日(ri)本(ben)愛德(de)萬(wan)ADCMT6501直(zhi)流(liu)電源規(gui)格說(shuo)明

產(chan)品(pin)分(fen)類(lei)

• 氫檢(jian)儀(yi)氣(qi)密(mi)性檢(jian)漏檢(jian)測(ce)儀(yi)
• 國(guo)產(chan)源(yuan)表，替代(dai)keithley
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)電源
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)環(huan)境(jing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 國(guo)產(chan)替代(dai)進(jin)口(kou)射(she)頻(pin)儀(yi)器
  • > 替代(dai)進(jin)口(kou)高(gao)阻表
  • > 電池測(ce)試儀(yi)器
  • > 電池絕(jue)緣(yuan)電阻替代(dai)HIOKI
  • > SMU源表替代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用(yong)表/信(xin)號(hao)源替代(dai)是德(de)
• 體(ti)積(ji)電阻率(lv)/表面電阻測(ce)試
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電橋LCR
• 半(ban)導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介(jie)電常數(shu)/電導率(lv)測(ce)試方(fang)案
• 大眾VW80000/通(tong)用GMW3172/ISO16750標(biao)準測(ce)試
  • > 微中(zhong)斷(duan)
• 電化(hua)學(xue)工(gong)作(zuo)站/恒電位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電池/光伏(fu)/汽(qi)車(che)充電樁測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜電測(ce)試
  • > 靜電CDM/HBM/MM
  • > 重錘(chui)表面靜電電阻/電阻率(lv)
  • > 靜電場(chang)/靜電消散/離(li)子(zi)平(ping)衡(heng)
  • > 離(li)子(zi)風(feng)機(ji)/無(wu)風型(xing)靜電消除(chu)器(qi)
  • > 手腕帶防(fang)靜電工(gong)鞋(xie)人(ren)體綜(zong)合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防靜電吹吸塵(chen)器(qi)/抽(chou)煙機(ji)
  • > EMIT工(gong)位(wei)接地電阻監(jian)測(ce)儀(yi)
  • > 平(ping)板測(ce)試儀(yi)/離(li)子(zi)風(feng)機(ji)測(ce)試儀(yi)/靜電監測(ce)器
  • > 靜電電荷庫(ku)倫電量/衰減
• 體積(ji)電阻，電阻計(ji)，記錄(lu)儀(yi)
  • > 高阻表/高阻計(ji)
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)漏電流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > LCR電橋/阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 功率(lv)計(ji)/功(gong)率分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 萬(wan)用(yong)表/多(duo)用表
  • > 電能(neng)質(zhi)量(liang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電池測(ce)試儀(yi)
  • > 數(shu)據采集記錄(lu)儀(yi)
  • > 微電阻計(ji)/微歐(ou)姆(mu)計(ji)
• 吉(ji)時利KEITHLEY/泰克(ke)Tektronix
  • > 半(ban)導體(ti)圖(tu)示儀(yi)
  • > 示波器
  • > 皮(pi)安表
  • > 數(shu)據采集/開(kai)關矩陣
  • > 高阻表/靜電計(ji)
  • > 源(yuan)表
  • > 電源
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 函數(shu)信(xin)號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
• 安(an)捷倫Agilent/是(shi)德(de)KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通(tong)信(xin)專(zhuan)用電源，帶電池仿(fang)真(zhen)
  • > 射頻(pin)RF/脈沖碼(ma)型(xing)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 直(zhi)流(liu)電源/交(jiao)流(liu)電源
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 示波器
  • > 手持式(shi)示(shi)波表/手持式(shi)小(xiao)表
  • > 函數(shu)信(xin)號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > LCR電橋
  • > 數(shu)據采集儀(yi)
  • > 源表/高阻表/皮(pi)安表微安(an)計(ji)
  • > 頻(pin)率計(ji)/頻(pin)譜儀(yi)/網絡(luo)分(fen)析(xi)儀(yi)
• 愛(ai)斯佩(pei)克(ke)ESPEC環(huan)境(jing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 穩(wen)定性(xing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 小(xiao)型(xing)恒溫恒濕試驗(yan)箱(xiang)
  • > 快(kuai)速溫度變(bian)化(hua)濕(shi)熱(re)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 溫(wen)度/結(jie)露循(xun)環試驗(yan)箱(xiang)
  • > 冷(leng)熱沖擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 烘(hong)箱(xiang)/幹(gan)燥(zao)箱(xiang)/高(gao)溫試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫(wen)濕熱(re)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 恒溫恒濕試驗(yan)箱(xiang)
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐蝕試驗(yan)箱(xiang)
  • > 步(bu)進(jin)式(shi)恒溫老化(hua)試驗(yan)室(shi)
  • > 高(gao)低溫(wen)濕振動復合(he)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)壓加速(su)老化(hua)試驗(yan)箱(xiang)
  • > IP砂(sha)塵(chen)防(fang)水(shui)淋雨試驗(yan)箱(xiang)
  • > 快(kuai)速除濕設(she)備(bei)/除(chu)濕櫃/惰性氮(dan)氣(qi)防潮櫃
• 普(pu)源RIGOL/致遠(yuan)ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
  • > 手持式(shi)示(shi)波表
  • > 射頻(pin)微波網絡(luo)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 可編(bian)程直(zhi)流(liu)電子負(fu)載(zai)
  • > 射頻(pin)信(xin)號(hao)源
  • > 數(shu)據采集儀(yi)
  • > 功率(lv)計(ji)/功(gong)率分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 示波器
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 直(zhi)流(liu)穩(wen)壓電源
  • > 頻(pin)譜分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 函數(shu)信(xin)號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
• Chroma致茂(mao)/EEC華儀(yi)EXTECH
  • > 電源自(zi)動測(ce)試系(xi)統
  • > 光照(zhao)度(du)/亮色度(du)測(ce)試
  • > 電參(can)數(shu)測(ce)量功(gong)率計(ji)
  • > LCR電橋
  • > 其他(ta)測(ce)試儀(yi)器
  • > 交(jiao)流(liu)電源
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)/泄(xie)漏電流(liu)/接地
  • > 電子負(fu)載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電源
• 邏(luo)輯分(fen)析(xi)儀(yi)/總(zong)線(xian)協議(yi)測(ce)試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議(yi)分(fen)析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音頻(pin)總(zong)線(xian)協議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線(xian)協議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線(xian)測(ce)試
  • > 其他(ta)虛擬(ni)示波器/協議(yi)解碼(ma)
• EMI/EMC/EMS電磁幹(gan)擾(rao)兼容
  • > 汽(qi)車(che)設備(bei)電源故(gu)障(zhang)模擬(ni)器
  • > 拋(pao)負(fu)載(zai)
  • > 電纜束註(zhu)入敏(min)感(gan)度(du)測(ce)試系(xi)統
  • > 寬帶功(gong)率放(fang)大器(qi)
  • > 汽(qi)車(che)電子電磁兼(jian)容EMC/波形
  • > 耦(ou)合(he)去(qu)耦合(he)
  • > 諧(xie)波和(he)閃(shan)爍
  • > 射(she)頻(pin)傳導抗(kang)擾度測(ce)試系(xi)統
  • > 阻尼(ni)振蕩(dang)磁場(chang)測(ce)試系(xi)統
  • > 振鈴(ling)波發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 電壓跌(die)落(luo)模(mo)擬(ni)器
  • > 電快速(su)瞬(shun)變(bian)脈(mai)沖群發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)電阻測(ce)試儀(yi)
  • > 絕(jue)緣(yuan)電阻測(ce)試儀(yi)
  • > 安規(gui)綜合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直(zhi)流(liu)耐(nai)壓測(ce)試儀(yi)
  • > 泄漏電流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > 雷擊(ji)浪(lang)湧/EMC電磁兼(jian)容測(ce)試
  • > 接地導通(tong)電阻測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜電放電發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 安規(gui)綜合(he)校(xiao)準盒(he)
• 愛(ai)色麗(li)X-Rite/電色NIPPON
  • > 標(biao)準(zhun)光源(yuan)/對(dui)色燈(deng)箱(xiang)
  • > 色差(cha)儀(yi)/測(ce)色儀(yi)/分(fen)光光度(du)計(ji)
• 梅特勒(le)METTLER
  • > 熱機(ji)械(xie)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 分(fen)析(xi)天平(ping)
• 物(wu)料輪廓(kuo)顏色缺(que)料(liao)視覺(jiao)篩(shai)選(xuan)
• 博勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀(yi)
  • > 粘度(du)計(ji)
  • > 質(zhi)構(gou)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 粉體(ti)流(liu)動測(ce)試儀(yi)
  • > 恒溫水(shui)浴
  • > 粘(zhan)度標(biao)準(zhun)液(ye)/矽(gui)油標準(zhun)液(ye)
  • > 水(shui)分(fen)、固(gu)含量(liang)、灰(hui)分(fen)測(ce)定儀(yi)
• 賓德(de)BINDER試驗(yan)箱(xiang)
  • > 二(er)氧化(hua)碳(tan)CO₂培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫(wen)交(jiao)變(bian)氣(qi)候(hou)箱(xiang)
  • > 微生(sheng)物(wu)培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 真(zhen)空(kong)幹燥(zao)箱(xiang)
  • > 安(an)全幹燥(zao)箱(xiang)
  • > 幹(gan)燥(zao)箱(xiang)和(he)烘(hong)箱(xiang)
  • > 生(sheng)物(wu)生(sheng)長箱(xiang)
  • > 恒溫恒濕箱(xiang)
  • > 超(chao)低溫(wen)冰(bing)箱(xiang)
• 金相切(qie)割(ge)/鑲(xiang)嵌(qian)/研(yan)磨(mo)拋(pao)光
  • > 冷(leng)/熱(re)鑲(xiang)嵌(qian)機(ji)
  • > 磨拋(pao)機(ji)/研(yan)磨(mo)機(ji)
  • > 金相耗材
  • > 電子天(tian)平(ping)/顯(xian)微鏡(jing)
• 紅(hong)外熱(re)像儀(yi)
• 美(mei)國(guo)BK PRECISION
  • > 信(xin)號(hao)源等(deng)儀(yi)器
  • > 電子負(fu)載(zai)
  • > 示波器
  • > LCR電橋
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 電源
• ADCMT愛(ai)德(de)萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式(shi)數(shu)字萬(wan)用(yong)表
  • > I-V曲線(xian)測(ce)試系(xi)統
  • > 直(zhi)流(liu)電源/恒流(liu)電流(liu)源
  • > 高(gao)阻表/體積(ji)電阻率(lv)測(ce)試儀(yi)
  • > 光功(gong)率(lv)計(ji)/光波長計(ji)
• COSMOS氣(qi)體/鐵粉(fen)濃度(du)計(ji)
• ITECH艾德(de)克(ke)斯/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試專(zhuan)用電子負(fu)載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電子負(fu)載(zai)
  • > 回饋(kui)式(shi)電網模(mo)擬(ni)器交(jiao)流(liu)電源
  • > 可(ke)編(bian)程三路(lu)直(zhi)流(liu)電源
  • > 雙(shuang)向電源和(he)回饋(kui)式(shi)負(fu)載(zai)
  • > 新能(neng)源汽(qi)車(che)/電池/充(chong)電樁測(ce)試系(xi)統
  • > 可編程直(zhi)流(liu)電源
  • > 小(xiao)功率電子負(fu)載(zai)
  • > 大功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電源和(he)電子負(fu)載(zai)壹體的(de)機器(qi)
  • > 大功(gong)率(lv)電子負(fu)載(zai)
  • > 能(neng)量回饋(kui)式(shi)直(zhi)流(liu)電子負(fu)載(zai)
  • > AC交(jiao)流(liu)電子負(fu)載(zai)
  • > 大功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電源
  • > 新能(neng)源汽(qi)車(che)/電池/充(chong)電樁
  • > 雙(shuang)極性電源
  • > AC交(jiao)流(liu)電源
  • > 直(zhi)流(liu)電源
• 羅德(de)與施(shi)瓦茨R&S（惠(hui)美(mei)HAMEG）
• 同惠/長盛(sheng)/安(an)柏(bai)
  • > 半(ban)導體(ti)參(can)數(shu)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 揚(yang)聲(sheng)器(qi)喇(la)叭(ba)電機馬達測(ce)試
  • > 功(gong)率分(fen)析(xi)儀(yi)/電參(can)數(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 皮(pi)安表/高阻計(ji)/靜電計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低電阻，微歐(ou)姆(mu)計(ji)
  • > 交(jiao)流(liu)低電阻，電池測(ce)試儀(yi)
  • > 線(xian)材(cai)，線(xian)纜(lan)，線(xian)束測(ce)試儀(yi)
  • > 脈沖線(xian)圈(quan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電感(gan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電容測(ce)試儀(yi)
  • > 溫度(du)采集(ji)記錄(lu)儀(yi)
  • > LCR電橋阻抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 高阻測(ce)試
  • > 安(an)規(gui)接地電阻/漏電流(liu)
  • > 安規(gui)耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)
• 標(biao)準(zhun)源/計(ji)量(liang)校準檢(jian)定設(she)備(bei)
• 晶(jing)圓、芯片(pian)、屏幕(mu)Particle
• 日置(zhi)HIOKI/國(guo)產(chan)替代(dai)
• 鎖(suo)相(xiang)放大器(qi)
• 噪(zao)聲(sheng)/振動/聲(sheng)學(xue)測(ce)試方(fang)案
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲(sheng)器(qi)件測(ce)試設(she)備
• 長盛(sheng)耐(nai)壓絕(jue)緣(yuan)電阻安(an)規(gui)測(ce)試
  • > 200mA大電流(liu)耐(nai)壓儀(yi)
• 永(yong)磁軟磁(ci)磁(ci)通(tong)量測(ce)試
• 汽(qi)車(che)電子標(biao)準(zhun)波形可(ke)編程(cheng)電源
• SHIMAZU島津
• 德(de)維創DEWETRON
  • > 功率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 數(shu)據采集儀(yi)記錄(lu)儀(yi)
• ARC電池絕(jue)熱(re)量(liang)熱(re)儀(yi)/熱安(an)全性能(neng)