日期(qi):2014-02-18瀏(liu)覽:2817次(ci)
電暈(yun)放電法(fa)靜(jing)電衰(shuai)減(jian)分(fen)析(xi)儀Electrostatic Charge Decay Time Analyser JCI-155v6
由英(ying)國Chilworth公(gong)司開(kai)發(fa)制造. Chilworth是的爆(bao)炸/燃(ran)燒危害(hai)檢(jian)測(ce)機(ji)構, 同(tong)時也是相關專(zhuan)業(ye)儀器和設備的(de)制(zhi)造商(shang). JCI-155 靜(jing)電衰(shuai)減(jian)分(fen)析(xi)儀經(jing)歷(li)了3代(dai)的(de)發(fa)展過程, 從(cong)zui初的(de)155v4 到(dao)155v5, 型(xing)號為155v6.
JCI-155靜(jing)電衰(shuai)減(jian)儀(yi)可對固體(ti),粉(fen)體(ti)和液(ye)體(ti)材(cai)料進行監測(ce), 軟(ruan)件(jian)功能(neng)強(qiang)大(da), 是美國國家航(hang)空和宇宙(zhou)航(hang)行局(ju)(NASA)采用(yong)產品(pin). 同(tong)時JCI-155v6衰(shuai)減(jian)分(fen)析(xi)儀還是IEC 61340-2-1標準規範(fan)的模板設備.
JCI 155v6用(yong)於測(ce)試(shi)材(cai)料的靜(jing)電衰(shuai)減(jian)時(shi)間和電容(rong)負(fu)載
可直接(jie)將JCI 155v6 放(fang)置(zhi)在(zai)測(ce)試(shi)材(cai)料上測(ce)量(liang)
測(ce)量(liang)範圍: 10毫秒-99小時(shi)
測(ce)試(shi)反應時間: 10毫秒
測(ce)試(shi)電壓(ya)(電暈(yun)放電): 0-9.9kV(可以選擇(ze)正(zheng)負(fu)極性(xing))
衰(shuai)減(jian)測(ce)試(shi)比例: 1%-99%的(de)衰(shuai)減(jian)時(shi)間
同(tong)時測(ce)量(liang)環(huan)境(jing)溫濕(shi)度(du)
特別設計氣(qi)閘效(xiao)應, 消(xiao)除殘留(liu)空氣(qi)離子(zi)幹(gan)擾(rao)
高(gao)精(jing)度靜(jing)電壓(ya)測(ce)試(shi)探頭(tou)
采用(yong)配(pei)套(tao)JCI176樣(yang)品(pin)臺(tai)可測(ce)量(liang)轉(zhuan)移到(dao)測(ce)試(shi)料樣(yang)上的電量(liang), 並計(ji)算出(chu)電容(rong)負(fu)載
采用(yong)配(pei)套(tao)JCI173樣(yang)品(pin)杯(bei)可以測(ce)量(liang)粉(fen)體(ti)和液(ye)體(ti)的靜(jing)電衰(shuai)減(jian)期(qi)
配(pei)套(tao)JCI-Graph軟件(jian)在(zai)電腦(nao)中(zhong)儲(chu)存(cun)分(fen)析(xi)數據,衰(shuai)減(jian)曲(qu)線和(he)形成報(bao)告(gao)
訂購(gou)編號 描(miao)述
JCI155v6 包(bao)含(han)以(yi)下(xia)物品(pin)
測(ce)試(shi)儀
JCI176樣(yang)品(pin)臺(tai), 用(yong)於測(ce)試(shi)平(ping)面材(cai)料, 可以測(ce)試(shi)材(cai)料電荷負(fu)載
JCI173樣(yang)品(pin)杯(bei), 用(yong)於測(ce)試(shi)粉(fen)體(ti)和液(ye)體(ti)
測(ce)試(shi)儀和(he)樣(yang)品(pin)臺(tai)連(lian)接纜(lan)線, 1條
接(jie)地線, 2條(tiao)
長USB數據線(xian), 1條, 用(yong)於連(lian)接(jie)儀器(qi)和(he)電腦(nao)
短USB數據線(xian), 1條, 用(yong)於外(wai)接(jie)U盤
配(pei)套(tao)軟件(jian)
校(xiao)正(zheng)書和(he)說(shuo)明書(shu)