藝(yi) | 解決(jue)方(fang)案(an) |
IT通訊(xun) |
傳輸交(jiao)換設備 | 檢(jian)查 | 冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗(yan) | 冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱 |
高(gao)溫放(fang)置(zhi)試驗(yan) | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)） | |||
老(lao)化(hua)試驗(yan) | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)） | |||
評價(jia) | 熱循(xun)環試(shi)驗(yan) | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)） | ||
lcordia試驗(yan) | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)） | |||
| 冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱 | |||
絕緣(yuan)評(ping)價(jia) | 絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)劣(lie)化評估系統(tong) | |||
導通(tong)評(ping)價(jia) | 導通(tong)電(dian)阻(zu)評(ping)估系統(tong) | |||
移動(dong)通(tong)信終端 | 檢(jian)查 | 成品(pin)動(dong)作(zuo)試(shi)驗(yan) | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)） | |
| 高(gao)低(di)溫(濕(shi)度(du)）試(shi)驗(yan)室 | |||
評價(jia) | 溫濕(shi)度(du)試(shi)驗(yan) | 小型環境(jing)試驗(yan)箱 | ||
| 高(gao)壓(ya)加(jia)速(su)老(lao)化(hua)試驗(yan)箱 | |||
絕緣(yuan)評(ping)價(jia) | 絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)劣(lie)化評估系統(tong) | |||
導通(tong)評(ping)價(jia) | 導通(tong)電(dian)阻(zu)評(ping)估系統(tong) | |||
計(ji)算機(ji) | 檢(jian)查 | 冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗(yan) | 冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱 | |
高(gao)溫放(fang)置(zhi)試驗(yan) | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)） | |||
老(lao)化(hua)試驗(yan) | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)） | |||
評價(jia) | 成品(pin)或零部件(jian)的綜合評(ping)價(jia) | 溫度(du)、濕(shi)度(du)、振(zhen)動(dong)三(san)綜(zong)合試(shi)驗(yan)箱 | ||
絕緣(yuan)評(ping)價(jia) | 絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)劣(lie)化評估系統(tong) | |||
導通(tong)評(ping)價(jia) | 導通(tong)電(dian)阻(zu)評(ping)估系統(tong) | |||
計(ji)算機(ji)外存儲(chu)設備 | 檢(jian)查 | 元器(qi)件(jian)篩選 | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)） | |
成品(pin)老(lao)化(hua)處(chu)理 | 高(gao)低(di)溫(濕(shi)度(du)）試(shi)驗(yan)室 | |||
評價(jia) | 保證(zheng)溫濕(shi)度(du)範(fan)圍內動(dong)作(zuo)試(shi)驗(yan) | 高(gao)低(di)溫（濕(shi)熱(re)）試(shi)驗(yan)箱(J系列(lie)） | ||
| 冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱 | |||
絕緣(yuan)評(ping)價(jia) | 絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)劣(lie)化評估系統(tong) | |||
導通(tong)評(ping)價(jia) | 導通(tong)電(dian)阻(zu)評(ping)估系統(tong) |
產(chan)品分(fen)類(lei)
- 氫檢(jian)儀(yi)氣(qi)密(mi)性(xing)檢(jian)漏檢(jian)測(ce)儀(yi)
- 國產(chan)源(yuan)表，替代(dai)keithley
- 體積電阻(zu)率(lv)/表面電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)
- 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
- 半(ban)導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
- 介(jie)電常數/電導率(lv)測(ce)試(shi)方案(an)
- 大(da)眾(zhong)VW80000/通(tong)用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準測(ce)試(shi)
- 電化(hua)學工作(zuo)站(zhan)/恒電位(wei)儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
- 電池/光(guang)伏/汽車充電樁測(ce)試(shi)
- DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測(ce)試(shi)
- 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)，電(dian)阻(zu)計(ji)，記錄(lu)儀(yi)
- 吉(ji)時(shi)利KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
- 安(an)捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯(si)佩(pei)克(ke)ESPEC環境(jing)試驗(yan)箱
- 普源(yuan)RIGOL/致遠(yuan)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂(mao)/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
- 邏(luo)輯分(fen)析儀/總線(xian)協議測(ce)試(shi)
- EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹(gan)擾(rao)兼(jian)容
- 愛色麗(li)X-Rite/電(dian)色(se)NIPPON
- 梅特(te)勒(le)METTLER
- 物(wu)料(liao)輪廓(kuo)顏(yan)色缺(que)料(liao)視(shi)覺(jiao)篩選
- 博(bo)勒(le)飛Brookfield
- 賓(bin)德BINDER試驗(yan)箱
- 金(jin)相(xiang)切割(ge)/鑲嵌(qian)/研(yan)磨(mo)拋光(guang)
- 紅外熱像(xiang)儀
- 美(mei)國BK PRECISION
- ADCMT愛德萬(wan)ADVANTEST
- COSMOS氣體(ti)/鐵(tie)粉濃度(du)計(ji)
- ITECH艾德克(ke)斯(si)/NGI恩(en)智
- 羅德與(yu)施瓦(wa)茨R&S（惠美(mei)HAMEG）
- 同(tong)惠(hui)/長(chang)盛(sheng)/安(an)柏
- 標(biao)準源(yuan)/計(ji)量校(xiao)準檢(jian)定(ding)設(she)備
- 晶(jing)圓(yuan)、芯(xin)片、屏幕(mu)Particle
- 日(ri)置(zhi)HIOKI/國產(chan)替代(dai)
- 鎖相(xiang)放(fang)大(da)器(qi)
- 噪(zao)聲/振(zhen)動(dong)/聲(sheng)學測(ce)試(shi)方案(an)
- 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲(sheng)器(qi)件測(ce)試(shi)設備
- 長(chang)盛(sheng)耐壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)安(an)規測(ce)試(shi)
- 永磁軟(ruan)磁磁通(tong)量(liang)測(ce)試(shi)
- 汽車電子(zi)標(biao)準波形可編(bian)程(cheng)電源(yuan)
- SHIMAZU島津(jin)
- 德維創(chuang)DEWETRON
- ARC電池絕熱(re)量(liang)熱(re)儀/熱(re)安(an)全性(xing)能
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