技(ji)術文(wen)章您當(dang)前的位置：首頁(ye) > 技(ji)術文(wen)章 > 德國(guo)Kleinw chter科納沃(wo)茨(ci)特(te)CPM-374充電板(ban)監(jian)測(ce)器(qi)
德國(guo)Kleinw chter科納沃(wo)茨(ci)特(te)CPM-374充電板(ban)監(jian)測(ce)器(qi)
日(ri)期：2014-02-18瀏(liu)覽：3186次
德國(guo)Kleinw chter科納沃(wo)茨(ci)特(te)CPM-374充電板(ban)監(jian)測(ce)器(qi)Charge Plate Monitor 374
CPM-374設(she)計輕(qing)巧, 方便移(yi)動(dong), 可(ke)通(tong)過內置電池(chi)工(gong)作(zuo), 也可(ke)外接電源(yuan). 儀(yi)器(qi)所(suo)有(you)功(gong)能(neng)通(tong)過2個(ge)按鍵來(lai)操(cao)作(zuo). LCD顯示(shi)屏顯示(shi)操作(zuo)程(cheng)序和測試(shi)結果. 配套(tao) KL Read Out 軟(ruan)件(jian)可(ke)以(yi)通(tong)過電腦控(kong)制(zhi)開始(shi)/結(jie)束(shu)測(ce)試(shi)，設(she)置(zhi)測(ce)試(shi)參(can)數. 軟(ruan)件(jian)界(jie)面(mian)實時顯示(shi)測試(shi) 讀(du)數，生(sheng)成(cheng)曲線(xian)圖(tu)，打(da)印(yin)及保存(cun)測試(shi)結果.
充(chong)電板(ban)測試模式(shi):
用於測(ce)試靜(jing)電消(xiao)除器(qi)離子(zi)平(ping)衡(heng)度和靜(jing)電消(xiao)散(san)時間 (IEC 61340-5-1標(biao)準)
用(yong)於測(ce)試材料(liao)靜(jing)電衰(shuai)減(jian)時間 (IEC 61340-2-1標(biao)準, 方式(shi)2)
用(yong)於測(ce)試材料(liao)靜(jing)電衰(shuai)減(jian)時間 (SAE J1645標(biao)準)
電壓(ya)表模式(shi):
PLATE子(zi)模式(shi): 測試(shi)大電容(rong)物(wu)體(ti)電位(wei), 校(xiao)正時使(shi)用
MK11子(zi)模式(shi): 測量人體行走(zou)靜(jing)電位(wei) (EN 61340-4-5, ESD S.3.1標(biao)準), 高(gao)壓(ya)直流電源(yuan)電壓(ya)
場(chang)強(qiang)測試(shi)儀(yi)模式(shi):
測試探(tan)測頭(tou)位(wei)置(zhi)靜(jing)電場(chang)場(chang)強(qiang)
根據測試(shi)距離, 計算(suan)靜(jing)電電位(wei)
訂(ding)購(gou)編(bian)號(hao) 描(miao)述
CPM-374 包含以(yi)下(xia)物(wu)品
測試儀(yi)主(zhu)機(ji) (含20pF電極(ji)板(ban)), 1個(ge)
MK 11 探(tan)測頭(tou), 1個(ge)
支撐(cheng)腳桿, 3個(ge)
電源(yuan)適(shi)配器(qi) (充(chong)電器(qi)), 1個(ge)
接地(di)線(xian), 1條(tiao)
絕(jue)緣(yuan)鉗, 1個(ge)
PTFE 絕緣(yuan)測(ce)試線(xian), 1條(tiao)
RS-232數據線(xian), 1條(tiao)
配套(tao)軟(ruan)件(jian), 1份
導(dao)靜(jing)電手(shou)提(ti)箱(xiang), 1個(ge)
選配
832 鉗形(xing)電極(ji) 1對(dui)
222009 重(zhong)錘(chui)電極(ji) 1個(ge)
POM 絕緣(yuan)基(ji)板(ban) 1個(ge)
HE 120 金屬(shu)握柄(bing) 1個(ge)
產品分類
- 氫(qing)檢(jian)儀(yi)氣(qi)密性檢(jian)漏檢(jian)測(ce)儀(yi)
- 國(guo)產源(yuan)表，替(ti)代(dai)keithley
- 體(ti)積(ji)電阻(zu)率/表面(mian)電阻(zu)測(ce)試(shi)
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半(ban)導(dao)體I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
- 介(jie)電常數/電導(dao)率測(ce)試方案(an)
- 大眾(zhong)VW80000/通(tong)用GMW3172/ISO16750標(biao)準測(ce)試
- 電化(hua)學(xue)工(gong)作(zuo)站/恒電位(wei)儀(yi)
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池(chi)/光(guang)伏/汽(qi)車(che)充電樁測試(shi)
- DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電測(ce)試(shi)
- 體(ti)積(ji)電阻(zu)，電阻(zu)計，記錄(lu)儀
- 吉(ji)時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ai)斯(si)佩克ESPEC環境試驗箱(xiang)
- 普源(yuan)RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致(zhi)茂/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
- 邏(luo)輯分(fen)析儀/總線(xian)協(xie)議(yi)測(ce)試(shi)
- EMI/EMC/EMS電磁幹(gan)擾兼(jian)容(rong)
- 愛色(se)麗(li)X-Rite/電色(se)NIPPON
- 梅(mei)特(te)勒METTLER
- 物(wu)料(liao)輪廓顏(yan)色(se)缺料(liao)視覺篩選
- 博(bo)勒飛(fei)Brookfield
- 賓(bin)德(de)BINDER試(shi)驗箱(xiang)
- 金(jin)相(xiang)切割(ge)/鑲(xiang)嵌/研(yan)磨拋光(guang)
- 紅(hong)外熱像(xiang)儀(yi)
- 美國(guo)BK PRECISION
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣(qi)體/鐵(tie)粉(fen)濃(nong)度計
- ITECH艾(ai)德(de)克斯(si)/NGI恩(en)智
- 羅德與施(shi)瓦(wa)茨(ci)R&S（惠(hui)美HAMEG）
- 同惠(hui)/長盛/安柏
- 標(biao)準源(yuan)/計量校準檢(jian)定(ding)設(she)備(bei)
- 晶圓、芯(xin)片(pian)、屏幕(mu)Particle
- 日(ri)置(zhi)HIOKI/國(guo)產替(ti)代(dai)
- 鎖(suo)相(xiang)放(fang)大器(qi)
- 噪(zao)聲(sheng)/振動(dong)/聲(sheng)學(xue)測(ce)試(shi)方案(an)
- 日(ri)本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲(sheng)器(qi)件(jian)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)
- 長盛耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣電阻(zu)安規測(ce)試
- 永磁軟(ruan)磁磁通(tong)量測試
- 汽(qi)車(che)電子(zi)標(biao)準波(bo)形(xing)可(ke)編(bian)程(cheng)電源(yuan)
- SHIMAZU島津(jin)
- 德(de)維(wei)創DEWETRON
- ARC電池(chi)絕(jue)熱量熱儀/熱安全(quan)性能
聯(lian)系我們(men)
在(zai)線(xian)客(ke)服：
版權所(suo)有(you)：上(shang)海(hai)堅融(rong)實(shi)業(ye)有(you)限(xian)公(gong)司 滬ICP備(bei)12024467號(hao)-2
傳真： 技(ji)術支(zhi)持(chi)：化(hua)工(gong)儀(yi)器(qi)網
公(gong)司地(di)址(zhi)：上(shang)海(hai)市(shi)閔行區(qu)聯(lian)明路555號
上(shang)海(hai)堅融(rong)實(shi)業(ye)有(you)限(xian)公(gong)司主(zhu)營產品:吉(ji)時利KEITHLEY源(yuan)表,吉(ji)時利KEITHLEY高(gao)阻(zu)表,是德KEYSIGHT高(gao)阻(zu)表,DESCO靜(jing)電電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)
