技術文(wen)章(zhang)您當(dang)前的(de)位(wei)置(zhi)：首(shou)頁 > 技術文(wen)章(zhang) > 美(mei)國(guo)DESCO19430靜電(dian)場(chang)測(ce)試(shi)儀(yi)Digital Static Field Meter
美(mei)國(guo)DESCO19430靜電(dian)場(chang)測(ce)試(shi)儀(yi)Digital Static Field Meter
日期(qi)：2014-02-17瀏覽(lan)：2988次
美(mei)國(guo)德斯科DESCO19430靜(jing)電(dian)場(chang)測(ce)試(shi)儀(yi)Digital Static Field Meter
測試(shi)靜(jing)電(dian)電(dian)壓(ya)
數(shu)字和動態光標雙顯(xian)示(shi)
2檔(dang)測(ce)量(liang)範(fan)圍: 0 - +/-1.49kV(低量程(cheng)), +/-1kV - +/-20.0kV(高(gao)量程(cheng))
測(ce)量精(jing)度(du): +/-10%
LED光(guang)圈(quan)確(que)定(ding)測(ce)試(shi)距(ju)離(li)(測試(shi)距(ju)離(li)1英(ying)寸(cun))
低量程(cheng)zui小(xiao)顯示(shi)值: +/-10V
高(gao)量(liang)程(cheng)zui小(xiao)顯示(shi)值: +/-100V
離(li)子(zi)平(ping)衡度測試(shi): zui大(da)+/-200V
離(li)子(zi)平(ping)衡度zui小顯(xian)示(shi)值: +/-1V
導靜電(dian)ABS塑料(liao)外殼(ke)
9V電(dian)池電(dian)源(yuan)
美(mei)國(guo)德斯科DESCO19430: 測(ce)試(shi)表(biao)+不銹鋼(gang)感應(ying)極(ji)板+接地(di)線+皮(pi)套
美(mei)國(guo)德斯科DESCO19492靜(jing)電(dian)場(chang)測(ce)試(shi)儀(yi)/美(mei)國(guo)德斯科DESCO19493 測(ce)試(shi)套(tao)件
測(ce)試(shi)靜(jing)電(dian)電(dian)壓(ya)和離(li)子(zi)平(ping)衡度
LCD顯示(shi)屏
2檔(dang)測(ce)量(liang)範(fan)圍: 0 - +/-2KV, 0 - +/-20KV
測量精度(du): +/-5%
LED光(guang)束(shu)確定(ding)測(ce)試(shi)距(ju)離(li)
導靜電(dian)外殼(ke)材料(liao)
工作(zuo)溫(wen)濕(shi)度: 0-50C, 80%RH
工作(zuo)溫(wen)濕(shi)度: 0-50C, 80%RH
9V電(dian)池
配置(zhi)測(ce)試(shi)極(ji)板和高壓(ya)產(chan)生器可(ke)以測(ce)試(shi)靜(jing)電(dian)消(xiao)除(chu)器離(li)子(zi)平(ping)衡度
19492 單(dan)表(biao): 靜(jing)電(dian)場(chang)測(ce)試(shi)表(biao)
19493 套件: 19492 測(ce)試(shi)表(biao)+19496 高壓(ya)產(chan)生器+19498 測(ce)試(shi)極(ji)板
產品(pin)分類(lei)
- 氫(qing)檢儀(yi)氣密性(xing)檢漏檢測(ce)儀(yi)
- 國產(chan)源(yuan)表，替代keithley
- 體(ti)積電(dian)阻率/表面電(dian)阻測試(shi)
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測試(shi)
- 介電(dian)常數(shu)/電(dian)導率測試(shi)方(fang)案(an)
- 大(da)眾(zhong)VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試(shi)
- 電(dian)化(hua)學工作(zuo)站(zhan)/恒電(dian)位儀(yi)
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
- 電(dian)池/光(guang)伏/汽(qi)車(che)充電(dian)樁測(ce)試(shi)
- DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測試(shi)
- 體(ti)積電(dian)阻，電(dian)阻計，記錄(lu)儀(yi)
- 吉(ji)時利KEITHLEY/泰(tai)克Tektronix
- 安(an)捷(jie)倫(lun)Agilent/是德(de)KEYSIGHT
- 愛(ai)斯佩克ESPEC環(huan)境試(shi)驗箱(xiang)
- 普源(yuan)RIGOL/致遠(yuan)ZLG/鼎(ding)陽SIGLENT
- Chroma致茂(mao)/EEC華儀(yi)EXTECH
- 邏(luo)輯(ji)分析儀(yi)/總(zong)線協議(yi)測(ce)試(shi)
- EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹擾(rao)兼容(rong)
- 愛色(se)麗(li)X-Rite/電(dian)色(se)NIPPON
- 梅特勒(le)METTLER
- 物料輪廓顏(yan)色(se)缺(que)料(liao)視(shi)覺(jiao)篩(shai)選
- 博勒(le)飛(fei)Brookfield
- 賓(bin)德(de)BINDER試(shi)驗箱(xiang)
- 金(jin)相切(qie)割/鑲嵌(qian)/研磨(mo)拋(pao)光
- 紅(hong)外(wai)熱像儀(yi)
- 美(mei)國(guo)BK PRECISION
- ADCMT愛德(de)萬(wan)ADVANTEST
- COSMOS氣體(ti)/鐵(tie)粉(fen)濃(nong)度計(ji)
- ITECH艾(ai)德克(ke)斯/NGI恩(en)智(zhi)
- 羅(luo)德與(yu)施瓦茨R&S（惠美(mei)HAMEG）
- 同(tong)惠/長(chang)盛(sheng)/安(an)柏(bai)
- 標(biao)準源(yuan)/計量(liang)校(xiao)準檢定(ding)設(she)備(bei)
- 晶圓(yuan)、芯片(pian)、屏幕(mu)Particle
- 日置(zhi)HIOKI/國(guo)產替代
- 鎖相放大(da)器(qi)
- 噪聲/振(zhen)動/聲學(xue)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)
- 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電(dian)聲器(qi)件測(ce)試(shi)設(she)備(bei)
- 長(chang)盛耐(nai)壓(ya)絕緣電(dian)阻安(an)規(gui)測試(shi)
- 永(yong)磁軟(ruan)磁磁(ci)通量測試(shi)
- 汽(qi)車(che)電(dian)子(zi)標(biao)準波(bo)形(xing)可(ke)編程(cheng)電(dian)源(yuan)
- SHIMAZU島(dao)津
- 德(de)維(wei)創DEWETRON
- ARC電(dian)池絕熱量熱儀(yi)/熱安(an)全性(xing)能
聯(lian)系(xi)我們
在(zai)線客服：
版(ban)權(quan)所(suo)有(you)：上(shang)海堅(jian)融實業(ye)有(you)限公(gong)司 滬ICP備(bei)12024467號-2
傳(chuan)真： 技術支(zhi)持：化(hua)工儀(yi)器網(wang)
公司地(di)址(zhi)：上(shang)海市(shi)閔(min)行(xing)區(qu)聯明路555號
上(shang)海堅(jian)融實業(ye)有(you)限公(gong)司主營產(chan)品(pin):吉時利KEITHLEY源(yuan)表,吉(ji)時利KEITHLEY高(gao)阻表,是(shi)德KEYSIGHT高(gao)阻表,DESCO靜(jing)電(dian)電(dian)阻測試(shi)儀(yi)
