關(guan)於福(fu)祿克(ke)FLUKE PM6306 LCR電橋(qiao)問(wen)題(ti)

 關於福(fu)祿克(ke)FLUKE PM6306 LCR電橋(qiao)問(wen)題(ti)

操作(zuo)：

1．正確開(kai)機自檢結(jie)束(shu)後，按(an)【FREQ】，【AC】，選(xuan)取(qu)測(ce)量(liang)頻率，測量(liang)電平；如果(guo)測電解(jie)電容(rong)或小阻(zu)抗的電感(gan)時按(an) 【INT】另加內部直(zhi)流偏壓(ya)電壓(ya)；

2．將測試夾具(ju)插(cha)入(ru)，按(an)【CONTACT  CHECK】檢查其(qi)連(lian)接是否(fou)良(liang)好；

3．按(an)【FIXTURE  SET】進(jin)行(xing)測(ce)試夾具(ju)設(she)置(zhi)，使(shi)用測試線(xian)夾具(ju)時選擇(ze)SET-C  3，僅(jin)用測試位夾時選擇(ze)SET-C  0；

4．按(an)【ZERO TRIM】進(jin)行(xing)調(tiao)零（切記(ji)：設置(zhi)好壹切後才調(tiao)零）；

5. 接入(ru)元(yuan)件(jian)按(an)【AUTO】進(jin)行(xing)測(ce)量；

6.按(an) [＠/Z] ，[Q/D]， [Vx/Ix] 查(zha)看(kan)被(bei)測元(yuan)件(jian)的(de)相(xiang)角(jiao)/阻(zu)抗，品質因(yin)數(shu)/損(sun)耗因(yin)數(shu)，電平/電流。

說(shuo)明(ming)：

測量時測量數(shu)值(zhi)前顯(xian)示(shi)“DOMINANT”，即(ji)元件(jian)的(de)標稱(cheng)值(zhi)；顯(xian)*號(hao)表(biao)明測(ce)量數(shu)值(zhi)超出(chu)基(ji)本(ben)精(jing)度；閃爍(shuo)“OVER”表(biao)明測(ce)量所(suo)加的直(zhi)流偏置(zhi)過(guo)高(gao)，應(ying)減(jian)小直(zhi)流偏置(zhi)值(zhi)再進(jin)行(xing)測(ce)量。

目前Fluke所有(you)型號(hao)及(ji)同惠早(zao)期(qi)的(de)電橋(qiao)都沒(mei)有(you)ALC功能(neng)，有(you)的電橋(qiao)只(zhi)是某壹測量(liang)電平範圍(wei)恒(heng)壓(ya)（恒(heng)流）；Fluke電橋(qiao)沒(mei)有(you)測量(liang)值(zhi)平均功能，只(zhi)有(you)表(biao)示(shi)測(ce)量速(su)度的(de)平均時間(jian)指(zhi)數(shu)Average OFF,1,2,3 level.

【FIXTURE  SET】測量時應考慮測(ce)試夾具(ju)的(de)雜(za)散(san)電容(rong)，選(xuan)擇(ze)匹(pi)配(pei)的測(ce)試夾參(can)數(shu)設(she)置(zhi)才(cai)能測(ce)量(liang)出(chu)器件(jian)本(ben)身(shen)的(de)真正值，特(te)別是(shi)測試信號(hao)頻(pin)率(lv)﹥20KHz時。如果(guo)選(xuan)用PM9542SMD,SMD測試夾；PM9541B   4線(xian)帶(dai)夾測試線(xian)；PM9540/TWE,SMD鑷(nie)夾；PM9540/BAN,4線(xian)勾插(cha)頭測試線(xian)時，存在300pF雜(za)散(san)電容(rong)，由(you)n=Cground/100pF得知(zhi)選SET-C 3。不用特(te)殊測試夾具(ju)，僅(jin)用配(pei)帶(dai)的(de)測試位夾時選擇(ze)SET-C 0。

【CONTACT  CHECK】 檢查附件(jian)夾具(ju)連(lian)接是否(fou)良(liang)好，如果(guo)連(lian)接良好，按(an)下(xia)此鍵屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)PASS；當(dang)顯(xian)示(shi)FAIL時，連接不良(liang)，按(an)【AUTO】中(zhong)止(zhi)檢查，重新檢查設置(zhi)。

【ZERO TRIM】測量小電容(rong)、小電感(gan)時，為追求精(jing)度，須(xu)開(kai)路/短路歸(gui)零，尤(you)其(qi)是(shi)利(li)用測試夾具(ju)時，更須(xu)將(jiang)測試線(xian)所(suo)存在的(de)小電容(rong)、小電感(gan)值(zhi)去(qu)除，才能(neng)測(ce)量出(chu)器件(jian)本(ben)身(shen)的(de)真正值。

 如果(guo)測(ce)試條(tiao)件(jian)不(bu)斷(duan)改(gai)變，選(xuan)擇(ze)全(quan)校(xiao)零操作(zuo)，即(ji)選TRIM  A依照如下步驟(zhou)進(jin)行(xing)調(tiao)零：

1．            按(an)ZERO TRIM，用旋鈕(niu)選TRIM  A（如果(guo)使(shi)用同樣(yang)測(ce)試條(tiao)件(jian)測(ce)量(liang)，連(lian)續使用儀(yi)器時每隔4小時也需選擇(ze)TRIM  I進(jin)行(xing)調(tiao)零）

2．            再按(an)壹次(ci)ZERO TRIM鍵，屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)閃(shan)爍(shuo)“BUSY  Oct”，提(ti)示(shi)將(jiang)測試夾開(kai)路，開(kai)始15秒倒數(shu)計時開(kai)路調零（間(jian)隔調(tiao)零不用15秒，直(zhi)接開(kai)路調零緊接著(zhe)短路調(tiao)零，具(ju)體(ti)依照操作(zuo)）

3．            上壹步結(jie)束(shu)後，屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)閃(shan)爍(shuo)“BUSY  Sct”，即(ji)提(ti)示(shi)將(jiang)測試夾具(ju)短接

4．            再按(an)壹次(ci)ZERO TRIM鍵，15秒倒數(shu)計時後，微調(tiao)成(cheng)功(gong)，屏(ping)幕(mu)出(chu)現“PASS”，反之顯(xian)示(shi)失(shi)敗(bai)“FAIL”。