KEITHLEY2400,2600B數(shu)字源表(biao)選(xuan)型表(biao)

產品分類(lei)

• 氫(qing)檢(jian)儀(yi)氣(qi)密性(xing)檢(jian)漏(lou)檢(jian)測(ce)儀
• 國產源表(biao)，替(ti)代keithley
  • > 替(ti)代進(jin)口(kou)功(gong)率(lv)分析儀(yi)
  • > 替(ti)代進(jin)口(kou)電(dian)源
  • > 替(ti)代進(jin)口(kou)環境試驗箱
  • > 國產替(ti)代進(jin)口(kou)射(she)頻(pin)儀器(qi)
  • > 替(ti)代進(jin)口(kou)高阻(zu)表(biao)
  • > 電池(chi)測(ce)試儀器(qi)
  • > 電(dian)池(chi)絕緣電(dian)阻(zu)替(ti)代HIOKI
  • > SMU源表(biao)替(ti)代KEITHLEY2400
  • > 萬用(yong)表(biao)/信(xin)號源替(ti)代是德(de)
• 體積(ji)電阻率/表(biao)面電(dian)阻測(ce)試
• 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗分析儀(yi)
  • > 電(dian)橋(qiao)LCR
• 半導體I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介(jie)電常(chang)數/電(dian)導率測(ce)試方案(an)
• 大眾(zhong)VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標準(zhun)測(ce)試
  • > 微中(zhong)斷
• 電(dian)化(hua)學工(gong)作(zuo)站(zhan)/恒電(dian)位儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電池(chi)/光伏(fu)/汽(qi)車充(chong)電樁(zhuang)測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電測(ce)試
  • > 靜(jing)電CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘表(biao)面靜(jing)電電(dian)阻(zu)/電阻率
  • > 靜(jing)電場(chang)/靜(jing)電消(xiao)散(san)/離(li)子平衡(heng)
  • > 離(li)子風(feng)機(ji)/無風(feng)型靜(jing)電消(xiao)除(chu)器(qi)
  • > 手(shou)腕(wan)帶防(fang)靜(jing)電工(gong)鞋(xie)人(ren)體綜(zong)合測(ce)試儀
  • > MENDA防靜(jing)電吹吸(xi)塵(chen)器(qi)/抽煙(yan)機(ji)
  • > EMIT工(gong)位接地電阻(zu)監(jian)測(ce)儀
  • > 平板測(ce)試儀/離(li)子風(feng)機(ji)測(ce)試儀/靜(jing)電監(jian)測(ce)器(qi)
  • > 靜(jing)電電(dian)荷(he)庫(ku)倫電量(liang)/衰(shuai)減(jian)
• 體積(ji)電阻，電阻(zu)計(ji)，記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > 高阻(zu)表(biao)/高阻(zu)計(ji)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕緣漏(lou)電流測(ce)試儀
  • > LCR電橋(qiao)/阻(zu)抗分析儀(yi)
  • > 功(gong)率計(ji)/功(gong)率(lv)分析儀(yi)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)/多(duo)用(yong)表(biao)
  • > 電能質量(liang)分析儀(yi)
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試儀
  • > 數據(ju)采(cai)集(ji)記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > 微電(dian)阻計(ji)/微(wei)歐(ou)姆計(ji)
• 吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY/泰(tai)克Tektronix
  • > 半導體圖(tu)示儀
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)
  • > 數據(ju)采(cai)集(ji)/開(kai)關(guan)矩(ju)陣
  • > 高阻(zu)表(biao)/靜(jing)電計(ji)
  • > 源表(biao)
  • > 電源
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• 安(an)捷倫Agilent/是德(de)KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通信(xin)專(zhuan)用(yong)電源，帶電池(chi)仿(fang)真
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  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/交流電源
  • > 萬用(yong)表(biao)
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 手(shou)持(chi)式示(shi)波表(biao)/手(shou)持(chi)式小(xiao)表(biao)
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號發(fa)生器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)儀(yi)
  • > 源表(biao)/高阻(zu)表(biao)/皮安(an)表(biao)微安(an)計(ji)
  • > 頻(pin)率(lv)計(ji)/頻(pin)譜(pu)儀(yi)/網絡(luo)分析儀(yi)
• 愛斯佩(pei)克ESPEC環境試驗箱
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  • > 小型恒溫(wen)恒濕試驗箱
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  • > 溫度/結露循(xun)環試驗箱
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  • > 高低(di)溫(wen)濕熱試驗箱
  • > 恒溫(wen)恒濕試驗箱
  • > 鹽霧腐蝕(shi)試驗箱
  • > 步進(jin)式恒溫(wen)老化(hua)試驗室
  • > 高低(di)溫(wen)濕振動復合試驗箱
  • > 高壓(ya)加(jia)速(su)老化(hua)試驗箱
  • > IP砂(sha)塵(chen)防水(shui)淋(lin)雨(yu)試驗箱
  • > 快速除(chu)濕設備(bei)/除(chu)濕櫃(gui)/惰性氮(dan)氣(qi)防潮(chao)櫃(gui)
• 普(pu)源RIGOL/致(zhi)遠(yuan)ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
  • > 手(shou)持(chi)式示(shi)波表(biao)
  • > 射頻(pin)微波(bo)網絡(luo)分析儀(yi)
  • > 可(ke)編程(cheng)直流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
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  • > 數據(ju)采(cai)集(ji)儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分析儀(yi)
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 直流(liu)穩壓電(dian)源
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  • > 函(han)數(shu)信(xin)號發(fa)生器(qi)
• Chroma致(zhi)茂/EEC華(hua)儀EXTECH
  • > 電(dian)源自動(dong)測(ce)試系統(tong)
  • > 光(guang)照(zhao)度(du)/亮色度測(ce)試
  • > 電參數(shu)測(ce)量功(gong)率計(ji)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 其他(ta)測(ce)試儀器(qi)
  • > 交流電源
  • > 耐壓絕(jue)緣/泄(xie)漏(lou)電流/接地
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• 邏(luo)輯分析儀(yi)/總(zong)線(xian)協(xie)議測(ce)試
  • > RGMII，RMII，SGMII
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  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線(xian)協(xie)議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線(xian)測(ce)試
  • > 其他(ta)虛(xu)擬(ni)示波(bo)器(qi)/協(xie)議解碼(ma)
• EMI/EMC/EMS電磁幹擾(rao)兼(jian)容(rong)
  • > 汽(qi)車設備(bei)電源故障模(mo)擬(ni)器(qi)
  • > 拋負(fu)載(zai)
  • > 電(dian)纜(lan)束(shu)註(zhu)入(ru)敏感(gan)度測(ce)試系統(tong)
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  • > 耦合去(qu)耦合
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  • > 射頻(pin)傳(chuan)導(dao)抗擾(rao)度(du)測(ce)試系統(tong)
  • > 阻(zu)尼振蕩磁(ci)場(chang)測(ce)試系統(tong)
  • > 振鈴波發(fa)生器(qi)
  • > 電(dian)壓(ya)跌落模(mo)擬(ni)器(qi)
  • > 電(dian)快(kuai)速(su)瞬變(bian)脈(mai)沖(chong)群發(fa)生器(qi)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試儀
  • > 絕緣電(dian)阻(zu)測(ce)試儀
  • > 安(an)規綜合測(ce)試儀
  • > AC/DC交直流耐壓(ya)測(ce)試儀
  • > 泄漏(lou)電流測(ce)試儀
  • > 雷擊浪湧(yong)/EMC電磁兼(jian)容(rong)測(ce)試
  • > 接地導通電(dian)阻(zu)測(ce)試儀
  • > ESD靜(jing)電放電發(fa)生器(qi)
  • > 安(an)規綜合校準(zhun)盒(he)
• 愛色麗(li)X-Rite/電色(se)NIPPON
  • > 標準(zhun)光源/對色燈(deng)箱
  • > 色(se)差儀(yi)/測(ce)色儀(yi)/分光光(guang)度(du)計(ji)
• 梅特(te)勒METTLER
  • > 熱機(ji)械分析儀(yi)
  • > 分析天(tian)平
• 物料(liao)輪廓顏色(se)缺料(liao)視(shi)覺(jiao)篩(shai)選(xuan)
• 博勒飛(fei)Brookfield
  • > 流變(bian)儀(yi)
  • > 粘(zhan)度計(ji)
  • > 質構(gou)分析儀(yi)
  • > 粉(fen)體流(liu)動測(ce)試儀
  • > 恒溫(wen)水(shui)浴(yu)
  • > 粘(zhan)度標準(zhun)液/矽油(you)標(biao)準液(ye)
  • > 水(shui)分、固含量、灰(hui)分測(ce)定儀(yi)
• 賓德BINDER試驗箱
  • > 二氧化(hua)碳(tan)CO₂培養(yang)箱(xiang)
  • > 高低(di)溫(wen)交變(bian)氣(qi)候(hou)箱(xiang)
  • > 微生物培養(yang)箱(xiang)
  • > 真(zhen)空(kong)幹燥箱
  • > 安(an)全幹燥箱
  • > 幹(gan)燥箱和烘(hong)箱
  • > 生物生長箱(xiang)
  • > 恒溫(wen)恒濕箱(xiang)
  • > 超(chao)低(di)溫(wen)冰(bing)箱(xiang)
• 金(jin)相切(qie)割/鑲嵌(qian)/研磨(mo)拋光
  • > 冷/熱鑲嵌(qian)機(ji)
  • > 磨拋機(ji)/研磨機(ji)
  • > 金(jin)相耗材(cai)
  • > 電子(zi)天平/顯微鏡(jing)
• 紅(hong)外熱像(xiang)儀(yi)
• 美國BK PRECISION
  • > 信(xin)號源等儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 電源
• ADCMT愛德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺式數(shu)字(zi)萬用(yong)表(biao)
  • > I-V曲線(xian)測(ce)試系統(tong)
  • > 直(zhi)流電源/恒流(liu)電流源
  • > 高阻(zu)表(biao)/體積(ji)電阻率測(ce)試儀
  • > 光功率計(ji)/光(guang)波(bo)長計(ji)
• COSMOS氣(qi)體/鐵(tie)粉(fen)濃(nong)度(du)計(ji)
• ITECH艾(ai)德克斯/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試專(zhuan)用(yong)電子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 回(hui)饋式電(dian)網模(mo)擬(ni)器(qi)交流電源
  • > 可(ke)編程(cheng)三路(lu)直(zhi)流電(dian)源
  • > 雙(shuang)向(xiang)電源和回(hui)饋式負(fu)載(zai)
  • > 新(xin)能源汽(qi)車/電(dian)池(chi)/充(chong)電樁(zhuang)測(ce)試系統(tong)
  • > 可(ke)編程(cheng)直流(liu)電(dian)源
  • > 小功率(lv)電子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直流電源和電(dian)子負(fu)載(zai)壹體的(de)機(ji)器(qi)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)電子負(fu)載(zai)
  • > 能量回(hui)饋式直(zhi)流(liu)電子負(fu)載(zai)
  • > AC交流電子負(fu)載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直流電源
  • > 新能源汽(qi)車/電(dian)池(chi)/充(chong)電樁(zhuang)
  • > 雙(shuang)極(ji)性電(dian)源
  • > AC交流電源
  • > 直流電(dian)源
• 羅德與(yu)施(shi)瓦茨R&S（惠美(mei)HAMEG）
• 同惠/長盛(sheng)/安(an)柏
  • > 半導體參數(shu)分析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲(sheng)器(qi)喇(la)叭(ba)電(dian)機(ji)馬達測(ce)試
  • > 功率分析儀(yi)/電(dian)參數(shu)測(ce)試儀
  • > 皮安(an)表(biao)/高阻(zu)計(ji)/靜(jing)電計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低(di)電(dian)阻，微歐姆計(ji)
  • > 交流低(di)電(dian)阻，電池(chi)測(ce)試儀
  • > 線材(cai)，線纜(lan)，線束測(ce)試儀
  • > 脈沖線圈(quan)測(ce)試儀
  • > 電感(gan)測(ce)試儀
  • > 電容測(ce)試儀
  • > 溫度采(cai)集(ji)記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > LCR電橋(qiao)阻(zu)抗分析儀(yi)
  • > 高阻(zu)測(ce)試
  • > 安(an)規接地電阻(zu)/漏(lou)電流
  • > 安(an)規耐壓絕緣
• 標準(zhun)源/計(ji)量(liang)校(xiao)準檢(jian)定(ding)設備(bei)
• 晶圓(yuan)、芯(xin)片(pian)、屏(ping)幕(mu)Particle
• 日(ri)置HIOKI/國產替(ti)代
• 鎖(suo)相放大器(qi)
• 噪(zao)聲(sheng)/振動/聲(sheng)學(xue)測(ce)試方案(an)
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲(sheng)器(qi)件(jian)測(ce)試設備(bei)
• 長盛(sheng)耐(nai)壓絕緣電(dian)阻(zu)安(an)規測(ce)試
  • > 200mA大電流耐壓儀(yi)
• 永(yong)磁軟(ruan)磁磁通量(liang)測(ce)試
• 汽(qi)車電(dian)子標(biao)準(zhun)波(bo)形可(ke)編程(cheng)電源
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德(de)維(wei)創DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分析儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)儀(yi)記(ji)錄(lu)儀(yi)
• ARC電池(chi)絕熱量熱儀/熱安(an)全性能