杭(hang)州(zhou)精(jing)測(ce)JINGCE示(shi)波(bo)器用戶(hu)指南操作(zuo)使(shi)用手(shou)冊

產品(pin)分類(lei)

• 氫(qing)檢儀(yi)氣密性(xing)檢漏檢測(ce)儀(yi)
• 國(guo)產(chan)源(yuan)表(biao)，替代keithley
  • > 替代進(jin)口功(gong)率(lv)分析儀(yi)
  • > 替代進(jin)口電(dian)源
  • > 替代進(jin)口環境試驗(yan)箱(xiang)
  • > 國(guo)產(chan)替代進(jin)口射(she)頻(pin)儀(yi)器
  • > 替代進(jin)口高(gao)阻(zu)表(biao)
  • > 電(dian)池測(ce)試儀(yi)器
  • > 電(dian)池絕緣(yuan)電(dian)阻替代HIOKI
  • > SMU源(yuan)表(biao)替代KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用表(biao)/信號(hao)源(yuan)替代是德
• 體積電(dian)阻率(lv)/表面電(dian)阻測(ce)試
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗(kang)分析儀(yi)
  • > 電(dian)橋LCR
• 半導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介(jie)電(dian)常數/電(dian)導(dao)率(lv)測(ce)試方(fang)案
• 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準(zhun)測(ce)試
  • > 微(wei)中(zhong)斷
• 電(dian)化(hua)學(xue)工(gong)作(zuo)站/恒(heng)電(dian)位儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池/光伏/汽車充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測(ce)試
  • > 靜電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重錘(chui)表面靜(jing)電(dian)電(dian)阻/電(dian)阻率(lv)
  • > 靜電(dian)場/靜(jing)電(dian)消(xiao)散/離(li)子平衡
  • > 離子風機/無風型(xing)靜(jing)電(dian)消(xiao)除(chu)器
  • > 手(shou)腕(wan)帶防靜(jing)電(dian)工鞋人體綜(zong)合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防靜(jing)電(dian)吹吸(xi)塵(chen)器/抽(chou)煙(yan)機
  • > EMIT工位接地(di)電(dian)阻監(jian)測(ce)儀(yi)
  • > 平(ping)板(ban)測(ce)試儀(yi)/離(li)子風機測(ce)試儀(yi)/靜(jing)電(dian)監測(ce)器
  • > 靜(jing)電(dian)電(dian)荷庫(ku)倫電(dian)量/衰(shuai)減
• 體(ti)積(ji)電(dian)阻，電(dian)阻計(ji)，記錄(lu)儀(yi)
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/高(gao)阻(zu)計(ji)
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)漏電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋/阻(zu)抗分析儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功率分析儀(yi)
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  • > 電(dian)能(neng)質量(liang)分析儀(yi)
  • > 電(dian)池測(ce)試儀(yi)
  • > 數據采(cai)集(ji)記錄(lu)儀(yi)
  • > 微(wei)電(dian)阻計(ji)/微(wei)歐(ou)姆計(ji)
• 吉(ji)時利KEITHLEY/泰克(ke)Tektronix
  • > 半導(dao)體(ti)圖示(shi)儀(yi)
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  • > 烘(hong)箱(xiang)/幹(gan)燥箱(xiang)/高(gao)溫試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)低(di)溫濕(shi)熱試驗(yan)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕試驗(yan)箱(xiang)
  • > 鹽霧腐蝕試驗(yan)箱(xiang)
  • > 步進(jin)式恒(heng)溫老(lao)化(hua)試驗(yan)室(shi)
  • > 高(gao)低(di)溫濕(shi)振(zhen)動(dong)復(fu)合試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)壓加速老(lao)化(hua)試驗(yan)箱(xiang)
  • > IP砂(sha)塵(chen)防水(shui)淋雨(yu)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 快速除(chu)濕設(she)備/除(chu)濕櫃/惰(duo)性(xing)氮(dan)氣防潮(chao)櫃
• 普源RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎(ding)陽SIGLENT
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  • > 數據采(cai)集(ji)儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功率分析儀(yi)
  • > 示(shi)波(bo)器
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  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線測(ce)試
  • > 其他虛擬(ni)示(shi)波(bo)器/協(xie)議解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹(gan)擾兼容(rong)
  • > 汽(qi)車設(she)備電(dian)源故(gu)障(zhang)模擬(ni)器
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  • > 耦合(he)去耦(ou)合
  • > 諧波(bo)和閃爍(shuo)
  • > 射頻傳(chuan)導(dao)抗(kang)擾度(du)測(ce)試系統
  • > 阻尼(ni)振(zhen)蕩(dang)磁(ci)場測(ce)試系統
  • > 振鈴(ling)波(bo)發生器
  • > 電(dian)壓跌落模(mo)擬(ni)器
  • > 電(dian)快速瞬變(bian)脈沖(chong)群(qun)發(fa)生器
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > 絕緣(yuan)電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > 安規(gui)綜(zong)合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > AC/DC交直(zhi)流(liu)耐壓測(ce)試儀(yi)
  • > 泄漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > 雷(lei)擊浪湧/EMC電(dian)磁(ci)兼容(rong)測(ce)試
  • > 接地(di)導(dao)通(tong)電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)發生(sheng)器
  • > 安規(gui)綜(zong)合(he)校(xiao)準盒(he)
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  • > 標準(zhun)光源/對色(se)燈箱(xiang)
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• 梅特勒(le)METTLER
  • > 熱機械分析儀(yi)
  • > 分析天(tian)平
• 物料輪(lun)廓(kuo)顏色(se)缺(que)料(liao)視(shi)覺篩(shai)選(xuan)
• 博勒(le)飛Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀(yi)
  • > 粘(zhan)度(du)計
  • > 質構(gou)分析儀(yi)
  • > 粉(fen)體(ti)流(liu)動測(ce)試儀(yi)
  • > 恒(heng)溫水(shui)浴(yu)
  • > 粘(zhan)度(du)標準(zhun)液/矽油標準(zhun)液
  • > 水分、固含(han)量(liang)、灰分測(ce)定(ding)儀(yi)
• 賓(bin)德BINDER試驗(yan)箱(xiang)
  • > 二(er)氧(yang)化(hua)碳(tan)CO₂培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 高(gao)低(di)溫交變(bian)氣候(hou)箱(xiang)
  • > 微(wei)生(sheng)物培養(yang)箱(xiang)
  • > 真(zhen)空幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 安全幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 幹(gan)燥箱(xiang)和(he)烘(hong)箱(xiang)
  • > 生(sheng)物生長(chang)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕箱(xiang)
  • > 超(chao)低(di)溫冰(bing)箱(xiang)
• 金相(xiang)切(qie)割/鑲(xiang)嵌(qian)/研磨拋(pao)光
  • > 冷(leng)/熱鑲(xiang)嵌(qian)機
  • > 磨拋(pao)機/研磨(mo)機
  • > 金相(xiang)耗(hao)材(cai)
  • > 電(dian)子天(tian)平/顯(xian)微(wei)鏡
• 紅(hong)外熱像(xiang)儀(yi)
• 美(mei)國(guo)BK PRECISION
  • > 信號(hao)源(yuan)等(deng)儀(yi)器
  • > 電(dian)子負載(zai)
  • > 示(shi)波(bo)器
  • > LCR電(dian)橋
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式(shi)數字(zi)萬(wan)用表(biao)
  • > I-V曲線測(ce)試系統
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/體(ti)積電(dian)阻率(lv)測(ce)試儀(yi)
  • > 光功率(lv)計(ji)/光波(bo)長計
• COSMOS氣體/鐵(tie)粉(fen)濃(nong)度(du)計
• ITECH艾德克(ke)斯/NGI恩智
  • > LED測(ce)試專(zhuan)用電(dian)子負載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > 回(hui)饋(kui)式電(dian)網模(mo)擬(ni)器交流(liu)電(dian)源
  • > 可(ke)編程(cheng)三(san)路(lu)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 雙(shuang)向電(dian)源和(he)回(hui)饋(kui)式負(fu)載(zai)
  • > 新(xin)能(neng)源汽(qi)車/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試系統
  • > 可(ke)編程(cheng)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 小(xiao)功率(lv)電(dian)子負載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源和(he)電(dian)子負載(zai)壹(yi)體(ti)的(de)機器
  • > 大(da)功(gong)率電(dian)子負載(zai)
  • > 能(neng)量回(hui)饋(kui)式直(zhi)流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > AC交流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 新(xin)能(neng)源汽(qi)車/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙(shuang)極性(xing)電(dian)源
  • > AC交流(liu)電(dian)源
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 羅(luo)德與施(shi)瓦茨R&S（惠美(mei)HAMEG）
• 同惠(hui)/長盛/安柏(bai)
  • > 半導(dao)體(ti)參(can)數分析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲器喇(la)叭(ba)電(dian)機馬(ma)達(da)測(ce)試
  • > 功率分析儀(yi)/電(dian)參(can)數測(ce)試儀(yi)
  • > 皮(pi)安表(biao)/高(gao)阻(zu)計(ji)/靜(jing)電(dian)計
  • > 直(zhi)流(liu)低電(dian)阻，微(wei)歐(ou)姆計(ji)
  • > 交流(liu)低電(dian)阻，電(dian)池測(ce)試儀(yi)
  • > 線(xian)材(cai)，線(xian)纜，線束(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 脈(mai)沖(chong)線(xian)圈(quan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)感測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)容測(ce)試儀(yi)
  • > 溫度(du)采(cai)集(ji)記錄(lu)儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋阻(zu)抗分析儀(yi)
  • > 高(gao)阻(zu)測(ce)試
  • > 安規(gui)接地(di)電(dian)阻/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安規(gui)耐壓絕緣(yuan)
• 標準(zhun)源(yuan)/計量校(xiao)準檢定(ding)設(she)備
• 晶(jing)圓、芯(xin)片(pian)、屏(ping)幕(mu)Particle
• 日置HIOKI/國(guo)產(chan)替代
• 鎖(suo)相(xiang)放(fang)大器
• 噪(zao)聲/振(zhen)動/聲學(xue)測(ce)試方(fang)案
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲器件(jian)測(ce)試設(she)備
• 長盛耐(nai)壓絕緣(yuan)電(dian)阻安規(gui)測(ce)試
  • > 200mA大電(dian)流(liu)耐壓儀(yi)
• 永(yong)磁(ci)軟磁(ci)磁(ci)通量測(ce)試
• 汽(qi)車電(dian)子標準(zhun)波(bo)形(xing)可(ke)編程(cheng)電(dian)源
• SHIMAZU島津(jin)
• 德維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率分析儀(yi)
  • > 數據采(cai)集(ji)儀(yi)記錄(lu)儀(yi)
• ARC電(dian)池絕熱量(liang)熱儀(yi)/熱安全性(xing)能(neng)