杭(hang)州精(jing)測JINGCE直流(liu)電(dian)源使(shi)用說(shuo)明書

產(chan)品(pin)分類(lei)

• 氫檢儀(yi)氣密性檢漏(lou)檢測儀(yi)
• 國(guo)產源(yuan)表(biao)，替(ti)代(dai)keithley
  • > 替(ti)代(dai)進口(kou)功(gong)率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 替(ti)代(dai)進口(kou)電源
  • > 替(ti)代(dai)進口(kou)環境試驗(yan)箱
  • > 國(guo)產替(ti)代(dai)進口(kou)射(she)頻(pin)儀(yi)器
  • > 替(ti)代(dai)進口(kou)高阻表(biao)
  • > 電池(chi)測試儀(yi)器
  • > 電(dian)池(chi)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)替(ti)代(dai)HIOKI
  • > SMU源(yuan)表(biao)替(ti)代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)/信號(hao)源(yuan)替(ti)代(dai)是德
• 體積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)/表(biao)面電(dian)阻測試
• 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電橋(qiao)LCR
• 半導體I-V/C-V/I-R測試
• 介(jie)電常數(shu)/電(dian)導率(lv)測試方(fang)案
• 大眾(zhong)VW80000/通(tong)用GMW3172/ISO16750標準測試
  • > 微(wei)中斷
• 電化學(xue)工作站/恒(heng)電(dian)位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
• 電(dian)池(chi)/光伏/汽(qi)車充電(dian)樁(zhuang)測試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測試
  • > 靜(jing)電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘表(biao)面靜(jing)電電阻(zu)/電(dian)阻(zu)率(lv)
  • > 靜電(dian)場(chang)/靜(jing)電消(xiao)散(san)/離(li)子(zi)平(ping)衡
  • > 離(li)子(zi)風機(ji)/無(wu)風型靜電(dian)消(xiao)除(chu)器
  • > 手(shou)腕(wan)帶防(fang)靜(jing)電工鞋人(ren)體綜合(he)測試儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜(jing)電吹(chui)吸塵(chen)器/抽(chou)煙機(ji)
  • > EMIT工位(wei)接(jie)地電(dian)阻(zu)監(jian)測儀(yi)
  • > 平(ping)板測試儀(yi)/離(li)子(zi)風機(ji)測試儀(yi)/靜電(dian)監(jian)測器
  • > 靜(jing)電(dian)電荷庫(ku)倫電(dian)量(liang)/衰(shuai)減
• 體積(ji)電(dian)阻(zu)，電(dian)阻計，記錄儀(yi)
  • > 高阻(zu)表(biao)/高阻(zu)計(ji)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣漏(lou)電(dian)流(liu)測試儀(yi)
  • > LCR電橋(qiao)/阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計/功(gong)率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)/多(duo)用(yong)表(biao)
  • > 電能質(zhi)量(liang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電池(chi)測試儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采集記(ji)錄儀(yi)
  • > 微電(dian)阻(zu)計(ji)/微歐姆(mu)計(ji)
• 吉時利KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
  • > 半導體圖示儀(yi)
  • > 示波(bo)器
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)
  • > 數(shu)據(ju)采集/開(kai)關矩陣(zhen)
  • > 高阻(zu)表(biao)/靜電(dian)計(ji)
  • > 源(yuan)表(biao)
  • > 電源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 函數(shu)信(xin)號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
• 安(an)捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
  • > 移動(dong)通(tong)信(xin)專(zhuan)用電(dian)源，帶電池(chi)仿(fang)真
  • > 射(she)頻(pin)RF/脈沖碼型發生(sheng)器(qi)
  • > 直流電(dian)源/交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 示波(bo)器
  • > 手(shou)持(chi)式示波(bo)表(biao)/手持(chi)式小(xiao)表(biao)
  • > 函數(shu)信(xin)號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀(yi)
  • > 源表(biao)/高阻(zu)表(biao)/皮(pi)安(an)表(biao)微安(an)計(ji)
  • > 頻(pin)率(lv)計/頻(pin)譜(pu)儀(yi)/網絡分析(xi)儀(yi)
• 愛(ai)斯佩克(ke)ESPEC環境試驗(yan)箱
  • > 穩定(ding)性試驗(yan)箱
  • > 小(xiao)型恒溫(wen)恒濕試驗(yan)箱
  • > 快(kuai)速(su)溫(wen)度變化濕熱試驗(yan)箱
  • > 溫(wen)度/結露(lu)循環試驗(yan)箱
  • > 冷(leng)熱沖擊(ji)試驗(yan)箱
  • > 烘(hong)箱/幹(gan)燥箱/高溫(wen)試驗(yan)箱
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)濕熱試驗(yan)箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒濕試驗(yan)箱
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐蝕試驗(yan)箱
  • > 步進式恒(heng)溫(wen)老(lao)化試驗(yan)室
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)濕振(zhen)動(dong)復(fu)合(he)試驗(yan)箱
  • > 高(gao)壓(ya)加速(su)老(lao)化試驗(yan)箱
  • > IP砂(sha)塵(chen)防(fang)水(shui)淋雨試驗(yan)箱
  • > 快(kuai)速(su)除(chu)濕設備/除(chu)濕櫃(gui)/惰性氮(dan)氣(qi)防(fang)潮(chao)櫃
• 普(pu)源RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
  • > 手持(chi)式示波(bo)表(biao)
  • > 射(she)頻(pin)微波(bo)網絡分析(xi)儀(yi)
  • > 可(ke)編程直流(liu)電子(zi)負(fu)載
  • > 射(she)頻(pin)信號(hao)源(yuan)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計/功(gong)率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 示波(bo)器
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 直流(liu)穩壓(ya)電源(yuan)
  • > 頻(pin)譜(pu)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 函數(shu)信(xin)號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
• Chroma致茂(mao)/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
  • > 電源(yuan)自(zi)動(dong)測試系(xi)統(tong)
  • > 光照度/亮色度測試
  • > 電(dian)參(can)數(shu)測量(liang)功(gong)率(lv)計
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 其(qi)他測試儀(yi)器
  • > 交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 耐壓(ya)絕(jue)緣/泄漏電(dian)流(liu)/接(jie)地
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 直流(liu)電源
• 邏輯分析(xi)儀(yi)/總(zong)線(xian)協議(yi)測試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議(yi)分析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻(pin)總(zong)線(xian)協議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線(xian)協議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線(xian)測試
  • > 其(qi)他虛擬(ni)示波(bo)器/協(xie)議(yi)解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹(gan)擾兼容(rong)
  • > 汽(qi)車設備電源故(gu)障模(mo)擬(ni)器
  • > 拋負(fu)載
  • > 電纜束(shu)註入(ru)敏感(gan)度(du)測試系(xi)統(tong)
  • > 寬帶功(gong)率(lv)放大器
  • > 汽車電子(zi)電磁(ci)兼(jian)容(rong)EMC/波(bo)形(xing)
  • > 耦(ou)合(he)去耦(ou)合(he)
  • > 諧波(bo)和(he)閃爍(shuo)
  • > 射(she)頻(pin)傳導抗(kang)擾度測試系(xi)統(tong)
  • > 阻尼振蕩磁場(chang)測試系(xi)統(tong)
  • > 振鈴波(bo)發生(sheng)器(qi)
  • > 電(dian)壓(ya)跌落(luo)模(mo)擬(ni)器
  • > 電(dian)快(kuai)速(su)瞬變(bian)脈(mai)沖群(qun)發生(sheng)器
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測試儀(yi)
  • > 絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測試儀(yi)
  • > 安(an)規(gui)綜合(he)測試儀(yi)
  • > AC/DC交直(zhi)流(liu)耐(nai)壓(ya)測試儀(yi)
  • > 泄漏電(dian)流(liu)測試儀(yi)
  • > 雷(lei)擊(ji)浪(lang)湧(yong)/EMC電磁兼容測試
  • > 接(jie)地導(dao)通(tong)電(dian)阻測試儀(yi)
  • > ESD靜電(dian)放(fang)電(dian)發生器(qi)
  • > 安(an)規(gui)綜合(he)校(xiao)準(zhun)盒
• 愛色麗(li)X-Rite/電色NIPPON
  • > 標準(zhun)光源/對(dui)色燈箱(xiang)
  • > 色差儀(yi)/測色儀(yi)/分光光度計(ji)
• 梅(mei)特勒(le)METTLER
  • > 熱機(ji)械(xie)分析(xi)儀(yi)
  • > 分析(xi)天(tian)平(ping)
• 物(wu)料(liao)輪廓(kuo)顏(yan)色缺料(liao)視(shi)覺篩選(xuan)
• 博(bo)勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流變儀(yi)
  • > 粘度(du)計(ji)
  • > 質(zhi)構(gou)分析(xi)儀(yi)
  • > 粉(fen)體流動(dong)測試儀(yi)
  • > 恒溫(wen)水浴(yu)
  • > 粘度(du)標(biao)準液(ye)/矽(gui)油(you)標準液(ye)
  • > 水(shui)分(fen)、固(gu)含(han)量(liang)、灰(hui)分(fen)測定(ding)儀(yi)
• 賓德BINDER試驗(yan)箱
  • > 二(er)氧(yang)化碳CO₂培(pei)養(yang)箱
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)交變氣(qi)候箱
  • > 微(wei)生物(wu)培(pei)養(yang)箱
  • > 真(zhen)空(kong)幹(gan)燥箱
  • > 安(an)全(quan)幹(gan)燥箱
  • > 幹(gan)燥箱和(he)烘(hong)箱
  • > 生物(wu)生(sheng)長(chang)箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒濕箱(xiang)
  • > 超(chao)低(di)溫(wen)冰(bing)箱(xiang)
• 金相(xiang)切割/鑲嵌(qian)/研(yan)磨拋光
  • > 冷/熱鑲嵌(qian)機(ji)
  • > 磨拋機(ji)/研(yan)磨機(ji)
  • > 金(jin)相耗(hao)材(cai)
  • > 電(dian)子(zi)天(tian)平(ping)/顯(xian)微(wei)鏡
• 紅外(wai)熱像儀(yi)
• 美(mei)國(guo)BK PRECISION
  • > 信號(hao)源(yuan)等儀(yi)器
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 示波(bo)器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 電源(yuan)
• ADCMT愛(ai)德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式數(shu)字(zi)萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > I-V曲線(xian)測試系(xi)統(tong)
  • > 直流電源/恒(heng)流(liu)電流(liu)源(yuan)
  • > 高阻表(biao)/體積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測試儀(yi)
  • > 光功(gong)率(lv)計/光波(bo)長(chang)計
• COSMOS氣體/鐵粉(fen)濃(nong)度(du)計
• ITECH艾德(de)克(ke)斯/NGI恩(en)智
  • > LED測試專(zhuan)用(yong)電子(zi)負(fu)載
  • > 直流(liu)電子(zi)負(fu)載
  • > 回饋式電(dian)網(wang)模(mo)擬(ni)器交(jiao)流(liu)電源(yuan)
  • > 可(ke)編程三(san)路直(zhi)流電源
  • > 雙向電(dian)源和(he)回饋式負(fu)載
  • > 新能源汽(qi)車/電池(chi)/充電(dian)樁(zhuang)測試系(xi)統(tong)
  • > 可(ke)編程直流(liu)電源(yuan)
  • > 小功(gong)率(lv)電子(zi)負(fu)載
  • > 大功(gong)率(lv)直流(liu)電(dian)源(yuan)和(he)電(dian)子(zi)負(fu)載壹(yi)體的機(ji)器(qi)
  • > 大功(gong)率(lv)電子(zi)負(fu)載
  • > 能量(liang)回饋式直(zhi)流(liu)電子(zi)負(fu)載
  • > AC交流(liu)電子(zi)負(fu)載
  • > 大功(gong)率(lv)直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 新能源汽(qi)車/電池(chi)/充電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙極性電源
  • > AC交(jiao)流(liu)電源
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 羅德(de)與(yu)施瓦(wa)茨R&S（惠美(mei)HAMEG）
• 同惠/長(chang)盛/安(an)柏(bai)
  • > 半導體參數(shu)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 揚聲(sheng)器喇(la)叭電機(ji)馬(ma)達測試
  • > 功(gong)率(lv)分析(xi)儀(yi)/電參(can)數(shu)測試儀(yi)
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)/高阻(zu)計(ji)/靜(jing)電計
  • > 直(zhi)流低(di)電阻，微(wei)歐(ou)姆(mu)計(ji)
  • > 交(jiao)流低(di)電阻，電(dian)池(chi)測試儀(yi)
  • > 線(xian)材(cai)，線(xian)纜，線(xian)束(shu)測試儀(yi)
  • > 脈沖線(xian)圈(quan)測試儀(yi)
  • > 電感(gan)測試儀(yi)
  • > 電容(rong)測試儀(yi)
  • > 溫(wen)度采集記(ji)錄儀(yi)
  • > LCR電橋(qiao)阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 高阻(zu)測試
  • > 安(an)規(gui)接(jie)地電(dian)阻(zu)/漏(lou)電流
  • > 安(an)規(gui)耐壓(ya)絕(jue)緣
• 標準源(yuan)/計(ji)量(liang)校(xiao)準(zhun)檢定(ding)設備
• 晶(jing)圓(yuan)、芯(xin)片、屏幕(mu)Particle
• 日(ri)置(zhi)HIOKI/國(guo)產替(ti)代(dai)
• 鎖(suo)相(xiang)放(fang)大器
• 噪聲(sheng)/振動(dong)/聲(sheng)學(xue)測試方(fang)案
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲(sheng)器件(jian)測試設備
• 長(chang)盛耐壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)安(an)規(gui)測試
  • > 200mA大電流耐壓(ya)儀(yi)
• 永(yong)磁(ci)軟磁磁通量(liang)測試
• 汽車電子(zi)標準(zhun)波(bo)形(xing)可(ke)編程電源(yuan)
• SHIMAZU島津(jin)
• 德(de)維(wei)創DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀(yi)記錄(lu)儀(yi)
• ARC電池(chi)絕(jue)熱量(liang)熱儀(yi)/熱安(an)全(quan)性能