KEITHLEY2015，2016音頻(pin)分(fen)析儀(yi)技術(shu)參數指標(biao)規格(ge)datasheet

產品(pin)分(fen)類(lei)

• 氫檢儀(yi)氣(qi)密性檢漏(lou)檢測儀
• 國(guo)產源(yuan)表(biao)，替(ti)代(dai)keithley
  • > 替(ti)代(dai)進口功率(lv)分(fen)析儀
  • > 替(ti)代(dai)進口電(dian)源(yuan)
  • > 替(ti)代(dai)進口環境(jing)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 國(guo)產(chan)替(ti)代(dai)進口射(she)頻(pin)儀(yi)器
  • > 替(ti)代(dai)進口高(gao)阻表(biao)
  • > 電(dian)池測試儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻替(ti)代(dai)HIOKI
  • > SMU源(yuan)表(biao)替(ti)代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)/信號源(yuan)替(ti)代(dai)是德(de)
• 體(ti)積電(dian)阻率(lv)/表(biao)面(mian)電(dian)阻測試
• 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗(kang)分(fen)析儀
  • > 電(dian)橋LCR
• 半(ban)導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測試
• 介(jie)電(dian)常數/電(dian)導率(lv)測試方(fang)案(an)
• 大(da)眾(zhong)VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biao)準測試
  • > 微(wei)中(zhong)斷
• 電(dian)化學(xue)工作站/恒(heng)電(dian)位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
• 電(dian)池/光伏/汽(qi)車(che)充電(dian)樁(zhuang)測試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測試
  • > 靜(jing)電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘表(biao)面(mian)靜電(dian)電(dian)阻/電(dian)阻率(lv)
  • > 靜(jing)電(dian)場(chang)/靜(jing)電(dian)消(xiao)散(san)/離子平(ping)衡(heng)
  • > 離子風機(ji)/無(wu)風型(xing)靜(jing)電(dian)消(xiao)除(chu)器
  • > 手腕(wan)帶(dai)防(fang)靜(jing)電(dian)工鞋(xie)人(ren)體(ti)綜(zong)合(he)測試儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜(jing)電(dian)吹吸塵(chen)器(qi)/抽煙機
  • > EMIT工位(wei)接(jie)地電(dian)阻監(jian)測儀
  • > 平(ping)板測試儀(yi)/離(li)子風機(ji)測試儀(yi)/靜(jing)電(dian)監測器
  • > 靜(jing)電(dian)電(dian)荷庫(ku)倫電(dian)量/衰(shuai)減
• 體(ti)積電(dian)阻，電(dian)阻計，記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > 高阻表(biao)/高阻(zu)計
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)漏(lou)電(dian)流(liu)測試儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋/阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀
  • > 功率(lv)計/功率(lv)分(fen)析儀
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)/多用表(biao)
  • > 電(dian)能質(zhi)量分(fen)析儀(yi)
  • > 電(dian)池測試儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采集記錄(lu)儀
  • > 微(wei)電(dian)阻計/微(wei)歐姆計
• 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
  • > 半(ban)導體(ti)圖(tu)示儀
  • > 示波器
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)
  • > 數據(ju)采集/開關(guan)矩(ju)陣(zhen)
  • > 高(gao)阻表(biao)/靜電(dian)計
  • > 源(yuan)表(biao)
  • > 電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號發(fa)生(sheng)器(qi)
• 安(an)捷(jie)倫Agilent/是德(de)KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通信專用電(dian)源(yuan)，帶(dai)電(dian)池仿真(zhen)
  • > 射(she)頻(pin)RF/脈(mai)沖碼型(xing)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/交流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 示波器
  • > 手持式示波表(biao)/手持式小(xiao)表(biao)
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 數(shu)據(ju)采集儀
  • > 源(yuan)表(biao)/高阻(zu)表(biao)/皮(pi)安(an)表(biao)微安(an)計
  • > 頻(pin)率(lv)計/頻(pin)譜儀(yi)/網(wang)絡分(fen)析儀
• 愛(ai)斯(si)佩克ESPEC環境(jing)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 穩(wen)定(ding)性試驗(yan)箱(xiang)
  • > 小(xiao)型恒(heng)溫(wen)恒濕試驗(yan)箱(xiang)
  • > 快(kuai)速(su)溫(wen)度變(bian)化(hua)濕熱試(shi)驗箱(xiang)
  • > 溫(wen)度/結露(lu)循(xun)環試驗(yan)箱(xiang)
  • > 冷(leng)熱(re)沖擊試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 烘箱(xiang)/幹(gan)燥箱(xiang)/高(gao)溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)濕熱試(shi)驗箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒濕試驗(yan)箱(xiang)
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐(fu)蝕(shi)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 步(bu)進式恒(heng)溫(wen)老化試(shi)驗室(shi)
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)濕振(zhen)動(dong)復(fu)合(he)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)壓(ya)加速老化試(shi)驗箱(xiang)
  • > IP砂(sha)塵(chen)防(fang)水(shui)淋(lin)雨試(shi)驗箱(xiang)
  • > 快(kuai)速(su)除濕設備(bei)/除濕櫃/惰性氮氣(qi)防(fang)潮(chao)櫃
• 普源(yuan)RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎(ding)陽SIGLENT
  • > 手(shou)持式示波表(biao)
  • > 射頻(pin)微(wei)波網(wang)絡分析儀(yi)
  • > 可(ke)編程(cheng)直(zhi)流(liu)電(dian)子負載
  • > 射(she)頻(pin)信(xin)號源(yuan)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀
  • > 功率(lv)計/功率(lv)分(fen)析儀
  • > 示波器
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 直(zhi)流(liu)穩壓(ya)電(dian)源(yuan)
  • > 頻(pin)譜分(fen)析(xi)儀
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號發(fa)生(sheng)器(qi)
• Chroma致(zhi)茂(mao)/EEC華儀(yi)EXTECH
  • > 電(dian)源(yuan)自(zi)動測試系(xi)統(tong)
  • > 光照度/亮色度測試
  • > 電(dian)參數測量功率(lv)計
  • > LCR電(dian)橋
  • > 其他測試儀(yi)器(qi)
  • > 交流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)/泄漏(lou)電(dian)流(liu)/接(jie)地
  • > 電(dian)子負載
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• 邏(luo)輯(ji)分析(xi)儀(yi)/總(zong)線(xian)協(xie)議(yi)測試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議(yi)分析
  • > DP AUX，Soundwire音頻(pin)總(zong)線(xian)協(xie)議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線(xian)協(xie)議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線(xian)測試
  • > 其他虛(xu)擬(ni)示波器/協(xie)議(yi)解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹(gan)擾兼(jian)容
  • > 汽(qi)車(che)設備(bei)電(dian)源(yuan)故(gu)障模擬(ni)器(qi)
  • > 拋(pao)負載
  • > 電(dian)纜束註(zhu)入(ru)敏感度測試系(xi)統(tong)
  • > 寬帶功率(lv)放(fang)大(da)器(qi)
  • > 汽(qi)車(che)電(dian)子電(dian)磁兼(jian)容EMC/波(bo)形(xing)
  • > 耦(ou)合(he)去耦(ou)合(he)
  • > 諧(xie)波和(he)閃爍
  • > 射(she)頻(pin)傳導(dao)抗(kang)擾度測試系(xi)統(tong)
  • > 阻尼(ni)振(zhen)蕩(dang)磁(ci)場(chang)測試系(xi)統(tong)
  • > 振(zhen)鈴(ling)波(bo)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 電(dian)壓跌(die)落(luo)模擬(ni)器(qi)
  • > 電(dian)快速(su)瞬(shun)變(bian)脈(mai)沖群發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻測試儀(yi)
  • > 絕(jue)緣電(dian)阻測試儀(yi)
  • > 安(an)規綜(zong)合(he)測試儀(yi)
  • > AC/DC交直(zhi)流(liu)耐(nai)壓(ya)測試儀(yi)
  • > 泄漏(lou)電(dian)流(liu)測試儀(yi)
  • > 雷(lei)擊浪湧/EMC電(dian)磁兼(jian)容測試
  • > 接(jie)地導(dao)通電(dian)阻測試儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電(dian)放電(dian)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 安(an)規綜(zong)合(he)校(xiao)準盒
• 愛(ai)色麗(li)X-Rite/電(dian)色NIPPON
  • > 標(biao)準光源(yuan)/對(dui)色燈(deng)箱(xiang)
  • > 色(se)差(cha)儀/測色儀(yi)/分(fen)光光度計
• 梅特勒(le)METTLER
  • > 熱(re)機(ji)械分析(xi)儀
  • > 分(fen)析(xi)天(tian)平(ping)
• 物(wu)料(liao)輪(lun)廓顏色缺(que)料(liao)視(shi)覺篩選(xuan)
• 博(bo)勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀(yi)
  • > 粘(zhan)度計
  • > 質(zhi)構分(fen)析儀(yi)
  • > 粉體(ti)流(liu)動測試儀(yi)
  • > 恒(heng)溫(wen)水(shui)浴(yu)
  • > 粘度標(biao)準液/矽油標(biao)準液
  • > 水(shui)分(fen)、固含(han)量、灰(hui)分測定(ding)儀
• 賓德BINDER試驗(yan)箱(xiang)
  • > 二氧(yang)化(hua)碳(tan)CO₂培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)交變(bian)氣(qi)候箱(xiang)
  • > 微(wei)生(sheng)物(wu)培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 真(zhen)空(kong)幹燥箱(xiang)
  • > 安(an)全(quan)幹燥箱(xiang)
  • > 幹(gan)燥箱(xiang)和(he)烘箱(xiang)
  • > 生(sheng)物(wu)生長箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒濕箱(xiang)
  • > 超(chao)低(di)溫(wen)冰(bing)箱(xiang)
• 金相切(qie)割/鑲嵌/研磨(mo)拋光
  • > 冷/熱鑲嵌機
  • > 磨(mo)拋機(ji)/研磨(mo)機
  • > 金(jin)相耗材(cai)
  • > 電(dian)子天(tian)平(ping)/顯微鏡(jing)
• 紅(hong)外(wai)熱像儀
• 美國BK PRECISION
  • > 信(xin)號源(yuan)等(deng)儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子負載
  • > 示波器
  • > LCR電(dian)橋
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 電(dian)源(yuan)
• ADCMT愛(ai)德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺式數(shu)字(zi)萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > I-V曲(qu)線(xian)測試系(xi)統(tong)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源(yuan)
  • > 高(gao)阻表(biao)/體(ti)積電(dian)阻率(lv)測試儀(yi)
  • > 光功率(lv)計/光波長計
• COSMOS氣(qi)體(ti)/鐵粉(fen)濃(nong)度計
• ITECH艾(ai)德(de)克斯(si)/NGI恩(en)智(zhi)
  • > LED測試專(zhuan)用(yong)電(dian)子負載
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子負載
  • > 回(hui)饋式電(dian)網模擬(ni)器(qi)交流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 可(ke)編程(cheng)三(san)路直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 雙(shuang)向電(dian)源(yuan)和(he)回饋式負載
  • > 新(xin)能源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池/充電(dian)樁(zhuang)測試系(xi)統(tong)
  • > 可(ke)編程(cheng)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 小(xiao)功率(lv)電(dian)子負載
  • > 大(da)功率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)和(he)電(dian)子負載壹(yi)體(ti)的(de)機(ji)器
  • > 大(da)功率(lv)電(dian)子負載
  • > 能量(liang)回(hui)饋式直(zhi)流(liu)電(dian)子負載
  • > AC交流(liu)電(dian)子負載
  • > 大(da)功率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 新(xin)能源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池/充電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙(shuang)極性電(dian)源(yuan)
  • > AC交流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• 羅德(de)與施(shi)瓦(wa)茨(ci)R&S（惠(hui)美HAMEG）
• 同惠(hui)/長(chang)盛/安(an)柏
  • > 半(ban)導體(ti)參數分析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲(sheng)器(qi)喇叭(ba)電(dian)機馬(ma)達測試
  • > 功率(lv)分(fen)析儀/電(dian)參數測試儀(yi)
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)/高阻(zu)計/靜(jing)電(dian)計
  • > 直(zhi)流(liu)低(di)電(dian)阻，微(wei)歐姆計
  • > 交流(liu)低(di)電(dian)阻，電(dian)池測試儀(yi)
  • > 線(xian)材(cai)，線(xian)纜，線(xian)束測試儀(yi)
  • > 脈(mai)沖線(xian)圈測試儀(yi)
  • > 電(dian)感測試儀(yi)
  • > 電(dian)容測試儀(yi)
  • > 溫(wen)度采集記錄(lu)儀
  • > LCR電(dian)橋阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀
  • > 高阻(zu)測試
  • > 安(an)規接(jie)地電(dian)阻/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安(an)規耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)
• 標(biao)準源(yuan)/計量(liang)校(xiao)準檢定(ding)設備(bei)
• 晶(jing)圓(yuan)、芯片(pian)、屏幕(mu)Particle
• 日(ri)置(zhi)HIOKI/國(guo)產(chan)替(ti)代(dai)
• 鎖相(xiang)放大(da)器(qi)
• 噪聲(sheng)/振(zhen)動(dong)/聲(sheng)學(xue)測試方(fang)案(an)
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲(sheng)器(qi)件(jian)測試設(she)備(bei)
• 長(chang)盛耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻安(an)規測試
  • > 200mA大(da)電(dian)流(liu)耐(nai)壓(ya)儀(yi)
• 永(yong)磁軟(ruan)磁(ci)磁通(tong)量測試
• 汽(qi)車(che)電(dian)子標(biao)準波形(xing)可(ke)編程(cheng)電(dian)源(yuan)
• SHIMAZU島(dao)津
• 德(de)維(wei)創DEWETRON
  • > 功率(lv)分(fen)析儀
  • > 數(shu)據(ju)采集儀記(ji)錄儀(yi)
• ARC電(dian)池絕(jue)熱(re)量熱儀(yi)/熱安(an)全(quan)性能