產品中(zhong)心(xin)

• 氫(qing)檢(jian)儀(yi)氣密性(xing)檢(jian)漏(lou)檢(jian)測(ce)儀(yi)
• 國(guo)產(chan)源表(biao)，替(ti)代keithley
  • > 替代(dai)進(jin)口功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口電(dian)源
  • > 替(ti)代進(jin)口環(huan)境(jing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 國(guo)產(chan)替代(dai)進(jin)口射頻儀(yi)器(qi)
  • > 替(ti)代進口高(gao)阻(zu)表(biao)
  • > 電(dian)池測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池絕緣(yuan)電阻替代(dai)HIOKI
  • > SMU源表(biao)替(ti)代KEITHLEY2400
  • > 萬用(yong)表(biao)/信號(hao)源替代(dai)是(shi)德(de)
• 體(ti)積電(dian)阻率(lv)/表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)測(ce)試
• 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)橋(qiao)LCR
• 半(ban)導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介(jie)電常(chang)數/電(dian)導(dao)率(lv)測(ce)試方案(an)
• 大(da)眾(zhong)VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準(zhun)測(ce)試
  • > 微中(zhong)斷
• 電(dian)化學(xue)工作(zuo)站(zhan)/恒(heng)電(dian)位儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池/光(guang)伏/汽(qi)車(che)充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測(ce)試
  • > 靜(jing)電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重錘(chui)表面(mian)靜(jing)電(dian)電阻/電阻(zu)率(lv)
  • > 靜(jing)電(dian)場/靜(jing)電(dian)消(xiao)散/離(li)子平(ping)衡(heng)
  • > 離(li)子風機/無風型(xing)靜(jing)電(dian)消(xiao)除器(qi)
  • > 手腕(wan)帶(dai)防靜(jing)電(dian)工鞋人(ren)體(ti)綜(zong)合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防靜(jing)電(dian)吹吸(xi)塵器(qi)/抽(chou)煙(yan)機
  • > EMIT工位(wei)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)監(jian)測(ce)儀(yi)
  • > 平(ping)板測(ce)試儀(yi)/離(li)子風機測(ce)試儀(yi)/靜(jing)電(dian)監(jian)測(ce)器(qi)
  • > 靜(jing)電(dian)電荷庫(ku)倫電(dian)量/衰(shuai)減(jian)
• 體(ti)積電(dian)阻，電阻計(ji)，記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/高(gao)阻(zu)計(ji)
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)/阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)/多(duo)用表(biao)
  • > 電(dian)能(neng)質(zhi)量分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)池測(ce)試儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采集記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > 微電阻計(ji)/微歐姆(mu)計(ji)
• 吉(ji)時利KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
  • > 半(ban)導體(ti)圖示(shi)儀(yi)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)
  • > 數據(ju)采集/開(kai)關矩(ju)陣
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/靜(jing)電(dian)計(ji)
  • > 源(yuan)表(biao)
  • > 電源(yuan)
  • > 萬用表(biao)
  • > 函數信號(hao)發生器(qi)
• 安(an)捷(jie)倫Agilent/是(shi)德(de)KEYSIGHT
  • > 移(yi)動(dong)通信專用電(dian)源(yuan)，帶(dai)電池仿(fang)真
  • > 射頻RF/脈(mai)沖(chong)碼型(xing)發(fa)生器(qi)
  • > 直流(liu)電(dian)源/交流(liu)電源
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > 手持(chi)式(shi)示(shi)波(bo)表/手持(chi)式(shi)小表
  • > 函數信號(hao)發生器(qi)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 數據(ju)采集儀(yi)
  • > 源(yuan)表(biao)/高(gao)阻(zu)表(biao)/皮(pi)安(an)表(biao)微安(an)計(ji)
  • > 頻率(lv)計(ji)/頻譜儀(yi)/網(wang)絡(luo)分(fen)析儀(yi)
• 愛(ai)斯佩(pei)克(ke)ESPEC環(huan)境(jing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 穩(wen)定性(xing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 小(xiao)型(xing)恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 快(kuai)速溫度變化濕(shi)熱試驗(yan)箱(xiang)
  • > 溫度/結露循環(huan)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 冷(leng)熱沖(chong)擊試驗(yan)箱(xiang)
  • > 烘(hong)箱(xiang)/幹(gan)燥(zao)箱(xiang)/高(gao)溫試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫濕(shi)熱試驗(yan)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐(fu)蝕(shi)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 步(bu)進式恒(heng)溫老化試驗(yan)室(shi)
  • > 高(gao)低溫濕(shi)振(zhen)動復(fu)合(he)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)壓加(jia)速老(lao)化試驗(yan)箱(xiang)
  • > IP砂(sha)塵(chen)防水(shui)淋雨試驗(yan)箱(xiang)
  • > 快(kuai)速除(chu)濕(shi)設備/除濕(shi)櫃/惰性氮(dan)氣防潮(chao)櫃
• 普(pu)源RIGOL/致遠(yuan)ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
  • > 手持(chi)式(shi)示(shi)波(bo)表
  • > 射頻微波(bo)網絡(luo)分(fen)析儀(yi)
  • > 可(ke)編程(cheng)直流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > 射頻信號(hao)源
  • > 數據(ju)采集儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > 萬(wan)用表
  • > 直流(liu)穩(wen)壓電(dian)源
  • > 頻譜分析(xi)儀(yi)
  • > 函數信號(hao)發生器(qi)
• Chroma致(zhi)茂(mao)/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
  • > 電(dian)源(yuan)自動測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 光(guang)照度/亮色(se)度測(ce)試
  • > 電(dian)參(can)數(shu)測(ce)量功(gong)率(lv)計(ji)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 其他(ta)測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 交流(liu)電源
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)/泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)/接(jie)地(di)
  • > 電(dian)子負載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)源
• 邏輯分(fen)析儀(yi)/總(zong)線(xian)協(xie)議(yi)測(ce)試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議(yi)分析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻總線(xian)協(xie)議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線(xian)協(xie)議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線(xian)測(ce)試
  • > 其他(ta)虛(xu)擬(ni)示(shi)波(bo)器(qi)/協(xie)議(yi)解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹(gan)擾兼(jian)容(rong)
  • > 汽(qi)車(che)設(she)備(bei)電(dian)源(yuan)故障(zhang)模擬(ni)器(qi)
  • > 拋(pao)負載(zai)
  • > 電(dian)纜(lan)束(shu)註入敏感度測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 寬(kuan)帶(dai)功(gong)率(lv)放(fang)大(da)器(qi)
  • > 汽(qi)車(che)電(dian)子電磁兼(jian)容(rong)EMC/波(bo)形
  • > 耦(ou)合(he)去(qu)耦(ou)合(he)
  • > 諧波(bo)和閃(shan)爍(shuo)
  • > 射頻傳(chuan)導(dao)抗(kang)擾度測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 阻尼(ni)振(zhen)蕩(dang)磁場(chang)測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 振(zhen)鈴波(bo)發生器(qi)
  • > 電(dian)壓跌(die)落模擬(ni)器(qi)
  • > 電(dian)快(kuai)速瞬(shun)變脈(mai)沖(chong)群(qun)發(fa)生器(qi)
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)電阻測(ce)試儀(yi)
  • > 絕緣(yuan)電阻測(ce)試儀(yi)
  • > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > AC/DC交直流(liu)耐(nai)壓測(ce)試儀(yi)
  • > 泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > 雷(lei)擊(ji)浪(lang)湧(yong)/EMC電磁兼(jian)容(rong)測(ce)試
  • > 接(jie)地(di)導(dao)通電阻測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電(dian)放電發生器(qi)
  • > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)校準(zhun)盒(he)
• 愛色(se)麗(li)X-Rite/電色(se)NIPPON
  • > 標準(zhun)光(guang)源/對(dui)色(se)燈箱(xiang)
  • > 色(se)差儀(yi)/測(ce)色(se)儀(yi)/分(fen)光(guang)光(guang)度計(ji)
• 梅(mei)特勒METTLER
  • > 熱機(ji)械分析(xi)儀(yi)
  • > 分(fen)析(xi)天平(ping)
• 物(wu)料輪廓顏(yan)色(se)缺料(liao)視覺篩選(xuan)
• 博(bo)勒飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀(yi)
  • > 粘度計(ji)
  • > 質(zhi)構分析(xi)儀(yi)
  • > 粉體(ti)流動(dong)測(ce)試儀(yi)
  • > 恒(heng)溫水浴(yu)
  • > 粘度標準(zhun)液/矽油(you)標(biao)準(zhun)液
  • > 水分(fen)、固(gu)含(han)量、灰分測(ce)定儀(yi)
• 賓(bin)德(de)BINDER試驗(yan)箱(xiang)
  • > 二(er)氧(yang)化碳(tan)CO₂培養箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫交變(bian)氣候(hou)箱(xiang)
  • > 微生物(wu)培養箱(xiang)
  • > 真空幹(gan)燥(zao)箱(xiang)
  • > 安(an)全(quan)幹(gan)燥(zao)箱(xiang)
  • > 幹(gan)燥(zao)箱(xiang)和(he)烘(hong)箱(xiang)
  • > 生物(wu)生長箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)箱(xiang)
  • > 超低溫冰(bing)箱(xiang)
• 金相(xiang)切(qie)割/鑲(xiang)嵌(qian)/研(yan)磨拋光(guang)
  • > 冷/熱鑲(xiang)嵌(qian)機
  • > 磨(mo)拋機(ji)/研(yan)磨機
  • > 金(jin)相耗材
  • > 電(dian)子天平(ping)/顯(xian)微鏡(jing)
• 紅外熱像(xiang)儀(yi)
• 美國(guo)BK PRECISION
  • > 信(xin)號(hao)源等儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子負載(zai)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 萬用(yong)表(biao)
  • > 電源
• ADCMT愛(ai)德(de)萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式(shi)數(shu)字萬用(yong)表(biao)
  • > I-V曲(qu)線測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 直流(liu)電(dian)源/恒(heng)流(liu)電流源
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/體(ti)積電(dian)阻率(lv)測(ce)試儀(yi)
  • > 光(guang)功(gong)率(lv)計(ji)/光(guang)波(bo)長計(ji)
• COSMOS氣體(ti)/鐵(tie)粉濃度計(ji)
• ITECH艾(ai)德(de)克(ke)斯/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試專(zhuan)用電子負載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > 回饋式(shi)電網(wang)模擬(ni)器(qi)交流(liu)電源
  • > 可(ke)編程(cheng)三路直流(liu)電(dian)源
  • > 雙(shuang)向(xiang)電(dian)源(yuan)和(he)回饋式(shi)負載(zai)
  • > 新能(neng)源汽(qi)車(che)/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 可(ke)編程(cheng)直流(liu)電(dian)源
  • > 小(xiao)功(gong)率(lv)電(dian)子負載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直流(liu)電(dian)源和(he)電子負載(zai)壹(yi)體(ti)的機器(qi)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)電(dian)子負載(zai)
  • > 能(neng)量回饋式(shi)直流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > AC交流(liu)電子負載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直流(liu)電(dian)源
  • > 新能(neng)源汽(qi)車(che)/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙(shuang)極性(xing)電(dian)源
  • > AC交流(liu)電源
  • > 直流(liu)電(dian)源
• 羅德(de)與施(shi)瓦(wa)茨(ci)R&S（惠(hui)美HAMEG）
• 同惠/長盛/安(an)柏(bai)
  • > 半(ban)導體(ti)參(can)數(shu)分(fen)析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲(sheng)器(qi)喇(la)叭(ba)電機馬達(da)測(ce)試
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)/電(dian)參(can)數(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)/高(gao)阻(zu)計(ji)/靜(jing)電(dian)計(ji)
  • > 直流(liu)低電阻(zu)，微歐姆(mu)計(ji)
  • > 交流(liu)低電阻(zu)，電(dian)池測(ce)試儀(yi)
  • > 線(xian)材(cai)，線(xian)纜(lan)，線(xian)束(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 脈(mai)沖(chong)線圈(quan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)感(gan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)容(rong)測(ce)試儀(yi)
  • > 溫度采集記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 高(gao)阻(zu)測(ce)試
  • > 安(an)規(gui)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安(an)規(gui)耐壓絕緣(yuan)
• 標準(zhun)源(yuan)/計(ji)量校(xiao)準(zhun)檢(jian)定設(she)備(bei)
• 晶圓、芯片、屏幕(mu)Particle
• 日(ri)置HIOKI/國(guo)產(chan)替代(dai)
• 鎖(suo)相放大(da)器(qi)
• 噪聲(sheng)/振(zhen)動/聲(sheng)學(xue)測(ce)試方案(an)
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲(sheng)器(qi)件測(ce)試設(she)備
• 長盛耐(nai)壓絕緣(yuan)電阻安(an)規(gui)測(ce)試
  • > 200mA大(da)電(dian)流耐壓儀(yi)
• 永(yong)磁軟(ruan)磁磁通量測(ce)試
• 汽(qi)車(che)電(dian)子標準(zhun)波(bo)形可(ke)編程(cheng)電源(yuan)
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德(de)維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀(yi)記(ji)錄(lu)儀(yi)
• ARC電池絕熱量熱儀(yi)/熱安(an)全(quan)性能(neng)

15000330092
在線客(ke)服(fu)免(mian)費解答