吉時利KEITHLEY2600系列(lie)源(yuan)表(biao)中(zhong)文(wen)技術規(gui)格(ge)指標參(can)數(shu)

產(chan)品(pin)分類

• 氫(qing)檢儀氣密性(xing)檢(jian)漏檢(jian)測(ce)儀
• 國產源表(biao)，替(ti)代(dai)keithley
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口功(gong)率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口電(dian)源
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口環(huan)境(jing)試驗箱
  • > 國產(chan)替(ti)代(dai)進(jin)口射(she)頻(pin)儀(yi)器(qi)
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口高(gao)阻(zu)表(biao)
  • > 電(dian)池測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池絕(jue)緣電(dian)阻替(ti)代(dai)HIOKI
  • > SMU源表(biao)替(ti)代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬用表(biao)/信號(hao)源替(ti)代(dai)是德
• 體(ti)積電(dian)阻率(lv)/表(biao)面(mian)電(dian)阻測(ce)試
• 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗分析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)橋LCR
• 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介電(dian)常(chang)數(shu)/電(dian)導率測(ce)試方案
• 大(da)眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測(ce)試
  • > 微中(zhong)斷(duan)
• 電(dian)化學(xue)工作站/恒電(dian)位儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池/光伏/汽(qi)車(che)充(chong)電(dian)樁測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測(ce)試
  • > 靜(jing)電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重錘(chui)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)電(dian)阻/電(dian)阻率(lv)
  • > 靜(jing)電(dian)場(chang)/靜(jing)電(dian)消(xiao)散(san)/離(li)子平衡
  • > 離(li)子風(feng)機/無風(feng)型靜(jing)電(dian)消(xiao)除(chu)器(qi)
  • > 手(shou)腕帶防靜(jing)電(dian)工鞋(xie)人(ren)體(ti)綜合測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防靜(jing)電(dian)吹吸(xi)塵(chen)器(qi)/抽(chou)煙(yan)機
  • > EMIT工位接地(di)電(dian)阻監測(ce)儀
  • > 平(ping)板測(ce)試儀(yi)/離(li)子風(feng)機測(ce)試儀(yi)/靜(jing)電(dian)監測(ce)器(qi)
  • > 靜(jing)電(dian)電(dian)荷庫(ku)倫(lun)電(dian)量/衰(shuai)減
• 體(ti)積電(dian)阻，電(dian)阻計(ji)，記錄(lu)儀(yi)
  • > 高阻表(biao)/高阻計(ji)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣漏電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋/阻(zu)抗分析(xi)儀(yi)
  • > 功率(lv)計(ji)/功率(lv)分(fen)析(xi)儀
  • > 萬用(yong)表(biao)/多用表(biao)
  • > 電(dian)能質量分析(xi)儀
  • > 電(dian)池測(ce)試儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集記錄(lu)儀(yi)
  • > 微電(dian)阻計(ji)/微歐姆計(ji)
• 吉(ji)時利KEITHLEY/泰克(ke)Tektronix
  • > 半導體(ti)圖示儀(yi)
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > 皮(pi)安表(biao)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集/開關矩陣(zhen)
  • > 高(gao)阻表(biao)/靜(jing)電(dian)計(ji)
  • > 源表(biao)
  • > 電(dian)源
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 函數(shu)信號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
• 安捷(jie)倫(lun)Agilent/是德KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通信專(zhuan)用電(dian)源，帶(dai)電(dian)池仿真
  • > 射(she)頻(pin)RF/脈沖碼型發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 示波器(qi)
  • > 手(shou)持(chi)式示波(bo)表(biao)/手(shou)持(chi)式小表(biao)
  • > 函數(shu)信號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀(yi)
  • > 源表(biao)/高阻表(biao)/皮(pi)安表(biao)微安計(ji)
  • > 頻(pin)率(lv)計(ji)/頻(pin)譜(pu)儀(yi)/網絡(luo)分(fen)析(xi)儀
• 愛斯(si)佩(pei)克ESPEC環(huan)境(jing)試驗箱
  • > 穩定(ding)性(xing)試驗箱
  • > 小型恒溫恒濕(shi)試驗箱
  • > 快速溫度變(bian)化濕(shi)熱(re)試驗箱
  • > 溫度/結(jie)露(lu)循(xun)環(huan)試(shi)驗箱
  • > 冷熱(re)沖(chong)擊試驗箱
  • > 烘箱/幹燥(zao)箱/高溫試驗箱
  • > 高低(di)溫濕熱(re)試驗箱
  • > 恒溫恒濕(shi)試驗箱
  • > 鹽霧(wu)腐蝕試驗箱
  • > 步進(jin)式恒(heng)溫老化試(shi)驗室(shi)
  • > 高低(di)溫濕振(zhen)動復合試(shi)驗箱
  • > 高壓(ya)加(jia)速老化試(shi)驗箱
  • > IP砂(sha)塵(chen)防水淋雨(yu)試(shi)驗箱
  • > 快速除(chu)濕設備/除(chu)濕櫃(gui)/惰(duo)性(xing)氮氣防潮(chao)櫃
• 普(pu)源(yuan)RIGOL/致遠ZLG/鼎陽(yang)SIGLENT
  • > 手(shou)持(chi)式示波(bo)表(biao)
  • > 射頻(pin)微波網絡(luo)分(fen)析(xi)儀
  • > 可(ke)編程直(zhi)流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > 射頻(pin)信(xin)號(hao)源
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀(yi)
  • > 功率(lv)計(ji)/功率(lv)分(fen)析(xi)儀
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 直(zhi)流(liu)穩(wen)壓(ya)電(dian)源
  • > 頻(pin)譜(pu)分(fen)析儀(yi)
  • > 函數(shu)信號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
• Chroma致茂/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
  • > 電(dian)源自(zi)動測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 光(guang)照(zhao)度/亮色度測(ce)試
  • > 電(dian)參(can)數(shu)測(ce)量功(gong)率計(ji)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 其(qi)他(ta)測(ce)試儀(yi)器(qi)
  • > 交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣/泄漏電(dian)流(liu)/接(jie)地
  • > 電(dian)子負載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 邏(luo)輯分析儀/總(zong)線(xian)協議(yi)測(ce)試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議(yi)分(fen)析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音頻(pin)總(zong)線(xian)協議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線(xian)協議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線(xian)測(ce)試
  • > 其(qi)他(ta)虛擬示波器(qi)/協議(yi)解(jie)碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹(gan)擾兼容(rong)
  • > 汽(qi)車(che)設備電(dian)源故(gu)障(zhang)模擬器(qi)
  • > 拋(pao)負載(zai)
  • > 電(dian)纜束(shu)註入(ru)敏感(gan)度測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 寬(kuan)帶(dai)功率放大(da)器(qi)
  • > 汽(qi)車(che)電(dian)子電(dian)磁兼(jian)容(rong)EMC/波形(xing)
  • > 耦合去(qu)耦(ou)合
  • > 諧(xie)波(bo)和(he)閃(shan)爍
  • > 射(she)頻(pin)傳(chuan)導抗擾度(du)測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 阻(zu)尼(ni)振(zhen)蕩磁場(chang)測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 振(zhen)鈴波(bo)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 電(dian)壓(ya)跌(die)落(luo)模擬器(qi)
  • > 電(dian)快速瞬(shun)變(bian)脈沖群發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > 絕(jue)緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > 安規(gui)綜合測(ce)試儀(yi)
  • > AC/DC交直(zhi)流(liu)耐(nai)壓(ya)測(ce)試儀(yi)
  • > 泄漏電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > 雷擊(ji)浪(lang)湧/EMC電(dian)磁兼(jian)容(rong)測(ce)試
  • > 接(jie)地導通電(dian)阻測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電(dian)放電(dian)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 安規(gui)綜合校(xiao)準盒(he)
• 愛(ai)色麗(li)X-Rite/電(dian)色NIPPON
  • > 標準光(guang)源/對(dui)色燈(deng)箱
  • > 色差(cha)儀/測(ce)色儀(yi)/分光光度計(ji)
• 梅(mei)特勒METTLER
  • > 熱機(ji)械(xie)分(fen)析儀
  • > 分析(xi)天平
• 物料輪(lun)廓顏色(se)缺料視(shi)覺(jiao)篩(shai)選(xuan)
• 博(bo)勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀
  • > 粘(zhan)度(du)計(ji)
  • > 質構(gou)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 粉體(ti)流(liu)動測(ce)試儀(yi)
  • > 恒溫水浴(yu)
  • > 粘(zhan)度標準液(ye)/矽油(you)標準液(ye)
  • > 水分、固含量(liang)、灰(hui)分測(ce)定儀(yi)
• 賓德BINDER試(shi)驗箱
  • > 二氧(yang)化碳(tan)CO₂培養(yang)箱
  • > 高低(di)溫交變(bian)氣候箱
  • > 微生物培養(yang)箱
  • > 真空(kong)幹燥(zao)箱
  • > 安全幹燥(zao)箱
  • > 幹燥(zao)箱和烘箱
  • > 生物(wu)生(sheng)長箱
  • > 恒溫恒濕(shi)箱
  • > 超低(di)溫冰箱
• 金相切割/鑲(xiang)嵌(qian)/研磨拋(pao)光(guang)
  • > 冷(leng)/熱(re)鑲(xiang)嵌(qian)機
  • > 磨拋(pao)機(ji)/研(yan)磨機(ji)
  • > 金相耗材
  • > 電(dian)子天平/顯微鏡
• 紅外熱(re)像(xiang)儀(yi)
• 美國BK PRECISION
  • > 信號(hao)源等(deng)儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子負載(zai)
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛(ai)德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式數(shu)字萬(wan)用表(biao)
  • > I-V曲線(xian)測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源(yuan)
  • > 高阻(zu)表(biao)/體(ti)積電(dian)阻率(lv)測(ce)試儀(yi)
  • > 光功率計(ji)/光波(bo)長(chang)計(ji)
• COSMOS氣體(ti)/鐵粉濃(nong)度計(ji)
• ITECH艾德克(ke)斯(si)/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試專(zhuan)用電(dian)子負載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > 回饋(kui)式電(dian)網模擬器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 可(ke)編程三(san)路(lu)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 雙(shuang)向電(dian)源和(he)回饋(kui)式負載(zai)
  • > 新能源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池/充電(dian)樁測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 可(ke)編程直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 小功(gong)率電(dian)子負載(zai)
  • > 大功(gong)率直(zhi)流(liu)電(dian)源和(he)電(dian)子負載(zai)壹體(ti)的機器(qi)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)電(dian)子負載(zai)
  • > 能量(liang)回饋(kui)式(shi)直(zhi)流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > AC交流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > 大功(gong)率直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 新(xin)能源(yuan)汽(qi)車(che)/電(dian)池/充電(dian)樁
  • > 雙(shuang)極性(xing)電(dian)源
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 羅德與施(shi)瓦茨R&S（惠美HAMEG）
• 同(tong)惠/長(chang)盛(sheng)/安柏
  • > 半導體(ti)參(can)數(shu)分析(xi)儀
  • > 揚(yang)聲器(qi)喇(la)叭電(dian)機馬(ma)達測(ce)試
  • > 功(gong)率分析儀/電(dian)參(can)數(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 皮(pi)安表(biao)/高阻計(ji)/靜(jing)電(dian)計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低(di)電(dian)阻，微歐姆計(ji)
  • > 交流(liu)低(di)電(dian)阻，電(dian)池測(ce)試儀(yi)
  • > 線(xian)材，線(xian)纜(lan)，線(xian)束(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 脈沖線(xian)圈(quan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)感(gan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)容(rong)測(ce)試儀(yi)
  • > 溫度采(cai)集記錄(lu)儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋阻(zu)抗分析(xi)儀(yi)
  • > 高阻(zu)測(ce)試
  • > 安規(gui)接(jie)地電(dian)阻/漏電(dian)流(liu)
  • > 安規(gui)耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣
• 標準源(yuan)/計(ji)量校(xiao)準檢(jian)定設備
• 晶(jing)圓、芯片、屏(ping)幕(mu)Particle
• 日(ri)置(zhi)HIOKI/國(guo)產(chan)替(ti)代(dai)
• 鎖相放大(da)器(qi)
• 噪聲/振(zhen)動/聲學(xue)測(ce)試方案
• 日(ri)本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲器(qi)件測(ce)試設備
• 長(chang)盛耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻安規(gui)測(ce)試
  • > 200mA大(da)電(dian)流(liu)耐(nai)壓(ya)儀(yi)
• 永(yong)磁軟(ruan)磁磁通量測(ce)試
• 汽(qi)車(che)電(dian)子標準波(bo)形(xing)可編程電(dian)源
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德維(wei)創DEWETRON
  • > 功率(lv)分(fen)析儀
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀(yi)記錄(lu)儀(yi)
• ARC電(dian)池絕(jue)熱量(liang)熱儀/熱安全性能