吉(ji)時利KEITHLEY函數脈(mai)沖(chong)信(xin)號源選型(xing)表

產品(pin)分(fen)類

• 氫(qing)檢(jian)儀(yi)氣(qi)密性(xing)檢(jian)漏檢測儀(yi)
• 國產(chan)源(yuan)表，替代(dai)keithley
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)功率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 替(ti)代進(jin)口(kou)電源
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)環(huan)境試驗箱(xiang)
  • > 國(guo)產(chan)替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)射(she)頻(pin)儀(yi)器
  • > 替代進(jin)口(kou)高阻表
  • > 電池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)器
  • > 電池(chi)絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)替(ti)代(dai)HIOKI
  • > SMU源表替代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬用(yong)表/信號源替代是(shi)德
• 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)/表面電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)
  • > 電(dian)橋LCR
• 半(ban)導(dao)體I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
• 介(jie)電常數/電(dian)導(dao)率(lv)測試方(fang)案(an)
• 大眾VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標準(zhun)測(ce)試(shi)
  • > 微(wei)中斷(duan)
• 電(dian)化學(xue)工作(zuo)站(zhan)/恒(heng)電(dian)位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
• 電(dian)池(chi)/光伏(fu)/汽車充(chong)電樁測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電測試
  • > 靜(jing)電CDM/HBM/MM
  • > 重錘表面靜(jing)電電阻/電阻率(lv)
  • > 靜(jing)電場/靜(jing)電消散/離子(zi)平衡(heng)
  • > 離(li)子風機/無(wu)風(feng)型(xing)靜(jing)電消除器
  • > 手腕(wan)帶(dai)防(fang)靜(jing)電工鞋人(ren)體綜(zong)合(he)測試(shi)儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜(jing)電吹吸(xi)塵器/抽煙(yan)機(ji)
  • > EMIT工位(wei)接地電(dian)阻監(jian)測儀(yi)
  • > 平板測(ce)試(shi)儀(yi)/離(li)子風機測(ce)試(shi)儀(yi)/靜(jing)電監測器
  • > 靜(jing)電電荷庫倫電(dian)量/衰減(jian)
• 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)，電(dian)阻(zu)計(ji)，記錄(lu)儀(yi)
  • > 高(gao)阻表/高阻(zu)計(ji)
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)漏電流測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋/阻抗(kang)分(fen)析儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 萬用(yong)表/多(duo)用表
  • > 電能質量分(fen)析儀(yi)
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 數(shu)據采集記錄(lu)儀(yi)
  • > 微(wei)電阻計(ji)/微(wei)歐姆(mu)計(ji)
• 吉(ji)時利KEITHLEY/泰克(ke)Tektronix
  • > 半(ban)導(dao)體圖示(shi)儀(yi)
  • > 示(shi)波器
  • > 皮(pi)安表
  • > 數據(ju)采集(ji)/開(kai)關(guan)矩陣
  • > 高阻表/靜(jing)電計(ji)
  • > 源(yuan)表
  • > 電源(yuan)
  • > 萬用(yong)表
  • > 函數信(xin)號發生器
• 安捷(jie)倫Agilent/是(shi)德KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通(tong)信(xin)專(zhuan)用(yong)電源(yuan)，帶(dai)電(dian)池(chi)仿真
  • > 射(she)頻(pin)RF/脈(mai)沖(chong)碼型(xing)發生器
  • > 直流電(dian)源(yuan)/交(jiao)流電(dian)源(yuan)
  • > 萬用(yong)表
  • > 示(shi)波器
  • > 手持式(shi)示(shi)波表/手持式(shi)小表
  • > 函數信(xin)號發生器
  • > LCR電橋
  • > 數據(ju)采(cai)集(ji)儀(yi)
  • > 源(yuan)表/高阻(zu)表/皮(pi)安表微安(an)計(ji)
  • > 頻(pin)率(lv)計(ji)/頻(pin)譜(pu)儀(yi)/網(wang)絡(luo)分(fen)析儀(yi)
• 愛(ai)斯佩(pei)克(ke)ESPEC環(huan)境試驗箱(xiang)
  • > 穩(wen)定性(xing)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 小型(xing)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試(shi)驗箱(xiang)
  • > 快速溫(wen)度(du)變化濕熱(re)試驗箱(xiang)
  • > 溫(wen)度(du)/結露(lu)循(xun)環(huan)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 冷熱沖(chong)擊(ji)試驗箱(xiang)
  • > 烘(hong)箱(xiang)/幹(gan)燥(zao)箱(xiang)/高(gao)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)濕熱(re)試驗箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試(shi)驗箱(xiang)
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐(fu)蝕試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 步進(jin)式(shi)恒(heng)溫(wen)老化試(shi)驗(yan)室(shi)
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)濕振動復(fu)合(he)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)壓加(jia)速老化試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > IP砂塵防水淋(lin)雨試驗箱(xiang)
  • > 快速除濕設(she)備/除濕櫃(gui)/惰性(xing)氮氣(qi)防潮櫃(gui)
• 普(pu)源(yuan)RIGOL/致遠ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
  • > 手持式(shi)示(shi)波表
  • > 射(she)頻(pin)微(wei)波網(wang)絡(luo)分(fen)析儀(yi)
  • > 可(ke)編(bian)程(cheng)直流電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 射(she)頻(pin)信(xin)號源
  • > 數據采(cai)集(ji)儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 示(shi)波器
  • > 萬用(yong)表
  • > 直流穩(wen)壓電(dian)源
  • > 頻(pin)譜(pu)分(fen)析儀(yi)
  • > 函數信(xin)號發生器
• Chroma致茂/EEC華儀(yi)EXTECH
  • > 電(dian)源自(zi)動測(ce)試系統
  • > 光照度(du)/亮(liang)色度(du)測試(shi)
  • > 電參數(shu)測量功率(lv)計(ji)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 其(qi)他測(ce)試(shi)儀(yi)器
  • > 交流電(dian)源(yuan)
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)/泄漏電流/接地
  • > 電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 直流電(dian)源(yuan)
• 邏輯(ji)分(fen)析儀(yi)/總(zong)線(xian)協(xie)議測(ce)試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議分(fen)析
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻(pin)總(zong)線(xian)協(xie)議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線(xian)協(xie)議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線(xian)測試(shi)
  • > 其他虛(xu)擬(ni)示(shi)波器/協(xie)議解(jie)碼
• EMI/EMC/EMS電磁幹(gan)擾(rao)兼容(rong)
  • > 汽車設(she)備電(dian)源(yuan)故(gu)障(zhang)模擬(ni)器
  • > 拋負(fu)載(zai)
  • > 電纜束(shu)註(zhu)入敏(min)感度(du)測試(shi)系統
  • > 寬(kuan)帶(dai)功(gong)率(lv)放(fang)大器
  • > 汽車電(dian)子電磁兼容(rong)EMC/波形
  • > 耦合(he)去耦(ou)合(he)
  • > 諧(xie)波(bo)和閃爍
  • > 射(she)頻(pin)傳導(dao)抗(kang)擾(rao)度(du)測試(shi)系統
  • > 阻尼(ni)振蕩磁場(chang)測(ce)試系統
  • > 振鈴(ling)波發生器
  • > 電壓跌(die)落(luo)模擬(ni)器
  • > 電快速瞬變(bian)脈(mai)沖(chong)群(qun)發生器
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 安(an)規綜(zong)合(he)測試(shi)儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直流耐(nai)壓測(ce)試儀(yi)
  • > 泄(xie)漏電流測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 雷(lei)擊浪湧/EMC電(dian)磁兼容(rong)測試(shi)
  • > 接地導(dao)通電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電放(fang)電發生器
  • > 安規綜(zong)合(he)校準(zhun)盒(he)
• 愛(ai)色麗(li)X-Rite/電(dian)色NIPPON
  • > 標準(zhun)光源/對色燈箱(xiang)
  • > 色差(cha)儀(yi)/測(ce)色儀(yi)/分(fen)光光度(du)計(ji)
• 梅(mei)特(te)勒(le)METTLER
  • > 熱(re)機(ji)械(xie)分(fen)析儀(yi)
  • > 分(fen)析天平
• 物(wu)料(liao)輪(lun)廓顏色缺料(liao)視(shi)覺(jiao)篩選
• 博勒(le)飛Brookfield
  • > 流變(bian)儀(yi)
  • > 粘(zhan)度(du)計(ji)
  • > 質構(gou)分(fen)析儀(yi)
  • > 粉(fen)體流動(dong)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 恒(heng)溫(wen)水(shui)浴
  • > 粘(zhan)度(du)標準(zhun)液/矽(gui)油標準(zhun)液
  • > 水(shui)分(fen)、固(gu)含量、灰(hui)分(fen)測定(ding)儀(yi)
• 賓德BINDER試驗(yan)箱(xiang)
  • > 二(er)氧化碳(tan)CO₂培養(yang)箱(xiang)
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)交(jiao)變氣(qi)候箱(xiang)
  • > 微(wei)生物培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 真空幹燥(zao)箱(xiang)
  • > 安(an)全(quan)幹(gan)燥(zao)箱(xiang)
  • > 幹(gan)燥(zao)箱(xiang)和烘(hong)箱(xiang)
  • > 生物生長(chang)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱(xiang)
  • > 超(chao)低(di)溫(wen)冰(bing)箱(xiang)
• 金相切(qie)割/鑲嵌(qian)/研(yan)磨拋光
  • > 冷/熱鑲嵌(qian)機(ji)
  • > 磨拋機/研(yan)磨機(ji)
  • > 金(jin)相耗(hao)材
  • > 電(dian)子(zi)天平/顯微(wei)鏡
• 紅(hong)外(wai)熱像儀(yi)
• 美(mei)國BK PRECISION
  • > 信(xin)號源等儀(yi)器
  • > 電子負(fu)載(zai)
  • > 示(shi)波器
  • > LCR電橋
  • > 萬用(yong)表
  • > 電源(yuan)
• ADCMT愛(ai)德萬ADVANTEST
  • > 臺(tai)式(shi)數(shu)字(zi)萬用(yong)表
  • > I-V曲線(xian)測試(shi)系統
  • > 直流電(dian)源(yuan)/恒(heng)流電(dian)流源(yuan)
  • > 高(gao)阻(zu)表/體積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測試儀(yi)
  • > 光功率(lv)計(ji)/光波長(chang)計(ji)
• COSMOS氣(qi)體/鐵粉(fen)濃(nong)度(du)計(ji)
• ITECH艾(ai)德克斯(si)/NGI恩智(zhi)
  • > LED測試(shi)專(zhuan)用(yong)電子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 直流電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 回饋(kui)式(shi)電(dian)網(wang)模擬(ni)器交流電(dian)源(yuan)
  • > 可(ke)編(bian)程(cheng)三(san)路直流電(dian)源(yuan)
  • > 雙(shuang)向(xiang)電源(yuan)和回饋(kui)式(shi)負(fu)載(zai)
  • > 新能源(yuan)汽車/電(dian)池(chi)/充(chong)電(dian)樁測(ce)試系統
  • > 可編(bian)程(cheng)直流電(dian)源(yuan)
  • > 小功(gong)率(lv)電子負(fu)載(zai)
  • > 大功(gong)率(lv)直流電(dian)源(yuan)和電子(zi)負(fu)載(zai)壹體的機器
  • > 大功(gong)率(lv)電子負(fu)載(zai)
  • > 能量回饋(kui)式(shi)直流電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > AC交流電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 大功(gong)率(lv)直流電(dian)源(yuan)
  • > 新能源(yuan)汽車/電(dian)池(chi)/充(chong)電(dian)樁
  • > 雙(shuang)極性(xing)電(dian)源(yuan)
  • > AC交流電(dian)源(yuan)
  • > 直流電(dian)源(yuan)
• 羅德與(yu)施(shi)瓦茨(ci)R&S（惠美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠/長(chang)盛/安柏
  • > 半(ban)導(dao)體參數(shu)分(fen)析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲(sheng)器喇(la)叭(ba)電機(ji)馬達(da)測試(shi)
  • > 功率(lv)分(fen)析儀(yi)/電(dian)參數(shu)測試(shi)儀(yi)
  • > 皮(pi)安表/高阻(zu)計(ji)/靜(jing)電計(ji)
  • > 直流低(di)電阻，微(wei)歐(ou)姆(mu)計(ji)
  • > 交(jiao)流低(di)電阻，電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 線(xian)材，線(xian)纜，線(xian)束(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 脈(mai)沖(chong)線(xian)圈(quan)測試(shi)儀(yi)
  • > 電(dian)感測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 電(dian)容測試儀(yi)
  • > 溫(wen)度(du)采集(ji)記錄(lu)儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋阻抗(kang)分(fen)析儀(yi)
  • > 高(gao)阻測試
  • > 安(an)規接地電(dian)阻/漏電流
  • > 安(an)規耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)
• 標(biao)準(zhun)源/計(ji)量校準檢(jian)定(ding)設(she)備
• 晶圓、芯(xin)片(pian)、屏幕(mu)Particle
• 日置HIOKI/國產(chan)替(ti)代(dai)
• 鎖相放(fang)大器
• 噪(zao)聲(sheng)/振動/聲(sheng)學(xue)測試(shi)方(fang)案(an)
• 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲(sheng)器件(jian)測試(shi)設(she)備
• 長(chang)盛耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)安(an)規測(ce)試
  • > 200mA大電(dian)流耐(nai)壓儀(yi)
• 永(yong)磁軟(ruan)磁磁通(tong)量測試
• 汽車電(dian)子標準(zhun)波形可編(bian)程(cheng)電源
• SHIMAZU島津(jin)
• 德維創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 數(shu)據采集儀(yi)記錄(lu)儀(yi)
• ARC電(dian)池(chi)絕(jue)熱量熱儀(yi)/熱(re)安全性能