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          福(fu)祿克(ke)FLUKE數(shu)字(zi)電(dian)橋(qiao)PM6306|PM6304 LCR測(ce)試(shi)儀選(xuan)型(xing)

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          福(fu)祿克(ke)FLUKE數(shu)字(zi)電(dian)橋(qiao)PM6306|PM6304 LCR測(ce)試(shi)儀選(xuan)型(xing)
           
          主要(yao)特(te)點:
          選(xuan)擇(ze)您需要(yao)的測(ce)試功能(neng)
          簡單易用(yong),清晰(xi)顯(xian)示(shi)所需信息
          測(ce)試(shi)頻(pin)率從(cong) 50 Hz 到(dao) 1 MHz (PM 6304為100 kHz )
          0.1% 的基(ji)本(ben)準確度(du) (PM6304C 為(wei) 0.05% )
          RS-232 或 IEEE-488 接口
          交流(liu)測試(shi)電(dian)平(ping)才(cai)能(neng)夠 50 mV 到(dao) 2V rms
          內部(bu)或外(wai)部(bu)偏置
          直流(liu)測試(shi)測量(liang) (選(xuan)件(jian))
          9 個(ge)前(qian)面(mian)板(ban)設(she)置(zhi)
          實(shi)際(ji)的(de)器(qi)件測試電(dian)壓(ya)/電(dian)流(liu)反饋(kui)
          自動歸零(ling)微調
          接觸檢查和偏差模式(shi) (於PM6306)
          前(qian)面(mian)板(ban)測(ce)試(shi)接(jie)線柱,可快(kuai)速(su)進(jin)行4線測量(liang)
           
          通(tong)用(yong)器件(jian)測量(liang)和(he)測試
          福(fu)祿克(ke)FLUKE數(shu)字(zi)電(dian)橋(qiao)PM6306|PM6304 LCR測(ce)試(shi)儀是(shi)器(qi)件測(ce)量(liang)的(de)強(qiang)大(da)功能(neng)及(ji)多功能(neng)性和遠(yuan)程編程功能(neng)的*組合(he)。操作(zuo)從(cong)未如(ru)此(ci)簡單過(guo)-只需將器件(jian)連(lian)接(jie)到(dao)測試接(jie)線柱或夾(jia)具(ju),即可馬(ma)上(shang)從(cong)LCD大(da)顯(xian)示(shi)屏上(shang)讀得(de)主要(yao)參數(shu)和(he)第二參數(shu),並查看等效(xiao)電(dian)路(lu)圖(tu)。這(zhe)些(xie)儀器(qi)的(de)基本(ben)功能(neng)和其(qi)測(ce)試(shi)頻(pin)率和(he)電(dian)壓(ya)電(dian)平(ping)的(de)多樣(yang)性(xing),使(shi)其(qi)成為商業中的(de)兩(liang)款RCL測(ce)試儀。選(xuan)件(jian)豐(feng)富,從(cong)RS-232 或 IEEE-488 接口(選(xuan)擇(ze)接口是PM6306的(de)標準配置)、直(zhi)流(liu)測試(shi)功能(neng)、測量(liang)器(qi)件管理(li)界面(mian)和Microsoft Windows ®測(ce)試軟(ruan)件,直到(dao)功能(neng)強(qiang)大(da)的器(qi)件測(ce)量(liang)和(he)測試工具-覆蓋了(le)開發實(shi)驗(yan)室到(dao)生產線的全部(bu)範圍(wei)。
           
          計(ji)算(suan)機(ji)輔(fu)助(zhu)的器件測(ce)試(shi)
          RS-232 或 IEEE-488和ComponentView測(ce)試(shi)軟(ruan)件,使(shi)得福(fu)祿克(ke)FLUKE數(shu)字(zi)電(dian)橋(qiao)PM6306|PM6304 LCR測(ce)試(shi)儀選(xuan)型(xing)成為了自動化(hua)測(ce)試設備的(de)低(di)成本(ben)解決(jue)方(fang)案,如(ru)用(yong)於制造業的器(qi)件檢查或質(zhi)量(liang)控制。利用(yong)IEEE-488接口,RCL測試(shi)儀即成為自動化(hua)器(qi)件測試環(huan)境的(de)核心(xin),每(mei)秒鐘可進(jin)行10次測(ce)量(liang)。或者利用(yong)RS-232接口,則可以(yi)從(cong)PC上(shang)簡單、經(jing)濟的(de)控制測(ce)試(shi)儀,用(yong)於元器(qi)件(jian)的篩(shai)選(xuan)。利用(yong)ComponentView軟件(jian),則可以(yi)從(cong)保存(cun)的文(wen)件(jian)中調取設(she)備配置。
          當(dang)Windows軟(ruan)件請求(qiu)數(shu)據時(shi),即開始測(ce)試(shi)器件(jian)。可以(yi)將數(shu)據進(jin)行歸檔(dang)、分析,用(yong)作(zuo)通(tong)過(guo)/失(shi)敗(bai)測試(shi)的(de)條(tiao)件,或者可以(yi)直接(jie)在(zai)屏幕上(shang)進(jin)行繪制,直(zhi)觀(guan)地(di)分析。還(hai)可以(yi)將數(shu)據以標(biao)準的Microsoft Excel格(ge)式(shi)導(dao)出(chu)。
          利用(yong)其(qi)掃描(miao)模式(shi),即可輕(qing)松(song)地(di)測試(shi)器(qi)件在不(bu)同環(huan)境範圍(wei)內(nei)的參數(shu)。只需選(xuan)擇(ze)所需的頻(pin)率或電(dian)壓(ya)範圍(wei),ComponentView軟(ruan)件將執行(xing)測(ce)量(liang)序列。
           
          器(qi)件(jian)分級(ji)
          利用(yong)分級(ji)功能(neng),用(yong)戶可以(yi)編輯容差極限,將(jiang)器件(jian)分成多達(da)10個(ge)級(ji)別(bie)。然後將(jiang)器件(jian)插入(ru)到(dao)測試固(gu)定(ding)裝置(zhi),即可直(zhi)接從(cong)顯(xian)示(shi)屏上(shang)讀取(qu)指示(shi)出(chu)的(de)級(ji)別(bie)編號。利用(yong)可選(xuan)的(de)接口,可以(yi)直接(jie)讀(du)取級別(bie)指示(shi)或通過(guo)/失(shi)敗(bai)指示(shi),以(yi)及(ji)外(wai)部(bu)測(ce)量(liang)觸發輸(shu)入(ru),加(jia)速(su)分級(ji)進(jin)度(du)。
           
          更多的(de)測量(liang)功能(neng)
          福(fu)祿克(ke)FLUKE數(shu)字(zi)電(dian)橋(qiao)PM6306|PM6304 LCR測(ce)試(shi)儀選(xuan)型(xing)具有您所(suo)需的測試(shi)頻(pin)率,比(bi)同類(lei)的(de)儀器(qi)具(ju)有更多的(de)測試頻(pin)率選(xuan)擇(ze)。對於測(ce)試(shi)原(yuan)級功率器(qi)件(jian),如(ru)變(bian)壓(ya)器和(he)濾(lv)波(bo)電(dian)容,這(zhe)些(xie)設備具(ju)有50和60 Hz的(de)測(ce)試(shi)頻(pin)率,並具有100和120 Hz的紋波(bo)頻(pin)率。
          在(zai)100 Hz 至(zhi) 20 kHz的範圍(wei)內(nei),兩(liang)款RCL測(ce)試儀均(jun)提(ti)供(gong)100 Hz的分辨率,用(yong)於精(jing)密地(di)頻(pin)率表(biao)征。為了(le)測試(shi)小(xiao)電(dian)容,PM6304LCR 數(shu)字(zi)電(dian)橋(qiao)還(hai)提(ti)供(gong)了100 kHz的(de)頻(pin)率,而(er)PM6306LCR 數(shu)字(zi)電(dian)橋(qiao)的(de)測(ce)試頻(pin)率則連(lian)續可調,直到(dao) 1 MHz。
          器件測(ce)試(shi)電(dian)平(ping)從(cong)2V可調,可達(da)50 mV,保證(zheng)靈(ling)敏(min)的(de)半(ban)導(dao)體(ti)結處(chu)於其(qi)門(men)限(xian)電(dian)壓(ya)之下(xia)。從(cong)內置(zhi)源(yuan)或高(gao)達(da)40 V dc的外(wai)部(bu)源(yuan),可以(yi)添加(jia)直流(liu)偏置。
          利用(yong)可選(xuan)的(de)直流(liu)測試(shi)測量(liang)功能(neng),可以(yi)測試(shi)器(qi)件的直(zhi)流(liu)電(dian)阻。只需按(an)下(xia)前(qian)面(mian)板(ban)的(de)按(an)鍵,即可比(bi)較(jiao)器件(jian)的(de)直(zhi)流(liu)和交(jiao)流(liu)電(dian)阻值。
          通過(guo)測(ce)量(liang)連(lian)接從(cong)阻抗(kang),PM6306LCR 數(shu)字(zi)電(dian)橋(qiao)可以(yi)檢查器件的連(lian)接。操作(zuo)非(fei)常簡單,只需按(an)下(xia)相(xiang)應的按(an)鍵,就(jiu)會(hui)顯(xian)示(shi)連接(jie)結(jie)果(guo),並且(qie)您(nin)能(neng)夠確(que)保適當的4線器件連接。
           
           
          選(xuan)擇(ze)您需要(yao)的測(ce)試功能(neng)
          正如(ru)全自動操作(zuo)下(xia)顯(xian)示(shi)特(te)征參數(shu)和(he)等效(xiao)電(dian)路(lu)圖(tu)那(na)樣(yang),您(nin)也可以(yi)手動選(xuan)擇(ze)其(qi)它(ta)感(gan)興趣(qu)的(de)參數(shu)。按(an)下(xia)按(an)鍵鎖(suo)定(ding)器件(jian)的相(xiang)位角、阻抗(kang)、Q(品質(zhi)因數(shu))值和D(耗散(san)因數(shu))值。使用(yong)平(ping)均(jun)功能(neng),則可以(yi)獲得(de)更穩(wen)定(ding)的讀(du)數(shu)。為(wei)了進(jin)行快速(su)的(de)器件比(bi)較(jiao),福(fu)祿克(ke)FLUKE電(dian)橋(qiao)|FLUKE LCR測(ce)試(shi)儀|福(fu)祿克(ke)數(shu)字(zi)電(dian)橋(qiao)PM6306還(hai)提(ti)供(gong)了偏差模式(shi)。
          選(xuan)擇(ze)電(dian)流(liu)/電(dian)壓(ya)監測(ce)功能(neng),可以(yi)查看在被測(ce)器(qi)件上(shang)測得(de)的(de)實(shi)際(ji)測(ce)試(shi)電(dian)流(liu)和電(dian)壓(ya)值。這(zhe)能(neng)夠zui大(da)程度(du)上(shang)保護(hu)對(dui)電(dian)流(liu)敏(min)感(gan)的元器(qi)件(jian),並可以(yi)隨元器(qi)件(jian)的參數(shu)壹(yi)起(qi)測(ce)試(shi)電(dian)流(liu)。
          所有(you)這(zhe)些(xie)內置(zhi)的功能(neng),都(dou)使得(de)福(fu)祿克(ke)的(de)RCL測(ce)試(shi)儀成為了隨時(shi)可用(yong)的緊(jin)湊(cou)型(xing)通用(yong)儀器(qi)。並且(qie)具(ju)有(you)同類(lei)儀器(qi)中(zhong)zui大(da)的測(ce)量(liang)多功能(neng)性。
           
          功能(neng)指標(biao)
          特(te)性阻抗(kang)交流(liu)電(dian)阻Z或RAC: 0.0000Ω~200MΩ
          直流(liu)電(dian)阻RDC: 0.0000Ω~50MΩ
          電(dian)容C: 0.00pF~31.8F
          電(dian)感(gan)L: 0.00μH~637kH
          品質(zhi)因數(shu)Q: 0.000~1000
          耗(hao)散系數(shu)D: 0.000-1000
          相(xiang)位角φ: -179°~180°
          電(dian)壓(ya)監測(ce)Vx: 0.1μV~2.00V
          電(dian)流(liu)監測(ce)Ix: 0.005μA~10.0mA
          頻(pin)率範圍(wei):50Hz~1MHz
          交(jiao)流(liu)測試(shi)信號(hao)電(dian)壓(ya): 50mV~2V(選(xuan)件(jian))
          直流(liu)測試(shi)量(liang)電(dian)壓(ya): 50mV-m2V
          直流(liu)偏壓(ya): 0~10V內部(bu),<40V外(wai)部(bu)
          接(jie)觸檢查: 是
          基本(ben)精(jing)度(du): 0.1%
          平(ping)均(jun): 是(shi)(3 levels)
          偏離(li)模式(shi): 是(shi)
          測(ce)試(shi)信(xin)號監測: 電(dian)流(liu)或電(dian)壓(ya)
          遠(yuan)程接口: RS-232或IEEE-488任選(xuan)壹(yi)個(ge)

          福(fu)祿克(ke)FLUKE電(dian)橋(qiao)|FLUKE LCR測(ce)試(shi)儀|福(fu)祿克(ke)數(shu)字(zi)電(dian)橋(qiao)PM6306選(xuan)型(xing)定(ding)購信(xin)息

          PM6306 自動電(dian)阻電(dian)容電(dian)感(gan)測試(shi)儀
          PM6304 自動電(dian)阻電(dian)容電(dian)感(gan)測試(shi)儀
          PM6304C 自動電(dian)阻電(dian)容電(dian)感(gan)測試(shi)儀
          PM6303A 自動電(dian)阻電(dian)容電(dian)感(gan)測試(shi)儀

          PM6306 或 PM6304的選(xuan)件(jian):
          PM9548 IEEE-488接口套(tao)件
          PM9549 RS-232接(jie)口套(tao)件
          PM6565 直(zhi)流(liu)測試(shi)選(xuan)件(jian)
          PM9566 處(chu)理(li)接口
          註:IEEE-488接(jie)口套(tao)件,RS-232接(jie)口套(tao)件只能(neng)選(xuan)擇(ze)其(qi)中(zhong)壹(yi)個(ge)。

          PM6306、PM6304 及(ji) PM6303A的(de)選(xuan)件(jian):
          PM9540BAN 帶香蕉插頭的4線測試電(dian)纜
          PM9540TWE SMD測(ce)試鑷(nie)子(zi)
          PM9541B 帶(dai)Kelvin測(ce)試(shi)夾(jia)的(de)4線測試電(dian)纜
          PM9542A 測(ce)試適配器
          PM9564 機(ji)架(jia)
          PM6306或PM6304的軟(ruan)件(jian)
          SW63W Componwnt View測(ce)試軟(ruan)件
          保修期(qi): 壹(yi)年(nian)

           

          上(shang)壹(yi)篇(pian):安(an)捷倫(lun)Aglent 34970A/34972A數(shu)據采集(ji)軟件(jian)安(an)裝

          下(xia)壹(yi)篇(pian):安(an)規測(ce)試技(ji)術及(ji)其(qi)標(biao)準

          產(chan)品分類(lei)

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