美(mei)國吉時利(li)KEITHLEY2000萬(wan)用(yong)表(biao)選型(xing)指(zhi)南(nan)

產品(pin)分(fen)類(lei)

• 氫檢儀(yi)氣密(mi)性檢(jian)漏(lou)檢測(ce)儀(yi)
• 國產源表(biao)，替代keithley
  • > 替代進(jin)口功率分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 替代進(jin)口電(dian)源
  • > 替代進(jin)口環境(jing)試驗箱
  • > 國產替代進(jin)口射(she)頻儀(yi)器(qi)
  • > 替代進(jin)口高阻表(biao)
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池(chi)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻替代HIOKI
  • > SMU源表(biao)替代KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)/信(xin)號源替代是德(de)
• 體積電(dian)阻率(lv)/表(biao)面電(dian)阻測(ce)試
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)橋(qiao)LCR
• 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介電(dian)常數(shu)/電(dian)導率(lv)測(ce)試方案
• 大(da)眾VW80000/通(tong)用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準測(ce)試
  • > 微中斷(duan)
• 電(dian)化學工(gong)作(zuo)站/恒(heng)電(dian)位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池(chi)/光(guang)伏(fu)/汽(qi)車(che)充(chong)電(dian)樁測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測(ce)試
  • > 靜電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘(chui)表(biao)面靜電(dian)電(dian)阻/電(dian)阻率(lv)
  • > 靜電(dian)場/靜電(dian)消散(san)/離子(zi)平(ping)衡(heng)
  • > 離子(zi)風機(ji)/無風型靜電(dian)消除(chu)器(qi)
  • > 手腕(wan)帶防(fang)靜電(dian)工鞋(xie)人(ren)體綜(zong)合測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜電(dian)吹吸(xi)塵器(qi)/抽(chou)煙(yan)機(ji)
  • > EMIT工位(wei)接(jie)地(di)電(dian)阻監(jian)測(ce)儀(yi)
  • > 平(ping)板(ban)測(ce)試儀(yi)/離子(zi)風機(ji)測(ce)試儀(yi)/靜電(dian)監測(ce)器(qi)
  • > 靜電(dian)電(dian)荷(he)庫(ku)倫電(dian)量/衰減(jian)
• 體積(ji)電(dian)阻，電(dian)阻計(ji)，記錄儀(yi)
  • > 高阻(zu)表(biao)/高(gao)阻計(ji)
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)漏(lou)電(dian)流測(ce)試儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)/阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 功率計(ji)/功率分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)/多(duo)用表(biao)
  • > 電(dian)能(neng)質(zhi)量分析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試儀(yi)
  • > 數據采(cai)集記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > 微電(dian)阻計(ji)/微歐姆(mu)計(ji)
• 吉時利(li)KEITHLEY/泰克(ke)Tektronix
  • > 半導(dao)體圖示(shi)儀(yi)
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 皮安表(biao)
  • > 數(shu)據采(cai)集/開(kai)關矩(ju)陣
  • > 高(gao)阻表(biao)/靜電(dian)計(ji)
  • > 源表(biao)
  • > 電(dian)源
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 函數信(xin)號發(fa)生器(qi)
• 安捷(jie)倫Agilent/是德(de)KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通(tong)信(xin)專用電(dian)源，帶電(dian)池(chi)仿(fang)真(zhen)
  • > 射(she)頻RF/脈(mai)沖(chong)碼型發(fa)生器(qi)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/交流電(dian)源
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > 手持式示(shi)波(bo)表(biao)/手(shou)持式小表(biao)
  • > 函數信(xin)號發(fa)生器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數(shu)據采(cai)集儀(yi)
  • > 源表(biao)/高(gao)阻表(biao)/皮(pi)安表(biao)微(wei)安計(ji)
  • > 頻率計(ji)/頻譜儀(yi)/網(wang)絡(luo)分析儀(yi)
• 愛斯佩(pei)克ESPEC環(huan)境(jing)試驗箱
  • > 穩(wen)定性試驗箱
  • > 小型恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗箱
  • > 快(kuai)速溫(wen)度變(bian)化濕熱試驗箱
  • > 溫(wen)度/結(jie)露循(xun)環試驗箱
  • > 冷(leng)熱沖(chong)擊試驗箱
  • > 烘箱(xiang)/幹燥箱(xiang)/高(gao)溫(wen)試驗箱
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)濕熱試驗箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗箱
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐(fu)蝕試驗箱
  • > 步(bu)進(jin)式恒(heng)溫(wen)老(lao)化試驗室
  • > 高低(di)溫(wen)濕振動復合試驗箱
  • > 高(gao)壓加(jia)速老(lao)化試驗箱
  • > IP砂(sha)塵防(fang)水淋雨(yu)試驗箱
  • > 快(kuai)速除濕設備/除濕櫃/惰性(xing)氮(dan)氣防(fang)潮(chao)櫃(gui)
• 普(pu)源RIGOL/致(zhi)遠(yuan)ZLG/鼎陽SIGLENT
  • > 手(shou)持式示(shi)波(bo)表(biao)
  • > 射(she)頻微波(bo)網(wang)絡(luo)分析儀(yi)
  • > 可編(bian)程(cheng)直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 射(she)頻信(xin)號源
  • > 數據采(cai)集儀(yi)
  • > 功率計(ji)/功率分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 直(zhi)流(liu)穩壓電(dian)源
  • > 頻譜(pu)分析儀(yi)
  • > 函數信(xin)號發(fa)生器(qi)
• Chroma致(zhi)茂(mao)/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
  • > 電(dian)源自(zi)動測(ce)試系統
  • > 光(guang)照度/亮(liang)色(se)度測(ce)試
  • > 電(dian)參(can)數(shu)測(ce)量功率計(ji)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 其(qi)他測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 交流電(dian)源
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)/泄(xie)漏(lou)電(dian)流/接(jie)地
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 邏(luo)輯(ji)分析儀(yi)/總線(xian)協議測(ce)試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議分析
  • > DP AUX，Soundwire音頻(pin)總(zong)線(xian)協議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線(xian)協議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線(xian)測(ce)試
  • > 其(qi)他虛(xu)擬示(shi)波(bo)器(qi)/協議解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹擾(rao)兼容
  • > 汽車設備電(dian)源故障模(mo)擬器(qi)
  • > 拋負(fu)載
  • > 電(dian)纜(lan)束註(zhu)入敏(min)感(gan)度測(ce)試系統
  • > 寬(kuan)帶功率放大(da)器(qi)
  • > 汽車(che)電(dian)子(zi)電(dian)磁兼容EMC/波(bo)形(xing)
  • > 耦合去耦合
  • > 諧波(bo)和(he)閃(shan)爍(shuo)
  • > 射(she)頻傳導抗(kang)擾度測(ce)試系統
  • > 阻(zu)尼振蕩(dang)磁場測(ce)試系統
  • > 振(zhen)鈴波(bo)發(fa)生器(qi)
  • > 電(dian)壓跌(die)落(luo)模(mo)擬器(qi)
  • > 電(dian)快(kuai)速瞬(shun)變脈(mai)沖(chong)群發(fa)生器(qi)
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > 絕緣(yuan)電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > 安規綜(zong)合測(ce)試儀(yi)
  • > AC/DC交直(zhi)流(liu)耐(nai)壓測(ce)試儀(yi)
  • > 泄(xie)漏(lou)電(dian)流測(ce)試儀(yi)
  • > 雷擊浪(lang)湧/EMC電(dian)磁兼容測(ce)試
  • > 接地導(dao)通(tong)電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜電(dian)放電(dian)發(fa)生器(qi)
  • > 安規綜(zong)合校準盒
• 愛色(se)麗(li)X-Rite/電(dian)色(se)NIPPON
  • > 標(biao)準光(guang)源/對色(se)燈箱
  • > 色(se)差(cha)儀(yi)/測(ce)色(se)儀(yi)/分光(guang)光(guang)度計(ji)
• 梅(mei)特(te)勒METTLER
  • > 熱機(ji)械分(fen)析儀(yi)
  • > 分析(xi)天平(ping)
• 物(wu)料(liao)輪(lun)廓(kuo)顏(yan)色(se)缺料(liao)視覺篩選
• 博勒飛Brookfield
  • > 流變(bian)儀(yi)
  • > 粘度計(ji)
  • > 質(zhi)構分(fen)析儀(yi)
  • > 粉體(ti)流動(dong)測(ce)試儀(yi)
  • > 恒(heng)溫(wen)水浴
  • > 粘度標(biao)準液/矽(gui)油標(biao)準液
  • > 水分、固含量、灰分(fen)測(ce)定儀(yi)
• 賓德(de)BINDER試驗箱
  • > 二(er)氧(yang)化碳CO₂培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 高低(di)溫(wen)交變氣(qi)候(hou)箱
  • > 微(wei)生物(wu)培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 真(zhen)空幹燥箱(xiang)
  • > 安全(quan)幹燥箱(xiang)
  • > 幹燥箱(xiang)和(he)烘箱(xiang)
  • > 生物(wu)生長(chang)箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱
  • > 超(chao)低(di)溫(wen)冰箱(xiang)
• 金相(xiang)切割/鑲(xiang)嵌/研(yan)磨拋(pao)光(guang)
  • > 冷/熱(re)鑲嵌機(ji)
  • > 磨拋(pao)機(ji)/研(yan)磨機(ji)
  • > 金相(xiang)耗材
  • > 電(dian)子(zi)天平(ping)/顯微(wei)鏡(jing)
• 紅外(wai)熱像(xiang)儀(yi)
• 美國BK PRECISION
  • > 信(xin)號源等儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛德(de)萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺式數(shu)字(zi)萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > I-V曲(qu)線(xian)測(ce)試系統
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/恒(heng)流(liu)電(dian)流源
  • > 高阻(zu)表(biao)/體(ti)積電(dian)阻率(lv)測(ce)試儀(yi)
  • > 光(guang)功率計(ji)/光(guang)波(bo)長(chang)計(ji)
• COSMOS氣體/鐵粉濃(nong)度計(ji)
• ITECH艾德(de)克斯/NGI恩(en)智
  • > LED測(ce)試專用電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 回(hui)饋式電(dian)網(wang)模擬器(qi)交流電(dian)源
  • > 可編(bian)程(cheng)三(san)路(lu)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 雙向電(dian)源和回(hui)饋式負(fu)載
  • > 新能(neng)源汽車(che)/電(dian)池(chi)/充(chong)電(dian)樁測(ce)試系統
  • > 可(ke)編(bian)程(cheng)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 小功率電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 大(da)功率直(zhi)流(liu)電(dian)源和電(dian)子(zi)負(fu)載壹體(ti)的機(ji)器(qi)
  • > 大(da)功率電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 能(neng)量回(hui)饋式直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > AC交流電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 大(da)功率直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 新能(neng)源汽車(che)/電(dian)池(chi)/充(chong)電(dian)樁
  • > 雙極性(xing)電(dian)源
  • > AC交流電(dian)源
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 羅(luo)德(de)與施(shi)瓦(wa)茨(ci)R&S（惠美HAMEG）
• 同惠/長(chang)盛/安柏(bai)
  • > 半(ban)導體參(can)數(shu)分析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲器(qi)喇叭電(dian)機(ji)馬(ma)達(da)測(ce)試
  • > 功率分(fen)析(xi)儀(yi)/電(dian)參(can)數(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 皮安表(biao)/高(gao)阻計(ji)/靜電(dian)計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低(di)電(dian)阻，微(wei)歐姆(mu)計(ji)
  • > 交流低(di)電(dian)阻，電(dian)池(chi)測(ce)試儀(yi)
  • > 線(xian)材，線(xian)纜(lan)，線(xian)束測(ce)試儀(yi)
  • > 脈(mai)沖(chong)線(xian)圈測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)感測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)容測(ce)試儀(yi)
  • > 溫(wen)度采(cai)集記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 高阻(zu)測(ce)試
  • > 安規接地(di)電(dian)阻/漏(lou)電(dian)流
  • > 安規耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)
• 標準源/計(ji)量校準檢定設備
• 晶(jing)圓(yuan)、芯片、屏幕(mu)Particle
• 日(ri)置HIOKI/國產替代
• 鎖(suo)相放大(da)器(qi)
• 噪(zao)聲/振(zhen)動(dong)/聲學測(ce)試方案
• 日(ri)本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲器(qi)件測(ce)試設備
• 長(chang)盛耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻安規測(ce)試
  • > 200mA大(da)電(dian)流耐(nai)壓儀(yi)
• 永(yong)磁軟磁磁通(tong)量測(ce)試
• 汽車(che)電(dian)子(zi)標準波(bo)形(xing)可編(bian)程(cheng)電(dian)源
• SHIMAZU島(dao)津
• 德(de)維創DEWETRON
  • > 功率分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 數據采(cai)集儀(yi)記錄(lu)儀(yi)
• ARC電(dian)池(chi)絕(jue)熱(re)量熱儀(yi)/熱安全(quan)性能(neng)