安規系列(lie)測試(shi)儀(yi)簡(jian)介(jie)
安規系列(lie)測試(shi)儀(yi)主(zhu)要是(shi)用(yong)來(lai)檢(jian)測電(dian)器(qi)產(chan)品是(shi)否漏(lou)電(dian)、是(shi)否接(jie)地良好、會(hui)不(bu)會傷(shang)害(hai)人身(shen)安全(quan)的測量(liang)儀器(qi),主(zhu)要檢(jian)測項(xiang)目有(you)耐(nai)電壓(ya)、泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)、絕緣電阻(zu)和(he)接(jie)地電阻(zu)。
壹、耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)的(de)原(yuan)理(li)和(he)使(shi)用(yong)
耐(nai)壓(ya)測試(shi)又(you)稱作高(gao)壓(ya)測試(shi)或介電強度(du)測試(shi),是(shi)在(zai)產(chan)品流程(cheng)安(an)全(quan)測試(shi)中用(yong)的(de)zui多(duo)的。它實際(ji)上(shang)在(zai)每(mei)壹個(ge)安(an)全(quan)標準(zhun)中都(dou)被引用(yong),這(zhe)壹點表明(ming)了(le)它的重(zhong)要性(xing)。
1、測試(shi)目的(de) 耐(nai)壓(ya)測試(shi)是(shi)壹種(zhong)無(wu)破(po)壞性(xing)的(de)測試(shi),它用(yong)來(lai)檢(jian)測經常發(fa)生的瞬(shun)態高(gao)壓(ya)下(xia)產(chan)品的絕緣能力(li)是(shi)否合格。它在(zai)壹定時間內(nei)施(shi)加高壓(ya)到被測試(shi)設備(bei)以(yi)確保設備(bei)的(de)絕緣性(xing)能(neng)足夠(gou)強。進行(xing)這(zhe)項(xiang)測試(shi)的(de)另(ling)壹個(ge)原(yuan)因是(shi)它也(ye)可以(yi)檢(jian)測出儀器(qi)的(de)壹些缺陷(xian),例(li)如制(zhi)造(zao)過(guo)程(cheng)中出現的(de)爬(pa)電(dian)距(ju)離(li)不(bu)足和(he)電(dian)氣間隙(xi)不(bu)夠(gou)等問(wen)題(ti)。
2、儀器(qi)原(yuan)理(li) zui初(chu)的(de)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)僅(jin)僅(jin)是(shi)壹個(ge)簡(jian)單的(de)變壓(ya)器(qi)和(he)調壓(ya)器(qi),它把市電(dian)變為(wei)所需(xu)要的(de)測試(shi)電(dian)壓(ya),施(shi)加到被測試(shi)樣品上。由於(yu)市(shi)電的(de)波(bo)動(dong)性(xing),人(ren)們(men)有時(shi)不(bu)得不(bu)把輸(shu)出電壓(ya)調(tiao)節(jie)到大於(yu)實際(ji)需(xu)要值(zhi)的(de) 20% 的(de)程(cheng)度(du),以(yi)防止輸(shu)入(ru)電壓(ya)可能(neng)的(de)波(bo)動(dong)。同時,在(zai)很多(duo)安全(quan)標準(zhun)中都(dou)特(te)別要求(qiu)所使(shi)用(yong)的(de)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)有(you) 500VA 以(yi)上的容(rong)量(liang),這(zhe)是(shi)為了(le)保證(zheng)在(zai)樣品有較(jiao)大(da)的(de)漏(lou)電流時,耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)仍然(ran)有足(zu)夠(gou)大的(de)輸(shu)出電壓(ya)。新型(xing)的耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)都(dou)具有足夠(gou)的源(yuan)電壓(ya)調(tiao)整率和(he)負(fu)載(zai)調整率(lv),只(zhi)有(you)壹些老的安(an)全(quan)標準(zhun)仍然(ran)有這(zhe)方(fang)面(mian)的(de)要求(qiu)。實際(ji)上(shang)很多(duo)的新標(biao)準(zhun)已經不(bu)再將(jiang) 500VA 容(rong)量(liang)列(lie)入(ru)對(dui)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)的(de)要求(qiu)。從使(shi)用(yong)人(ren)員的角度(du)來(lai)看,耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi) 500VA 的(de)容(rong)量(liang)反(fan)而(er)是(shi)壹種(zhong)對(dui)操作員的威脅。
由於(yu)各(ge)種(zhong)測試(shi)標(biao)準(zhun)不(bu)同、流(liu)水(shui)線(xian)大批(pi)量(liang)測試(shi)及(ji)人們(men)對(dui)電器(qi)安(an)全(quan)性(xing)能(neng)的認(ren)識不(bu)斷提高,要求(qiu)耐(nai)壓(ya)測試(shi)裝(zhuang)置的(de)功(gong)能相(xiang)應提高,調(tiao)壓(ya)器(qi)式(shi)的耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)器(qi)的(de)功(gong)能有(you)限(xian),采用(yong)全(quan)電子(zi)程(cheng)控技(ji)術(shu)和功(gong)率電(dian)子(zi)技(ji)術(shu)的新型(xing)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)正(zheng)在(zai)普(pu)及(ji)。目前(qian),這(zhe)類(lei)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)器(qi)主(zhu)要分(fen)為(wei)兩(liang)種(zhong):壹種(zhong)采用(yong)單片機作為監(jian)控中心、數字(zi)波(bo)形(xing)合成技(ji)術(shu)+線(xian)性(xing)功(gong)率放(fang)大器(qi)作(zuo)為測試(shi)源(yuan);另(ling)壹種(zhong)采用(yong)單片機作為監(jian)控中心、 SPWM(正弦脈(mai)寬(kuan)調制(zhi)) 脈(mai)沖發生器(qi)+ IGBT( 絕緣柵雙(shuang)極晶(jing)體管 ) 脈(mai)沖功(gong)率放(fang)大器(qi)作(zuo)為測試(shi)源(yuan)。這(zhe)種(zhong)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)的(de)結構較(jiao)復(fu)雜,抗幹(gan)擾(rao)能(neng)力(li)和可靠(kao)性(xing)取(qu)決於整(zheng)機的設計和電子(zi)元(yuan)件的(de)質(zhi)量(liang),輸(shu)出波(bo)形(xing)失真(zhen)小,輸(shu)出頻率(lv)可變(50Hz/60Hz), 輸(shu)出電壓(ya)調(tiao)整範(fan)圍寬、控制精(jing)度高(gao),在(zai)功(gong)率範(fan)圍內的(de)輸(shu)出電壓(ya)穩定(ding),不(bu)受(shou)負載(zai)變化(hua)的影(ying)響(xiang),測試(shi)源(yuan)輸(shu)出功(gong)率壹般(ban)可達(da)到 500W ,超功(gong)率輸(shu)出時儀(yi)器(qi)能(neng)自(zi)動(dong)保護,輸(shu)出電壓(ya)設置在(zai)無(wu)電壓(ya)輸(shu)出的情(qing)況(kuang)下(xia)進行(xing),安(an)全(quan)性(xing)好(hao),對(dui)被試(shi)品有電弧、爬(pa)電(dian)、閃(shan)絡等絕緣性(xing)能(neng)方面的(de)潛在(zai)隱患(huan)的(de)檢(jian)測容(rong)易實(shi)現,電(dian)壓(ya)輸(shu)出方式(shi)可通過軟件滿(man)足多(duo)種(zhong)標準(zhun)要求(qiu),如分(fen)段(duan)升壓(ya)、定(ding)時升壓(ya)、定(ding)速升壓(ya)等,能(neng)進行(xing)擊(ji)穿點(dian)分(fen)析,擊(ji)穿保護速(su)度(du)快(kuai),漏(lou)電(dian)流(liu)顯(xian)示(shi)分(fen)辨(bian)率可達(da)納(na)安級,非(fei)常適用(yong)於(yu)高標準(zhun)的電(dian)器(qi)或元(yuan)器(qi)件(jian)測試(shi)。工(gong)作時(shi)對(dui)電網幹(gan)擾(rao)小(xiao),儀(yi)器(qi)的(de)校準(zhun)通過按(an)鍵(jian)或通信接(jie)口進行(xing),便(bian)於和計算機聯網完(wan)成(cheng)測試(shi)統計、分(fen)選工(gong)作,可對(dui)被試(shi)品連續進行(xing)測試(shi)。
耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)主(zhu)要是(shi)由交(jiao)(直(zhi))流高(gao)壓(ya)電(dian)源,定時(shi)控制器(qi),檢(jian)測電(dian)路,指(zhi)示(shi)電(dian)路和(he)報(bao)警(jing)電(dian)路組(zu)成,基(ji)本(ben)工(gong)作原(yuan)理(li)是(shi):將被(bei)測儀(yi)器(qi)在(zai)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)輸(shu)出的試(shi)驗(yan)高電(dian)壓(ya)下(xia)產(chan)生的漏(lou)電(dian)流與預置的(de)判(pan)定(ding)電(dian)流(liu)比(bi)較(jiao),若(ruo)檢(jian)出的漏(lou)電流(liu)小(xiao)於(yu)預設定(ding)值(zhi),則(ze)儀器(qi)通過測試(shi),當(dang)檢(jian)出的漏(lou)電電(dian)流(liu)大(da)於(yu)判(pan)定(ding)電(dian)流(liu)時(shi),試(shi)驗(yan)電壓(ya)瞬(shun)時切斷並發(fa)出聲(sheng)光(guang)報警(jing),從(cong)而(er)確定被(bei)測件(jian)的(de)耐(nai)壓(ya)強(qiang)度。
耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)的(de)技(ji)術(shu)指標(biao)主(zhu)要包(bao)括(kuo)其(qi)輸(shu)出交直(zhi)流電(dian)壓(ya)和(he)預設定(ding)切斷電流(liu)。模(mo)擬指(zhi)示(shi)型(xing)的耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)通常采用(yong)引用(yong)誤(wu)差(cha)的(de)形(xing)式表(biao)征(zheng)其(qi)電壓(ya)zui大(da)允(yun)許(xu)誤差(cha),比(bi)如3級的(de)電(dian)壓(ya)表(biao),表示(shi)電(dian)壓(ya)表(biao)的指示(shi)值(zhi)誤(wu)差(cha)應小(xiao)於(yu)其(qi)滿(man)量(liang)程(cheng)值(zhi)的(de) 3%。對(dui)於數字(zi)式(shi)的(de)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)則(ze)采用(yong)不(bu)同的(de)方(fang)式(shi)進行(xing)確定。
3、耐(nai)壓(ya)測試(shi)方(fang)法
3.1基(ji)本(ben)方(fang)法
測試(shi)的(de)連(lian)線(xian)方法,壹般(ban)情(qing)況(kuang)下(xia)高(gao)電(dian)壓(ya)將(jiang)施加在(zai)被(bei)測絕緣體之間,例(li)如加在(zai)電(dian)源(yuan)初(chu)級回路和(he)被(bei)測儀(yi)器(qi)的(de)金屬(shu)外(wai)殼(ke)之間。如(ru)果其(qi)間的(de)絕緣性(xing)足(zu)夠(gou)好,加在(zai)上(shang)面(mian)的(de)電壓(ya)差(cha)就(jiu)只會產(chan)生很小的(de)漏(lou)電流。另(ling)壹個(ge)情(qing)況(kuang)是(shi)測試(shi)電(dian)源(yuan)初(chu)級和(he)次(ci)級回路之(zhi)間的(de)絕緣性(xing)。在(zai)這(zhe)種(zhong)情況(kuang)下(xia),將(jiang)所有(you)的輸(shu)出端都(dou)短接,並(bing)與(yu)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)的(de)低(di)端線(xian)路連(lian)接(jie),然(ran)後(hou)將(jiang)被測儀(yi)器(qi)電(dian)源初(chu)級端(duan)的(de) L 線(xian)和 N 線(xian)短接(jie),並(bing)與(yu)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)的(de)高(gao)壓(ya)輸(shu)出端連(lian)接。在(zai)測試(shi)時(shi)壹定要記住,被測儀(yi)器(qi)並(bing)不(bu)接工(gong)作電(dian)源(yuan),處(chu)於(yu)不(bu)工(gong)作狀(zhuang)態(tai),但(dan)必須(xu)將(jiang)其電源開關打(da)開。實踐表明(ming),在(zai)不(bu)打(da)開電源開關的情況(kuang)下(xia),耐(nai)壓(ya)測試(shi)非(fei)常容(rong)易通過測試(shi),但(dan)儀(yi)器(qi)本(ben)身可能(neng)是(shi)不(bu)合格的(de)。
測試(shi)電(dian)壓(ya)的(de)確定應參考不(bu)同的(de)安(an)全(quan)標準(zhun)。如果測試(shi)電(dian)壓(ya)太(tai)低,絕緣材(cai)料就會(hui)因(yin)為沒(mei)有施(shi)加足夠(gou)的電(dian)壓(ya)而(er)導致(zhi)不(bu)合格的(de)絕緣通過測試(shi);如(ru)果電(dian)壓(ya)過(guo)高,測試(shi)時(shi)會(hui)對(dui)絕緣材(cai)料造(zao)成(cheng)*性(xing)的(de)損害(hai)。但(dan)是(shi),有壹個(ge)通用(yong)的(de)規則(ze),就是(shi)采用(yong)經驗(yan)公式(shi):試(shi)驗(yan)電壓(ya) = 電(dian)源電壓(ya) × 2+1000V。例(li)如:試(shi)驗(yan)產(chan)品的電源電(dian)壓(ya)為(wei) 120V ,則(ze)試(shi)驗(yan)電壓(ya) =120V × 2+1000V=1240V 。實(shi)踐上這(zhe)種(zhong)方法也(ye)正(zheng)是(shi)大多(duo)數安(an)全(quan)標準(zhun)化采用(yong)的(de)方法。用(yong) 1000V 作(zuo)為基(ji)礎(chu)公式(shi)壹部(bu)份(fen)的(de)原(yuan)因就(jiu)在(zai)於(yu)任(ren)何(he)產(chan)品的絕緣性(xing)能(neng)每(mei)天都(dou)在(zai)受(shou)到瞬(shun)態高(gao)壓(ya)的(de)沖擊(ji),實驗(yan)室和(he)研究表明(ming),這(zhe)壹高壓(ya)zui高(gao)可以(yi)達(da)到 1000V 。
通常耐(nai)壓(ya)測試(shi)時(shi)間為(wei)壹分(fen)鐘。由於(yu)在(zai)生產(chan)線(xian)上要進行(xing)大(da)量(liang)的產(chan)品耐(nai)電測試(shi),測試(shi)時(shi)間通常降(jiang)低到只有(you)幾秒鐘。有(you)壹個(ge)典(dian)型(xing)實用(yong)的(de)原(yuan)則(ze),當(dang)測試(shi)時(shi)間降(jiang)到只有(you) 1~2 秒的情況(kuang)下(xia),測試(shi)電(dian)壓(ya)必須(xu)增加 10~20% ,以保證(zheng)短時(shi)間測試(shi)時(shi)絕緣的可靠(kao)性(xing)。
報(bao)警(jing)電(dian)流(liu)的(de)設定(ding)應當(dang)根據不(bu)同的(de)產(chan)品來(lai)確定。的(de)方法是(shi)預先對(dui)壹批(pi)樣品做漏電流試(shi)驗(yan),得到壹個(ge)平(ping)均(jun)值(zhi),然(ran)後(hou)確定壹個(ge)略(lve)高於(yu)此平均(jun)數(shu)的(de)值(zhi)為(wei)設定(ding)電(dian)流。由於(yu)被(bei)測試(shi)儀(yi)器(qi)不(bu)可避(bi)免(mian)存(cun)在(zai)著壹定的泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu),因(yin)此應該(gai)保證(zheng)所設定(ding)的(de)報警(jing)電(dian)流(liu)足(zu)夠(gou)大,以(yi)免被(bei)泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)誤(wu)觸發,同(tong)時(shi)應足(zu)夠(gou)小以(yi)避(bi)免(mian)放(fang)過不(bu)合格的(de)樣品。在(zai)某(mou)些(xie)情(qing)況(kuang)下(xia),還(hai)可以(yi)通過設定(ding)所謂(wei)的下(xia)限(xian)報(bao)警(jing)電(dian)流(liu)來(lai)判(pan)斷樣品是(shi)否與(yu)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)的(de)輸(shu)出端有(you)接觸。
3.2交直(zhi)流(liu)測試(shi)的(de)選擇(ze)
測試(shi)電(dian)壓(ya),大(da)部(bu)分(fen)的(de)安全(quan)標準(zhun)允(yun)許(xu)在(zai)耐(nai)壓(ya)測試(shi)中使(shi)用(yong)交(jiao)流或直流電壓(ya)。若(ruo)使(shi)用(yong)交(jiao)流測試(shi)電(dian)壓(ya),當(dang)達到電壓(ya)峰(feng)值(zhi)時(shi),無(wu)論是(shi)正極(ji)性(xing)還(hai)是(shi)負極(ji)性(xing)峰(feng)值(zhi)時(shi),待(dai)測絕緣體都(dou)承受(shou)zui大壓(ya)力(li)。因此,如果決定選擇(ze)使(shi)用(yong)直(zhi)流電壓(ya)測試(shi),就(jiu)必須(xu)確保直流(liu)測試(shi)電(dian)壓(ya)是(shi)交流(liu)測試(shi)電(dian)壓(ya)的(de)√2倍,這(zhe)樣直流電壓(ya)才(cai)可以(yi)與(yu)交流(liu)電壓(ya)峰(feng)值(zhi)等值(zhi)。例(li)如: 1500V 交(jiao)流電壓(ya),對(dui)於直流(liu)電壓(ya)若(ruo)要產(chan)生相同(tong)數(shu)量(liang)的電(dian)應力(li)必須(xu)為(wei) 1500 × 1.414 即 2121V 直流電(dian)壓(ya)。
使(shi)用(yong)直(zhi)流測試(shi)電(dian)壓(ya)的(de)其中壹個(ge)好(hao)處(chu)在(zai)於(yu)在(zai)直(zhi)流(liu)模(mo)式下(xia),流過耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)報(bao)警(jing)電(dian)流(liu)測量(liang)裝置的(de)是(shi)真正(zheng)的(de)流(liu)過樣品的電流。采用(yong)直(zhi)流測試(shi)的(de)另(ling)壹個(ge)好(hao)處(chu)在(zai)於(yu)可以(yi)逐漸(jian)的(de)施(shi)加電壓(ya)。在(zai)電(dian)壓(ya)增加時通過監(jian)視(shi)流過(guo)樣品的電流,操(cao)作(zuo)者(zhe)可以(yi)在(zai)擊(ji)穿發(fa)生前(qian)察覺(jiao)到。需要註意的(de)是(shi)當(dang)使(shi)用(yong)直(zhi)流耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)時(shi),由於(yu)電(dian)路中的電容(rong)充電,必須(xu)在(zai)測試(shi)完(wan)成(cheng)後(hou)對(dui)樣品進行(xing)放(fang)電。事實上(shang),無(wu)論是(shi)測試(shi)電(dian)壓(ya)是(shi)多(duo)少(shao)、其產(chan)品特(te)點如何,在(zai)操(cao)作(zuo)產(chan)品前(qian)對(dui)其放(fang)電都(dou)是(shi)有好(hao)處(chu)的(de)。
直(zhi)流(liu)耐(nai)壓(ya)測試(shi)的(de)不(bu)足在(zai)於(yu)它只能(neng)在(zai)壹個(ge)方(fang)向(xiang)施加測試(shi)電(dian)壓(ya),不(bu)能像(xiang)交流(liu)測試(shi)那樣可以(yi)在(zai)兩(liang)個(ge)極(ji)性(xing)上(shang)施加電應力(li),而(er)多(duo)數電(dian)子(zi)產(chan)品正是(shi)在(zai)交(jiao)流(liu)電(dian)源下進行(xing)工(gong)作的(de)。另(ling)外(wai),由於(yu)直(zhi)流測試(shi)電(dian)壓(ya)較(jiao)難(nan)產(chan)生,因此直流測試(shi)比(bi)交(jiao)流(liu)測試(shi)成(cheng)本(ben)要高(gao)。
交流(liu)耐(nai)壓(ya)測試(shi)的(de)優(you)點(dian)在(zai)於(yu) , 它可以(yi)檢(jian)測所有(you)的電(dian)壓(ya)極(ji)性(xing),這(zhe)更(geng)接(jie)近(jin)與(yu)實際(ji)的(de)實(shi)用(yong)情(qing)況(kuang)。另(ling)外(wai),由於(yu)交(jiao)流電(dian)壓(ya)不(bu)會對(dui)電容(rong)充電,因此大多(duo)數情(qing)況(kuang)下(xia),無(wu)需逐漸(jian)升(sheng)壓(ya),直(zhi)接輸(shu)出相應的(de)電(dian)壓(ya)就(jiu)可以(yi)得到穩定(ding)的(de)電流(liu)值(zhi)。並(bing)且(qie),交(jiao)流測試(shi)完(wan)成(cheng)後(hou),無(wu)需進行(xing)樣品放(fang)電。
交(jiao)流(liu)耐(nai)壓(ya)測試(shi)的(de)不(bu)足在(zai)於(yu),如(ru)果測試(shi)中的線(xian)路中有大的(de) Y 電容(rong),在(zai)某(mou)些(xie)情(qing)況(kuang)下(xia),交(jiao)流(liu)測試(shi)將(jiang)會(hui)誤(wu)判(pan)。大(da)部(bu)分(fen)安(an)全(quan)標準(zhun)允(yun)許(xu)使(shi)用(yong)者(zhe)在(zai)測試(shi)前(qian)不(bu)連接(jie) Y 電(dian)容(rong),或者改(gai)為使(shi)用(yong)直(zhi)流測試(shi)。直(zhi)流(liu)耐(nai)壓(ya)測試(shi)在(zai)加高電壓(ya)於(yu) Y 電容(rong)時,不(bu)會誤(wu)判(pan),因(yin)為(wei)此時電容(rong)不(bu)會允(yun)許(xu)任(ren)何(he)電(dian)流通過。
3.3耐(nai)壓(ya)儀(yi)zui大允(yun)許(xu)誤差(cha)的(de)考慮
由於(yu)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)的(de)輸(shu)出電壓(ya)不(bu)會 100% 準(zhun)確,在(zai)確定測試(shi)電(dian)壓(ya)的(de)同時,應考(kao)慮儀(yi)器(qi)輸(shu)出電壓(ya)的(de)誤差(cha),可以(yi)采用(yong)耐(nai)壓(ya)儀(yi)本身的(de)技(ji)術(shu)指標(biao)或上級機構的(de)校(xiao)準(zhun)證(zheng)書(shu)。例(li)如在(zai)交(jiao)流(liu) 3000V 下(xia)進行(xing)耐(nai)壓(ya)測試(shi),耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)在(zai)此上的zui大允(yun)許(xu)誤差(cha)為(wei) 3% ,即 90V ,那麽為了(le)保證(zheng)足夠(gou)的測試(shi)電(dian)壓(ya),應將(jiang)輸(shu)出測試(shi)電(dian)壓(ya)調(tiao)節(jie)到 3090V 才足(zu)夠(gou)。當(dang)然(ran),如果耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)本(ben)身(shen)輸(shu)出偏高,則(ze)這(zhe)樣做存在(zai)電(dian)壓(ya)偏高的(de)風險,測試(shi)者(zhe)應充分(fen)考(kao)慮。
3.4交(jiao)流(liu)小(xiao)電流(liu)測試(shi)
有(you)些(xie)儀(yi)器(qi)生產(chan)商(shang)宣稱他們(men)的耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)可以(yi)達(da)到納安(an)級別(bie)的(de)漏電(dian)流分(fen)辨(bian)率。然(ran)而(er),實際(ji)的(de)交(jiao)流(liu)測量(liang)使(shi)得人們(men)很難(nan)真正(zheng)進行(xing)這(zhe)樣小電流的(de)測試(shi)。在(zai)任(ren)何(he)電(dian)路中都(dou)有壹定量(liang)的電(dian)容(rong)存在(zai),即(ji)使(shi)是(shi)壹個(ge)簡(jian)單的(de)變壓(ya)器(qi)也(ye)在(zai)其(qi)繞(rao)線(xian)和鐵芯間有(you)電(dian)容(rong)。電容(rong)不(bu)但(dan)會(hui)因(yin)為有(you)壹定的電(dian)阻(zu)而(er)產(chan)生漏電(dian)流(liu),在(zai)交(jiao)流(liu)電(dian)壓(ya)下(xia)電容(rong)本身(shen)也(ye)是(shi)壹個(ge)阻(zu)抗(kang)器(qi)件(jian)。這(zhe)些(xie)電(dian)流(liu)是(shi)獨立於用(yong)戶(hu)所希(xi)望測試(shi)的(de)電(dian)流(liu)之外(wai)的,其(qi)大(da)小(xiao)取(qu)決於電(dian)容(rong)值(zhi)、頻(pin)率(lv)和(he)施加電壓(ya)。
大(da)多(duo)數的(de)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)往(wang)往(wang)在(zai)電(dian)壓(ya)回路端(duan)接(jie)地,有時被(bei)測試(shi)的(de)樣品也(ye)會(hui)在(zai)低(di)端(duan)接(jie)地,因此在(zai)這(zhe)種(zhong)情況(kuang)下(xia),耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)所測量(liang)到的漏(lou)電流必然(ran)是(shi)通過被(bei)測樣品的漏電流(liu)和(he)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)本(ben)身(shen)漏電流的總和。耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)本(ben)身(shen)漏電流通常是(shi)非常小(xiao)的(de),然(ran)而(er)在(zai)測量(liang)納安(an)級的(de)漏(lou)電流(liu)時,它將是(shi)壹個(ge)主(zhu)要的(de)問(wen)題(ti)。
二、泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)測試(shi) 絕緣體不(bu)導電(dian)只(zhi)是(shi)相對(dui)的。隨著外(wai)圍環境(jing)條件(jian)的(de)變化(hua),實際(ji)上(shang)沒(mei)有壹種(zhong)絕緣材(cai)料是(shi)不(bu)導電(dian)的(de)。任(ren)何(he)壹種(zhong)絕緣材(cai)料,在(zai)其(qi)兩(liang)端施(shi)加電壓(ya),總會有(you)壹定電流(liu)通過,這(zhe)種(zhong)電流(liu)的有(you)功(gong)分(fen)量(liang)叫做泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu),而(er)這(zhe)種(zhong)現象(xiang)也(ye)叫做絕緣體的泄(xie)漏(lou)。
泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)實(shi)際(ji)上(shang)就(jiu)是(shi)電氣線(xian)路或設備(bei)在(zai)*和(he)施(shi)加電壓(ya)的(de)作用(yong)下(xia),流經絕緣部(bu)分(fen)的(de)電流。因(yin)此,它是(shi)衡量(liang)電器(qi)絕緣性(xing)好(hao)壞的(de)重(zhong)要標(biao)誌(zhi)之(zhi)壹,是(shi)產(chan)品安全(quan)性(xing)能(neng)的主(zhu)要指(zhi)標。將(jiang)泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)限(xian)制(zhi)在(zai)壹個(ge)很小值(zhi),這(zhe)對(dui)提高產(chan)品安全(quan)性(xing)能(neng)具有重要作(zuo)用(yong)。
對(dui)於電器(qi)的(de)測試(shi),泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)是(shi)指在(zai)*施(shi)加電壓(ya)的(de)情況(kuang)下(xia),電(dian)氣中相互絕緣的金(jin)屬(shu)器(qi)件(jian)之間,或帶電器(qi)件(jian)與接(jie)地器(qi)件(jian)之間,通過其(qi)周圍(wei)介(jie)質(zhi)或絕緣表面(mian)所形(xing)成的(de)電(dian)流(liu)稱為泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)。泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)包(bao)括(kuo)兩(liang)部(bu)分(fen):壹部(bu)分(fen)是(shi)通過絕緣電阻(zu)的(de)傳(chuan)導電流(liu);另(ling)壹部(bu)分(fen)是(shi)通過分(fen)布電容(rong)的位(wei)移電流(liu),其(qi)容(rong)抗為(wei) XC=1/2pfc 與電(dian)源頻率(lv)成反(fan)比,分(fen)布電容(rong)電流(liu)隨頻率升高(gao)而(er)增加,所以(yi)泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)隨電源頻率(lv)升(sheng)高(gao)而(er)增加。若考核的(de)是(shi)壹個(ge)電(dian)路或壹個(ge)系統的絕緣性(xing)能(neng),則(ze)這(zhe)個(ge)電(dian)流(liu)除(chu)了(le)包(bao)括(kuo)所有(you)通過絕緣物質(zhi)而(er)流入(ru)大地(或電路外(wai)可導(dao)電(dian)部(bu)分(fen))的(de)電流外(wai),還(hai)應包(bao)括(kuo)通過電(dian)路或系統中的電容(rong)性(xing)器(qi)件(jian)而(er)流入(ru)大地的電流(liu)。較(jiao)長(chang)布線(xian)會形(xing)成較(jiao)大(da)的(de)分(fen)布容(rong)量(liang),增大泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu),這(zhe)壹點在(zai)不(bu)接地的系統中應特(te)別引起(qi)註意。
泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)測試(shi)儀(yi)主(zhu)要由阻(zu)抗(kang)變換(huan)、量(liang)程(cheng)轉(zhuan)換(huan)、交(jiao)直流變換(huan)、放(fang)大、指(zhi)示(shi)裝(zhuang)置等組(zu)成。有(you)的還(hai)具有過流(liu)保護、聲(sheng)光(guang)報警(jing)電(dian)路和(he)試(shi)驗(yan)電壓(ya)調(tiao)節(jie)裝置,其(qi)指(zhi)示(shi)裝(zhuang)置分(fen)模(mo)擬式(shi)和數字(zi)式(shi)兩(liang)種(zhong)。
測量(liang)泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)的(de)原(yuan)理(li)測量(liang)與絕緣電阻(zu)基(ji)本(ben)相(xiang)同(tong),測量(liang)絕緣電阻(zu)實(shi)際(ji)上(shang)也(ye)是(shi)壹種(zhong)泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu),只(zhi)不(bu)過是(shi)以電(dian)阻(zu)形(xing)式表(biao)示(shi)出來(lai)的。不(bu)過正(zheng)規測量(liang)泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)施(shi)加的是(shi)交流(liu)電(dian)壓(ya),因(yin)而(er),在(zai)泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)的(de)成分(fen)中包(bao)含(han)了(le)容(rong)性(xing)分(fen)量(liang)的電(dian)流。泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)測試(shi)儀(yi)用(yong)於(yu)測量(liang)電器(qi)的(de)工(gong)作電(dian)源(yuan)(或其他電(dian)源(yuan))通過絕緣或分(fen)布參數阻(zu)抗(kang)產(chan)生的與(yu)工(gong)作無(wu)關的(de)泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu),其(qi)輸(shu)入(ru)阻(zu)抗(kang)模(mo)擬人(ren)體的阻(zu)抗(kang)。
三(san)、絕緣電阻(zu)測試(shi)試(shi)驗(yan)的類(lei)型(xing)和特(te)點 絕緣電阻(zu)測試(shi)是(shi)為了(le)了(le)解,評估(gu)電(dian)氣設備(bei)的(de)絕緣性(xing)能(neng)而(er)經常使(shi)用(yong)的(de)壹種(zhong)比較(jiao)常規的試(shi)驗(yan)類型(xing)。通常技(ji)術(shu)人員通過對(dui)導體、電氣零(ling)件(jian)、電路和(he)器(qi)件(jian)進行(xing)絕緣電阻(zu)測試(shi)來(lai)達到以下(xia)目的(de):
- 驗(yan)證(zheng)生產(chan)的(de)電氣設備(bei)的(de)質(zhi)量(liang)
- 確保電氣設備(bei)滿(man)足規程(cheng)和(he)標(biao)準(zhun)(安全(quan)符合性(xing))
- 確定電(dian)氣設備(bei)性(xing)能(neng)隨時間的(de)變化(hua)(預防性(xing)維(wei)護)
- 確定故(gu)障(zhang)原(yuan)因(排(pai)障(zhang))
壹般(ban)而(er)言(yan),對(dui)於絕緣測試(shi)有(you)以(yi)下(xia)類型(xing):設計測試(shi)、生產(chan)測試(shi)、交(jiao)接(jie)驗(yan)收測試(shi)、預防性(xing)維(wei)護測試(shi)以(yi)及(ji)故障(zhang)定位(wei)測試(shi)。不(bu)同的(de)測試(shi)類(lei)型(xing)取(qu)決於不(bu)同的(de)測試(shi)目的(de)和(he)應用(yong)領域,並且不(bu)同絕緣的測試(shi)過(guo)程(cheng)也(ye)具有不(bu)同的(de)特(te)點。
• 設計測試(shi) 設計測試(shi)壹般(ban)用(yong)於(yu)在(zai)實(shi)驗(yan)室中確定電(dian)氣器(qi)件(jian)的性(xing)能(neng)。設計測試(shi)通常是(shi)由制(zhi)造(zao)商(shang)對(dui)新設計的器(qi)件(jian)或是(shi)從其(qi)它公司外(wai)購的、用(yong)於(yu)產(chan)品設計之中的器(qi)件(jian)進行(xing)測試(shi)。設計測試(shi)檢(jian)查(zha)的是(shi)器(qi)件(jian)是(shi)否有(you)故(gu)障(zhang)。在(zai)制(zhi)造(zao)任(ren)何(he)產(chan)品之前(qian)都(dou)要進行(xing)絕緣電阻(zu)測試(shi)。
在(zai)測試(shi)絕緣時,對(dui)每(mei)壹器(qi)件(jian)施加高壓(ya),直(zhi)到器(qi)件(jian)的絕緣發生故障(zhang),產(chan)生的漏(lou)泄(xie)電(dian)流(liu)高(gao)於(yu)可接(jie)受(shou)的電(dian)流。不(bu)僅在(zai)*次(ci)設計產(chan)品時要進行(xing)設計測試(shi),而(er)且只(zhi)要對(dui)產(chan)品進行(xing)修(xiu)改(gai),都(dou)要進行(xing)測試(shi)。對(dui)於不(bu)同的(de)器(qi)件(jian),根據其不(bu)同的(de)工(gong)作電(dian)壓(ya),工(gong)作狀(zhuang)況(kuang)以(yi)及(ji)性(xing)能(neng)要求(qiu),需要對(dui)其進行(xing)不(bu)同的(de)電(dian)壓(ya)的(de)測試(shi)來(lai)測量(liang),這(zhe)就(jiu)需(xu)要測試(shi)儀(yi)器(qi)應該(gai)具有不(bu)同的(de)測試(shi)電(dian)壓(ya)。
• 生產(chan)測試(shi) 為(wei)了(le)確保在(zai)實(shi)驗(yan)室工(gong)作正(zheng)常的(de)產(chan)品在(zai)生產(chan)之(zhi)後(hou)仍然(ran)工(gong)作正(zheng)常,就(jiu)必須(xu)對(dui)每(mei)個(ge)產(chan)品進行(xing)生產(chan)測試(shi)。生產(chan)測試(shi)由制(zhi)造(zao)商(shang)進行(xing),以(yi)滿(man)足規範(fan)和標準(zhun)的要求(qiu),並保證(zheng)質(zhi)量(liang)的控制。在(zai)新產(chan)品和設備(bei)投(tou)入(ru)使(shi)用(yong)之(zhi)前(qian),對(dui)其進行(xing)絕緣電阻(zu)測試(shi)。在(zai)生產(chan)測試(shi)中,產(chan)品缺陷(xian)壹般(ban)就(jiu)會(hui)顯(xian)露(lu)出來(lai)。生產(chan)測試(shi)通常是(shi)非破(po)壞性(xing)。由於(yu)必須(xu)對(dui)生產(chan)線(xian)上的(de)準(zhun)備(bei)安(an)裝的(de)元(yuan)器(qi)件(jian)的性(xing)能(neng)進行(xing)是(shi)否滿(man)足絕緣要求(qiu)的試(shi)驗(yan)。由於(yu)這(zhe)種(zhong)測試(shi)的(de)目的(de)只(zhi)是(shi)驗(yan)證(zheng)元(yuan)器(qi)件(jian)是(shi)否有(you)足(zu)夠(gou)的絕緣強度(du),而(er)不(bu)是(shi)整體設備(bei)的(de)出廠(chang)驗(yan)收試(shi)驗(yan),因此不(bu)需要具體的參數,只(zhi)是(shi)需要驗(yan)證(zheng)合格與(yu)否。事先選定比(bi)較(jiao)值(zhi),在(zai)進行(xing)絕緣電阻(zu)測試(shi)時(shi),如(ru)果測量(liang)值(zhi)超過比較(jiao)值(zhi),那麽 “通過”的(de)指(zhi)示(shi)燈(deng)會被(bei)點亮(liang)。表(biao)明(ming)元(yuan)器(qi)件(jian)合格,反(fan)之則(ze)返回失敗(bai)顯(xian)示(shi),不(bu)必對(dui)具體檢(jian)測的(de)數(shu)值(zhi)進行(xing)判(pan)斷。
• 交接(jie)驗(yan)收測試(shi) 驗(yan)收測試(shi)由安(an)裝(zhuang)者在(zai)完(wan)成(cheng)安(an)裝(zhuang)之後(hou),但(dan)是(shi)在(zai)系統投入(ru)使(shi)用(yong)之(zhi)前(qian)進行(xing)。驗(yan)收測試(shi)包(bao)括(kuo)絕緣電阻(zu)測試(shi),以(yi)檢(jian)查(zha)是(shi)否有(you)設備(bei)損壞、電(dian)纜(lan)損傷(shang),電(dian)氣器(qi)件(jian)之間的(de)間距(ju)是(shi)否合適和牢(lao)固性(xing),以(yi)及(ji)儲存、運輸(shu)和安裝是(shi)否導(dao)致(zhi)產(chan)品損壞。那麽在(zai)現(xian)場(chang)的安(an)裝(zhuang)驗(yan)收試(shi)驗(yan)當(dang)中,需要進行(xing)絕緣電阻(zu)、吸(xi)收比( DAR )或吸收比( PI )的(de)測量(liang)。
• 預防性(xing)測試(shi) 許(xu)多(duo)工(gong)廠(chang)都(dou)把對(dui)設備(bei)進行(xing)絕緣電阻(zu)和(he)導(dao)線(xian)測試(shi)做為其整體預防性(xing)維(wei)護程(cheng)序的壹部(bu)分(fen)。導(dao)線(xian)絕緣層(ceng)的狀(zhuang)況(kuang)是(shi)設備(bei)和(he)電氣系統總體狀況(kuang)的(de)壹個(ge)很好的(de)指(zhi)示(shi)。壹般(ban)而(er)言(yan),所有(you)的系統在(zai)長(chang)時(shi)間工(gong)作後(hou),其(qi)導線(xian)的絕緣層(ceng)質(zhi)量(liang)都(dou)會以可預測的(de)速(su)率(lv)退化(hua)。通過定(ding)期(qi)進行(xing)絕緣電阻(zu)測量(liang),即可避(bi)免(mian)導(dao)線(xian)絕緣層(ceng)故障(zhang)(或預期(qi)壽(shou)命(ming))。
5、排除(chu)故(gu)障(zhang)時進行(xing)的(de)絕緣測試(shi) 即(ji)使(shi)制造(zao)的(de)設備(bei)是(shi)高指(zhi)標(biao)的(de)、安裝合適、規格正(zheng)確,並進行(xing)預防性(xing)維(wei)護測試(shi),但(dan)仍然(ran)需要故(gu)障(zhang)定位(wei)測試(shi),因(yin)為(wei)設備(bei)依然(ran)會發(fa)生故障(zhang)。故障(zhang)通常是(shi)由某(mou)個(ge)故(gu)障(zhang)電路中脆(cui)弱或損壞的(de)零(ling)件(jian)引起(qi)的(de)。當(dang)壹個(ge)器(qi)件(jian)、設備(bei)、電(dian)路或系統發生故障(zhang)時,就(jiu)會(hui)利用(yong)絕緣電阻(zu)測試(shi)來(lai)定位(wei)故(gu)障(zhang)。
• 日(ri)常的(de)維(wei)護 通常所有(you)的電(dian)氣設備(bei)都(dou)是(shi)需要日(ri)常的(de)維(wei)護的(de),日(ri)常性(xing)的(de)維(wei)護試(shi)驗(yan)的要求(qiu)和交(jiao)接(jie)驗(yan)收試(shi)驗(yan)的要求(qiu)非常接(jie)近(jin)。維(wei)護的(de)目的(de)是(shi)發現(xian)可能(neng)存(cun)在(zai)的(de)故(gu)障(zhang)隱患(huan)或微小的(de)故(gu)障(zhang)。早壹點發現(xian)這(zhe)些(xie)隱患(huan)或微小的(de)故(gu)障(zhang),可以(yi)在(zai)沒(mei)有形(xing)成損失(停工(gong),設備(bei)損傷(shang)或人身傷(shang)害(hai))或損失非(fei)常小(xiao)的(de)事後(hou)消除(chu)這(zhe)些(xie)隱患(huan)或故障(zhang)。日(ri)常維(wei)護通常可以(yi)分(fen)為(wei)定期維(wei)護和(he)不(bu)定期(qi)維(wei)護,或根據為維(wei)護測試(shi)的(de)目的(de)分(fen)為(wei)預防性(xing)維(wei)護和(he)預測性(xing)維(wei)護等等。
四、接(jie)地電阻(zu)測試(shi) 所謂(wei)接地電阻(zu)是(shi)指接(jie)地裝置對(dui)地電壓(ya)和(he)流入(ru)地中電流的(de)比值(zhi)。接(jie)地電阻(zu)包(bao)括(kuo)接(jie)地線(xian)電阻(zu)、接(jie)地體電阻(zu)、接(jie)地體與土壤間的(de)接(jie)觸電阻(zu),以(yi)及(ji)土壤中的散(san)流電阻(zu)。由於(yu)其(qi)中接地線(xian)電阻(zu)、接(jie)地體電阻(zu)、接(jie)觸電阻(zu)相(xiang)對(dui)較(jiao)小(xiao),故(gu)通常近(jin)似(si)以散(san)流電阻(zu)作(zuo)為(wei)接地電阻(zu)。設備(bei)的(de)良好(hao)接地是(shi)設備(bei)正(zheng)常運(yun)行(xing)的(de)重要保證(zheng)。
設備(bei)使(shi)用(yong)地線(xian)通常分(fen)為(wei)工(gong)作地 ( 電源地 ) ,保護地,防雷地,有些設備(bei)還(hai)有(you)單獨的(de)信號(hao)地,以將強(qiang),弱電地隔(ge)離,保證(zheng)數字(zi)弱信號(hao)免受(shou)強電(dian)地線(xian)浪湧(yong)的沖擊(ji),這(zhe)些(xie)地線(xian)的主(zhu)要作(zuo)用(yong)是(shi):提供電(dian)源(yuan)回路,保護人(ren)體免受(shou)電擊(ji),此處(chu),還(hai)可屏(ping)蔽(bi)設備(bei)內(nei)部(bu)電路免(mian)受(shou)外(wai)界(jie)電磁(ci)幹(gan)擾(rao)或防止幹(gan)擾(rao)其(qi)他設備(bei)。
設備(bei)接(jie)地的方式(shi)通常是(shi)埋(mai)設金(jin)屬(shu)地樁,金屬(shu)網(wang)等導(dao)體,導體再通過電(dian)纜(lan)線(xian)與設備(bei)內(nei)的地線(xian)排或機殼(ke)相連,當(dang)多(duo)個(ge)設備(bei)連(lian)接於(yu)同壹接地導體時,通常需(xu)安(an)裝接(jie)地排,接地排的位(wei)置應盡(jin)可能(neng)靠(kao)近(jin)接(jie)地樁,不(bu)同設備(bei)的(de)地線(xian)分(fen)開接在(zai)地線(xian)排上(shang),以(yi)減少(shao)相互(hu)影響(xiang)。隨著科技(ji)的(de)發(fa)展而(er)出現的(de)鉗形(xing)地阻(zu)表(biao)是(shi)壹種(zhong)新穎(ying)的測量(liang)工(gong)具,它方便(bian),快(kuai)捷(jie),外(wai)形(xing)酷(ku)似(si)鉗形(xing)電流(liu)表(biao),測試(shi)時(shi)不(bu)需要輔(fu)助測試(shi)樁(zhuang),只(zhi)需(xu)往(wang)被(bei)測地線(xian)上壹夾,幾(ji)秒(miao)鐘即(ji)可獲(huo)得測量(liang)結果,極(ji)大地方便了(le)地阻(zu)測量(liang)工(gong)作,鉗(qian)形(xing)地阻(zu)表(biao)另(ling)壹優點是(shi)可以(yi)對(dui)在(zai)用(yong)設備(bei)的(de)地阻(zu)進行(xing)在(zai)線(xian)測量(liang),而(er)不(bu)需切斷設備(bei)電(dian)源或斷開地線(xian)。
影響(xiang)接(jie)地電阻(zu)的(de)因(yin)素(su)很多(duo),接地樁的大(da)小(xiao) ( 長(chang)度,粗(cu)細 ) ,形(xing)狀,數(shu)量(liang),埋(mai)設深度,周圍(wei)地理(li)環境(jing) ( 如(ru)平地,溝(gou)渠(qu),坡(po)地 ) 土壤濕度,質(zhi)地等,為(wei)了(le)保證(zheng)設備(bei)的(de)良好(hao)接地,利用(yong)儀(yi)表對(dui)地電阻(zu)進行(xing)測量(liang)是(shi)*的。