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耐壓測試(shi)儀使用(yong)操(cao)作步(bu)驟(zhou)
日(ri)期：2013-09-03瀏覽(lan)：3536次
耐壓測試(shi)儀使用(yong)操(cao)作步(bu)驟(zhou)
交(jiao)直流(liu)耐壓測試(shi)儀在操(cao)作前必須做(zuo)好相(xiang)應的(de)安全防護(hu)：
戴(dai)好絕(jue)緣膠(jiao)手(shou)套、座(zuo)椅和腳(jiao)下墊好絕(jue)緣橡(xiang)膠(jiao)墊！只(zhi)有(you)在(zai)測試(shi)燈(deng)熄滅(mie)，無(wu)高(gao)壓輸(shu)出(chu)狀態時，才能(neng)進行(xing)被(bei)測試(shi)品(pin)的(de)連(lian)接或拆卸(xie)操(cao)作！
連(lian)接被測物(wu)體(ti)，確(que)定電壓指(zhi)示和表(biao)頭指針(zhen)為0，測試(shi)燈(deng)熄滅(mie)，並(bing)把(ba)地線(xian)連(lian)接好；
設(she)定測試(shi)電壓範(fan)圍；
設(she)定漏電流(liu)測試(shi)所(suo)需值(zhi)；
按(an)下預(yu)置(zhi)開(kai)關(guan)；
選(xuan)擇所(suo)需電流(liu)範(fan)圍檔；
調節(jie)所(suo)需漏電流(liu)報警(jing)值(zhi)；
預(yu)置(zhi)開(kai)關(guan)恢復常態；
手(shou)動(dong)測試(shi)：
將(jiang)定時開(kai)關(guan)置(zhi)為關(guan)狀態，按(an)下啟動(dong)鈕，測試(shi)燈(deng)亮，將電壓調(tiao)節(jie)鈕旋(xuan)到(dao)需要的(de)指示值(zhi)；
如(ru)果(guo)被測物(wu)體(ti)超(chao)過規定漏電流(liu)值(zhi)，則(ze)儀器(qi)自動(dong)切斷輸(shu)出(chu)電壓，同時蜂鳴(ming)器(qi)報警(jing)、超(chao)漏指示燈(deng)亮，此(ci)時被測物(wu)為不(bu)合(he)格(ge)，按下復位(wei)鍵(jian)，即可消除(chu)報警(jing)聲(sheng)；
定時測試(shi)：
定時開(kai)關(guan)置(zhi)為開(kai)狀態，調(tiao)整時間(jian)編碼器(qi)數值(zhi)，設(she)定所(suo)需測試(shi)時間(jian)值(zhi)；
按(an)下啟動(dong)鈕，將(jiang)電壓調(tiao)到所(suo)需測試(shi)值(zhi)；
如(ru)定時到，測試(shi)電壓被(bei)切斷，測試(shi)燈(deng)熄滅(mie)，則(ze)被(bei)測物(wu)為合(he)格(ge)，若電流(liu)過大，不到計時時間(jian)，超(chao)漏燈(deng)亮，蜂鳴(ming)器(qi)報警(jing)，被測物(wu)為不(bu)合(he)格(ge)，按下復位(wei)鍵(jian)，即可消除(chu)報警(jing)聲(sheng)。
遙(yao)控(kong)測試(shi)：
插上遙(yao)控(kong)插頭，按下高(gao)壓棒(bang)上的(de)開(kai)關(guan)，高(gao)壓棒(bang)上的(de)指示燈(deng)亮，同時測試(shi)燈(deng)亮，將電壓調(tiao)到所(suo)需測試(shi)值(zhi)；
如(ru)要復位(wei)，松開(kai)高(gao)壓棒(bang)上的(de)開(kai)關(guan)即可。
產品(pin)分類(lei)
- 氫檢(jian)儀氣密性檢(jian)漏檢(jian)測儀
- 國(guo)產(chan)源表(biao)，替代keithley
- 體(ti)積(ji)電阻(zu)率/表(biao)面電阻(zu)測試(shi)
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半(ban)導體(ti)I-V/C-V/I-R測試(shi)
- 介電常數/電導(dao)率測試(shi)方案(an)
- 大(da)眾(zhong)VW80000/通(tong)用(yong)GMW3172/ISO16750標準測試(shi)
- 電化(hua)學(xue)工(gong)作站(zhan)/恒電位(wei)儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試(shi)
- 電池(chi)/光伏/汽車(che)充(chong)電樁(zhuang)測試(shi)
- DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電測試(shi)
- 體(ti)積(ji)電阻(zu)，電阻(zu)計，記錄(lu)儀
- 吉時利KEITHLEY/泰(tai)克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ai)斯(si)佩克(ke)ESPEC環境(jing)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
- 普(pu)源RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
- Chroma致茂(mao)/EEC華儀EXTECH
- 邏(luo)輯(ji)分析(xi)儀/總(zong)線協議測試(shi)
- EMI/EMC/EMS電磁幹(gan)擾兼(jian)容
- 愛(ai)色麗(li)X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒(le)METTLER
- 物(wu)料輪(lun)廓(kuo)顏(yan)色缺(que)料(liao)視(shi)覺篩選(xuan)
- 博勒(le)飛Brookfield
- 賓(bin)德BINDER試(shi)驗(yan)箱(xiang)
- 金(jin)相切割(ge)/鑲(xiang)嵌(qian)/研磨拋(pao)光
- 紅外熱(re)像(xiang)儀
- 美國(guo)BK PRECISION
- ADCMT愛(ai)德(de)萬(wan)ADVANTEST
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