吉時(shi)利(li)keithley6220,6221電(dian)流(liu)源(yuan)技術(shu)規格參(can)數指(zhi)標(biao)datasheet

產(chan)品(pin)分類

• 氫(qing)檢儀(yi)氣(qi)密(mi)性(xing)檢漏檢(jian)測(ce)儀
• 國(guo)產(chan)源(yuan)表(biao)，替(ti)代keithley
  • > 替(ti)代進(jin)口(kou)功率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 替(ti)代進(jin)口(kou)電(dian)源
  • > 替(ti)代進(jin)口(kou)環(huan)境(jing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 國(guo)產(chan)替(ti)代進(jin)口(kou)射(she)頻儀器
  • > 替(ti)代進(jin)口(kou)高(gao)阻(zu)表(biao)
  • > 電池(chi)測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)替(ti)代HIOKI
  • > SMU源(yuan)表(biao)替(ti)代KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)/信號(hao)源(yuan)替(ti)代是德
• 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)/表(biao)面電阻(zu)測(ce)試
• 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗分析(xi)儀(yi)
  • > 電橋(qiao)LCR
• 半(ban)導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介(jie)電(dian)常數/電導(dao)率(lv)測(ce)試方(fang)案
• 大(da)眾VW80000/通(tong)用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準(zhun)測(ce)試
  • > 微(wei)中斷
• 電(dian)化學(xue)工作站(zhan)/恒(heng)電(dian)位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池(chi)/光(guang)伏(fu)/汽(qi)車充(chong)電(dian)樁測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜電測(ce)試
  • > 靜電CDM/HBM/MM
  • > 重錘表(biao)面靜電電阻(zu)/電阻(zu)率(lv)
  • > 靜電場/靜電消(xiao)散/離(li)子(zi)平(ping)衡(heng)
  • > 離(li)子(zi)風(feng)機/無風(feng)型靜電消(xiao)除器
  • > 手腕(wan)帶防(fang)靜電工鞋(xie)人體(ti)綜合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜電吹吸塵(chen)器(qi)/抽(chou)煙機
  • > EMIT工位(wei)接地電阻(zu)監測(ce)儀
  • > 平(ping)板(ban)測(ce)試儀(yi)/離(li)子(zi)風(feng)機測(ce)試儀(yi)/靜電監測(ce)器
  • > 靜電電荷庫(ku)倫電量/衰減
• 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)，電阻(zu)計，記錄儀
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/高(gao)阻(zu)計
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)漏電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)/阻(zu)抗分析(xi)儀(yi)
  • > 功率(lv)計/功率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 萬用(yong)表(biao)/多用(yong)表(biao)
  • > 電能(neng)質(zhi)量分析(xi)儀(yi)
  • > 電池測(ce)試儀(yi)
  • > 數據采(cai)集(ji)記錄儀
  • > 微(wei)電(dian)阻(zu)計/微歐姆計
• 吉時(shi)利(li)KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
  • > 半導體(ti)圖示(shi)儀
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 皮(pi)安表(biao)
  • > 數據采(cai)集(ji)/開關矩(ju)陣(zhen)
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/靜電計
  • > 源表(biao)
  • > 電源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 函(han)數信號(hao)發生(sheng)器(qi)
• 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
  • > 移(yi)動(dong)通(tong)信專用(yong)電源，帶電(dian)池(chi)仿真(zhen)
  • > 射(she)頻RF/脈沖(chong)碼型發生(sheng)器(qi)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 手持式示(shi)波(bo)表(biao)/手持式小表(biao)
  • > 函(han)數信號(hao)發生(sheng)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數據采(cai)集(ji)儀
  • > 源表(biao)/高(gao)阻(zu)表(biao)/皮(pi)安表(biao)微安計
  • > 頻率(lv)計/頻譜儀/網絡分析(xi)儀(yi)
• 愛斯佩克(ke)ESPEC環境(jing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 穩定(ding)性(xing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 小型(xing)恒(heng)溫恒(heng)濕試驗(yan)箱(xiang)
  • > 快速(su)溫度變化濕熱(re)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 溫度/結露(lu)循(xun)環試驗(yan)箱(xiang)
  • > 冷熱(re)沖擊試驗(yan)箱(xiang)
  • > 烘箱(xiang)/幹燥箱(xiang)/高(gao)溫試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫濕熱(re)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕試驗(yan)箱(xiang)
  • > 鹽(yan)霧腐蝕試驗(yan)箱(xiang)
  • > 步進(jin)式恒(heng)溫老化(hua)試驗(yan)室
  • > 高(gao)低溫濕振動(dong)復(fu)合(he)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)壓加速老化試驗(yan)箱(xiang)
  • > IP砂塵(chen)防水淋雨試驗(yan)箱(xiang)
  • > 快速(su)除濕設備/除濕櫃/惰(duo)性(xing)氮氣(qi)防潮櫃
• 普(pu)源RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎陽(yang)SIGLENT
  • > 手持式示(shi)波(bo)表(biao)
  • > 射(she)頻微波(bo)網絡分析(xi)儀(yi)
  • > 可編程直流(liu)電(dian)子(zi)負載
  • > 射(she)頻信號(hao)源(yuan)
  • > 數據采(cai)集(ji)儀
  • > 功率(lv)計/功率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 直流(liu)穩壓電(dian)源
  • > 頻譜分析(xi)儀(yi)
  • > 函(han)數信號(hao)發生(sheng)器(qi)
• Chroma致(zhi)茂/EEC華儀EXTECH
  • > 電(dian)源自動(dong)測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 光(guang)照度/亮色度測(ce)試
  • > 電(dian)參(can)數測(ce)量功率(lv)計
  • > LCR電橋(qiao)
  • > 其(qi)他測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)/泄(xie)漏電(dian)流(liu)/接(jie)地
  • > 電子(zi)負載
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)
• 邏輯分析(xi)儀(yi)/總線(xian)協(xie)議測(ce)試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議分析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻總線(xian)協(xie)議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線(xian)協(xie)議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線(xian)測(ce)試
  • > 其(qi)他虛擬示(shi)波(bo)器(qi)/協(xie)議解(jie)碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)兼容
  • > 汽(qi)車設(she)備電源故(gu)障模擬器(qi)
  • > 拋負載
  • > 電纜束(shu)註(zhu)入(ru)敏感度測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 寬帶功率(lv)放(fang)大(da)器(qi)
  • > 汽(qi)車電(dian)子(zi)電磁(ci)兼容EMC/波(bo)形(xing)
  • > 耦合(he)去(qu)耦合(he)
  • > 諧(xie)波(bo)和(he)閃(shan)爍(shuo)
  • > 射(she)頻傳導抗擾(rao)度測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 阻(zu)尼振蕩磁(ci)場測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 振鈴波(bo)發生(sheng)器(qi)
  • > 電(dian)壓跌落(luo)模擬器(qi)
  • > 電快速(su)瞬(shun)變脈沖(chong)群(qun)發生(sheng)器(qi)
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > 絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > 安規綜(zong)合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直流(liu)耐(nai)壓測(ce)試儀(yi)
  • > 泄(xie)漏電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > 雷(lei)擊(ji)浪(lang)湧(yong)/EMC電(dian)磁(ci)兼容測(ce)試
  • > 接(jie)地導通電(dian)阻(zu)測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜電放(fang)電(dian)發生(sheng)器(qi)
  • > 安規綜(zong)合(he)校(xiao)準盒(he)
• 愛色(se)麗(li)X-Rite/電色NIPPON
  • > 標(biao)準(zhun)光(guang)源/對(dui)色(se)燈(deng)箱(xiang)
  • > 色差(cha)儀(yi)/測(ce)色儀(yi)/分光(guang)光(guang)度計
• 梅(mei)特(te)勒METTLER
  • > 熱(re)機械分析(xi)儀(yi)
  • > 分析(xi)天(tian)平(ping)
• 物料輪廓(kuo)顏色(se)缺料(liao)視(shi)覺篩選
• 博(bo)勒飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀(yi)
  • > 粘(zhan)度計
  • > 質構分析(xi)儀(yi)
  • > 粉體(ti)流(liu)動(dong)測(ce)試儀(yi)
  • > 恒(heng)溫水浴(yu)
  • > 粘度標(biao)準(zhun)液(ye)/矽油(you)標(biao)準(zhun)液(ye)
  • > 水分、固含(han)量、灰(hui)分測(ce)定(ding)儀(yi)
• 賓德BINDER試驗(yan)箱(xiang)
  • > 二(er)氧(yang)化碳(tan)CO₂培養(yang)箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫交(jiao)變氣(qi)候箱(xiang)
  • > 微生(sheng)物培養(yang)箱(xiang)
  • > 真(zhen)空幹燥箱(xiang)
  • > 安全幹燥箱(xiang)
  • > 幹燥箱(xiang)和(he)烘箱(xiang)
  • > 生物(wu)生長(chang)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕箱(xiang)
  • > 超(chao)低溫冰(bing)箱(xiang)
• 金相切(qie)割(ge)/鑲(xiang)嵌(qian)/研(yan)磨拋光(guang)
  • > 冷/熱(re)鑲(xiang)嵌(qian)機
  • > 磨拋機/研磨機
  • > 金相耗(hao)材(cai)
  • > 電(dian)子(zi)天(tian)平(ping)/顯微鏡
• 紅外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
• 美國(guo)BK PRECISION
  • > 信號(hao)源(yuan)等(deng)儀器(qi)
  • > 電子(zi)負載
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 電源(yuan)
• ADCMT愛德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺式數字萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > I-V曲線測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源(yuan)
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)
  • > 光(guang)功率(lv)計/光(guang)波(bo)長(chang)計
• COSMOS氣(qi)體(ti)/鐵粉(fen)濃(nong)度計
• ITECH艾(ai)德克(ke)斯/NGI恩(en)智
  • > LED測(ce)試專用(yong)電子(zi)負載
  • > 直流(liu)電(dian)子(zi)負載
  • > 回饋(kui)式電(dian)網模擬器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 可(ke)編(bian)程(cheng)三(san)路直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 雙向電源(yuan)和(he)回(hui)饋(kui)式負載
  • > 新能(neng)源(yuan)汽(qi)車/電(dian)池(chi)/充(chong)電樁測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 可編(bian)程直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 小功率(lv)電(dian)子(zi)負載
  • > 大(da)功率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)和(he)電(dian)子(zi)負載壹體(ti)的(de)機器
  • > 大(da)功率(lv)電(dian)子(zi)負載
  • > 能(neng)量回饋式直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負載
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)子(zi)負載
  • > 大(da)功率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 新(xin)能(neng)源(yuan)汽(qi)車/電(dian)池(chi)/充(chong)電樁
  • > 雙極性(xing)電源(yuan)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• 羅(luo)德與施(shi)瓦(wa)茨R&S（惠(hui)美HAMEG）
• 同惠/長盛(sheng)/安柏
  • > 半導體(ti)參數分析(xi)儀(yi)
  • > 揚(yang)聲(sheng)器(qi)喇(la)叭(ba)電(dian)機馬(ma)達(da)測(ce)試
  • > 功率(lv)分析(xi)儀(yi)/電參數測(ce)試儀(yi)
  • > 皮(pi)安表(biao)/高(gao)阻(zu)計/靜電計
  • > 直流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，微歐姆計
  • > 交(jiao)流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，電池測(ce)試儀(yi)
  • > 線(xian)材(cai)，線(xian)纜，線(xian)束(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 脈沖(chong)線(xian)圈(quan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)感(gan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)容測(ce)試儀(yi)
  • > 溫度采(cai)集(ji)記錄儀
  • > LCR電(dian)橋(qiao)阻(zu)抗分析(xi)儀(yi)
  • > 高(gao)阻(zu)測(ce)試
  • > 安規接(jie)地電阻(zu)/漏電(dian)流(liu)
  • > 安規耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)
• 標(biao)準(zhun)源(yuan)/計量校(xiao)準檢(jian)定(ding)設(she)備
• 晶圓(yuan)、芯(xin)片、屏(ping)幕Particle
• 日置HIOKI/國(guo)產(chan)替(ti)代
• 鎖相放(fang)大(da)器(qi)
• 噪(zao)聲(sheng)/振動(dong)/聲(sheng)學(xue)測(ce)試方(fang)案
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲(sheng)器(qi)件(jian)測(ce)試設(she)備
• 長(chang)盛(sheng)耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)安規測(ce)試
  • > 200mA大(da)電(dian)流(liu)耐(nai)壓儀(yi)
• 永磁(ci)軟磁(ci)磁(ci)通(tong)量測(ce)試
• 汽(qi)車電(dian)子(zi)標(biao)準(zhun)波(bo)形(xing)可編(bian)程(cheng)電(dian)源(yuan)
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德維(wei)創DEWETRON
  • > 功率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 數據采(cai)集(ji)儀記錄儀(yi)
• ARC電(dian)池(chi)絕(jue)熱(re)量熱(re)儀/熱(re)安全性(xing)能(neng)