福祿克FLUKE PM6306/PM6304數(shu)字(zi)電(dian)橋LCR測試儀操作說(shuo)明

福(fu)祿克FLUKE PM6306/PM6304數(shu)字(zi)電(dian)橋LCR測試儀操作說(shuo)明

儀器(qi)面(mian)板按鍵
【LOCAL】 從遠程控(kong)制切(qie)換(huan)到面(mian)板操作，正在通信(xin)時(shi)請不要按此(ci)鍵，以免(mian)通信(xin)發(fa)生錯誤。
【INTERFACE】通過IEEE-488或RS-232接口(kou)進(jin)行遠程控(kong)制儀(yi)器時(shi)的參(can)數(shu)設置(zhi)。
【AUTO】自動(dong)測(ce)量模式   屏幕上(shang)顯(xian)示(shi)首項和第(di)二(er)項參數(shu)，串(chuan)/並(bing)聯等效電(dian)路(lu)。
 
【SER/PARA】選擇(ze)串(chuan)聯或並(bing)聯測試模式   並(bing)聯模式（Lp、Cp） 采用恒壓方(fang)式測(ce)量；而串(chuan)聯模式（Ls、Cs） 采用恒流方(fang)式測(ce)量。測量時(shi)顯(xian)示(shi)等效電(dian)路(lu)圖為(wei)單個元(yuan)器件(jian)，如 ，則該(gai)元(yuan)件(jian)呈(cheng)純阻(zu)抗性(xing)。
【AVERAGE】增(zeng)大(da)平均時(shi)間指(zhi)數以減(jian)小(xiao)測量數值波動(dong)。再(zai)次(ci)按此(ci)鍵，顯(xian)示(shi)初(chu)始(shi)設置(zhi)的平均時(shi)間指(zhi)數。有三(san)個平均時(shi)間等級(ji)可選(xuan)（PM6304只有壹個等級(ji)可用(yong)），或關(guan)閉不用此(ci)功能(neng)。
【RCL POSITION】選擇(ze)阻(zu)抗或容感(gan)抗(kang)作為(wei)首項顯(xian)示(shi)。當(dang)選(xuan)擇(ze)了該設置(zhi)，第(di)二(er)行測量值前(qian)顯(xian)示(shi)“DOMINANT”，即元(yuan)件(jian)的標稱值。
【DEVIATION SET REF】設置(zhi)測量值偏(pian)差，AUTO→ DEV→按旋鈕選(xuan)擇偏(pian)差值→再(zai)按壹次(ci)DEV。顯(xian)示(shi)的偏(pian)差百(bai)分數(shu)＝（測(ce)量值－設置(zhi)的偏(pian)差）/測(ce)量值，為(wei)負數(shu)證(zheng)明設置(zhi)的偏(pian)差大(da)於測(ce)量值。
 
【BIN SORT】元(yuan)件(jian)分(fen)級(ji)。具(ju)體見後(hou)面(mian)介紹。
顯(xian)*號表(biao)明測(ce)量數值超(chao)出基本精度(du)。
【＠/Z】相(xiang)角/阻(zu)抗（復合阻(zu)抗）。 在理想(xiang)狀(zhuang)態下，相角（θ）在純電(dian)阻(zu)下是0°，在純電(dian)容下是-90°，純(chun)電感(gan)則(ze)為(wei)+90°。在測量時(shi)，出現壹個負(fu)的電(dian)抗(kang)值，為(wei)呈容抗的元(yuan)件(jian)。
【Q/D】顯(xian)示(shi)品質因數/損耗因數。
【Vx/Ix】加(jia)在測量元件(jian)上(shang)的電(dian)壓(ya)/電流。
 
【HI LEVEL/ NORMAL /LOW LEVEL】測試信(xin)號源   高(gao)電平交流有效值（方(fang)均根值）或(huo)直(zhi)流2V，400歐的內阻(zu)。常用電平交流有效值（方(fang)均根值）或(huo)直(zhi)流1V，內阻(zu)100歐。低電平交流50 mV或直(zhi)流300mV，內阻(zu)100歐。PM6304只可選(xuan)這三個等級(ji)的測(ce)試電平，對(dui)應(ying)於PM6306的AC 50mV-2V測(ce)試信(xin)號源。
 
【FRQ】選(xuan)擇50Hz-1MHz測(ce)試信(xin)號頻(pin)率(lv)，PM6304的該(gai)鍵每(mei)按壹次(ci)切(qie)換(huan)壹個量程。
【INT /EXT /OFF】選(xuan)擇內部0V-10V直(zhi)流偏(pian)壓（PM6304只有2V可選(xuan)）；或外部直(zhi)流偏(pian)壓（zui大(da)DC40V）。不加(jia)直(zhi)流偏(pian)置(zhi)時(shi)按OFF。直(zhi)流偏(pian)置(zhi)電壓可用(yong)來測(ce)試電解(jie)電容和PN結(jie)等器(qi)件(jian)。
 
【DC AC】DC選(xuan)擇50mV-2V直(zhi)流測試電平（需PM9565直(zhi)流測量選件(jian)，且(qie)長(chang)按DC鍵2秒(miao)鐘(zhong)，測(ce)量目的是進(jin)行交直(zhi)流特性(xing)的對(dui)比）；AC選(xuan)擇(ze)50mV-2V交(jiao)流測試電平。這屬(shu)於PM6306的AC測(ce)試信(xin)號源，對(dui)應(ying)於PM6304的三(san)個等級(ji)測(ce)試電平。
比如測量電解(jie)電(dian)容，按AC鍵利用旋鈕選(xuan)擇交流測試電平1V～2V，選好(hao)後(hou)再(zai)按壹次(ci)AC鍵確認所選的值；再(zai)按INT鍵用(yong)旋(xuan)鈕選(xuan)擇直(zhi)流偏(pian)壓1V或(huo)更大(da)，zui後(hou)再(zai)次(ci)按INT確認數值。或(huo)按EXT鍵通過儀器後(hou)面(mian)板加(jia)較(jiao)高(gao)的外部直(zhi)流偏(pian)壓。
加(jia)偏(pian)置(zhi)進(jin)行測量過程中屏幕閃爍(shuo)“over”證(zheng)明儀(yi)器識別所加(jia)在被測(ce)件(jian)的偏(pian)置(zhi)電平過高，應(ying)減(jian)小(xiao)值再(zai)進(jin)行測量。
 
【STORE/RECALL】存(cun)儲(chu)或(huo)調(tiao)用(yong)儀器(qi)設置(zhi)（9個存(cun)儲(chu)），註(zhu)意：存(cun)儲(chu)的只是測(ce)量條(tiao)件(jian)（如測量頻(pin)率(lv)，電(dian)平，偏(pian)置(zhi)電壓），而不是測(ce)試結果(guo)。
【STEP/ + - 】設置(zhi)數值。
 
【FIXTURE SET】夾(jia)具(ju)設置(zhi)。測量時(shi)應(ying)考慮(lv)測(ce)試夾(jia)具(ju)的雜(za)散電(dian)容，選擇(ze)匹配(pei)的測(ce)試夾(jia)參(can)數(shu)設置(zhi)才能(neng)測量出器件(jian)本(ben)身的真正值，特別(bie)是測(ce)試信(xin)號頻(pin)率(lv)﹥20KHz時(shi)。如果選(xuan)用(yong)PM9542SMD,SMD適(shi)配(pei)器測(ce)試盒；PM9541B   4線(xian)開爾(er)文(wen)夾(jia)；PM9540/TWE,SMD鑷子；PM9540/BAN,4線(xian)香蕉插頭(tou)測試線(xian)時(shi)，存(cun)在300pF雜(za)散電(dian)容，由(you)n=Cground/100pF得(de)知(zhi)選SET-C 3。不用特殊(shu)測(ce)試夾(jia)具(ju)，僅用配(pei)帶的測(ce)試位(wei)夾(jia)時(shi)選擇(ze)SET-C 0。
 
【CONT/SINGLE】單次或(huo)連續(xu)測(ce)量。單次(ci)測(ce)量時(shi)，儀器(qi)處於待(dai)命(ming)狀(zhuang)態，按TRIGGER觸(chu)發(fa)鍵壹次(ci)則測量壹次(ci)，測量數值保(bao)持(chi)不變，直(zhi)到下壹次(ci)測量為(wei)止(zhi)。啟用(yong)分級(ji)功(gong)能(neng)時(shi)，設置(zhi)單次測量模式。
【TRIGGER】單(dan)次(ci)測(ce)量觸(chu)發(fa)信(xin)號。
【CONTACT CHECK】檢(jian)查(zha)附件(jian)夾(jia)具(ju)連接是否(fou)良(liang)好(hao)，如果連(lian)接(jie)良(liang)好(hao)，按下此(ci)鍵屏幕顯(xian)示(shi)PASS；當(dang)顯(xian)示(shi)FAIL時(shi)，連接(jie)不良(liang)，按AUTO鍵中止(zhi)檢(jian)查(zha)，重新(xin)檢(jian)查(zha)設置(zhi)。
 
【ZERO TRIM】開路(lu)/短路歸(gui)零(ling)。
   如果測(ce)試條(tiao)件(jian)不斷改(gai)變，選擇全校零操作，即(ji)選TRIM A依照(zhao)如下步驟(zhou)進(jin)行調零(ling)：
1．按ZERO TRIM，用旋(xuan)鈕選(xuan)TRIM A（如果使用同樣(yang)測(ce)試條(tiao)件(jian)測(ce)量，連續(xu)使用儀器(qi)時(shi)每隔(ge)4小(xiao)時(shi)也(ye)需選(xuan)擇(ze)TRIM I進(jin)行調零(ling)）
2．再(zai)按壹次(ci)ZERO TRIM鍵，屏幕顯(xian)示(shi)閃爍(shuo)“BUSY Oct”，提示(shi)將測(ce)試夾(jia)開路(lu)，開始(shi)15秒(miao)倒(dao)數(shu)計(ji)時(shi)開路(lu)調(tiao)零（間(jian)隔(ge)調零不用15秒(miao)，直(zhi)接開路(lu)調(tiao)零緊(jin)接(jie)著短路調零(ling)，具(ju)體依照(zhao)操作）
3．上(shang)壹步(bu)結束後(hou)，屏幕顯(xian)示(shi)閃爍(shuo)“BUSY  Sct”，即提示(shi)將測(ce)試夾(jia)具(ju)短接，再(zai)按壹次(ci)ZERO TRIM鍵，15秒(miao)倒(dao)數(shu)計(ji)時(shi)後，微調(tiao)成(cheng)功，屏幕出現“PASS”，反之顯(xian)示(shi)失(shi)敗(bai)“FAIL”。
 
測(ce)量演(yan)示(shi)
1．正確開機(ji)自檢(jian)結束後(hou)，將測(ce)試夾(jia)具(ju)插入，按【CONTACT CHECK】檢(jian)查(zha)其連接(jie)是否(fou)良(liang)好(hao)；
2．按【FIXTURE SET】進(jin)行測試夾(jia)具(ju)設置(zhi)，使用測試線(xian)夾(jia)具(ju)時(shi)選擇(ze)SET-C 3，僅用測(ce)試位(wei)夾(jia)時(shi)選擇(ze)SET-C 0；
3．按【FREQ】，【AC】，選取(qu)測(ce)量頻(pin)率(lv)，測(ce)量電平；如果測(ce)電(dian)解(jie)電容時(shi)按 【INT】另加(jia)內部直(zhi)流偏(pian)置(zhi)電壓；
4．按【ZERO TRIM】進(jin)行調零(ling)（切(qie)記：設置(zhi)好(hao)壹切(qie)後(hou)才調(tiao)零(ling)）；
5. 接(jie)入(ru)元(yuan)件(jian)按【AUTO】進(jin)行測量，在測量孔插入壹個已(yi)知(zhi)的元(yuan)件(jian)，比(bi)如壹個1K的電(dian)阻(zu)，屏幕顯(xian)示(shi)
此(ci)元件(jian)為(wei)純阻(zu)抗電阻(zu)；
6.按 [＠/Z] ，[Q/D]， [Vx/Ix] 查(zha)看被測(ce)元(yuan)件(jian)的相(xiang)角/阻(zu)抗，品質因數/損耗因數，電(dian)平/電流。
 
測量條(tiao)件(jian)參(can)考：
元(yuan)件(jian)規(gui)格(ge) 測量頻(pin)率(lv) 測(ce)量方(fang)式 備註
電(dian)容<200pF >100KHz 並(bing)聯  
電容≥1μF（非電解電容） 100Hz 並(bing)聯  
電容≥1μF（電解(jie)電容） 100Hz 串(chuan)聯 另加(jia)直(zhi)流偏(pian)置(zhi)，比如1V
電感(gan)＜100nH >100KHz 串(chuan)聯 視(shi)情況(kuang)加(jia)直(zhi)流偏(pian)置(zhi)
電感(gan)≥1H 100Hz 並(bing)聯 測量電平AC要低(di)，如低至(zhi)50mV。
電(dian)阻(zu)＜100Ω 1kHz 串(chuan)聯  
電阻(zu)≥10KΩ 1KHz 並(bing)聯  

其他元(yuan)器件(jian)測(ce)試選用(yong)壹般測(ce)試條(tiao)件(jian)進(jin)行測試：電平AC選取1V，頻(pin)率(lv)選(xuan)取1KHz，使用自動(dong)測(ce)量模式。

 （福(fu)祿克FLUKE PM6306/PM6304數(shu)字(zi)電(dian)橋LCR測試儀操作說(shuo)明）