KEITHLEY6487皮(pi)安表技(ji)術參(can)數(shu)指(zhi)標(biao)規格

產品(pin)分(fen)類

• 氫檢(jian)儀氣(qi)密(mi)性(xing)檢(jian)漏(lou)檢(jian)測儀
• 國(guo)產源表，替代keithley
  • > 替代進口(kou)功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 替代進口(kou)電(dian)源
  • > 替代進口(kou)環境試驗箱
  • > 國(guo)產替代進口(kou)射頻儀(yi)器
  • > 替代進口(kou)高(gao)阻(zu)表
  • > 電(dian)池測(ce)試儀(yi)器
  • > 電(dian)池絕緣電(dian)阻(zu)替代HIOKI
  • > SMU源表替代KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用表/信號(hao)源替代是(shi)德
• 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率/表面(mian)電(dian)阻(zu)測試
• 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)橋LCR
• 半導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測試(shi)
• 介電(dian)常數(shu)/電(dian)導(dao)率測(ce)試(shi)方(fang)案
• 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試(shi)
  • > 微(wei)中斷
• 電(dian)化學(xue)工作(zuo)站/恒電(dian)位儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
• 電(dian)池/光伏/汽車充(chong)電(dian)樁(zhuang)測試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測試(shi)
  • > 靜電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘(chui)表(biao)面(mian)靜電(dian)電(dian)阻(zu)/電(dian)阻(zu)率
  • > 靜電(dian)場(chang)/靜電(dian)消散/離(li)子(zi)平(ping)衡
  • > 離(li)子(zi)風(feng)機(ji)/無風(feng)型(xing)靜電(dian)消除器
  • > 手腕帶(dai)防(fang)靜電(dian)工鞋人(ren)體(ti)綜合測(ce)試儀
  • > MENDA防靜電(dian)吹吸塵(chen)器/抽(chou)煙機(ji)
  • > EMIT工位(wei)接地電(dian)阻(zu)監(jian)測(ce)儀(yi)
  • > 平(ping)板測試(shi)儀/離(li)子(zi)風(feng)機(ji)測(ce)試(shi)儀/靜電(dian)監(jian)測(ce)器(qi)
  • > 靜電(dian)電(dian)荷庫(ku)倫電(dian)量/衰減
• 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)，電(dian)阻(zu)計(ji)，記錄(lu)儀
  • > 高(gao)阻(zu)表/高(gao)阻(zu)計(ji)
  • > 耐(nai)壓絕緣漏(lou)電(dian)流(liu)測試(shi)儀
  • > LCR電(dian)橋/阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 萬用表/多(duo)用表
  • > 電(dian)能(neng)質量分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)池測(ce)試儀(yi)
  • > 數據采(cai)集記錄(lu)儀
  • > 微(wei)電(dian)阻(zu)計(ji)/微(wei)歐姆(mu)計(ji)
• 吉時(shi)利(li)KEITHLEY/泰(tai)克Tektronix
  • > 半導(dao)體(ti)圖(tu)示(shi)儀(yi)
  • > 示波器
  • > 皮(pi)安表
  • > 數(shu)據采(cai)集/開關矩(ju)陣
  • > 高(gao)阻(zu)表/靜電(dian)計(ji)
  • > 源表
  • > 電(dian)源
  • > 萬用表
  • > 函數(shu)信號(hao)發生器(qi)
• 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
  • > 移(yi)動(dong)通信專用電(dian)源，帶(dai)電(dian)池仿真(zhen)
  • > 射頻(pin)RF/脈(mai)沖(chong)碼型(xing)發生器(qi)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/交流(liu)電(dian)源
  • > 萬用表
  • > 示波器
  • > 手持(chi)式示(shi)波表/手持(chi)式小表
  • > 函數(shu)信號(hao)發生器(qi)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 數(shu)據采(cai)集儀(yi)
  • > 源表/高(gao)阻(zu)表/皮(pi)安表微(wei)安計(ji)
  • > 頻(pin)率計(ji)/頻(pin)譜儀/網絡分(fen)析(xi)儀(yi)
• 愛(ai)斯佩(pei)克ESPEC環境試驗箱
  • > 穩定(ding)性(xing)試驗箱(xiang)
  • > 小型(xing)恒溫恒濕(shi)試驗(yan)箱
  • > 快(kuai)速溫度(du)變(bian)化濕(shi)熱(re)試驗箱(xiang)
  • > 溫度(du)/結(jie)露循環(huan)試驗箱(xiang)
  • > 冷熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱
  • > 烘箱/幹燥箱(xiang)/高(gao)溫試(shi)驗(yan)箱
  • > 高(gao)低溫濕(shi)熱(re)試驗箱(xiang)
  • > 恒溫恒濕(shi)試驗(yan)箱
  • > 鹽霧(wu)腐蝕試驗箱
  • > 步(bu)進式恒溫老(lao)化(hua)試驗(yan)室
  • > 高(gao)低溫濕(shi)振(zhen)動(dong)復合試(shi)驗箱
  • > 高(gao)壓加速老(lao)化(hua)試(shi)驗箱(xiang)
  • > IP砂(sha)塵(chen)防(fang)水(shui)淋(lin)雨試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 快(kuai)速除濕(shi)設備/除濕(shi)櫃/惰(duo)性(xing)氮氣(qi)防(fang)潮櫃
• 普源RIGOL/致遠(yuan)ZLG/鼎陽SIGLENT
  • > 手持(chi)式示(shi)波表
  • > 射頻微(wei)波網絡分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 可編程(cheng)直流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 射(she)頻信號(hao)源
  • > 數據采(cai)集儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 示波器
  • > 萬用表
  • > 直流(liu)穩壓電(dian)源
  • > 頻譜分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 函數(shu)信號(hao)發生器(qi)
• Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
  • > 電(dian)源自動(dong)測試(shi)系統
  • > 光照度/亮色(se)度(du)測(ce)試(shi)
  • > 電(dian)參數(shu)測量(liang)功(gong)率(lv)計(ji)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 其(qi)他(ta)測試(shi)儀器
  • > 交流(liu)電(dian)源
  • > 耐壓絕緣/泄漏(lou)電(dian)流(liu)/接地
  • > 電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 邏(luo)輯分(fen)析(xi)儀(yi)/總線協議測試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議分(fen)析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻總線(xian)協議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線(xian)協議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線(xian)測試
  • > 其(qi)他(ta)虛擬示(shi)波器/協議解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹擾(rao)兼(jian)容
  • > 汽車設備電(dian)源故(gu)障(zhang)模擬器(qi)
  • > 拋(pao)負載(zai)
  • > 電(dian)纜束(shu)註(zhu)入敏感度(du)測試系統
  • > 寬帶(dai)功(gong)率(lv)放(fang)大器
  • > 汽車電(dian)子電(dian)磁(ci)兼(jian)容EMC/波形
  • > 耦(ou)合去耦(ou)合
  • > 諧(xie)波和閃爍(shuo)
  • > 射(she)頻傳(chuan)導(dao)抗擾(rao)度測試系統
  • > 阻(zu)尼振(zhen)蕩(dang)磁(ci)場(chang)測試(shi)系統
  • > 振(zhen)鈴波發生器(qi)
  • > 電(dian)壓跌落(luo)模(mo)擬器(qi)
  • > 電(dian)快(kuai)速瞬變脈(mai)沖(chong)群發生器(qi)
  • > 耐(nai)壓絕緣電(dian)阻(zu)測試儀(yi)
  • > 絕緣電(dian)阻(zu)測試儀(yi)
  • > 安規綜合測(ce)試儀
  • > AC/DC交直流(liu)耐壓測試儀(yi)
  • > 泄漏(lou)電(dian)流(liu)測試(shi)儀
  • > 雷擊(ji)浪湧/EMC電(dian)磁(ci)兼(jian)容測試
  • > 接地導(dao)通電(dian)阻(zu)測試儀(yi)
  • > ESD靜電(dian)放(fang)電(dian)發生器(qi)
  • > 安規綜合校準盒(he)
• 愛(ai)色(se)麗X-Rite/電(dian)色(se)NIPPON
  • > 標(biao)準光源/對(dui)色(se)燈(deng)箱(xiang)
  • > 色(se)差(cha)儀(yi)/測(ce)色(se)儀(yi)/分(fen)光光度計(ji)
• 梅(mei)特(te)勒METTLER
  • > 熱(re)機械分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 分(fen)析(xi)天(tian)平(ping)
• 物料(liao)輪(lun)廓(kuo)顏色(se)缺料(liao)視(shi)覺(jiao)篩(shai)選(xuan)
• 博勒飛Brookfield
  • > 流(liu)變儀(yi)
  • > 粘度計(ji)
  • > 質構分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 粉體(ti)流(liu)動(dong)測試(shi)儀
  • > 恒溫水(shui)浴(yu)
  • > 粘度標(biao)準液(ye)/矽油標準液(ye)
  • > 水分(fen)、固(gu)含量、灰(hui)分(fen)測定(ding)儀
• 賓(bin)德BINDER試驗箱
  • > 二氧(yang)化碳CO₂培養(yang)箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫交(jiao)變(bian)氣(qi)候(hou)箱(xiang)
  • > 微(wei)生物(wu)培養箱
  • > 真空(kong)幹(gan)燥(zao)箱(xiang)
  • > 安全(quan)幹(gan)燥(zao)箱(xiang)
  • > 幹燥箱(xiang)和烘箱
  • > 生物生(sheng)長(chang)箱(xiang)
  • > 恒溫恒濕(shi)箱
  • > 超(chao)低溫冰(bing)箱(xiang)
• 金(jin)相(xiang)切割(ge)/鑲(xiang)嵌(qian)/研磨(mo)拋(pao)光
  • > 冷/熱(re)鑲嵌機(ji)
  • > 磨(mo)拋(pao)機/研(yan)磨(mo)機(ji)
  • > 金(jin)相(xiang)耗材
  • > 電(dian)子天(tian)平(ping)/顯(xian)微(wei)鏡
• 紅(hong)外(wai)熱(re)像儀
• 美(mei)國BK PRECISION
  • > 信號(hao)源等儀器(qi)
  • > 電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 示(shi)波器
  • > LCR電(dian)橋
  • > 萬(wan)用表
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛德萬ADVANTEST
  • > 臺(tai)式(shi)數(shu)字(zi)萬用表
  • > I-V曲(qu)線(xian)測(ce)試(shi)系統
  • > 直流(liu)電(dian)源/恒流(liu)電(dian)流(liu)源
  • > 高(gao)阻(zu)表/體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率測試(shi)儀(yi)
  • > 光功(gong)率(lv)計(ji)/光波長計(ji)
• COSMOS氣(qi)體(ti)/鐵粉濃度計(ji)
• ITECH艾(ai)德克斯/NGI恩智
  • > LED測(ce)試專用電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 回(hui)饋式電(dian)網模(mo)擬器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 可編程(cheng)三路(lu)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 雙向電(dian)源和回饋式負(fu)載(zai)
  • > 新(xin)能(neng)源汽車/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁(zhuang)測試(shi)系統
  • > 可編程(cheng)直流(liu)電(dian)源
  • > 小功(gong)率(lv)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 大功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源和電(dian)子負(fu)載(zai)壹(yi)體(ti)的機(ji)器
  • > 大功(gong)率(lv)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 能(neng)量(liang)回饋式(shi)直流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 大功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 新能(neng)源汽車/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙極(ji)性(xing)電(dian)源
  • > AC交流(liu)電(dian)源
  • > 直流(liu)電(dian)源
• 羅(luo)德與施(shi)瓦茨(ci)R&S（惠(hui)美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠/長(chang)盛(sheng)/安柏
  • > 半(ban)導(dao)體(ti)參數(shu)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 揚聲器(qi)喇叭(ba)電(dian)機馬(ma)達測試(shi)
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)/電(dian)參數(shu)測試(shi)儀
  • > 皮(pi)安表/高(gao)阻(zu)計(ji)/靜電(dian)計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低電(dian)阻(zu)，微(wei)歐姆(mu)計(ji)
  • > 交(jiao)流(liu)低電(dian)阻(zu)，電(dian)池測(ce)試儀(yi)
  • > 線材，線纜(lan)，線(xian)束測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 脈(mai)沖(chong)線(xian)圈測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)感測(ce)試儀
  • > 電(dian)容測試儀
  • > 溫度(du)采(cai)集記錄(lu)儀
  • > LCR電(dian)橋阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 高(gao)阻(zu)測試
  • > 安規接地電(dian)阻(zu)/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安規耐壓絕緣
• 標準源/計(ji)量(liang)校準檢(jian)定(ding)設備
• 晶(jing)圓(yuan)、芯(xin)片(pian)、屏(ping)幕Particle
• 日置HIOKI/國產(chan)替代
• 鎖(suo)相(xiang)放(fang)大器
• 噪聲(sheng)/振(zhen)動(dong)/聲學(xue)測試(shi)方(fang)案
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲器(qi)件測試設備
• 長(chang)盛(sheng)耐壓絕緣電(dian)阻(zu)安規測試(shi)
  • > 200mA大電(dian)流(liu)耐壓儀
• 永磁(ci)軟磁(ci)磁(ci)通量(liang)測試(shi)
• 汽車電(dian)子標(biao)準波形可編程(cheng)電(dian)源
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德維創DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 數據采(cai)集儀(yi)記錄(lu)儀
• ARC電(dian)池絕熱(re)量熱(re)儀/熱(re)安全(quan)性(xing)能(neng)