愛德(de)萬(wan)ADCMT7351萬(wan)用表說明(ming)書(shu)技(ji)術(shu)規(gui)格(ge)參(can)數(shu)指(zhi)標(biao)

產品分(fen)類(lei)

• 氫(qing)檢儀(yi)氣密性(xing)檢漏檢測(ce)儀
• 國(guo)產源表，替代(dai)keithley
  • > 替(ti)代進口(kou)功率(lv)分(fen)析(xi)儀
  • > 替代進(jin)口(kou)電源
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)環境試驗箱
  • > 國(guo)產替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)射頻儀器
  • > 替(ti)代進(jin)口(kou)高阻(zu)表
  • > 電池測(ce)試儀器
  • > 電(dian)池絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)替(ti)代(dai)HIOKI
  • > SMU源表替代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用表/信號源替(ti)代(dai)是(shi)德
• 體積電阻(zu)率(lv)/表面(mian)電(dian)阻(zu)測(ce)試
• 穩(wen)科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀
  • > 電橋(qiao)LCR
• 半(ban)導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介電(dian)常數(shu)/電(dian)導(dao)率(lv)測(ce)試方案
• 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測(ce)試
  • > 微中斷(duan)
• 電化(hua)學工作(zuo)站/恒(heng)電位(wei)儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電池/光(guang)伏(fu)/汽(qi)車(che)充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜電測(ce)試
  • > 靜電CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘(chui)表面(mian)靜(jing)電(dian)電阻(zu)/電(dian)阻(zu)率(lv)
  • > 靜(jing)電(dian)場(chang)/靜(jing)電(dian)消(xiao)散/離子(zi)平(ping)衡
  • > 離子(zi)風(feng)機/無風(feng)型靜(jing)電(dian)消(xiao)除器
  • > 手(shou)腕(wan)帶防靜電(dian)工鞋(xie)人(ren)體(ti)綜(zong)合(he)測(ce)試儀
  • > MENDA防靜電(dian)吹吸塵(chen)器/抽煙(yan)機
  • > EMIT工位(wei)接(jie)地電(dian)阻(zu)監測(ce)儀
  • > 平(ping)板測(ce)試儀/離子(zi)風(feng)機測(ce)試儀/靜電監測(ce)器
  • > 靜(jing)電電(dian)荷庫(ku)倫電量(liang)/衰減
• 體積電阻(zu)，電(dian)阻(zu)計，記(ji)錄(lu)儀
  • > 高阻(zu)表/高阻(zu)計
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  • > LCR電橋(qiao)/阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀
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  • > I²C、I²S、SPI總線協議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線測(ce)試
  • > 其他虛擬(ni)示(shi)波(bo)器/協議解(jie)碼(ma)
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  • > 拋(pao)負(fu)載
  • > 電(dian)纜束註入(ru)敏感度(du)測(ce)試系統
  • > 寬帶功率(lv)放(fang)大(da)器
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  • > 耦合(he)去(qu)耦合
  • > 諧(xie)波(bo)和閃(shan)爍(shuo)
  • > 射頻傳(chuan)導(dao)抗(kang)擾度(du)測(ce)試系統
  • > 阻(zu)尼振(zhen)蕩(dang)磁(ci)場(chang)測(ce)試系統
  • > 振(zhen)鈴波發(fa)生器
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  • > 耐(nai)壓(ya)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀
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  • > 接(jie)地導(dao)通電阻(zu)測(ce)試儀
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  • > 安(an)規綜(zong)合(he)校(xiao)準盒
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• 梅特勒(le)METTLER
  • > 熱機械(xie)分(fen)析(xi)儀
  • > 分(fen)析(xi)天平
• 物(wu)料(liao)輪(lun)廓(kuo)顏色(se)缺料(liao)視(shi)覺篩(shai)選
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  • > 流變(bian)儀(yi)
  • > 粘(zhan)度計
  • > 質(zhi)構(gou)分(fen)析(xi)儀
  • > 粉(fen)體(ti)流動(dong)測(ce)試儀
  • > 恒(heng)溫水浴
  • > 粘(zhan)度標(biao)準液/矽油標(biao)準液
  • > 水分(fen)、固(gu)含量(liang)、灰分(fen)測(ce)定儀(yi)
• 賓德(de)BINDER試驗箱
  • > 二(er)氧化(hua)碳CO₂培(pei)養箱
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)交(jiao)變(bian)氣候箱(xiang)
  • > 微生物(wu)培(pei)養箱
  • > 真(zhen)空幹燥(zao)箱(xiang)
  • > 安全幹燥(zao)箱(xiang)
  • > 幹燥(zao)箱(xiang)和烘(hong)箱(xiang)
  • > 生物(wu)生長(chang)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)箱
  • > 超低溫(wen)冰箱
• 金(jin)相(xiang)切(qie)割(ge)/鑲(xiang)嵌/研磨拋光(guang)
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  • > 磨拋(pao)機/研磨機
  • > 金相(xiang)耗材(cai)
  • > 電(dian)子(zi)天(tian)平(ping)/顯(xian)微鏡
• 紅(hong)外熱像(xiang)儀(yi)
• 美國(guo)BK PRECISION
  • > 信號源等儀器
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 示(shi)波(bo)器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬(wan)用表
  • > 電源
• ADCMT愛德(de)萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺式數(shu)字(zi)萬(wan)用表
  • > I-V曲(qu)線測(ce)試系統
  • > 直流電(dian)源/恒(heng)流電(dian)流源
  • > 高(gao)阻(zu)表/體積電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀
  • > 光(guang)功率(lv)計/光(guang)波(bo)長(chang)計
• COSMOS氣體/鐵粉(fen)濃度計
• ITECH艾(ai)德(de)克(ke)斯/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試專用電子(zi)負(fu)載
  • > 直流電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 回(hui)饋式電(dian)網(wang)模(mo)擬(ni)器交(jiao)流電(dian)源
  • > 可(ke)編(bian)程三(san)路(lu)直流電(dian)源
  • > 雙(shuang)向(xiang)電(dian)源和回(hui)饋式負(fu)載
  • > 新(xin)能源汽(qi)車(che)/電(dian)池/充電(dian)樁(zhuang)測(ce)試系統
  • > 可編程直流電(dian)源
  • > 小(xiao)功率(lv)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 大(da)功率(lv)直流電(dian)源和電(dian)子(zi)負(fu)載壹(yi)體的(de)機器
  • > 大(da)功率(lv)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 能量(liang)回(hui)饋式直流電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > AC交(jiao)流電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 大(da)功率(lv)直流電(dian)源
  • > 新(xin)能源汽(qi)車(che)/電(dian)池/充電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙極性(xing)電(dian)源
  • > AC交(jiao)流電(dian)源
  • > 直流電(dian)源
• 羅德與(yu)施瓦(wa)茨(ci)R&S（惠美HAMEG）
• 同惠/長(chang)盛(sheng)/安柏(bai)
  • > 半(ban)導(dao)體(ti)參(can)數(shu)分(fen)析(xi)儀
  • > 揚聲(sheng)器喇叭電(dian)機馬達(da)測(ce)試
  • > 功率(lv)分(fen)析(xi)儀/電參數(shu)測(ce)試儀
  • > 皮安表/高阻(zu)計/靜(jing)電(dian)計
  • > 直流低(di)電阻(zu)，微歐(ou)姆計
  • > 交(jiao)流低(di)電阻(zu)，電(dian)池測(ce)試儀
  • > 線材(cai)，線纜，線束測(ce)試儀
  • > 脈(mai)沖線圈(quan)測(ce)試儀
  • > 電感測(ce)試儀
  • > 電容測(ce)試儀
  • > 溫度采(cai)集記錄(lu)儀
  • > LCR電橋(qiao)阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀
  • > 高阻(zu)測(ce)試
  • > 安規接(jie)地電(dian)阻(zu)/漏電流
  • > 安(an)規耐(nai)壓(ya)絕緣(yuan)
• 標準源/計量(liang)校(xiao)準檢定設備
• 晶圓、芯(xin)片(pian)、屏幕Particle
• 日(ri)置HIOKI/國(guo)產(chan)替代
• 鎖(suo)相放(fang)大器
• 噪(zao)聲(sheng)/振(zhen)動(dong)/聲(sheng)學測(ce)試方案
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲(sheng)器件(jian)測(ce)試設備
• 長(chang)盛(sheng)耐(nai)壓(ya)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)安(an)規(gui)測(ce)試
  • > 200mA大電流耐(nai)壓(ya)儀(yi)
• 永磁(ci)軟(ruan)磁(ci)磁(ci)通量(liang)測(ce)試
• 汽(qi)車(che)電(dian)子(zi)標(biao)準波形(xing)可編(bian)程電(dian)源
• SHIMAZU島津
• 德維創DEWETRON
  • > 功率(lv)分(fen)析(xi)儀
  • > 數據采(cai)集儀記錄(lu)儀
• ARC電池絕熱量(liang)熱儀/熱安全性(xing)能