ADCMT6581八位(wei)半萬用(yong)表技術(shu)規(gui)格(ge)參數指(zhi)標說(shuo)明(ming)書(shu)

產(chan)品分類

• 氫(qing)檢(jian)儀氣密性檢(jian)漏檢測(ce)儀(yi)
• 國(guo)產(chan)源(yuan)表(biao)，替(ti)代(dai)keithley
  • > 替代進口(kou)功率(lv)分析儀(yi)
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)電(dian)源(yuan)
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口環(huan)境(jing)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 國(guo)產(chan)替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)射頻儀器
  • > 替(ti)代(dai)進口高阻(zu)表
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀器(qi)
  • > 電(dian)池(chi)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)替(ti)代(dai)HIOKI
  • > SMU源(yuan)表替代KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用(yong)表/信號源(yuan)替代(dai)是(shi)德(de)
• 體積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)/表(biao)面電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗(kang)分析儀(yi)
  • > 電(dian)橋(qiao)LCR
• 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
• 介電(dian)常(chang)數/電(dian)導(dao)率(lv)測(ce)試(shi)方(fang)案
• 大眾(zhong)VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標準(zhun)測(ce)試(shi)
  • > 微(wei)中(zhong)斷
• 電(dian)化(hua)學(xue)工(gong)作(zuo)站(zhan)/恒(heng)電(dian)位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
• 電(dian)池(chi)/光(guang)伏(fu)/汽(qi)車充電(dian)樁(zhuang)測(ce)試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測(ce)試(shi)
  • > 靜電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘(chui)表面靜(jing)電(dian)電(dian)阻(zu)/電(dian)阻(zu)率(lv)
  • > 靜(jing)電(dian)場(chang)/靜(jing)電(dian)消(xiao)散(san)/離(li)子平(ping)衡(heng)
  • > 離(li)子風(feng)機/無風(feng)型(xing)靜電(dian)消(xiao)除器
  • > 手(shou)腕(wan)帶防(fang)靜電(dian)工(gong)鞋人(ren)體綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀
  • > MENDA防(fang)靜電(dian)吹(chui)吸(xi)塵(chen)器(qi)/抽(chou)煙機
  • > EMIT工(gong)位接地電(dian)阻(zu)監(jian)測(ce)儀(yi)
  • > 平(ping)板(ban)測(ce)試(shi)儀/離(li)子風(feng)機測(ce)試(shi)儀/靜(jing)電(dian)監(jian)測(ce)器(qi)
  • > 靜(jing)電(dian)電(dian)荷庫(ku)倫(lun)電(dian)量/衰減(jian)
• 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)，電(dian)阻(zu)計，記錄儀
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/高阻(zu)計
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣漏電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)儀
  • > LCR電(dian)橋(qiao)/阻抗(kang)分析儀(yi)
  • > 功率(lv)計/功率(lv)分析儀(yi)
  • > 萬用(yong)表/多用(yong)表
  • > 電(dian)能(neng)質(zhi)量分析儀(yi)
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀
  • > 數據采集(ji)記錄儀
  • > 微(wei)電(dian)阻(zu)計/微(wei)歐姆(mu)計
• 吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
  • > 半導體(ti)圖(tu)示(shi)儀(yi)
  • > 示(shi)波(bo)器
  • > 皮(pi)安表(biao)
  • > 數據采集(ji)/開(kai)關(guan)矩(ju)陣(zhen)
  • > 高阻(zu)表(biao)/靜(jing)電(dian)計
  • > 源表(biao)
  • > 電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 函數信號發生(sheng)器(qi)
• 安捷(jie)倫Agilent/是(shi)德(de)KEYSIGHT
  • > 移動(dong)通信專用(yong)電(dian)源(yuan)，帶(dai)電(dian)池(chi)仿(fang)真(zhen)
  • > 射頻RF/脈(mai)沖碼型(xing)發生(sheng)器(qi)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 示(shi)波(bo)器
  • > 手(shou)持式示(shi)波(bo)表/手(shou)持式小表(biao)
  • > 函數信號發生(sheng)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數據采集(ji)儀
  • > 源(yuan)表(biao)/高(gao)阻表/皮(pi)安表(biao)微(wei)安計
  • > 頻率(lv)計/頻譜儀/網(wang)絡(luo)分析儀(yi)
• 愛(ai)斯(si)佩(pei)克(ke)ESPEC環(huan)境(jing)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 穩(wen)定(ding)性試(shi)驗箱(xiang)
  • > 小型恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 快速溫(wen)度變化(hua)濕(shi)熱試(shi)驗箱(xiang)
  • > 溫度/結露(lu)循環(huan)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 冷熱沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 烘箱/幹燥箱(xiang)/高(gao)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 高低溫濕(shi)熱試(shi)驗箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 鹽霧腐(fu)蝕試(shi)驗箱(xiang)
  • > 步進(jin)式(shi)恒(heng)溫(wen)老化試(shi)驗室(shi)
  • > 高低溫濕(shi)振動(dong)復(fu)合(he)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 高壓加(jia)速(su)老化試(shi)驗箱(xiang)
  • > IP砂(sha)塵(chen)防水(shui)淋(lin)雨試(shi)驗箱(xiang)
  • > 快速除濕(shi)設備(bei)/除濕(shi)櫃/惰(duo)性氮(dan)氣防潮櫃
• 普(pu)源RIGOL/致遠(yuan)ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
  • > 手(shou)持式示(shi)波(bo)表
  • > 射頻微(wei)波網(wang)絡(luo)分析儀(yi)
  • > 可編(bian)程直(zhi)流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 射頻信號源(yuan)
  • > 數據采集(ji)儀
  • > 功(gong)率(lv)計/功率(lv)分析儀(yi)
  • > 示(shi)波(bo)器
  • > 萬用(yong)表
  • > 直(zhi)流(liu)穩(wen)壓電(dian)源(yuan)
  • > 頻(pin)譜分析儀(yi)
  • > 函數信號發生(sheng)器(qi)
• Chroma致茂/EEC華(hua)儀EXTECH
  • > 電(dian)源(yuan)自(zi)動(dong)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 光照(zhao)度/亮色度測(ce)試(shi)
  • > 電(dian)參(can)數測(ce)量功率(lv)計
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 其(qi)他測(ce)試(shi)儀器(qi)
  • > 交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣/泄(xie)漏電(dian)流(liu)/接地
  • > 電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• 邏輯(ji)分析儀(yi)/總線協(xie)議(yi)測(ce)試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議(yi)分析
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻總線協(xie)議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線協(xie)議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線測(ce)試(shi)
  • > 其(qi)他虛(xu)擬(ni)示(shi)波(bo)器/協議(yi)解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹擾(rao)兼(jian)容(rong)
  • > 汽車設備(bei)電(dian)源(yuan)故障模(mo)擬器(qi)
  • > 拋(pao)負(fu)載(zai)
  • > 電(dian)纜(lan)束(shu)註(zhu)入敏(min)感(gan)度測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 寬(kuan)帶功(gong)率(lv)放大器
  • > 汽(qi)車電(dian)子電(dian)磁兼(jian)容(rong)EMC/波形
  • > 耦(ou)合(he)去(qu)耦(ou)合(he)
  • > 諧(xie)波(bo)和(he)閃(shan)爍
  • > 射頻傳(chuan)導抗(kang)擾(rao)度測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 阻尼振(zhen)蕩磁場(chang)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 振鈴(ling)波(bo)發生(sheng)器(qi)
  • > 電(dian)壓跌落(luo)模(mo)擬器(qi)
  • > 電(dian)快速瞬(shun)變(bian)脈(mai)沖群發生(sheng)器(qi)
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
  • > 絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
  • > 安(an)規綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀
  • > AC/DC交(jiao)直(zhi)流(liu)耐(nai)壓測(ce)試(shi)儀
  • > 泄(xie)漏電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)儀
  • > 雷(lei)擊浪(lang)湧/EMC電(dian)磁兼(jian)容(rong)測(ce)試(shi)
  • > 接地導通電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
  • > ESD靜(jing)電(dian)放電(dian)發生(sheng)器(qi)
  • > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)校(xiao)準(zhun)盒
• 愛(ai)色麗X-Rite/電(dian)色NIPPON
  • > 標準(zhun)光(guang)源/對(dui)色燈(deng)箱(xiang)
  • > 色差儀(yi)/測(ce)色儀/分光光(guang)度計
• 梅(mei)特(te)勒(le)METTLER
  • > 熱(re)機械(xie)分析儀(yi)
  • > 分析天平(ping)
• 物料(liao)輪廓顏色缺(que)料(liao)視(shi)覺(jiao)篩選(xuan)
• 博(bo)勒飛Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀(yi)
  • > 粘度計
  • > 質構(gou)分析儀(yi)
  • > 粉體(ti)流(liu)動(dong)測(ce)試(shi)儀
  • > 恒(heng)溫(wen)水(shui)浴
  • > 粘度標準(zhun)液/矽油(you)標準(zhun)液
  • > 水(shui)分、固含量、灰(hui)分測(ce)定(ding)儀
• 賓德(de)BINDER試(shi)驗箱(xiang)
  • > 二氧(yang)化碳(tan)CO₂培(pei)養箱
  • > 高低(di)溫(wen)交(jiao)變氣候箱
  • > 微(wei)生(sheng)物(wu)培(pei)養箱
  • > 真(zhen)空幹燥箱(xiang)
  • > 安(an)全(quan)幹燥箱(xiang)
  • > 幹燥箱(xiang)和(he)烘箱
  • > 生(sheng)物(wu)生(sheng)長箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)箱
  • > 超(chao)低(di)溫(wen)冰箱(xiang)
• 金相切割(ge)/鑲嵌/研(yan)磨(mo)拋(pao)光(guang)
  • > 冷(leng)/熱(re)鑲嵌機
  • > 磨(mo)拋(pao)機/研磨(mo)機
  • > 金相耗材
  • > 電(dian)子天平(ping)/顯(xian)微(wei)鏡
• 紅外(wai)熱像儀
• 美國(guo)BK PRECISION
  • > 信號源(yuan)等儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 示(shi)波(bo)器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬用(yong)表
  • > 電(dian)源(yuan)
• ADCMT愛(ai)德(de)萬ADVANTEST
  • > 臺式(shi)數字萬(wan)用(yong)表
  • > I-V曲(qu)線測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源(yuan)
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/體積電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀
  • > 光(guang)功率(lv)計/光波(bo)長計
• COSMOS氣體(ti)/鐵(tie)粉濃度計
• ITECH艾德(de)克斯(si)/NGI恩(en)智(zhi)
  • > LED測(ce)試(shi)專用(yong)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 回(hui)饋(kui)式電(dian)網(wang)模(mo)擬器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 可(ke)編(bian)程三(san)路(lu)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 雙(shuang)向電(dian)源(yuan)和(he)回(hui)饋(kui)式負(fu)載(zai)
  • > 新(xin)能源(yuan)汽車/電(dian)池(chi)/充電(dian)樁(zhuang)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 可編程直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 小(xiao)功(gong)率(lv)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)和(he)電(dian)子負(fu)載(zai)壹體的機器
  • > 大(da)功率(lv)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 能(neng)量回(hui)饋(kui)式直(zhi)流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 新(xin)能源(yuan)汽車/電(dian)池(chi)/充電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙(shuang)極(ji)性電(dian)源(yuan)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
• 羅(luo)德(de)與施(shi)瓦(wa)茨R&S（惠美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠(hui)/長盛/安柏
  • > 半導體(ti)參(can)數分析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲器喇叭電(dian)機馬達(da)測(ce)試(shi)
  • > 功率(lv)分析儀(yi)/電(dian)參(can)數測(ce)試(shi)儀
  • > 皮(pi)安表(biao)/高(gao)阻計/靜電(dian)計
  • > 直(zhi)流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，微(wei)歐姆(mu)計
  • > 交(jiao)流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀
  • > 線(xian)材，線纜，線束測(ce)試(shi)儀
  • > 脈(mai)沖線(xian)圈測(ce)試(shi)儀
  • > 電(dian)感(gan)測(ce)試(shi)儀
  • > 電(dian)容(rong)測(ce)試(shi)儀
  • > 溫(wen)度采集(ji)記錄儀
  • > LCR電(dian)橋(qiao)阻抗(kang)分析儀(yi)
  • > 高阻(zu)測(ce)試(shi)
  • > 安規(gui)接地電(dian)阻(zu)/漏電(dian)流(liu)
  • > 安(an)規(gui)耐(nai)壓絕(jue)緣
• 標準(zhun)源(yuan)/計量校準(zhun)檢定(ding)設備(bei)
• 晶(jing)圓、芯(xin)片、屏(ping)幕Particle
• 日(ri)置(zhi)HIOKI/國(guo)產(chan)替(ti)代(dai)
• 鎖(suo)相放大器
• 噪聲/振動(dong)/聲學(xue)測(ce)試(shi)方(fang)案
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲器件(jian)測(ce)試(shi)設備(bei)
• 長盛耐(nai)壓絕(jue)緣電(dian)阻(zu)安(an)規(gui)測(ce)試(shi)
  • > 200mA大電(dian)流(liu)耐(nai)壓儀(yi)
• 永(yong)磁軟(ruan)磁磁通量測(ce)試(shi)
• 汽(qi)車電(dian)子標準(zhun)波(bo)形可編(bian)程電(dian)源(yuan)
• SHIMAZU島(dao)津
• 德(de)維創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分析儀(yi)
  • > 數據采集(ji)儀記錄儀
• ARC電(dian)池(chi)絕(jue)熱(re)量熱儀(yi)/熱安(an)全性能(neng)