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安(an)捷倫DSO5012A示(shi)波(bo)器(qi)檢(jian)測(ce)維修(xiu)報告
日(ri)期：2012-08-02瀏覽：5108次
安(an)捷倫DSO5012A示(shi)波(bo)器(qi)檢(jian)測(ce)維修(xiu)報告
報告日(ri)期：2026年01月02日(ri) 報告人(ren)：***
| 客(ke) 戶 | 佛山(shan)市(shi)***電子科技(ji)有限公(gong)司 | 聯絡人(ren) | *** | 電(dian) 話(hua) | 0757- |
| 儀器(qi)型(xing)號 | DSO5012A | 機身號(hao) | MY4820**** | ||
| 故(gu)障(zhang)現(xian)象(xiang) | 1． 100mv以下檔(dang)（100mv,50mv,20mv）紋(wen)波(bo)較(jiao)大(da)； 2． 此(ci)示(shi)波(bo)器(qi)較(jiao)另幾(ji)臺紋(wen)波(bo)較(jiao)大(da)； 3． 其中(zhong)壹(yi)探頭(tou)波(bo)形(xing)畸形(xing)失真較(jiao)大(da)。 | ||||
| 處理(li)過(guo)程(cheng) | 1．將(jiang)探頭(tou)接到(dao)示(shi)波(bo)器(qi)前(qian)面(mian)標(biao)準校準信號處進(jin)行(xing)探頭(tou)補償，用(yong)自帶起子附件（壹(yi)字(zi)形(xing)頭(tou)）調(tiao)節(jie)探頭(tou)鉤尖附近的(de)電容，使波形(xing)趨(qu)於(yu)平(ping)正(zheng)； 2．用(yong)自帶起子附件（十(shi)字(zi)形(xing)頭(tou)）調(tiao)節(jie)探頭(tou)根(gen)部(bu)附近兩電容(rong)，使波形(xing)噪(zao)聲(sheng)幹擾(rao)及(ji)紋(wen)波(bo)波(bo)動(dong)減(jian)小(xiao)； 3．將(jiang)探頭(tou)接地接上，並(bing)確保接地良(liang)好(hao)，紋(wen)波(bo)明(ming)顯減(jian)小(xiao)； 4．zui後按(an)Utility→服務→本(ben)機自檢，將(jiang)示(shi)波(bo)器(qi)進(jin)行(xing)自檢校正(zheng)，並(bing)順(shun)利(li)通過(guo)。 5．100mv以下低(di)檔(dang)（100mv,50mv,20mv）較(jiao)200mv以上（200mv ，500mv,1V,2V,5V,10V,20V,50V）稍有紋(wen)波(bo)，為(wei)儀(yi)器(qi)自身底噪(zao)，是(shi)真(zhen)實(shi)信號(hao)，為(wei)正(zheng)常(chang)現(xian)象(xiang)。 | ||||
| 備 註(zhu) | 經(jing)處理(li)，儀器(qi)及(ji)探頭(tou)壹(yi)切(qie) | ||||
（安捷倫DSO5012A示(shi)波(bo)器(qi)檢(jian)測(ce)維修(xiu)報告）
產品分(fen)類
- 氫檢(jian)儀(yi)氣密性檢漏檢測(ce)儀(yi)
- 國(guo)產源表(biao)，替(ti)代keithley
- 體(ti)積電(dian)阻率/表面(mian)電阻測(ce)試(shi)
- 穩(wen)科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
- 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
- 介(jie)電常(chang)數(shu)/電(dian)導率測(ce)試(shi)方案
- 大(da)眾VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準測(ce)試(shi)
- 電(dian)化學工作站/恒電(dian)位(wei)儀(yi)
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
- 電(dian)池/光伏/汽(qi)車(che)充電樁測(ce)試(shi)
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- 梅(mei)特(te)勒METTLER
- 物(wu)料輪(lun)廓顏色(se)缺(que)料視(shi)覺(jiao)篩選
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