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上海(hai)堅(jian)融實(shi)業(ye)脈(mai)沖(chong)特(te)性(xing)分(fen)析降(jiang)低納(na)米材(cai)料的焦(jiao)耳(er)熱(re)效(xiao)應
日(ri)期(qi)：2014-06-13瀏(liu)覽(lan)：3358次
根據《納(na)米快報(bao)》(Nano Letters)，《納(na)米技術(shu)》(Nanotechnology)，《IEEE 納(na)米技術(shu)匯刊(kan)》(IEEE Transactions on Nanotechnology)，《先(xian)進(jin)材(cai)料》(Advanced Materials)，《自然(ran)》(Nature)，《應(ying)用(yong)物(wu)理(li)快(kuai)報》(Applied Physics Letters)相關(guan)文(wen)獻資料，以及(ji)納(na)米工(gong)程功能(neng)材(cai)料研(yan)究中(zhong)心(xin)(FENA)，西部納(na)米電子(zi)研(yan)究所(suo) (WIN)，加州(zhou)納(na)米系統研(yan)究院(yuan)的研(yan)究成(cheng)果(guo)案(an)例，上海(hai)堅(jian)融JETYOO聯(lian)合(he)美(mei)國(guo)吉(ji)時利(li)KEITHLEY，開發(fa)了脈(mai)沖(chong)特(te)性(xing)分(fen)析降(jiang)低納(na)米線、納(na)米管、納(na)米材(cai)料和納(na)米電子(zi)的焦(jiao)耳(er)熱(re)效(xiao)應的具(ju)體(ti)測(ce)量(liang)應用(yong)。
可以(yi)使您(nin)的產(chan)品(pin)：
脈(mai)沖(chong)測(ce)試(shi)zui小化(hua)焦(jiao)耳(er)熱(re)效(xiao)應；
符(fu)合(he)IEEE P1650-2005 標準(zhun)：“測(ce)量(liang)碳(tan)納(na)米管電氣(qi)特(te)性(xing)的 IEEE 標(biao)準(zhun)測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)”。
高(gao)速和簡(jian)潔(jie)的測(ce)試(shi)方(fang)案(an)能(neng)讓生(sheng)物學家(jia)、化學家(jia)、物理(li)學(xue)家或(huo)其他(ta)研(yan)究人員簡(jian)便(bian)地進(jin)行(xing)復雜測(ce)量(liang)。
使用到的儀(yi)器設(she)備有(you)：
4200-SCS半(ban)導(dao)體(ti)特(te)性(xing)分(fen)析系(xi)統
數字源(yuan)表
2420 型(xing) 3A 源(yuan)表
2430 型(xing)脈(mai)沖(chong)源(yuan)表
2601 型(xing)高(gao)吞吐(tu)量(liang)源(yuan)表
2636 型(xing)雙(shuang)通道低電流(liu)和脈(mai)沖(chong)輸出源(yuan)表
6430亞(ya)fA程控源(yuan)表
電流(liu)源(yuan)/納(na)伏(fu)表
6220直(zhi)流(liu)電流(liu)源(yuan)
6221交流(liu)和直(zhi)流(liu)電流(liu)源(yuan)
2182A納(na)伏(fu)表
靜(jing)電計(ji)/皮(pi)安表
6514靜(jing)電計(ji)
6517A靜(jing)電計(ji)/高(gao)阻表
6485皮安(an)表
6487皮安(an)表/電壓(ya)源(yuan)
脈(mai)沖(chong)發(fa)生(sheng)器
3401單通(tong)道脈(mai)沖(chong)/碼(ma)型(xing)發(fa)生(sheng)器
3402雙(shuang)通(tong)道脈(mai)沖(chong)/碼(ma)型(xing)發(fa)生(sheng)器
產品(pin)分(fen)類(lei)
- 氫檢儀(yi)氣(qi)密(mi)性(xing)檢漏檢測(ce)儀(yi)
- 國(guo)產(chan)源(yuan)表，替代keithley
- 體(ti)積(ji)電阻率(lv)/表面(mian)電阻測(ce)試(shi)
- 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半(ban)導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
- 介(jie)電常數/電導(dao)率(lv)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)
- 大眾(zhong)VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標準測(ce)試(shi)
- 電化(hua)學(xue)工(gong)作(zuo)站/恒電位(wei)儀(yi)
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
- 電池(chi)/光(guang)伏/汽(qi)車(che)充電樁(zhuang)測(ce)試(shi)
- DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電測(ce)試(shi)
- 體(ti)積(ji)電阻，電阻計(ji)，記(ji)錄儀
- 吉(ji)時利(li)KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
- 安(an)捷倫Agilent/是(shi)德(de)KEYSIGHT
- 愛斯(si)佩克ESPEC環(huan)境(jing)試驗箱(xiang)
- 普源(yuan)RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致(zhi)茂(mao)/EEC華儀(yi)EXTECH
- 邏輯分(fen)析儀(yi)/總(zong)線協議測(ce)試(shi)
- EMI/EMC/EMS電磁(ci)幹擾兼(jian)容
- 愛色(se)麗X-Rite/電色(se)NIPPON
- 梅特(te)勒METTLER
- 物料輪(lun)廓(kuo)顏(yan)色缺料視覺(jiao)篩選
- 博勒飛Brookfield
- 賓(bin)德BINDER試驗箱(xiang)
- 金相切割(ge)/鑲嵌(qian)/研(yan)磨拋(pao)光
- 紅(hong)外(wai)熱(re)像(xiang)儀
- 美(mei)國(guo)BK PRECISION
- ADCMT愛德(de)萬ADVANTEST
- COSMOS氣(qi)體/鐵粉(fen)濃(nong)度計
- ITECH艾德克(ke)斯(si)/NGI恩(en)智(zhi)
- 羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦(wa)茨(ci)R&S（惠美(mei)HAMEG）
- 同惠(hui)/長(chang)盛(sheng)/安柏
- 標(biao)準(zhun)源(yuan)/計量(liang)校準(zhun)檢定(ding)設(she)備
- 晶圓、芯片、屏(ping)幕(mu)Particle
- 日(ri)置HIOKI/國(guo)產替代
- 鎖相放(fang)大器
- 噪聲/振動/聲學(xue)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)
- 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲(sheng)器件(jian)測(ce)試(shi)設(she)備
- 長(chang)盛(sheng)耐壓(ya)絕緣(yuan)電阻安(an)規測(ce)試(shi)
- 永(yong)磁(ci)軟磁磁通量(liang)測(ce)試(shi)
- 汽(qi)車(che)電子(zi)標(biao)準波(bo)形(xing)可編(bian)程電源(yuan)
- SHIMAZU島(dao)津(jin)
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