keithley2002萬(wan)用表(biao)技(ji)術參(can)數(shu)指標(biao)規(gui)格(ge)

產(chan)品(pin)分類

• 氫(qing)檢(jian)儀氣密性檢(jian)漏檢(jian)測儀
• 國(guo)產(chan)源(yuan)表(biao)，替代(dai)keithley
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)功(gong)率(lv)分析(xi)儀
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)電源(yuan)
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)環境試(shi)驗(yan)箱
  • > 國(guo)產(chan)替代(dai)進(jin)口(kou)射頻儀器(qi)
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)高阻表(biao)
  • > 電(dian)池(chi)測試(shi)儀器(qi)
  • > 電池(chi)絕緣(yuan)電(dian)阻替代(dai)HIOKI
  • > SMU源(yuan)表(biao)替代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用表(biao)/信號源(yuan)替代(dai)是德(de)
• 體(ti)積(ji)電阻率(lv)/表(biao)面(mian)電(dian)阻測(ce)試(shi)
• 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗(kang)分析(xi)儀
  • > 電(dian)橋(qiao)LCR
• 半導體I-V/C-V/I-R測試(shi)
• 介(jie)電常(chang)數(shu)/電導率(lv)測試(shi)方案
• 大眾(zhong)VW80000/通(tong)用GMW3172/ISO16750標準測(ce)試
  • > 微中斷
• 電(dian)化(hua)學工作站/恒(heng)電(dian)位儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試(shi)
• 電池(chi)/光伏/汽車(che)充(chong)電樁(zhuang)測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電測(ce)試
  • > 靜(jing)電CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘表(biao)面(mian)靜(jing)電電(dian)阻/電(dian)阻率(lv)
  • > 靜(jing)電場(chang)/靜(jing)電消(xiao)散/離(li)子平衡(heng)
  • > 離(li)子風(feng)機/無風(feng)型(xing)靜(jing)電消(xiao)除(chu)器(qi)
  • > 手腕(wan)帶防(fang)靜(jing)電工鞋人體綜(zong)合(he)測試(shi)儀
  • > MENDA防(fang)靜(jing)電吹(chui)吸塵(chen)器(qi)/抽煙機
  • > EMIT工位接(jie)地(di)電(dian)阻監(jian)測(ce)儀
  • > 平(ping)板測試儀/離(li)子風(feng)機測(ce)試儀/靜(jing)電監(jian)測器(qi)
  • > 靜(jing)電電(dian)荷庫倫(lun)電量/衰減
• 體(ti)積(ji)電阻，電(dian)阻計，記(ji)錄儀
  • > 高阻表(biao)/高阻計
  • > 耐壓絕緣(yuan)漏(lou)電(dian)流測(ce)試儀
  • > LCR電(dian)橋(qiao)/阻抗(kang)分析(xi)儀
  • > 功(gong)率(lv)計/功(gong)率(lv)分析(xi)儀
  • > 萬(wan)用表(biao)/多(duo)用表(biao)
  • > 電(dian)能(neng)質(zhi)量分析(xi)儀
  • > 電(dian)池(chi)測試(shi)儀
  • > 數(shu)據(ju)采集記(ji)錄儀
  • > 微電阻計/微歐姆計
• 吉時利(li)KEITHLEY/泰克Tektronix
  • > 半(ban)導體圖示(shi)儀
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > 皮安(an)表(biao)
  • > 數(shu)據(ju)采集/開關(guan)矩陣(zhen)
  • > 高阻表(biao)/靜(jing)電計
  • > 源(yuan)表(biao)
  • > 電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 函數(shu)信號發(fa)生(sheng)器(qi)
• 安(an)捷(jie)倫(lun)Agilent/是德(de)KEYSIGHT
  • > 移(yi)動(dong)通信專用電源(yuan)，帶(dai)電(dian)池(chi)仿真(zhen)
  • > 射(she)頻RF/脈沖碼型(xing)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)/交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > 手持式(shi)示波表(biao)/手持式(shi)小表(biao)
  • > 函數(shu)信號發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > LCR電橋(qiao)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀
  • > 源(yuan)表(biao)/高阻表(biao)/皮(pi)安(an)表(biao)微安計
  • > 頻率(lv)計/頻譜儀/網(wang)絡(luo)分析(xi)儀
• 愛(ai)斯(si)佩克ESPEC環(huan)境試(shi)驗(yan)箱
  • > 穩(wen)定性試(shi)驗(yan)箱
  • > 小型(xing)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試(shi)驗箱
  • > 快速溫度變(bian)化(hua)濕熱(re)試驗箱
  • > 溫(wen)度(du)/結(jie)露循(xun)環(huan)試驗(yan)箱
  • > 冷(leng)熱(re)沖擊試驗(yan)箱
  • > 烘(hong)箱/幹(gan)燥(zao)箱/高溫試驗(yan)箱
  • > 高低溫濕熱(re)試驗箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試(shi)驗箱
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐(fu)蝕試驗(yan)箱
  • > 步進式(shi)恒(heng)溫(wen)老化試驗室(shi)
  • > 高低溫濕振(zhen)動復合(he)試驗(yan)箱
  • > 高壓加速(su)老化試驗箱
  • > IP砂(sha)塵(chen)防(fang)水(shui)淋(lin)雨試驗(yan)箱
  • > 快速除(chu)濕設(she)備/除(chu)濕櫃(gui)/惰性(xing)氮(dan)氣防(fang)潮櫃(gui)
• 普(pu)源(yuan)RIGOL/致(zhi)遠(yuan)ZLG/鼎(ding)陽SIGLENT
  • > 手持式(shi)示波表(biao)
  • > 射(she)頻微波網(wang)絡(luo)分析(xi)儀
  • > 可(ke)編(bian)程直(zhi)流電子負載(zai)
  • > 射(she)頻信號源(yuan)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀
  • > 功(gong)率(lv)計/功(gong)率(lv)分析(xi)儀
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 直(zhi)流(liu)穩(wen)壓電源(yuan)
  • > 頻譜分析(xi)儀
  • > 函數(shu)信號發(fa)生(sheng)器(qi)
• Chroma致(zhi)茂/EEC華(hua)儀EXTECH
  • > 電(dian)源(yuan)自(zi)動(dong)測(ce)試(shi)系統
  • > 光照(zhao)度(du)/亮(liang)色(se)度測試(shi)
  • > 電參(can)數(shu)測量功(gong)率(lv)計
  • > LCR電橋
  • > 其他測試(shi)儀器(qi)
  • > 交流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)/泄漏電流/接(jie)地(di)
  • > 電(dian)子負載(zai)
  • > 直(zhi)流電(dian)源(yuan)
• 邏輯分析(xi)儀/總(zong)線(xian)協議測(ce)試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議分析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音頻總(zong)線協議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線協議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線測試
  • > 其他虛擬(ni)示波器(qi)/協議解(jie)碼
• EMI/EMC/EMS電磁幹擾兼容(rong)
  • > 汽車(che)設(she)備電(dian)源(yuan)故(gu)障模(mo)擬器(qi)
  • > 拋(pao)負載(zai)
  • > 電(dian)纜(lan)束註(zhu)入(ru)敏感(gan)度測(ce)試(shi)系統
  • > 寬帶(dai)功(gong)率(lv)放大器(qi)
  • > 汽車(che)電(dian)子電磁(ci)兼(jian)容(rong)EMC/波形
  • > 耦合(he)去(qu)耦合(he)
  • > 諧波和(he)閃爍(shuo)
  • > 射(she)頻傳導抗(kang)擾度測(ce)試系統
  • > 阻尼(ni)振(zhen)蕩磁場(chang)測試(shi)系統
  • > 振(zhen)鈴波發生(sheng)器(qi)
  • > 電壓(ya)跌落模(mo)擬器(qi)
  • > 電快速瞬變脈沖群發生(sheng)器(qi)
  • > 耐壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電阻測(ce)試(shi)儀
  • > 絕(jue)緣(yuan)電阻測(ce)試(shi)儀
  • > 安(an)規(gui)綜合(he)測試(shi)儀
  • > AC/DC交(jiao)直(zhi)流耐(nai)壓測試儀
  • > 泄漏電流測試儀
  • > 雷(lei)擊浪(lang)湧/EMC電磁(ci)兼(jian)容(rong)測試
  • > 接(jie)地(di)導通電阻測(ce)試(shi)儀
  • > ESD靜(jing)電放(fang)電發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 安規(gui)綜(zong)合(he)校準(zhun)盒
• 愛色(se)麗X-Rite/電色(se)NIPPON
  • > 標準光源(yuan)/對(dui)色(se)燈箱
  • > 色(se)差(cha)儀/測(ce)色(se)儀/分光光度計
• 梅(mei)特勒(le)METTLER
  • > 熱(re)機械分析(xi)儀
  • > 分析(xi)天平
• 物(wu)料(liao)輪(lun)廓(kuo)顏(yan)色(se)缺料(liao)視(shi)覺篩(shai)選(xuan)
• 博勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流變(bian)儀
  • > 粘(zhan)度(du)計
  • > 質構分析(xi)儀
  • > 粉(fen)體(ti)流(liu)動測(ce)試儀
  • > 恒(heng)溫(wen)水浴
  • > 粘(zhan)度(du)標(biao)準(zhun)液/矽油(you)標(biao)準(zhun)液
  • > 水(shui)分、固含(han)量、灰分測定儀
• 賓(bin)德(de)BINDER試驗(yan)箱
  • > 二(er)氧(yang)化(hua)碳CO₂培養(yang)箱
  • > 高低溫交(jiao)變氣候箱
  • > 微生(sheng)物(wu)培養(yang)箱
  • > 真(zhen)空幹燥箱
  • > 安(an)全(quan)幹燥(zao)箱
  • > 幹(gan)燥(zao)箱和(he)烘(hong)箱
  • > 生(sheng)物(wu)生(sheng)長(chang)箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱
  • > 超(chao)低溫冰箱
• 金相切(qie)割/鑲(xiang)嵌/研磨(mo)拋(pao)光
  • > 冷(leng)/熱(re)鑲(xiang)嵌機(ji)
  • > 磨拋(pao)機/研磨(mo)機(ji)
  • > 金相耗(hao)材(cai)
  • > 電(dian)子天平(ping)/顯(xian)微鏡
• 紅外(wai)熱(re)像儀
• 美國(guo)BK PRECISION
  • > 信號源(yuan)等儀器(qi)
  • > 電子負載(zai)
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > LCR電橋(qiao)
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 電(dian)源(yuan)
• ADCMT愛德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺式(shi)數(shu)字(zi)萬(wan)用表(biao)
  • > I-V曲(qu)線(xian)測(ce)試系統
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/恒(heng)流(liu)電流源(yuan)
  • > 高阻表(biao)/體(ti)積(ji)電阻率(lv)測試(shi)儀
  • > 光功(gong)率(lv)計/光波長計
• COSMOS氣體/鐵粉(fen)濃(nong)度(du)計
• ITECH艾(ai)德克斯(si)/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試專(zhuan)用電子負載(zai)
  • > 直(zhi)流電(dian)子負載(zai)
  • > 回(hui)饋式(shi)電網(wang)模(mo)擬器(qi)交流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 可(ke)編(bian)程(cheng)三(san)路直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 雙(shuang)向電(dian)源(yuan)和(he)回饋(kui)式(shi)負載(zai)
  • > 新能(neng)源(yuan)汽車(che)/電(dian)池(chi)/充(chong)電樁(zhuang)測(ce)試系統
  • > 可(ke)編(bian)程(cheng)直(zhi)流電(dian)源(yuan)
  • > 小功(gong)率(lv)電子負載(zai)
  • > 大功(gong)率(lv)直流(liu)電源(yuan)和(he)電子負載(zai)壹(yi)體的(de)機器(qi)
  • > 大功(gong)率(lv)電子負載(zai)
  • > 能(neng)量回饋式(shi)直流(liu)電子負載(zai)
  • > AC交(jiao)流電(dian)子負載(zai)
  • > 大功(gong)率(lv)直流(liu)電源(yuan)
  • > 新能(neng)源(yuan)汽車(che)/電(dian)池(chi)/充(chong)電樁(zhuang)
  • > 雙(shuang)極性電源(yuan)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• 羅(luo)德與(yu)施(shi)瓦茨R&S（惠美HAMEG）
• 同(tong)惠/長盛(sheng)/安柏(bai)
  • > 半導體參(can)數(shu)分析(xi)儀
  • > 揚(yang)聲(sheng)器(qi)喇叭(ba)電(dian)機(ji)馬(ma)達測(ce)試
  • > 功(gong)率(lv)分析(xi)儀/電(dian)參(can)數(shu)測試(shi)儀
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)/高阻計/靜(jing)電計
  • > 直流低電阻，微歐姆計
  • > 交流低電阻，電(dian)池(chi)測試(shi)儀
  • > 線(xian)材(cai)，線(xian)纜(lan)，線束測(ce)試(shi)儀
  • > 脈沖線圈測(ce)試(shi)儀
  • > 電(dian)感(gan)測試(shi)儀
  • > 電(dian)容(rong)測試儀
  • > 溫(wen)度(du)采集記(ji)錄儀
  • > LCR電(dian)橋(qiao)阻抗(kang)分析(xi)儀
  • > 高阻測(ce)試(shi)
  • > 安(an)規(gui)接(jie)地(di)電(dian)阻/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安(an)規耐(nai)壓(ya)絕緣
• 標(biao)準(zhun)源(yuan)/計量校準檢(jian)定設(she)備
• 晶(jing)圓、芯片、屏(ping)幕Particle
• 日(ri)置(zhi)HIOKI/國(guo)產(chan)替代(dai)
• 鎖相(xiang)放(fang)大器(qi)
• 噪(zao)聲/振(zhen)動/聲學測(ce)試(shi)方案
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲(sheng)器(qi)件測(ce)試(shi)設(she)備
• 長盛(sheng)耐壓(ya)絕緣(yuan)電阻安(an)規(gui)測(ce)試(shi)
  • > 200mA大電(dian)流(liu)耐(nai)壓儀
• 永(yong)磁(ci)軟(ruan)磁(ci)磁(ci)通量測試
• 汽車(che)電(dian)子標準(zhun)波形可編程(cheng)電源(yuan)
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分析(xi)儀
  • > 數(shu)據(ju)采集儀記(ji)錄儀
• ARC電(dian)池(chi)絕熱(re)量熱(re)儀/熱(re)安全(quan)性能(neng)