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日本(ben)菊(ju)水(shui)TOS5051A耐(nai)壓(ya)測試儀(yi)校(xiao)準方法及註意事(shi)項
日(ri)期：2012-10-17瀏覽(lan)：6258次
日本(ben)菊(ju)水(shui)TOS5051A耐(nai)壓(ya)測試儀(yi)校(xiao)準方法及註意事(shi)項
壹(yi)、概述
安規綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)（以下簡稱(cheng)安(an)規(gui)測(ce)試儀）是用來(lai)測試(shi)產(chan)品安全性(xing)能的主(zhu)要(yao)儀(yi)器(qi)，壹般(ban)有(you)：耐(nai)壓(ya)測試，漏電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)，接(jie)地電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)，絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)，等(deng)等(deng)。為了(le)保(bao)證安規(gui)儀(yi)測試的準確(que)性(xing)，相應(ying)地要(yao)對(dui)高(gao)壓(ya)輸出(chu)、漏電(dian)流(liu)測(ce)量、接(jie)地電(dian)阻(zu)測(ce)量和(he)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)量等(deng)進行校(xiao)準。
二(er)、高(gao)壓(ya)輸出(chu)準確(que)度(du)的校(xiao)準
1. 校(xiao)準方法
安規(gui)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)輸出(chu)的高(gao)壓(ya)有交流(liu)電(dian)壓(ya)和(he)直流(liu)電(dian)壓(ya)之分(fen)，電(dian)壓(ya)高(gao)達(da)5000V 以上(shang)。交(jiao)流(liu)電(dian)壓(ya)壹般(ban)為(wei)工頻(pin)50Hz或(huo)60Hz，校(xiao)準包(bao)括(kuo)交(jiao)流電(dian)壓(ya)輸出(chu)準確(que)度(du)和(he)電(dian)壓(ya)波形失(shi)真(zhen)。直(zhi)流電(dian)壓(ya)校(xiao)準包(bao)括(kuo)直(zhi)流電(dian)壓(ya)輸出(chu)準確(que)度(du)和(he)電(dian)壓(ya)紋(wen)波大(da)小。
安規綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)（以下簡稱(cheng)安(an)規(gui)測(ce)試儀）是用來(lai)測試(shi)產(chan)品安全性(xing)能的主(zhu)要(yao)儀(yi)器(qi)，壹般(ban)有(you)：耐(nai)壓(ya)測試，漏電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)，接(jie)地電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)，絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)，等(deng)等(deng)。為了(le)保(bao)證安規(gui)儀(yi)測試的準確(que)性(xing)，相應(ying)地要(yao)對(dui)高(gao)壓(ya)輸出(chu)、漏電(dian)流(liu)測(ce)量、接(jie)地電(dian)阻(zu)測(ce)量和(he)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)量等(deng)進行校(xiao)準。
二(er)、高(gao)壓(ya)輸出(chu)準確(que)度(du)的校(xiao)準
1. 校(xiao)準方法
安規(gui)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)輸出(chu)的高(gao)壓(ya)有交流(liu)電(dian)壓(ya)和(he)直流(liu)電(dian)壓(ya)之分(fen)，電(dian)壓(ya)高(gao)達(da)5000V 以上(shang)。交(jiao)流(liu)電(dian)壓(ya)壹般(ban)為(wei)工頻(pin)50Hz或(huo)60Hz，校(xiao)準包(bao)括(kuo)交(jiao)流電(dian)壓(ya)輸出(chu)準確(que)度(du)和(he)電(dian)壓(ya)波形失(shi)真(zhen)。直(zhi)流電(dian)壓(ya)校(xiao)準包(bao)括(kuo)直(zhi)流電(dian)壓(ya)輸出(chu)準確(que)度(du)和(he)電(dian)壓(ya)紋(wen)波大(da)小。
安(an)規綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)輸出(chu)的高(gao)壓(ya)通過(guo)1000:1 標(biao)準高(gao)壓(ya)分壓(ya)器(qi)接(jie)入(ru)數(shu)字(zi)多(duo)用表的電(dian)壓(ya)輸入(ru)端(duan)或(huo)失(shi)真(zhen)儀輸入(ru)端(duan)。如(ru)果是交流(liu)電(dian)壓(ya)，利用數(shu)字(zi)多(duo)用表的交(jiao)流電(dian)壓(ya)測試功能，測(ce)得的值(zhi)再(zai)乘(cheng)1000 與(yu)安規(gui)儀指示值(zhi)進行比(bi)較(jiao)；利用失真(zhen)儀(yi)測量電(dian)壓(ya)波形失(shi)真(zhen)，失(shi)真大(da)小不能超(chao)過(guo)規(gui)定(ding)值(zhi)。如(ru)果是直流(liu)電(dian)壓(ya)，利用數(shu)字(zi)多(duo)用表的直(zhi)流電(dian)壓(ya)測試功能，測(ce)得的值(zhi)再(zai)乘(cheng)1000 與(yu)安規(gui)儀指示值(zhi)進行比(bi)較(jiao)；再(zai)利用數(shu)字(zi)多(duo)用表的交(jiao)流電(dian)壓(ya)測試功能，測(ce)得的值(zhi)再(zai)乘(cheng)1000 即(ji)為(wei)紋(wen)波，紋(wen)波大(da)小不能超(chao)過(guo)規(gui)定(ding)值(zhi)。
產(chan)品分類
- 氫(qing)檢儀(yi)氣(qi)密性檢(jian)漏檢(jian)測儀(yi)
- 國(guo)產(chan)源(yuan)表(biao)，替(ti)代(dai)keithley
- 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)/表(biao)面電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)
- 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半(ban)導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
- 介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)/電(dian)導(dao)率(lv)測(ce)試(shi)方案(an)
- 大(da)眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測(ce)試(shi)
- 電(dian)化(hua)學(xue)工作(zuo)站/恒電(dian)位(wei)儀(yi)
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
- 電(dian)池(chi)/光伏(fu)/汽車(che)充電(dian)樁(zhuang)測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測(ce)試(shi)
- 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)，電(dian)阻(zu)計(ji)，記(ji)錄(lu)儀
- 吉(ji)時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安(an)捷倫(lun)Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯(si)佩(pei)克ESPEC環境(jing)試(shi)驗(yan)箱
- 普(pu)源(yuan)RIGOL/致遠(yuan)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華(hua)儀EXTECH
- 邏輯(ji)分析(xi)儀(yi)/總(zong)線協(xie)議測試
- EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹擾兼(jian)容(rong)
- 愛色麗X-Rite/電(dian)色(se)NIPPON
- 梅(mei)特(te)勒METTLER
- 物(wu)料輪(lun)廓顏色(se)缺料視(shi)覺篩選(xuan)
- 博勒飛(fei)Brookfield
- 賓(bin)德BINDER試(shi)驗(yan)箱
- 金相切割(ge)/鑲(xiang)嵌/研(yan)磨拋(pao)光
- 紅外(wai)熱像儀
- 美國(guo)BK PRECISION
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣(qi)體/鐵粉濃(nong)度(du)計(ji)
- ITECH艾德(de)克斯(si)/NGI恩(en)智
- 羅(luo)德(de)與(yu)施瓦(wa)茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(chang)盛/安(an)柏(bai)
- 標準源(yuan)/計(ji)量校(xiao)準檢(jian)定(ding)設備
- 晶(jing)圓(yuan)、芯(xin)片、屏(ping)幕Particle
- 日置(zhi)HIOKI/國(guo)產(chan)替(ti)代(dai)
- 鎖相放(fang)大(da)器(qi)
- 噪(zao)聲(sheng)/振(zhen)動/聲(sheng)學測(ce)試(shi)方案(an)
- 日(ri)本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電(dian)聲(sheng)器(qi)件測試(shi)設(she)備
- 長(chang)盛耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)安(an)規(gui)測(ce)試(shi)
- 永(yong)磁(ci)軟磁(ci)磁(ci)通量測試(shi)
- 汽車(che)電(dian)子(zi)標準波(bo)形(xing)可編(bian)程(cheng)電(dian)源(yuan)
- SHIMAZU島津(jin)
- 德維(wei)創(chuang)DEWETRON
- ARC電(dian)池(chi)絕(jue)熱(re)量熱儀(yi)/熱安全性(xing)能
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