安規(gui)測(ce)試(shi)技(ji)術(shu)及其標(biao)準(zhun)

安規(gui)測(ce)試(shi)技(ji)術(shu)及其標(biao)準(zhun)
 
安規(gui)測(ce)試(shi)儀(yi)用(yong)於(yu)高(gao)電(dian)壓(ya)元(yuan)、器(qi)件(jian)的耐(nai)壓(ya)測(ce)量(liang)試(shi)驗（用交(jiao)、直(zhi)流(liu)耐(nai)壓(ya)儀(yi)），如(ru)矽(gui)堆等。主要(yao)是(shi)用(yong)來(lai)檢(jian)測(ce)產品是(shi)否漏(lou)電(dian)、是(shi)否接(jie)地良好(hao)、會不(bu)會傷害人身安全的，主要(yao)檢(jian)測(ce)項目有電(dian)壓(ya)、泄(xie)漏(lou)電(dian)流、絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻和接(jie)地(di)電(dian)阻。
 
安規(gui)測(ce)試(shi)儀(yi)註(zhu)意(yi)事項：
　　註(zhu)意(yi)的是(shi)直(zhi)流(liu)高(gao)壓(ya)輸(shu)出(chu)是(shi)負(fu)電(dian)壓(ya)，而地為(wei)正(zheng)極(ji)。測(ce)試(shi)電(dian)容時(shi)，在電(dian)容器(qi)兩端(duan)加(jia)上(shang)電(dian)壓(ya)時(shi)有壹充電(dian)過程(cheng)，此時(shi)在測(ce)試(shi)電(dian)路中(zhong)有壹充電(dian)電(dian)流，當(dang)該電(dian)流大(da)於(yu)所設定(ding)的漏(lou)電(dian)電(dian)流值(zhi)時(shi)，耐壓(ya)測(ce)試(shi)儀(yi)就(jiu)會報警(jing)，使(shi)測(ce)試(shi)中(zhong)斷(duan)，無(wu)法進行。因(yin)此，安規(gui)測(ce)試(shi)儀(yi)在測(ce)試(shi)時(shi)，應緩慢(man)增加(jia)電(dian)壓(ya)，充電(dian)電(dian)流小(xiao)於(yu)所設定(ding)的漏(lou)電(dian)電(dian)流值(zhi)，直(zhi)到規(gui)定(ding)測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)，進(jin)行測(ce)試(shi)。而不(bu)能采(cai)用固(gu)定(ding)電(dian)壓(ya)，復(fu)位—啟(qi)動方(fang)式進(jin)行測(ce)試(shi).在交(jiao)流(liu)回路中(zhong)相當(dang)於(yu)直流回路中(zhong)的電(dian)阻，因(yin)此，安規(gui)測(ce)試(shi)儀(yi)在交(jiao)流(liu)回路中(zhong)就(jiu)產生壹(yi)個電(dian)流，當(dang)該電(dian)流大(da)於(yu)所設定(ding)的漏(lou)電(dian)流值(zhi)時(shi)，耐壓(ya)測(ce)試(shi)儀(yi)就(jiu)會報警(jing)，使(shi)得(de)測(ce)試(shi)中(zhong)斷(duan)，無(wu)法進行。因(yin)此，在測(ce)試(shi)前(qian)，應先(xian)計(ji)算(suan)好(hao)電(dian)容器(qi)的容抗(kang)（Xc），再算出(chu)在測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)下的回路電(dian)流值(zhi)，然(ran)後調(tiao)節耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)儀(yi)漏(lou)電(dian)流預(yu)置值，使(shi)其略(lve)大於(yu)回路電(dian)流值(zhi)，再進行測(ce)試(shi)。J）測(ce)試(shi)電(dian)纜等分(fen)布電(dian)容大(da)的元(yuan)件(jian)（設備(bei)）要(yao)等同於(yu)電(dian)容器(qi)測(ce)試(shi)。
 
測(ce)試(shi)項目
　　1、高(gao)壓(ya)測(ce)試(shi)： 　　Dielectric Voltage withstand test高(gao)壓(ya)測(ce)試(shi)為(wei)壹(yi)種(zhong)安規(gui)認(ren)證機(ji)構所(suo)要(yao)求的必(bi)測(ce)項目，產品須(xu)於(yu)出廠(chang)前(qian)座百(bai)分比(bi)的測(ce)試(shi)，它對(dui)產品而言，為品質(zhi)的保(bao)證及電(dian)氣安全性(xing)的指標，其測(ce)試(shi)方(fang)式是(shi)將壹高(gao)於(yu)正(zheng)常工作電(dian)壓(ya)的異(yi)常(chang)電(dian)壓(ya)加(jia)在產品上(shang)測(ce)試(shi)，並(bing)且(qie)這(zhe)個電(dian)壓(ya)須(xu)持(chi)續(xu)壹(yi)段時(shi)間(jian)，zui後判定(ding)只要(yao)無絕(jue)緣(yuan)崩潰(kui)情(qing)形(xing)，即可算是(shi)通過此測(ce)試(shi)　　
2、絕(jue)緣(yuan)阻抗測(ce)試(shi) 　　Insulation resistance test絕(jue)緣(yuan)阻抗於(yu)相關(guan)的兩(liang)點(dian)施(shi)加(jia)直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)，zui高(gao)可(ke)達1000伏(fu)特(te)，通常使用單(dan)位為(wei)歐姆(mu)，可(ke)判(pan)定(ding)良品及不(bu)良品 　　
3、接(jie)地(di)阻抗測(ce)試(shi) 　　Ground bond test接(jie)地(di)阻抗測(ce)試(shi)為(wei)測(ce)試(shi)產品的接(jie)地(di)點，對(dui)產品的外殼(ke)或(huo)者(zhe)金(jin)屬部(bu)分，施(shi)加(jia)壹(yi)個(ge)恒(heng)流(liu)電(dian)源來(lai)測(ce)試(shi)兩(liang)點(dian)間(jian)的阻抗大(da)小(xiao)，壹般(ban)產品規(gui)定(ding)測(ce)試(shi)25安培(pei)，阻抗不(bu)得大(da)於(yu)0.1歐姆(mu)，而CSA則(ze)要(yao)求量(liang)測(ce)40安培(pei)檢(jian)測(ce)，可檢(jian)測(ce)出接(jie)地點螺絲(si)未(wei)鎖(suo)緊(jin)，接(jie)地(di)線徑(jing)太小，接地(di)線路(lu)斷(duan)路等問題 　　
4、泄(xie)漏(lou)電(dian)流測(ce)試(shi) 　　Touch current test是(shi)指當(dang)設備(bei)供應電(dian)流時(shi)，流經(jing)設備(bei)金(jin)屬可(ke)接觸(chu)部(bu)分(fen)經(jing)人體(ti)至(zhi)接(jie)地部分(fen)或(huo)可接(jie)觸(chu)部(bu)分(fen)的電(dian)流。 　　
5、輸(shu)入測(ce)試(shi)： 　　安規(gui)輸(shu)入測(ce)試(shi)目(mu)的是(shi)考(kao)察(cha)產品設計(ji)時(shi)考慮(lv)輸(shu)入是(shi)否滿(man)足產品在正(zheng)常工作時(shi)，輸入電(dian)路是(shi)否能(neng)夠(gou)承受產品工作時(shi)需要(yao)的電(dian)流。在產品標(biao)準(zhun)裏面規(gui)定(ding)是(shi)：zui大(da)功(gong)耗(hao)的輸(shu)入電(dian)流不(bu)能大(da)於(yu)產品標(biao)稱(cheng)值的110%。這(zhe)個(ge)標稱(cheng)值也(ye)是(shi)告(gao)訴(su)用(yong)戶該產品安全工作需(xu)要(yao)的zui小(xiao)電(dian)流，讓用(yong)戶在使(shi)用(yong)這個(ge)設備(bei)前(qian)要(yao)準(zhun)備這(zhe)樣的電(dian)氣環境(jing)。 　　
6、安全標(biao)識(shi)的穩(wen)定(ding)性(xing)測(ce)試(shi)：　　對(dui)用(yong)戶使用安全的警(jing)告(gao)標(biao)識(shi)，必須(xu)是(shi)穩(wen)定(ding)可靠的，不(bu)能因(yin)為使(shi)用壹(yi)段時(shi)間(jian)後，變(bian)得模糊(hu)不(bu)清，而導致用戶錯誤使(shi)用(yong)，而導致危險，或(huo)直接(jie)導(dao)致危險發(fa)生(sheng)。所(suo)以(yi)需(xu)要(yao)測(ce)試(shi)這(zhe)個(ge)穩(wen)定(ding)性(xing)。在安全標(biao)準(zhun)裏面規(gui)定(ding)是(shi)：用(yong)水測(ce)試(shi)15S，然(ran)後用汽(qi)油(you)測(ce)試(shi)15S，標(biao)識(shi)不(bu)能模糊(hu)不(bu)清。 　　
7、電(dian)容放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)：　　對(dui)壹(yi)個電(dian)源線可(ke)以(yi)插拔(ba)的設備(bei)，其電(dian)源線經(jing)常(chang)會被(bei)拔出(chu)插座，拔(ba)出(chu)插座的電(dian)源插頭(tou)，經(jing)常(chang)是(shi)被(bei)人玩，或(huo)任(ren)意(yi)放(fang)置。這樣導致壹個問題，被(bei)拔出(chu)的電(dian)源插頭(tou)時(shi)帶(dai)電(dian)的，而這個(ge)電(dian)隨(sui)時(shi)間(jian)而消(xiao)失，如(ru)果(guo)這個時(shi)間(jian)太長(chang)，那麽將會對(dui)玩插頭(tou)的人造成(cheng)電(dian)擊，對(dui)任(ren)意(yi)放(fang)置的電(dian)源插頭(tou)會損(sun)壞(huai)其它設備(bei)或(huo)設備(bei)自己。因(yin)此各個整機(ji)安全標(biao)準(zhun)對(dui)這(zhe)個時(shi)間(jian)作出(chu)嚴(yan)格(ge)的規(gui)定(ding)。我(wo)們(men)設計(ji)產品要(yao)考慮(lv)這(zhe)個(ge)時(shi)間(jian)，產品作安全認(ren)證需要(yao)測(ce)量(liang)這個時(shi)間(jian)。　　
8、電(dian)路穩(wen)定(ding)測(ce)試(shi)：　　SELV電(dian)路 　　SELV電(dian)路，就(jiu)是(shi)安全地(di)電(dian)壓(ya)電(dian)路，這(zhe)個(ge)電(dian)路對(dui)使(shi)喲個(ge)人員就(jiu)是(shi)安全的，例如(ru)手機(ji)充電(dian)器的直(zhi)流(liu)輸出端，到手機(ji)，它們(men)是(shi)安全的，可(ke)以(yi)任(ren)意(yi)觸(chu)摸不(bu)會有危險。　　
註(zhu)：SELV電(dian)路在不(bu)同的標(biao)準(zhun)裏面有不(bu)同解(jie)釋(shi)，例如(ru)在IEC60364裏面解(jie)釋(shi)與(yu)IEC60950-1是(shi)不(bu)同的，因(yin)此關(guan)於(yu)SELV需要(yao)註(zhu)意(yi)在哪(na)個(ge)標準(zhun)下面，其危(wei)險也(ye)是(shi)不(bu)同的。 　　
SELV電(dian)路需(xu)要(yao)滿(man)足特殊的要(yao)求，才能是(shi)SELV電(dian)路，這(zhe)些(xie)要(yao)求是(shi)，在單(dan)壹故(gu)障是(shi)，仍(reng)然(ran)是(shi)滿(man)足SELV電(dian)路要(yao)求的。因(yin)此對(dui)每(mei)壹個(ge)SELV電(dian)路都(dou)需(xu)要(yao)做單(dan)壹故(gu)障下的測(ce)試(shi)，證明是(shi)SELV電(dian)路是(shi)穩(wen)定(ding)的。測(ce)試(shi)時(shi)是(shi)將單(dan)壹故(gu)障逐(zhu)壹引(yin)入，監(jian)視SELV電(dian)路。 　　
9、限功(gong)率源(yuan)電(dian)路 　　由(you)於(yu)限功(gong)率源(yuan)電(dian)路輸(shu)出(chu)的功(gong)率很(hen)小，在已(yi)經(jing)知道的經(jing)驗中，它們(men)不(bu)會導(dao)致著(zhe)火危(wei)險，因(yin)此在安全標(biao)準(zhun)中，對(dui)這(zhe)類電(dian)路的外殼(ke)作了(le)專門(men)降低要(yao)求規(gui)定(ding)，它們(men)阻燃等級(ji)是(shi)UL94V-2。因(yin)此有這類電(dian)路都(dou)需(xu)要(yao)測(ce)量(liang)，證明它們(men)是(shi)限功(gong)率源(yuan)電(dian)路。 　　
10、限流(liu)源電(dian)路 　　搞(gao)過電(dian)工的人知道，AC220V電(dian)路經(jing)過(guo)壹定(ding)的電(dian)阻之(zhi)後，對(dui)人就(jiu)沒(mei)有危險了。那(na)麽(me)究(jiu)竟是(shi)多(duo)大(da)的電(dian)阻，和電(dian)阻有什麽樣的要(yao)求。可(ke)能大家(jia)就(jiu)不(bu)知道了(le)。在安全標(biao)準(zhun)裏面就(jiu)有這個規(gui)定(ding)，這個(ge)規(gui)定(ding)就(jiu)是(shi)限流(liu)源電(dian)路。限流(liu)源電(dian)流，要(yao)求在電(dian)路正(zheng)常和(he)單(dan)壹故(gu)障下，流(liu)出的電(dian)流是(shi)在安全限值(zhi)以下的，對(dui)人不(bu)會導(dao)致危險小(xiao)於(yu)0.25mA。對(dui)於(yu)隔離壹次和(he)二(er)次電(dian)路的電(dian)阻是(shi)要(yao)求滿(man)足專門(men)標(biao)準(zhun)的耐(nai)沖擊電(dian)阻。 　　
11、接地(di)連續測(ce)試(shi): 　　搞(gao)過電(dian)氣安裝的人知道，有些設備(bei)必(bi)須(xu)接地(di)，否則(ze)將在其可(ke)以觸(chu)摸的表面有危險電(dian)壓(ya)。這(zhe)些(xie)危險電(dian)壓(ya)必(bi)須(xu)通過接地釋(shi)放(fang)。安規(gui)測(ce)試(shi)規(gui)定(ding)需要(yao)使用(yong)多大的電(dian)流，多(duo)久(jiu)時(shi)間(jian)，測(ce)量(liang)的電(dian)阻必須(xu)小於(yu)0.1歐姆(mu)，或(huo)電(dian)壓(ya)降小於(yu)2.5V（有條(tiao)件(jian)使(shi)用(yong)這(zhe)個值）。 　　
12、潮(chao)濕(shi)測(ce)試(shi) : 　　潮(chao)濕(shi)測(ce)試(shi)沒(mei)，是(shi)模擬(ni)設備(bei)在環緊(jin)下，設備(bei)的安全性(xing)能(neng)。設備(bei)在制造出(chu)後，是(shi)在任(ren)何(he)濕(shi)度(du)下都(dou)能(neng)安全運(yun)行的，不(bu)能因(yin)為是(shi)雨(yu)季(ji)，濕(shi)度(du)大而告訴(su)用(yong)戶設備(bei)不(bu)能使(shi)用(yong)。因(yin)此在設計(ji)時(shi)必須(xu)考慮(lv)設備(bei)在可(ke)以(yi)預見(jian)的濕(shi)度(du)下滿(man)足安全要(yao)求，因(yin)此濕(shi)度(du)測(ce)試(shi)是(shi)必(bi)須(xu)的。測(ce)試(shi)要(yao)求根(gen)據標(biao)準(zhun)不(bu)同，有少(shao)量(liang)的差異(yi)。　　
13、扭力測(ce)試(shi) : 　　扭力測(ce)試(shi)是(shi)設備(bei)外部(bu)導線在使(shi)用(yong)中，經(jing)常受到外力作用(yong)彎(wan)曲變(bian)形(xing)。這個(ge)測(ce)試(shi)就(jiu)是(shi)測(ce)試(shi)導(dao)線能(neng)夠(gou)承受的彎(wan)曲次數(shu)，在產品生(sheng)命(ming)周期內(nei)不(bu)會因(yin)為外力作用(yong)發(fa)生(sheng)斷(duan)裂(lie)，AC220V電(dian)線外露(lu)等危(wei)險(xian)。 　　
14、穩(wen)定(ding)性(xing)測(ce)試(shi): 　　設備(bei)在正(zheng)常使(shi)用中(zhong)，常常會有不(bu)同的外力作用(yong)，比(bi)如(ru)：比較高(gao)的設備(bei)人會靠住它，或(huo)有人在維(wei)護(hu)時(shi)攀(pan)爬它；比較矮的設備(bei)，外形(xing)如(ru)同凳(deng)子式(shi)的，有人可能(neng)會站(zhan)在上(shang)面等。由(you)於(yu)設備(bei)受到這些(xie)外力作用(yong)，設備(bei)在設計(ji)時(shi)沒有考慮(lv)周(zhou)全會導(dao)致設備(bei)倒(dao)塌，翻(fan)轉(zhuan)等危(wei)險(xian)。因(yin)此設備(bei)設計(ji)完(wan)成後需要(yao)做這(zhe)些測(ce)試(shi)。檢(jian)查它們(men)滿(man)足安全要(yao)求。　　
15、外殼(ke)受力測(ce)試(shi): 　　設備(bei)在使(shi)用(yong)過程(cheng)中，會受到各種(zhong)外力作用(yong)，這(zhe)些(xie)外力可能會使(shi)設備(bei)外殼(ke)變(bian)形(xing)，這些(xie)變(bian)形(xing)可能(neng)導(dao)致設備(bei)內(nei)部(bu)的危(wei)險(xian)，或(huo)指標不(bu)能滿(man)足要(yao)求。因(yin)此在設計(ji)設備(bei)時(shi)必須(xu)考慮(lv)這(zhe)些(xie)影(ying)響(xiang)，安全認(ren)證時(shi)必須(xu)測(ce)試(shi)這(zhe)些(xie)指標。　　
16、跌(die)落(luo)測(ce)試(shi): 　　小(xiao)的設備(bei)或(huo)臺式(shi)設備(bei)，在正(zheng)常使(shi)用中(zhong)，可能會從(cong)手(shou)中或(huo)工作臺(tai)跌(die)落(luo)到地面。這些(xie)跌(die)落(luo)可能會導(dao)致設備(bei)內(nei)部(bu)安全指標不(bu)能達(da)到要(yao)求。因(yin)此在設計(ji)設備(bei)時(shi)必須(xu)考慮(lv)這(zhe)種(zhong)影(ying)響(xiang)，在安全認(ren)證時(shi)需要(yao)測(ce)試(shi)這(zhe)些(xie)指標。要(yao)求是(shi)設備(bei)跌(die)落(luo)後，功(gong)能可(ke)以損(sun)失，但(dan)是(shi)不(bu)能對(dui)使(shi)用人員造(zao)成(cheng)危(wei)險(xian)。　　
17、應力釋放(fang)測(ce)試(shi): 　　設備(bei)內(nei)部(bu)如(ru)果(guo)有危險電(dian)路等，設備(bei)在正(zheng)常使(shi)用中(zhong)，如(ru)果(guo)外殼(ke)發(fa)生(sheng)變(bian)形(xing)，導致危險外露(lu)，這樣是(shi)不(bu)允(yun)許(xu)的。此在設計(ji)設備(bei)時(shi)必須(xu)考慮(lv)這(zhe)些(xie)影(ying)響(xiang)，安全認(ren)證時(shi)必須(xu)測(ce)試(shi)這(zhe)些(xie)指標。　　
18、電(dian)池(chi)充放(fang)電(dian)測(ce)試(shi): 　　如(ru)果(guo)設備(bei)內(nei)部(bu)有可充電(dian)電(dian)池(chi)，則(ze)需要(yao)做充放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)，和(he)單(dan)壹故(gu)障下的充電(dian)測(ce)試(shi)和(he)過(guo)充電(dian)測(ce)試(shi)。這(zhe)是(shi)因(yin)為設備(bei)在正(zheng)常使(shi)用中(zhong)，充電(dian)和放(fang)電(dian)，以及設備(bei)有故障，但(dan)是(shi)主要(yao)功(gong)能還沒有損失，使用(yong)人員不(bu)會發(fa)現(xian)設備(bei)故(gu)障的，這(zhe)種(zhong)情(qing)況下，沖放(fang)電(dian)要(yao)求是(shi)安全的，不(bu)能因(yin)此而發(fa)生(sheng)爆炸(zha)等危(wei)險(xian)。　　
19、設備(bei)升(sheng)溫測(ce)試(shi):（正(zheng)常工作下內(nei)部(bu)和(he)外部(bu)表面的溫(wen)度(du)） 　　
安全測(ce)試(shi)中(zhong)，溫(wen)升(sheng)測(ce)試(shi)zui為(wei)重要(yao)，雖(sui)然(ran)測(ce)試(shi)使(shi)用(yong)設備(bei)儀(yi)器與(yu)人工氣候(hou)環境(jing)測(ce)試(shi)相同，但(dan)試(shi)考(kao)察(cha)項目和測(ce)試(shi)器(qi)件(jian)和(he)目(mu)的有很大區別(bie)。人工氣候(hou)環境(jing)主要(yao)考察(cha)設備(bei)的適(shi)應性(xing)和(he)可(ke)靠性(xing)。而安規(gui)考(kao)察(cha)的是(shi)設備(bei)是(shi)否可(ke)以安全地(di)工作。這(zhe)裏舉(ju)壹例來說(shuo)明(ming)它們(men)區(qu)別：安規(gui)測(ce)試(shi)主要(yao)測(ce)試(shi)安規(gui)器(qi)件(jian)的溫(wen)度(du)，比如(ru)絕緣(yuan)材料在正(zheng)常情(qing)況下工作溫(wen)度(du)，這個(ge)溫度(du)在zui高(gao)的設備(bei)允(yun)許(xu)工作溫(wen)度(du)下，要(yao)小於(yu)絕緣(yuan)材料的zui大(da)允(yun)許(xu)溫度(du)。如(ru)在25℃環境(jing)下測(ce)試(shi)絕(jue)緣(yuan)材料溫度(du)是(shi)100℃，而絕緣(yuan)材料只能(neng)在130℃以(yi)下安全運(yun)行，這是(shi)定(ding)義設備(bei)允(yun)許(xu)的zui高(gao)工作溫(wen)度(du)很關(guan)鍵，如(ru)果(guo)設備(bei)是(shi)50℃的環境(jing)溫(wen)度(du)，那麽(me)絕緣(yuan)材料換算到50℃的環境(jing)溫(wen)度(du)測(ce)試(shi)溫(wen)度(du)應該是(shi)125℃，滿(man)足小於(yu)130℃要(yao)求，測(ce)試(shi)通過。如(ru)果(guo)設備(bei)時(shi)60℃環境(jing)溫(wen)度(du)，那麽(me)換算到60℃的環境(jing)溫(wen)度(du)測(ce)試(shi)溫(wen)度(du)應該是(shi)135℃，大(da)於(yu)130℃要(yao)求，測(ce)試(shi)不(bu)通過。同樣其它的安規(gui)器(qi)件(jian)也(ye)需(xu)要(yao)測(ce)試(shi)工作溫(wen)度(du)。以判(pan)斷是(shi)否滿(man)足要(yao)求。 　　
20、球(qiu)壓(ya)測(ce)試(shi): 　　作為(wei)支(zhi)撐(cheng)帶(dai)危(wei)險電(dian)壓(ya)的絕(jue)緣(yuan)材料或(huo)塑(su)料件(jian)，需(xu)要(yao)做球(qiu)壓(ya)測(ce)試(shi)，以(yi)保(bao)證在危(wei)險(xian)電(dian)壓(ya)部(bu)件(jian)在高(gao)溫(wen)工作時(shi)，塑(su)料件(jian)有足夠(gou)的支(zhi)撐(cheng)強度(du)。測(ce)試(shi)溫(wen)度(du)是(shi)zui高(gao)溫(wen)度(du)加(jia)上(shang)15℃，但(dan)是(shi)不(bu)小於(yu)125℃。球壓(ya)時(shi)間(jian)是(shi)在要(yao)求溫(wen)度(du)下保(bao)持(chi)1H。 　　
21、接(jie)觸(chu)電(dian)流測(ce)試(shi): 　　接(jie)觸(chu)電(dian)流，就(jiu)是(shi)常(chang)說(shuo)的漏(lou)電(dian)流。這(zhe)個(ge)電(dian)流嚴(yan)格(ge)控(kong)制，各個安規(gui)標(biao)準(zhun)都(dou)有嚴(yan)格(ge)規(gui)定(ding)，因(yin)此在設計(ji)要(yao)嚴(yan)格(ge)控(kong)制這個(ge)電(dian)流，在產品認(ren)證時(shi)要(yao)測(ce)試(shi)這(zhe)個(ge)電(dian)流。　　
22、耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi): 　　耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)，也(ye)有叫(jiao)耐(nai)電(dian)壓(ya)測(ce)試(shi)或(huo)高(gao)壓(ya)測(ce)試(shi)。主要(yao)用於(yu)考察(cha)設備(bei)絕(jue)緣(yuan)的耐(nai)受能力，設計(ji)的絕(jue)緣(yuan)是(shi)否滿(man)足設計(ji)要(yao)求。各種(zhong)不(bu)同的絕(jue)緣(yuan)，其測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)不(bu)同。耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)都(dou)是(shi)在潮(chao)濕(shi)處理(li)後進行測(ce)試(shi)，以(yi)便考(kao)察(cha)設備(bei)在潮(chao)濕(shi)時(shi)的耐(nai)受能力。　　
23、異常測(ce)試(shi): 　　異(yi)常(chang)測(ce)試(shi)分(fen)為(wei)單(dan)壹故(gu)障測(ce)試(shi)，和(he)錯誤使(shi)用(yong)測(ce)試(shi)，和(he)常(chang)見(jian)的異(yi)常(chang)使用測(ce)試(shi)。 　　
單(dan)壹故(gu)障測(ce)試(shi)，指設備(bei)在壹(yi)個(ge)故障(zhang)狀態下，設備(bei)要(yao)求是(shi)安全的。 　　
錯誤使(shi)用(yong)，指設備(bei)有調(tiao)節裝置，或(huo)其它裝置，在位置或(huo)狀態不(bu)對(dui)的情(qing)況下測(ce)試(shi)，要(yao)求設備(bei)是(shi)安全的，這(zhe)是(shi)允(yun)許(xu)設備(bei)功(gong)能損(sun)失。 　　
常(chang)見(jian)異常(chang)使(shi)用(yong)測(ce)試(shi)：指設備(bei)可(ke)能由(you)於(yu)人們(men)喜(xi)歡美(mei)而額(e)外加(jia)上(shang)的壹(yi)些(xie)裝飾部(bu)件(jian)，而這些(xie)裝飾對(dui)設備(bei)的散(san)熱(re)等是(shi)極(ji)為不(bu)利的測(ce)試(shi)。比(bi)如(ru)在電(dian)視機(ji)上(shang)蓋壹個(ge)防(fang)塵(chen)罩(zhao)，在使(shi)用(yong)電(dian)視機(ji)時(shi)又(you)忘記拿下來(lai)。手機(ji)裝在壹(yi)個(ge)手機(ji)袋中(zhong)等。　　
24安規(gui)設計(ji) 　　安規(gui)設計(ji)是(shi)在設備(bei)產品中(zhong)，要(yao)滿(man)足產品的安全要(yao)求設計(ji)。具(ju)體(ti)各個標準(zhun)要(yao)求有所不(bu)同，但(dan)是(shi)目(mu)的都(dou)是(shi)保(bao)護(hu)使用(yong)人員的安全。
安規(gui)標(biao)準(zhun)簡介
　　CB CE GS UL TUV 　　
UL檢(jian)測(ce)標準(zhun)： 　　
UL60950:ITE類產品 　　
UL60065（UL6500，UL1492）:AV類產品　　
UL1310:線性(xing)電(dian)源類產品　　
UL982:馬達(da)類家(jia)用食(shi)物(wu)處理(li)器　　
UL2089:車(che)載(zai)充電(dian)器　　
UL1004:電(dian)動馬達(da)　　
CSA檢(jian)測(ce)標準(zhun)： 　　C22.2 2/No.74/No.223/No.950/335.1/335.2.14 　　C22.2 335.2.9/No.64 　　
TUV&GS,CB, PSB,CE-LVD檢(jian)測(ce)標準(zhun)： 　　IEC/EN 60950-1 　　IEC/EN 60065 　　IEC/EN 60335-1, -2-X 　　IEC/EN 61558-1, -2-X 　　IEC/EN 60598-1, -2-X 　　IEC/EN 60968 　　FDA X-Ray,LASER 　　
中國(guo)CCC標(biao)準(zhun) 　　
玩具安全（EN71、ASTM F963）
 
相關(guan)資(zi)料
　　1、 何謂(wei)耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)? 　　
耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)是(shi)zui常(chang)見(jian)的安規(gui)測(ce)試(shi)之(zhi)壹(yi)，常(chang)見(jian)的dielectric withstand、high potential、hipot test都(dou)是(shi)指耐壓(ya)測(ce)試(shi)。耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)的主要(yao)目的測(ce)試(shi)DUT（Device under Test）的絕(jue)緣(yuan)能力。故當(dang)設備(bei)在運(yun)作時(shi)，對(dui)測(ce)試(shi)點(dian)施(shi)以壹(yi)高(gao)壓(ya)，測(ce)試(shi)是(shi)否有絕緣(yuan)破壞(huai)（Breakdown）或(huo)電(dian)氣閃(shan)絡（Flashover/ARC）發(fa)生(sheng)。 　　
2 、在安規(gui)中(zhong)絕緣(yuan)有幾種(zhong)類型? 　　
絕緣(yuan)類型分為(wei)四(si)種(zhong)：基(ji)本(ben)絕緣(yuan)（Basic）、輔助(zhu)絕緣(yuan)（Supplementary）、雙重絕緣(yuan)（Double）以及加(jia)強(qiang)絕(jue)緣(yuan)（Reinforced）。由於(yu)產品內(nei)部(bu)可(ke)能因(yin)灰塵(chen)過多(duo)、潮(chao)濕(shi)或(huo)是(shi)其他原因(yin)導致沿面放(fang)電(dian)，因(yin)此也須(xu)以耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)判(pan)斷(duan)產品內(nei)部(bu)電(dian)路設計(ji)是(shi)否有沿面距離或(huo)絕緣(yuan)不(bu)足等問題。　　
3 、在AC耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)時(shi)，為何(he)需要(yao)real current 的判(pan)斷(duan)？ 　　
AC輸出總電(dian)流（total current）可(ke)能(neng)因(yin)部份內(nei)部(bu)容抗(kang)而造成(cheng)與(yu)真實測(ce)試(shi)電(dian)流（real current）之(zhi)間(jian)的差異(yi)。電(dian)流在輸(shu)出(chu)時(shi)，若(ruo)受到較大(da)容抗(kang)時(shi)，反應電(dian)流（reactive）會較大(da)，而使得(de)真(zhen)實測(ce)試(shi)電(dian)流相對(dui)變(bian)小。若(ruo)無法準(zhun)確測(ce)量(liang)輸出電(dian)流與(yu)加(jia)以(yi)補償(chang)，會造(zao)成(cheng)測(ce)試(shi)上(shang)的盲(mang)點(dian)。　　
4 、在DC耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)時(shi)，為何(he)需要(yao)緩升(sheng)時(shi)間(jian)？ 　　
DC耐壓(ya)測(ce)試(shi)通常會需(xu)要(yao)加(jia)上(shang)緩升(sheng)時(shi)間(jian)以及放(fang)電(dian)時(shi)間(jian)，因(yin)為大(da)多的DUT具(ju)有電(dian)容性(xing)而會導(dao)致充電(dian)電(dian)流產生。為(wei)了使(shi)充電(dian)變(bian)位電(dian)流（charge current）穩(wen)定(ding)，需要(yao)緩升(sheng)時(shi)間(jian)來緩(huan)沖，才不(bu)會因(yin)充電(dian)電(dian)流而導致漏電(dian)流過(guo)高(gao)，進(jin)而判斷(duan)為(wei)不(bu)良品（FAIL）。 　　
5 、在做(zuo)耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)時(shi)，為何(he)需要(yao)緩降時(shi)間(jian)？　　
耐壓(ya)測(ce)試(shi)會使(shi)DUT充電(dian)，因(yin)此在耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)結束時(shi)須(xu)壹段時(shi)間(jian)來進(jin)行放(fang)電(dian)，優良(liang)的耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)設備(bei)會將放(fang)電(dian)時(shi)間(jian)減至(zhi)zui少(shao)，並且(qie)在未(wei)達(da)放(fang)電(dian)標準(zhun)前(qian)會明(ming)顯(xian)標示(shi)危(wei)險警(jing)告(gao)，以(yi)防(fang)止(zhi)測(ce)試(shi)人員不(bu)當(dang)接觸(chu)而受到電(dian)氣傷害。　　
6 、何(he)謂flashover 電(dian)氣閃(shan)絡（ARC）? 　　
安規(gui)標(biao)準(zhun)中明(ming)顯(xian)指出不(bu)得有絕緣(yuan)破壞(huai)（Breakdown）發(fa)生(sheng)，而部份安規(gui)標(biao)準(zhun)更要(yao)求不(bu)得有電(dian)氣閃(shan)絡（Flashover/ARC發(fa)生(sheng)，但(dan)並(bing)無測(ce)試(shi)標(biao)準(zhun)。ARC是(shi)屬於(yu)電(dian)氣放(fang)電(dian)的壹(yi)種(zhong)，當(dang)ARC發(fa)生(sheng)時(shi)已表示絕緣(yuan)能力已不(bu)足，若(ruo)多次的ARC發(fa)生(sheng)，則(ze)會導(dao)致絕緣(yuan)破壞(huai)。 　　
7 、為(wei)何需(xu)要(yao)做電(dian)壓(ya)補償(chang)? 　　
在耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)中(zhong)，測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)的標(biao)準(zhun)是(shi)判(pan)斷(duan)良(liang)品的主要(yao)因(yin)素之(zhi)壹(yi)。許(xu)多(duo)耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)設備(bei)以(yi)變(bian)壓(ya)器(qi)將低電(dian)壓(ya)轉(zhuan)換為高(gao)電(dian)壓(ya)後(hou)輸出，但(dan)儀(yi)器的內(nei)部(bu)阻抗會造(zao)成(cheng)分壓(ya)，尤(you)其在壹(yi)些(xie)品質(zhi)不(bu)良的耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)設備(bei)中(zhong)，實際(ji)輸(shu)出電(dian)壓(ya)無(wu)法達到安規(gui)標(biao)準(zhun)。為避免失誤(wu)判定(ding)為良(liang)品而造成(cheng)不(bu)必要(yao)的困(kun)擾，優良(liang)的耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)設備(bei)會以(yi)自動增益補償(chang)（Auto Gain Compensation）修(xiu)正(zheng)與(yu)補償(chang)電(dian)壓(ya)至(zhi)所(suo)須(xu)電(dian)壓(ya)值(zhi)，並(bing)將電(dian)壓(ya)表設計(ji)於(yu)輸出(chu)端，以(yi)便正(zheng)確量(liang)測(ce)輸出(chu)電(dian)壓(ya)是(shi)否不(bu)足。　　
8 、何(he)謂(wei)接(jie)地阻抗測(ce)試(shi)? 　　
接(jie)地(di)保(bao)護(hu)有二種(zhong)測(ce)試(shi)方(fang)法：接地連續測(ce)試(shi)（Ground Continuity test, GC）及接地連接測(ce)試(shi)（Ground Bond test, GB）。接(jie)地(di)保(bao)護(hu)測(ce)試(shi)的目(mu)的在於(yu)不(bu)讓使(shi)用者(zhe)在不(bu)當(dang)電(dian)流產生時(shi)，電(dian)流會流(liu)向(xiang)大地(di)，接觸(chu)機(ji)體(ti)則(ze)不(bu)會導(dao)致電(dian)氣危(wei)害(hai)。　　
9 、何謂絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻測(ce)試(shi)? 　　
絕(jue)緣(yuan)阻抗測(ce)試(shi)和(he)直(zhi)流(liu)耐壓(ya)測(ce)試(shi)是(shi)非(fei)常相似的，於(yu)相關(guan)連的兩(liang)點(dian)施(shi)以直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)（50~1000V），可(ke)判(pan)定(ding)良品及不(bu)良品。絕(jue)緣(yuan)阻抗測(ce)試(shi)為(wei)非(fei)破壞(huai)試(shi)驗，且能(neng)偵(zhen)測(ce)絕緣(yuan)是(shi)否良(liang)好(hao)，在某些規(gui)範中，是(shi)先(xian)做(zuo)絕(jue)緣(yuan)阻抗測(ce)試(shi)再進行耐壓(ya)測(ce)試(shi)，而絕緣(yuan)阻抗測(ce)試(shi)無(wu)法通過時(shi)，往往耐壓(ya)測(ce)試(shi)也(ye)無(wu)法通過。　　
10、 何謂漏(lou)電(dian)流? 　　
當(dang)電(dian)流經(jing)過(guo)絕緣(yuan)阻抗後(hou)溢出(chu)，稱(cheng)之(zhi)為(wei)漏(lou)電(dian)流（Leakage current），當(dang)漏電(dian)流經(jing)由(you)人體(ti)接(jie)觸(chu)，使(shi)電(dian)流經(jing)過(guo)人體(ti)後(hou)流向Earth，即造成電(dian)氣傷害。漏(lou)電(dian)流測(ce)試(shi)與(yu)耐壓(ya)測(ce)試(shi)、接(jie)地(di)保(bao)護(hu)測(ce)試(shi)的不(bu)同處，在於(yu)設備(bei)是(shi)在運(yun)作狀(zhuang)態下做(zuo)測(ce)試(shi)。漏(lou)電(dian)流測(ce)試(shi)中(zhong)會加(jia)上(shang)壹個(ge)人體(ti)模擬(ni)阻抗電(dian)路，可(ke)模擬(ni)在真(zhen)實情(qing)況下漏(lou)電(dian)流經(jing)過(guo)人體(ti)的大(da)小(xiao)。