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無損探(tan)傷問(wen)題(ti)集

日期(qi)：2012-09-29瀏(liu)覽：3818次

物理(li)探(tan)傷就(jiu)是不產生(sheng)化(hua)學(xue)變化(hua)的情(qing)況下進行無損探(tan)傷。

壹(yi)、什(shen)麽(me)是無損探(tan)傷？
答：無損探(tan)傷是在不損壞(huai)工件或(huo)原(yuan)材(cai)料(liao)工作狀(zhuang)態(tai)的前(qian)提下，對被(bei)檢驗部(bu)件(jian)的表(biao)面和內(nei)部(bu)質(zhi)量(liang)進行檢查(zha)的壹種(zhong)測(ce)試手(shou)段。

二、常用的(de)探傷(shang)方(fang)法有哪(na)些(xie)？
答：常用的(de)無損探(tan)傷方(fang)法有：X光(guang)射(she)線(xian)探(tan)傷(shang)、超(chao)聲波(bo)探傷、磁(ci)粉探(tan)傷、滲透(tou)探傷(shang)、渦流探傷、γ射(she)線(xian)探(tan)傷(shang)、螢光(guang)探(tan)傷(shang)、著(zhe)色(se)探(tan)傷等方(fang)法。

三(san)、試述(shu)磁(ci)粉探(tan)傷的原(yuan)理(li)？
答：它(ta)的(de)基(ji)本原(yuan)理(li)是：當工件磁(ci)化(hua)時(shi)，若工件表(biao)面有缺(que)陷(xian)存在(zai)，由於(yu)缺(que)陷(xian)處的(de)磁(ci)阻增大而(er)產生(sheng)漏(lou)磁(ci)，形(xing)成(cheng)局(ju)部(bu)磁(ci)場，磁(ci)粉便(bian)在(zai)此處顯示缺(que)陷(xian)的形(xing)狀(zhuang)和位(wei)置，從而判(pan)斷(duan)缺(que)陷(xian)的存(cun)在。

四(si)、試(shi)述(shu)磁(ci)粉探(tan)傷的種(zhong)類(lei)？
1、按(an)工件磁(ci)化(hua)方(fang)向的不(bu)同(tong)，可(ke)分為(wei)周向磁(ci)化(hua)法、縱向磁(ci)化(hua)法、復(fu)合磁(ci)化(hua)法和(he)旋轉(zhuan)磁(ci)化(hua)法。
2、按(an)采(cai)用磁(ci)化(hua)電(dian)流的(de)不(bu)同(tong)可(ke)分為(wei)：直流(liu)磁(ci)化(hua)法、半(ban)波(bo)直流磁(ci)化(hua)法、和(he)交(jiao)流磁(ci)化(hua)法。
3、按(an)探(tan)傷(shang)所采(cai)用磁(ci)粉的(de)配制不(bu)同(tong)，可(ke)分為(wei)幹粉法(fa)和濕粉法(fa)。

五、磁(ci)粉探(tan)傷的缺(que)陷(xian)有哪(na)些(xie)？
答：磁(ci)粉探(tan)傷設備簡(jian)單(dan)、操作(zuo)容(rong)易(yi)、檢驗迅(xun)速、具有較(jiao)高(gao)的探(tan)傷靈(ling)敏度(du)，可(ke)用來發現鐵磁(ci)材(cai)料(liao)鎳(nie)、鈷及(ji)其合金(jin)、碳(tan)素(su)鋼(gang)及(ji)某些(xie)合(he)金(jin)鋼(gang)的表(biao)面或近(jin)表(biao)面的缺(que)陷(xian)；它適(shi)於薄壁件(jian)或(huo)焊縫表(biao)面裂紋(wen)的檢驗，也(ye)能顯露(lu)出(chu)壹(yi)定(ding)深(shen)度(du)和(he)大小(xiao)的(de)未(wei)焊(han)透(tou)缺(que)陷(xian)；但難(nan)於發現氣孔、夾碴及(ji)隱藏(zang)在焊(han)縫深(shen)處的(de)缺(que)陷(xian)。

六、缺(que)陷(xian)磁(ci)痕(hen)可(ke)分為(wei)幾類(lei)？
答：1、各(ge)種(zhong)工藝(yi)性質缺(que)陷(xian)的磁(ci)痕(hen)；
2、材(cai)料(liao)夾(jia)渣帶來(lai)的(de)發紋(wen)磁(ci)痕(hen)；
3、夾渣(zha)、氣孔帶來(lai)的(de)點(dian)狀(zhuang)磁(ci)痕(hen)。

七、試(shi)述產(chan)生(sheng)漏(lou)磁(ci)的原(yuan)因？
答：由(you)於(yu)鐵磁(ci)性材(cai)料(liao)的(de)磁(ci)率遠大於非(fei)鐵(tie)磁(ci)材(cai)料(liao)的(de)導(dao)磁(ci)率，根(gen)據工件被(bei)磁(ci)化(hua)後的磁(ci)通密度B＝μH來分析(xi)，在(zai)工件的(de)單(dan)位面積上(shang)穿(chuan)過(guo)B根(gen)磁(ci)線，而在缺(que)陷(xian)區(qu)域的單(dan)位面積上(shang)不能(neng)容(rong)許(xu)B根(gen)磁(ci)力線(xian)通過(guo)，就(jiu)迫使壹(yi)部(bu)分磁(ci)力線(xian)擠(ji)到(dao)缺(que)陷(xian)下面的材(cai)料(liao)裏(li)，其它(ta)磁(ci)力線(xian)不得(de)不被(bei)迫逸(yi)出(chu)工件表(biao)面以外出(chu)形(xing)成(cheng)漏(lou)磁(ci)，磁(ci)粉將(jiang)被(bei)這樣(yang)所引起的(de)漏(lou)磁(ci)所吸(xi)引。

八、試述(shu)產生(sheng)漏(lou)磁(ci)的影響因素(su)？
答：1、缺(que)陷(xian)的磁(ci)導(dao)率(lv)：缺(que)陷(xian)的磁(ci)導(dao)率(lv)越小(xiao)、則(ze)漏(lou)磁(ci)越強(qiang)。
2、磁(ci)化(hua)磁(ci)場強(qiang)度（磁(ci)化(hua)力）大(da)小(xiao)：磁(ci)化(hua)力越(yue)大、漏(lou)磁(ci)越強(qiang)。
3、被(bei)檢工件的(de)形(xing)狀(zhuang)和尺寸(cun)、缺(que)陷(xian)的形(xing)狀(zhuang)大小(xiao)、埋(mai)藏(zang)深(shen)度(du)等(deng)：當其(qi)他條(tiao)件相(xiang)同(tong)時(shi)，埋(mai)藏(zang)在表(biao)面下深(shen)度(du)相(xiang)同(tong)的氣孔產生(sheng)的(de)漏(lou)磁(ci)要比(bi)橫(heng)向裂紋(wen)所產生(sheng)的(de)漏(lou)磁(ci)要小(xiao)。

九、某些(xie)零(ling)件在(zai)磁(ci)粉探(tan)傷後為什麽(me)要(yao)退(tui)磁(ci)？
答：某(mou)些(xie)轉(zhuan)動(dong)部(bu)件(jian)的剩磁(ci)將(jiang)會(hui)吸(xi)引鐵屑(xie)而(er)使部(bu)件(jian)在轉(zhuan)動(dong)中(zhong)產(chan)生(sheng)摩(mo)擦(ca)損壞(huai)，如(ru)軸(zhou)類(lei)軸(zhou)承等。某(mou)些(xie)零(ling)件的(de)剩磁(ci)將(jiang)會(hui)使附(fu)近(jin)的(de)儀表(biao)指示(shi)失常。因此(ci)某些(xie)零(ling)件在(zai)磁(ci)粉探(tan)傷後為什麽(me)要(yao)退(tui)磁(ci)處理(li)。

十(shi)、超聲波(bo)探傷的基(ji)本原(yuan)理(li)是什麽？
答：超(chao)聲波(bo)探傷是利用(yong)超(chao)聲能透(tou)入金(jin)屬(shu)材(cai)料(liao)的(de)深(shen)處，並由(you)壹(yi)截面進入另(ling)壹截(jie)面時(shi)，在(zai)界(jie)面邊(bian)緣(yuan)發生(sheng)反(fan)射(she)的(de)特(te)點(dian)來(lai)檢查(zha)零件缺(que)陷(xian)的壹(yi)種(zhong)方(fang)法，當超(chao)聲波(bo)束(shu)自零件(jian)表(biao)面由探頭(tou)通至(zhi)金(jin)屬(shu)內(nei)部(bu)，遇(yu)到缺(que)陷(xian)與(yu)零(ling)件(jian)底面時(shi)就(jiu)分別發生(sheng)反(fan)射(she)波(bo)來，在螢光(guang)屏(ping)上(shang)形(xing)成(cheng)脈沖(chong)波(bo)形(xing)，根(gen)據這些(xie)脈沖(chong)波(bo)形(xing)來(lai)判(pan)斷(duan)缺(que)陷(xian)位置和大小(xiao)。

十(shi)壹、超(chao)聲波(bo)探傷與(yu)X射(she)線(xian)探(tan)傷(shang)相(xiang)比(bi)較(jiao)有何(he)優(you)的缺(que)點(dian)？
答：超(chao)聲波(bo)探傷比(bi)X射(she)線(xian)探(tan)傷(shang)具有較(jiao)高(gao)的探(tan)傷靈(ling)敏度(du)、周(zhou)期(qi)短(duan)、成本低(di)、靈(ling)活方(fang)便(bian)、效率高，對人體無害(hai)等優(you)點(dian)；缺(que)點(dian)是對工作表(biao)面要求(qiu)平(ping)滑(hua)、要(yao)求(qiu)富(fu)有經(jing)驗的(de)檢驗人(ren)員才(cai)能(neng)辨別缺(que)陷(xian)種(zhong)類(lei)、對(dui)缺(que)陷(xian)沒有直(zhi)觀(guan)性；超聲波(bo)探傷適合於厚(hou)度(du)較大的零(ling)件檢驗。

十(shi)二、超聲波(bo)探傷的主(zhu)要特(te)性有哪(na)些(xie)？
答：1、超(chao)聲波(bo)在介質(zhi)中(zhong)傳播時(shi)，在(zai)不(bu)同(tong)質界(jie)面上(shang)具有反(fan)射(she)的(de)特(te)性，如(ru)遇(yu)到缺(que)陷(xian)，缺(que)陷(xian)的尺寸(cun)等(deng)於或(huo)大於超聲波(bo)波(bo)長(chang)時(shi)，則(ze)超聲波(bo)在缺(que)陷(xian)上(shang)反(fan)射(she)回(hui)來(lai)，探(tan)傷(shang)儀可(ke)將(jiang)反(fan)射(she)波(bo)顯示出來(lai)；如(ru)缺(que)陷(xian)的尺寸(cun)甚(shen)至(zhi)小(xiao)於(yu)波(bo)長(chang)時(shi)，聲波(bo)將(jiang)繞(rao)過射(she)線(xian)而(er)不(bu)能(neng)反(fan)射(she)；
2、波(bo)聲的方(fang)向性好，頻率(lv)越高，方(fang)向性越好，以很窄(zhai)的(de)波(bo)束(shu)向介質(zhi)中(zhong)輻(fu)射(she)，易(yi)於確(que)定缺(que)陷(xian)的位(wei)置。
3、超聲波(bo)的傳播能量(liang)大，如(ru)頻率(lv)為1MHZ（100赫茲(zi)）的(de)超生(sheng)波(bo)所傳播的能量(liang)，相(xiang)當於(yu)振(zhen)幅相(xiang)同(tong)而頻率(lv)為1000HZ（赫茲(zi)）的(de)聲波(bo)的100萬(wan)倍。

十(shi)三(san)、超生(sheng)波(bo)探傷板厚(hou)14毫(hao)米時(shi)，距(ju)離波(bo)幅曲線上(shang)三(san)條主(zhu)要曲(qu)線的(de)關(guan)系(xi)怎樣？
答：測(ce)長(chang)線 Ф1 х 6 －12dB
定量(liang)線 Ф1 х 6 －6dB
判(pan)度(du)線 Ф1 х 6 －2dB

十(shi)四(si)、何(he)為(wei)射(she)線(xian)的(de)“軟(ruan)”與(yu)“硬(ying)”？
答：X射(she)線(xian)穿(chuan)透(tou)物質(zhi)的(de)能力大(da)小(xiao)和(he)射(she)線(xian)本身(shen)的(de)波(bo)長(chang)有關(guan)，波(bo)長(chang)越短（管(guan)電(dian)壓(ya)越(yue)高(gao)），其(qi)穿(chuan)透(tou)能力越(yue)大，稱(cheng)之為(wei)“硬”；反(fan)之則(ze)稱為(wei)“軟(ruan)”。

十(shi)五、用(yong)超(chao)生(sheng)波(bo)探傷時(shi)，底波(bo)消失可(ke)能是什麽原(yuan)因造(zao)成的(de)？
答：1、近(jin)表(biao)表(biao)大缺(que)陷(xian)；2、吸(xi)收(shou)性缺(que)陷(xian)；3、傾(qing)斜(xie)大(da)缺(que)陷(xian)；4、氧化(hua)皮與(yu)鋼(gang)板(ban)結(jie)合(he)不(bu)好(hao)。

十(shi)六、影(ying)響(xiang)顯影的主(zhu)要因素(su)有哪(na)些(xie)？
答：1、顯影時(shi)間(jian)；2、顯影液(ye)溫度；3、顯影液(ye)的搖動(dong)；4、配方(fang)類(lei)型(xing)；5、老(lao)化(hua)程度。

十(shi)七、什(shen)麽(me)是電(dian)流？
答：電(dian)流是指電(dian)子(zi)在(zai)壹定方(fang)向的外(wai)力作(zuo)用下有規(gui)則(ze)的運動(dong)；電(dian)流方(fang)向，習慣(guan)上(shang)規定(ding)是由電(dian)源的(de)正(zheng)極(ji)經(jing)用(yong)電(dian)設備流向負極(ji)為正(zheng)方(fang)向，即與(yu)電(dian)子(zi)的(de)方(fang)向相(xiang)反(fan)。

十(shi)八、什麽(me)是電(dian)流強(qiang)度？
答：電(dian)流強(qiang)度是單(dan)位時(shi)間(jian)內(nei)通過(guo)導(dao)體橫截(jie)面的電(dian)量(liang)，電(dian)流有時(shi)也(ye)作為(wei)電(dian)流強(qiang)度的(de)簡(jian)稱，可(ke)寫成I ＝Q \ T 式(shi)中(zhong) I 表(biao)示為(wei)電(dian)流強(qiang)度Q 為(wei)電(dian)量(liang)，T 為時(shi)間(jian) 。

十(shi)九、什麽是電(dian)阻？
答：指(zhi)電(dian)流在(zai)導(dao)體內(nei)流動所受到的阻力，在(zai)相(xiang)同(tong)的溫(wen)度(du)下，長(chang)度和截(jie)面積都(dou)相(xiang)同(tong)的不(bu)同(tong)物質(zhi)的(de)電(dian)阻，差(cha)別往往很大(da)；電(dian)阻用“R”表(biao)示，單(dan)位為(wei)歐(ou)姆，簡(jian)稱歐(ou)，以Ω表(biao)示。

二十(shi)、什麽(me)是電(dian)壓(ya)？
答：指(zhi)在(zai)電(dian)源力的(de)作用(yong)下，將(jiang)導(dao)體內(nei)部(bu)的(de)正負電(dian)荷推(tui)移(yi)到(dao)導(dao)體的兩(liang)端，使其(qi)具有電(dian)位差(cha)，電(dian)壓(ya)的(de)單(dan)位是伏特(te)，簡(jian)稱伏(fu)，用(yong)符號(hao)“V”表(biao)示。

二十(shi)壹、什(shen)麽(me)是交(jiao)流電(dian)，有何(he)特(te)點(dian)？
答：交(jiao)流電(dian)指電(dian)路(lu)中(zhong)電(dian)流、電(dian)壓(ya)、電(dian)勢的(de)大小(xiao)和(he)方(fang)向不是恒定的(de)，而(er)是交(jiao)變的，其特(te)點(dian)是電(dian)流、電(dian)壓(ya)、電(dian)勢的(de)大小(xiao)和(he)方(fang)向都(dou)是隨時(shi)間(jian)作(zuo)作(zuo)周(zhou)期(qi)性的變化(hua)；工礦企業(ye)設備所用的(de)交(jiao)流電(dian)動機(ji)、民(min)用照(zhao)明、日常生(sheng)活(huo)的(de)電(dian)器設(she)備都(dou)是以交(jiao)流電(dian)作為(wei)電(dian)源；交(jiao)流電(dian)有三(san)相(xiang)和單(dan)相(xiang)之分，其(qi)電(dian)壓(ya)380伏(fu)和(he)220伏(fu)。
二十(shi)二、什麽(me)是直流電(dian)，有何(he)特(te)點(dian)？
答：指(zhi)在(zai)任何(he)不同(tong)時(shi)刻(ke)，單(dan)位時(shi)間(jian)內(nei)通過(guo)導(dao)體橫截(jie)面的電(dian)荷均相(xiang)等，方(fang)向始終不(bu)變的電(dian)流；其(qi)特(te)點(dian)是電(dian)路(lu)中(zhong)的(de)電(dian)流、電(dian)壓(ya)、電(dian)勢的(de)大小(xiao)和(he)方(fang)向都(dou)是不隨時(shi)間(jian)變化(hua)而變化(hua)，而是恒定的(de)；直(zhi)流電(dian)機(ji)、電(dian)鍍、電(dian)機(ji)勵磁(ci)、蓄電(dian)池充(chong)電(dian)、半(ban)導(dao)體電(dian)路(lu)等(deng)。
二十(shi)三(san)、什麽(me)是歐(ou)姆定(ding)律(lv)？
答：歐(ou)姆定(ding)律(lv)反(fan)映(ying)了有穩(wen)恒(heng)電(dian)流通過(guo)的(de)電(dian)路(lu)中(zhong)電(dian)阻、電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)流相(xiang)互關(guan)系(xi)；歐(ou)姆定(ding)律(lv)指出(chu)，通過(guo)電(dian)路(lu)中(zhong)的(de)電(dian)流與(yu)電(dian)路(lu)兩(liang)端電(dian)壓(ya)成(cheng)正(zheng)比(bi)，與(yu)電(dian)路(lu)中(zhong)的(de)電(dian)阻成反(fan)比(bi)；即(ji)I ＝V \ R。

二十(shi)四(si)、什(shen)麽(me)是電(dian)磁(ci)感(gan)應？
答：通過(guo)閉(bi)合回(hui)路(lu)的(de)磁(ci)通量(liang)發生(sheng)變化(hua)，而在(zai)回(hui)路(lu)中(zhong)產(chan)生(sheng)電(dian)動勢的(de)現象稱(cheng)為電(dian)磁(ci)感(gan)應；這樣(yang)產(chan)生(sheng)電(dian)動勢稱(cheng)為感(gan)應電(dian)動勢，如(ru)果(guo)導(dao)體是個閉(bi)合回(hui)路(lu)，將(jiang)有電(dian)流流(liu)過(guo)，其(qi)電(dian)流稱(cheng)為(wei)感(gan)生(sheng)電(dian)流；變壓(ya)器(qi)，發電(dian)機(ji)、各(ge)種(zhong)電(dian)感(gan)線(xian)圈(quan)都(dou)是根(gen)據電(dian)磁(ci)感(gan)應原(yuan)理(li)工作。

二十(shi)五、簡(jian)述超(chao)生(sheng)波(bo)探傷中，超生(sheng)波(bo)在介質(zhi)中(zhong)傳播時(shi)引起衰(shuai)減的原(yuan)因是什麽？
答：1、超(chao)聲波(bo)的擴散(san)傳(chuan)播距(ju)離增加(jia)，波(bo)束(shu)截(jie)面愈來(lai)愈大(da)，單(dan)位面積上(shang)的能(neng)量(liang)減少。
2、材(cai)質衰(shuai)減壹是介質(zhi)粘(zhan)滯性引起的(de)吸(xi)收(shou)；二是介質(zhi)界(jie)面雜(za)亂(luan)反(fan)射(she)引起的(de)散(san)射(she)。

二十(shi)六、CSK－ⅡA試(shi)塊的主(zhu)要作(zuo)用是什麽？
答：1、校(xiao)驗靈(ling)敏度(du)；2、校(xiao)準掃描線(xian)性。

二十(shi)七、影(ying)響(xiang)照(zhao)相(xiang)靈(ling)敏度(du)的(de)主(zhu)要因素(su)有哪(na)些(xie)？
答：1、X光(guang)機(ji)的焦(jiao)點(dian)大(da)小(xiao)；2、透(tou)照參數選擇(ze)的合(he)理(li)性，主(zhu)要參數有管(guan)電(dian)壓(ya)、管(guan)電(dian)流、曝(pu)光(guang)時(shi)間(jian)和(he)焦(jiao)距(ju)大小(xiao)；3、增感(gan)方(fang)式(shi)；4、選(xuan)用(yong)膠片(pian)的(de)合(he)理(li)性；5、暗室處理(li)條(tiao)件；6、散(san)射(she)的(de)遮擋(dang)等(deng)。

二十(shi)八、用超(chao)生(sheng)波(bo)對餅(bing)形(xing)大(da)鍛件(jian)探(tan)傷，如(ru)果(guo)用(yong)底波(bo)調(tiao)節(jie)探(tan)傷(shang)起始靈(ling)敏度(du)對(dui)工作底面有何(he)要(yao)求(qiu)？
答：1、底面必(bi)須(xu)平(ping)行(xing)於探傷面；
2、底面必(bi)須(xu)平(ping)整(zheng)並且(qie)有壹(yi)定(ding)的光(guang)潔度。

二十(shi)九、超聲波(bo)探傷選擇探頭(tou)K值有哪(na)三(san)條原(yuan)則(ze)？
答：1、聲束(shu)掃查(zha)到整(zheng)個(ge)焊縫截面；
2、聲束(shu)盡(jin)量(liang)垂(chui)直於(yu)主(zhu)要缺(que)陷(xian)；
3、有足(zu)夠(gou)的靈(ling)敏度(du)。

三(san)十(shi)、超聲波(bo)探傷儀主(zhu)要有哪(na)幾(ji)部(bu)分組(zu)成？
答：主(zhu)要有電(dian)路(lu)同(tong)步電(dian)路(lu)、發電(dian)路(lu)、接(jie)收(shou)電(dian)路(lu)、水(shui)平(ping)掃描電(dian)路(lu)、顯示器和(he)電(dian)源等(deng)部(bu)份(fen)組成(cheng)。

三(san)十(shi)壹、發射(she)電(dian)路(lu)的(de)主(zhu)要作(zuo)用是什麽？
答：由(you)同(tong)步電(dian)路(lu)輸(shu)入(ru)的同(tong)步脈沖(chong)信號(hao)，觸(chu)發發射(she)電(dian)路(lu)工作，產(chan)生(sheng)高(gao)頻電(dian)脈沖(chong)信號(hao)激勵晶片，產(chan)生(sheng)高(gao)頻振(zhen)動，並在(zai)介質(zhi)內(nei)產生(sheng)超(chao)聲波(bo)。

三(san)十(shi)二、超聲波(bo)探傷中，晶片表(biao)面和被(bei)探工件表(biao)面之間使用(yong)耦合(he)劑(ji)的原(yuan)因是什麽？
答：晶片表(biao)面和被(bei)檢工件表(biao)面之間的(de)空(kong)氣間隙，會使超(chao)聲波(bo)*反(fan)射(she)，造(zao)成探(tan)傷(shang)結(jie)果(guo)不(bu)準(zhun)確和無法探傷(shang)。

三(san)十(shi)三(san)、JB1150－73標(biao)準(zhun)中規(gui)定的(de)判(pan)別缺(que)陷(xian)的三(san)種(zhong)情(qing)況是什麽？
答：1、無底波(bo)只有缺(que)陷(xian)的多(duo)次反(fan)射(she)波(bo)。
2、無底波(bo)只有多(duo)個(ge)紊(wen)亂(luan)的缺(que)陷(xian)波(bo)。
3、缺(que)陷(xian)波(bo)和底波(bo)同(tong)時(shi)存(cun)在(zai)。

三(san)十(shi)四(si)、JB1150－73標(biao)準(zhun)中規(gui)定的(de)距(ju)離――波(bo)幅曲線的用途(tu)是什麽？
答：距(ju)離――波(bo)幅曲線主(zhu)要用(yong)於判(pan)定(ding)缺(que)陷(xian)大小(xiao)，給(gei)驗收(shou)標(biao)準(zhun)提供依據它是由判(pan)廢線、定量(liang)線、測(ce)長(chang)線三(san)條曲(qu)線組成；
判(pan)廢線――判(pan)定(ding)缺(que)陷(xian)的zui大(da)允許(xu)當量(liang)；
定量(liang)線――判(pan)定(ding)缺(que)陷(xian)的大(da)小(xiao)、長(chang)度的控(kong)制線；測(ce)長(chang)線――探傷(shang)起始靈(ling)敏度(du)控(kong)制(zhi)線。

三(san)十(shi)五、什(shen)麽(me)是超聲場？
答：充(chong)滿(man)超聲場能(neng)量(liang)的空(kong)間(jian)叫超(chao)聲場。

三(san)十(shi)六、反(fan)映(ying)超聲場特(te)征(zheng)的主(zhu)要參數是什麽？
答：反(fan)映(ying)超聲場特(te)征(zheng)的重要物理(li)量(liang)有聲強(qiang)、聲壓(ya)聲阻抗、聲束(shu)擴散(san)角(jiao)、近(jin)場(chang)和遠場區(qu)。

三(san)十(shi)七、探(tan)傷(shang)儀(yi)zui重要的性能指標(biao)是什麽？
答：分辨力、動(dong)態(tai)範圍、水(shui)平(ping)線性、垂(chui)直線(xian)性、靈(ling)敏度(du)、信(xin)噪比(bi)。

三(san)十(shi)八、超聲波(bo)探傷儀近(jin)顯示方(fang)式(shi)可(ke)分幾(ji)種(zhong)？
答：1、A型(xing)顯示示波(bo)屏橫座標(biao)代(dai)表(biao)超聲波(bo)傳遞播時(shi)間(jian)（或(huo)距(ju)離）縱座標(biao)代(dai)表(biao)反(fan)射(she)回(hui)波(bo)的高度；2、B型(xing)顯示示波(bo)屏橫座標(biao)代(dai)表(biao)超聲波(bo)傳遞播時(shi)間(jian)（或(huo)距(ju)離），這類(lei)顯示得(de)到的(de)是探頭(tou)掃查(zha)深(shen)度(du)方(fang)向的斷(duan)面圖；3、C型(xing)顯示儀器(qi)示(shi)波(bo)屏代(dai)表(biao)被(bei)檢工件的(de)投影面，這種(zhong)顯示能繪(hui)出(chu)缺(que)陷(xian)的水(shui)平投影位置，但不能(neng)給出(chu)缺(que)陷(xian)的埋(mai)藏(zang)深(shen)度(du)。

三(san)十(shi)九、超聲波(bo)探頭(tou)的主(zhu)要作(zuo)用是什麽？
答：1、探(tan)頭(tou)是壹個電(dian)聲換能(neng)器(qi)，並能(neng)將(jiang)返(fan)回(hui)來(lai)的(de)聲波(bo)轉(zhuan)換成(cheng)電(dian)脈沖(chong)；2、控制(zhi)超(chao)聲波(bo)的傳播方(fang)向和能(neng)量(liang)集中的程度，當改(gai)變探頭(tou)入射(she) 角(jiao)或(huo)改(gai)變超聲波(bo)的擴散(san)角(jiao)時(shi)，可(ke)使聲波(bo)的主(zhu)要能(neng)量(liang)按不同(tong)的角(jiao)度(du)射(she)入(ru)介質(zhi)內(nei)部(bu)或(huo)改變聲波(bo)的指向性，提高分辨率；3、實(shi)現波(bo)型(xing)轉(zhuan)換；4、控(kong)制(zhi)工作頻率(lv)；適用於不(bu)同(tong)的工作條(tiao)件(jian)。

四(si)十(shi)、磁(ci)粉探(tan)頭(tou)的安全(quan)操(cao)作(zuo)要(yao)求(qiu)？
答：1、當工件直(zhi)接(jie)通過(guo)電(dian)磁(ci)化(hua)時(shi)，要(yao)註(zhu)意夾(jia)頭(tou)間的(de)接觸(chu)不(bu)良、或用(yong)了太大(da)的(de)磁(ci)化(hua)電(dian)流引起打弧(hu)閃(shan)光，應戴防(fang)護(hu)眼鏡，同(tong)時(shi)不(bu)應在有可(ke)能燃(ran)氣體的場(chang)合使用(yong)；2、在連(lian)續使用(yong)濕法磁(ci)懸液(ye)時(shi)，皮(pi)膚(fu)上(shang)可(ke)塗防護(hu)膏(gao)；3、如(ru)用(yong)於(yu)水(shui)磁(ci)懸液(ye)，設備須接(jie)地(di)良好，以防觸(chu)電(dian)；4、在用(yong)繭火(huo)磁(ci)粉時(shi)，所用紫(zi)外線(xian)必(bi)須(xu)經(jing)濾光(guang)器(qi)，以保(bao)護眼睛和皮膚(fu)。

四(si)十(shi)壹、什(shen)麽(me)是分辨率？
答：指(zhi)在(zai)射(she)線(xian)底片或(huo)熒(ying)光(guang)屏(ping)上(shang)能夠(gou)識別的(de)圖(tu)像之(zhi)間(jian)zui小(xiao)距(ju)離，通常用每1毫(hao)米內(nei)可(ke)辨認線(xian)條(tiao)的數目(mu)表(biao)示。

四(si)十(shi)二、什麽(me)是幾何不(bu)清(qing)晰度(du)？
答：由(you)半(ban)影造(zao)成的(de)不(bu)清(qing)晰度(du)、半(ban)影取決於焦(jiao)點(dian)尺寸(cun)，焦(jiao)距(ju)和工件厚(hou)度(du)。

四(si)十(shi)三(san)、為什(shen)麽要加(jia)強(qiang)超波(bo)探傷合錄和報(bao)告(gao)工作？
答：任(ren)何(he)工件經(jing)過(guo)超聲波(bo)探傷後，都(dou)必(bi)須(xu)出(chu)據檢驗報(bao)告(gao)以作為(wei)該(gai)工作質(zhi)量(liang)好壞的憑(ping)證(zheng)，壹(yi)份(fen)正確(que)的(de)探(tan)傷報(bao)告(gao)，除(chu)建(jian)立(li)可(ke)靠的探(tan)測(ce)方(fang)法和(he)結(jie)果(guo)外(wai)，很(hen)大程度上(shang)取決於原(yuan)始(shi)記錄和(he)zui後出據的探傷報(bao)告(gao)是非(fei)常重要的，如(ru)果(guo)我(wo)們(men)檢查(zha)了工件不(bu)作(zuo)記錄也(ye)不出(chu)報(bao)告(gao)，那麽(me)探傷(shang)檢查(zha)就(jiu)毫(hao)無意義(yi)。

四(si)十(shi)四(si)、磁(ci)粉探(tan)傷中為什(shen)麽要使用(yong)靈(ling)敏試(shi)片(pian)？
答：使用(yong)靈(ling)敏試(shi)片(pian)目(mu)的(de)在(zai)於(yu)檢驗磁(ci)粉和(he)磁(ci)懸液(ye)的性能和連續(xu)法(fa)中(zhong)確定(ding)試件(jian)表(biao)面有效磁(ci)場強(qiang)度和(he)方(fang)向以及(ji)操作方(fang)法是否正確(que)等(deng)綜(zong)合(he)因素(su)。

四(si)十(shi)五、什(shen)麽(me)叫(jiao)定影(ying)作(zuo)用？
答：顯影後的膠片(pian)在(zai)影(ying)液(ye)中，分影(ying)劑將(jiang)它(ta)上(shang)面未經(jing)顯影的溴化(hua)銀(yin)溶解(jie)掉(diao)，同(tong)時(shi)保(bao)護住(zhu)黑色(se)金(jin)屬(shu)銀(yin)粒的(de)過(guo)程叫定(ding)影作(zuo)用(yong)。

四(si)十(shi)六、著(zhe)色(se)（滲(shen)透(tou)）探傷(shang)的(de)基(ji)本原(yuan)理(li)是什麽？
答：著(zhe)色(se)（滲(shen)透(tou)）探傷(shang)的(de)基(ji)本原(yuan)理(li)是利用(yong)毛細現象使滲(shen)透(tou)液(ye)滲入缺(que)陷(xian)，經(jing)清(qing)洗使表(biao)面滲透(tou)液(ye)支除(chu)，而缺(que)陷(xian)中的(de)滲透(tou)殘(can)瘤(liu)，再利用(yong)顯像劑的(de)毛細管(guan)作用吸(xi)附(fu)出缺(que)陷(xian)中殘(can)瘤(liu)滲透(tou)液(ye)而達(da)到檢驗缺(que)陷(xian)的目(mu)的(de)。

四(si)十(shi)七、著(zhe)色(se)（滲(shen)透(tou)）探傷(shang)靈(ling)敏度(du)的(de)主(zhu)要因素(su)有哪(na)些(xie)？
答：1、滲(shen)透(tou)劑的(de)性能的影響(xiang)；2、乳化(hua)劑的(de)乳化(hua)效果的影響；3、顯像劑性能的影響(xiang)；4、操(cao)作(zuo)方(fang)法的(de)影響；5、缺(que)陷(xian)本身(shen)性質的影響(xiang)。

四(si)十(shi)八、在超(chao)聲波(bo)探傷中把焊(han)縫(feng)中的缺(que)陷(xian)分幾(ji)類(lei)？怎樣進(jin)行(xing)分類(lei)？
答：在(zai)焊(han)縫超(chao)聲波(bo)探傷中壹般把焊(han)縫(feng)中的缺(que)陷(xian) 分成(cheng)三(san)類(lei)：點(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)、線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)、面狀(zhuang)缺(que)陷(xian)。
在分類(lei)中(zhong)把長(chang)度小(xiao)於(yu)10mm的(de)缺(que)陷(xian)叫做(zuo)點(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)；壹般不測(ce)長(chang)，小(xiao)於(yu)10mm的(de)缺(que)陷(xian)按5mm計(ji)。把長(chang)度大於(yu)10mm的缺(que)陷(xian)叫線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)。把長(chang)度大於(yu)10mm高度大(da)於3mm的(de)缺(que)陷(xian)叫面狀(zhuang)缺(que)陷(xian)。

四(si)十(shi)九、膠片(pian)洗(xi)沖(chong)程序如(ru)何(he)？
答：顯影、停影(ying)、定影(ying)、水(shui)洗、幹(gan)燥。

五(wu)十(shi)、什麽(me)叫(jiao)導(dao)電(dian)性？
答：指(zhi)金(jin)屬(shu)能夠(gou)傳導(dao)電(dian)流的(de)性質。

五十(shi)壹、什(shen)麽(me)叫(jiao)磁(ci)性？
答：指(zhi)金(jin)屬(shu)具有導(dao)磁(ci)的性能；從實(shi)用意義(yi)講(jiang)如(ru)：可(ke)用磁(ci)性材(cai)料(liao)（金(jin)屬(shu)）制造(zao)*磁(ci)鐵、電(dian)工材(cai)料(liao)，也(ye)可(ke)用磁(ci)性來檢查(zha)磁(ci)性金(jin)屬(shu)是否有裂紋(wen)等

五(wu)十(shi)二、什麽(me)叫高(gao)壓(ya)？
答：設(she)備對地(di)電(dian)壓(ya)在(zai)250伏(fu)以上(shang)者稱(cheng)為高壓(ya)。

五(wu)十(shi)三(san)、什麽(me)叫低(di)壓(ya)？
答：設(she)備對地(di)電(dian)壓(ya)在(zai)250伏(fu)以下者稱為低(di)壓(ya)。

五(wu)十(shi)四(si)、什(shen)麽(me)叫(jiao)安全(quan)電(dian)壓(ya)？
答：人(ren)身(shen)觸及(ji)帶電(dian)導(dao)體時(shi)，無生(sheng)命(ming)危險(xian)的電(dian)壓(ya)，壹(yi)般都(dou)采(cai)用36伏(fu)以下的電(dian)壓(ya)稱(cheng)為(wei)安全(quan)電(dian)壓(ya)。
凡(fan)工作場(chang)所潮(chao)濕或在(zai)金(jin)屬(shu)容(rong)器(qi)內(nei)，隧道、礦井內(nei)用電(dian)器照(zhao)明(ming)等(deng)，均采(cai)用12伏(fu)安全(quan)電(dian)壓(ya)。

五(wu)十(shi)五、超(chao)聲波(bo)試塊的作(zuo)用(yong)是什麽？
答：超(chao)聲波(bo)試塊的作(zuo)用(yong)是校(xiao)驗儀(yi)器(qi)和探(tan)頭(tou)的性能，確定探(tan)傷(shang)起(qi)始靈(ling)敏度(du)，校(xiao)準掃描線(xian)性。

五十(shi)六、什(shen)麽(me)是斜探頭(tou)折射(she)角(jiao)β的(de)正(zheng)確(que)值？
答：斜(xie)探(tan)頭(tou)折射(she)角(jiao)的(de)正(zheng)確(que)值稱為(wei)K值，它等(deng)於斜(xie)探(tan)頭(tou)λ射(she)點(dian)至(zhi)反(fan)射(she)點(dian)的(de)水平距(ju)離和相(xiang)應深(shen)度(du)的(de)比(bi)值。

五十(shi)七、當局(ju)部(bu)無損探(tan)傷檢查(zha)的焊縫中發現有不(bu)允(yun)許的(de)缺(que)陷(xian)時(shi)如(ru)何(he)辦？
答：應在缺(que)陷(xian)的延(yan)長(chang)方(fang)向或可(ke)疑(yi)部(bu)位(wei)作補充(chong)射(she)線(xian)探(tan)傷(shang)。補(bu)充檢查(zha)後對焊縫(feng)質(zhi)量(liang)仍然有懷(huai)疑(yi)對(dui)該(gai)焊(han)縫(feng)應全部(bu)探(tan)傷。

五十(shi)八、非(fei)缺(que)陷(xian)引起的(de)磁(ci)痕(hen)有幾(ji)種(zhong)？
答：1、局(ju)部(bu)冷(leng) 作硬化(hua)，由材(cai)料(liao)導(dao)磁(ci)變化(hua)造(zao)成的(de)磁(ci)痕(hen)聚(ju)集；2、兩(liang)種(zhong)不(bu)同(tong)材(cai)料(liao)的(de)交(jiao)界(jie)面處磁(ci)粉堆(dui)積；3、碳(tan)化(hua)物層組織偏(pian)析(xi)；4、零(ling)件截面尺寸(cun)的(de)突變處磁(ci)痕(hen)；5、磁(ci)化(hua)電(dian)流過(guo)高(gao)，因金(jin)屬(shu)流線造(zao)成的(de)磁(ci)痕(hen)；6、由於(yu)工件表(biao)面不清潔(jie)或(huo)油汙(wu)造(zao)成的(de)斑(ban)點(dian)狀(zhuang)磁(ci)痕(hen)。

五十(shi)九、磁(ci)粉檢驗規(gui)程包(bao)括(kuo)哪(na)些(xie)內(nei)容(rong)？
答：1、規(gui)程的適(shi)用範圍；2、磁(ci)化(hua)方(fang)法（包(bao)括(kuo)磁(ci)化(hua)規範、工件表(biao)面的準備）；3、磁(ci)粉（包(bao)括(kuo)粒度(du)、顏(yan)色(se)、磁(ci)懸液(ye)與(yu)熒(ying)光(guang)磁(ci)懸液(ye)的配制）。4、試(shi)片；5、技術(shu)操(cao)作；6、質量(liang)評(ping)定(ding)與(yu)檢驗記錄。

六(liu)十(shi)、磁(ci)粉探(tan)傷適用範圍？
答：磁(ci)粉探(tan)傷是用來檢測(ce)鐵磁(ci)性材(cai)料(liao)表(biao)面和近(jin)表(biao)面缺(que)陷(xian)的種(zhong)檢測(ce)方(fang)法。

六(liu)十(shi)壹、超(chao)聲波(bo)探傷儀中同(tong)步信(xin)號(hao)發生(sheng)器(qi)的(de)主(zhu)要作(zuo)用是什麽？它(ta)主(zhu)要控(kong)制哪(na)二部(bu)分電(dian)路(lu)工作？
答：同(tong)步電(dian)路(lu)產(chan)生(sheng)同(tong)步脈沖(chong)信號(hao)，用(yong)以觸發儀(yi)器(qi)各(ge)部(bu)分電(dian)路(lu)同(tong)時(shi)協調(tiao)工作，它(ta)主(zhu)要控(kong)制同(tong)步發射(she)和(he)同(tong)步掃描二部(bu)分電(dian)路(lu)。

六(liu)十(shi)二、無損檢測(ce)的目(mu)地(di)？
答：1、改(gai)進(jin)制造(zao)工藝(yi)；2、降(jiang)低(di)制造(zao)成本；3、提(ti)高(gao)產(chan)品(pin)的可(ke)能性；4、保(bao)證(zheng)設(she)備的安全(quan)運行(xing)。

六(liu)十(shi)三(san)、超聲波(bo)焊縫探傷時(shi)為(wei)缺(que)陷(xian)定位(wei)儀器(qi)時(shi)間(jian)掃描線(xian)的(de)調(tiao)整(zheng)有哪(na)幾(ji)種(zhong)方(fang)法？
答：有水(shui)平(ping)定位(wei)儀、垂(chui)直定(ding)位(wei)、聲程定位(wei)三(san)種(zhong)方(fang)法。

六(liu)十(shi)四(si)、試(shi)比(bi)較(jiao)幹(gan)粉法(fa)與(yu)濕粉法(fa)檢驗的(de)主(zhu)要優(you)缺(que)點(dian)？
答：幹(gan)粉法(fa)檢驗對(dui)近(jin)表(biao)面缺(que)陷(xian)的檢出能(neng)力高(gao)，特(te)別適(shi)於(yu)大面積或野(ye)外探(tan)傷(shang)；濕粉法(fa)檢驗對(dui)表(biao)面細小(xiao)缺(que)陷(xian)檢出能(neng)力高(gao)，特(te)別適(shi)於(yu)不規(gui)則(ze)形(xing)狀(zhuang)的小(xiao)型(xing)零(ling)件的批量(liang)探傷。

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