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• 體(ti)積電(dian)阻(zu)率(lv)/表面電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)
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• 半(ban)導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
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• 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biao)準測(ce)試(shi)
  • > 微中(zhong)斷
• 電(dian)化(hua)學(xue)工(gong)作(zuo)站(zhan)/恒(heng)電(dian)位(wei)儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
• 電(dian)池(chi)/光(guang)伏/汽(qi)車(che)充電(dian)樁(zhuang)測(ce)試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測(ce)試(shi)
  • > 靜電(dian)CDM/HBM/MM
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  • > 靜電(dian)場(chang)/靜電(dian)消(xiao)散/離子平(ping)衡
  • > 離子風機(ji)/無風(feng)型(xing)靜電(dian)消(xiao)除(chu)器(qi)
  • > 手(shou)腕帶(dai)防靜電(dian)工(gong)鞋(xie)人體(ti)綜(zong)合測(ce)試(shi)儀(yi)
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  • > 可編程(cheng)直流電(dian)源(yuan)
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  • > 大功率(lv)直流(liu)電(dian)源(yuan)
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  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
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• 羅(luo)德與(yu)施(shi)瓦茨(ci)R&S（惠(hui)美HAMEG）
• 同(tong)惠(hui)/長(chang)盛/安(an)柏
  • > 半(ban)導(dao)體(ti)參(can)數分析(xi)儀(yi)
  • > 揚(yang)聲(sheng)器(qi)喇(la)叭電(dian)機(ji)馬(ma)達(da)測(ce)試(shi)
  • > 功率(lv)分析(xi)儀(yi)/電(dian)參(can)數測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 皮安表/高阻計(ji)/靜電(dian)計(ji)
  • > 直流(liu)低電(dian)阻(zu)，微歐(ou)姆計(ji)
  • > 交流(liu)低電(dian)阻(zu)，電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 線材(cai)，線纜(lan)，線束(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 脈沖線圈測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 電(dian)感測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 電(dian)容(rong)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 溫度采(cai)集(ji)記錄儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋阻抗分析(xi)儀(yi)
  • > 高阻測(ce)試(shi)
  • > 安(an)規接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安(an)規(gui)耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)
• 標(biao)準源/計(ji)量(liang)校準檢定(ding)設備(bei)
• 晶(jing)圓、芯片(pian)、屏(ping)幕Particle
• 日置HIOKI/國(guo)產替(ti)代(dai)
• 鎖(suo)相放大器(qi)
• 噪(zao)聲(sheng)/振動(dong)/聲(sheng)學(xue)測(ce)試(shi)方案
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲(sheng)器(qi)件測(ce)試(shi)設(she)備
• 長(chang)盛耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)安(an)規(gui)測(ce)試(shi)
  • > 200mA大電(dian)流(liu)耐(nai)壓儀(yi)
• 永(yong)磁軟磁(ci)磁通量(liang)測(ce)試(shi)
• 汽(qi)車(che)電(dian)子標(biao)準波形(xing)可編程(cheng)電(dian)源(yuan)
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德(de)維創(chuang)DEWETRON
  • > 功率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 數據采(cai)集(ji)儀記錄儀(yi)
• ARC電(dian)池(chi)絕(jue)熱(re)量(liang)熱儀(yi)/熱(re)安(an)全(quan)性能(neng)

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