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吉時利KEITHLEY源(yuan)表測(ce)量(liang)能(neng)力和(he)主(zhu)要應(ying)用(yong)

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吉時利KEITHLEY源(yuan)表在(zai)統(tong)壹自(zi)動(dong)特征分析套(tao)件(jian)中、集(ji)成(cheng)測(ce)試系(xi)統(tong)整合各(ge)種測(ce)試硬件(jian)，具有(you)全面(mian)而*的測量能(neng)力：

·吉時利強(qiang)大(da)的4200-SCS半導體(ti)特征分析系(xi)統(tong)具有(you)I-V源(yuan)測(ce)量(liang)功(gong)能(neng)和(he)專(zhuan)業(ye)脈(mai)沖測(ce)試工具包(bao)，用(yong)於先(xian)進半導體(ti)材(cai)料(liao)測(ce)試的4200-PIV工具包(bao)。

·2600系(xi)列數字(zi)源(yuan)表測(ce)試儀具有(you)TSP-Link和(he)測(ce)試腳本處理(li)器(qi)(TSP)，可(ke)在(zai)運行狀(zhuang)態(tai)下(xia)的NBTI測試或圓片級(ji)器件(jian)特征分析等應(ying)用(yong)中實現可(ke)擴展(zhan)的I-V通道系(xi)統(tong)、高(gao)速並行(xing)測量(liang)和(he)復(fu)雜(za)測(ce)試序列等(deng)功(gong)能(neng)。

·2400系(xi)列數字(zi)源(yuan)表測(ce)試儀能(neng)夠(gou)提供(gong)高(gao)電壓(ya)和(he)高(gao)電流源(yuan)，可(ke)用(yong)於高(gao)功(gong)率(lv)MOSFET和(he)顯(xian)示驅動(dong)器測試等領域。

·此(ci)外ACS集成測試系(xi)統(tong)還為(wei)用(yong)戶(hu)提(ti)供(gong)可(ke)選(xuan)擇(ze)的開關(guan)、C表和(he)脈(mai)沖發生器(qi)等附件(jian)。

吉時利KEITHLEY源(yuan)表其(qi)中(zhong)壹些(xie)主(zhu)要應(ying)用(yong)如：

·通(tong)用(yong)超(chao)快(kuai)I-V測(ce)量(liang)。脈(mai)沖式(shi)I-V測(ce)試具有(you)很廣(guang)泛(fan)的應用(yong)，它(ta)通(tong)過(guo)使用(yong)窄脈(mai)沖和(he)/或(huo)低占(zhan)空(kong)比(bi)脈(mai)沖而(er)不(bu)是(shi)直流信(xin)號，能(neng)夠(gou)防止器(qi)件(jian)自(zi)熱(re)效應。

·CMOS器件(jian)特征分析。4225-PMU/4225-RPM的高(gao)速電壓(ya)源(yuan)和(he)電(dian)流測量靈(ling)敏(min)度(du)使得(de)它(ta)們非常(chang)適合於(yu)CMOS器件(jian)的特征分析，包括(kuo)高(gao)k器件(jian)和(he)先(xian)進CMOS工藝，如絕緣(yuan)體(ti)上(shang)矽。

·非易失(shi)性(xing)存(cun)儲器(qi)測試。系(xi)統(tong)安裝(zhuang)的KTEI軟件(jian)提供(gong)了用(yong)於閃(shan)存(cun)和(he)相(xiang)變存(cun)儲器(qi)器件(jian)測試的工具包(bao)。該系(xi)統(tong)非常(chang)適合於(yu)單個(ge)存(cun)儲單(dan)元(yuan)或(huo)小(xiao)規(gui)模(mo)存(cun)儲陣(zhen)列的測試，例如研發或(huo)工藝驗(yan)證之(zhi)類的應用(yong)。

·化合物半導體(ti)器(qi)件(jian)與材料(liao)的特征分析。能(neng)夠(gou)對III-V族材(cai)料(liao)進行特征分析，例如氮(dan)化鎵、砷化鎵和(he)其(qi)它(ta)壹些(xie)化合物半導體(ti)。它(ta)允(yun)許用(yong)戶(hu)設置(zhi)壹個(ge)脈(mai)沖偏(pian)移(yi)電(dian)壓(ya)，然後從(cong)非零(ling)值(zhi)進行測量，從(cong)而(er)研究器件(jian)的放大(da)增(zeng)益(yi)或線(xian)性(xing)度。

·NBTI/PBTI可(ke)靠(kao)性(xing)測試。自(zi)動(dong)特征分析套(tao)件(jian)軟件(jian)還支持(chi)全(quan)自(zi)動(dong)晶圓級(ji)和(he)晶(jing)匣級(ji)測試，內(nei)置NBTI/PBTI測(ce)試庫，具有(you)簡(jian)潔易(yi)用(yong)的GUI。

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