SCHNEIDER SL-031人(ren)體(ti)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀安裝使用(yong)說明(ming)

產品(pin)分(fen)類(lei)

• 氫(qing)檢(jian)儀氣(qi)密(mi)性(xing)檢(jian)漏檢(jian)測(ce)儀(yi)
• 國(guo)產源(yuan)表(biao)，替(ti)代keithley
  • > 替(ti)代進口(kou)功率(lv)分(fen)析儀
  • > 替(ti)代進口(kou)電(dian)源
  • > 替(ti)代進口(kou)環境(jing)試(shi)驗箱
  • > 國(guo)產替(ti)代進口(kou)射(she)頻儀(yi)器(qi)
  • > 替(ti)代進口(kou)高(gao)阻表(biao)
  • > 電(dian)池測(ce)試(shi)儀器(qi)
  • > 電(dian)池絕(jue)緣電(dian)阻替(ti)代HIOKI
  • > SMU源表替(ti)代KEITHLEY2400
  • > 萬用(yong)表/信號(hao)源替(ti)代是德(de)
• 體(ti)積電(dian)阻率/表面(mian)電(dian)阻測(ce)試(shi)
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀
  • > 電(dian)橋(qiao)LCR
• 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
• 介電(dian)常(chang)數/電(dian)導率測(ce)試(shi)方案
• 大眾VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準測(ce)試(shi)
  • > 微中斷(duan)
• 電(dian)化學工(gong)作站(zhan)/恒(heng)電(dian)位儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
• 電(dian)池/光(guang)伏/汽車(che)充電(dian)樁測(ce)試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測(ce)試(shi)
  • > 靜(jing)電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重錘(chui)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)電(dian)阻/電(dian)阻率
  • > 靜(jing)電(dian)場/靜(jing)電(dian)消(xiao)散/離子平(ping)衡
  • > 離子風(feng)機/無風(feng)型(xing)靜(jing)電(dian)消(xiao)除器(qi)
  • > 手(shou)腕(wan)帶防靜(jing)電(dian)工鞋人(ren)體(ti)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀
  • > MENDA防靜(jing)電(dian)吹吸塵器(qi)/抽(chou)煙機
  • > EMIT工位接(jie)地(di)電(dian)阻監測(ce)儀(yi)
  • > 平(ping)板測(ce)試(shi)儀/離子風(feng)機測(ce)試(shi)儀/靜(jing)電(dian)監測(ce)器(qi)
  • > 靜(jing)電(dian)電(dian)荷(he)庫(ku)倫電(dian)量(liang)/衰減
• 體(ti)積電(dian)阻，電(dian)阻計(ji)，記錄(lu)儀(yi)
  • > 高(gao)阻表(biao)/高(gao)阻計(ji)
  • > 耐(nai)壓絕緣漏電(dian)流測(ce)試(shi)儀
  • > LCR電(dian)橋(qiao)/阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀
  • > 功率(lv)計(ji)/功率(lv)分(fen)析儀
  • > 萬(wan)用(yong)表/多用(yong)表
  • > 電(dian)能質量(liang)分(fen)析儀
  • > 電(dian)池測(ce)試(shi)儀
  • > 數據采集(ji)記(ji)錄儀(yi)
  • > 微電(dian)阻計(ji)/微歐(ou)姆(mu)計(ji)
• 吉時(shi)利(li)KEITHLEY/泰(tai)克Tektronix
  • > 半導體(ti)圖示(shi)儀(yi)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > 皮(pi)安(an)表
  • > 數據采集(ji)/開關(guan)矩陣
  • > 高(gao)阻表(biao)/靜(jing)電(dian)計(ji)
  • > 源表(biao)
  • > 電(dian)源
  • > 萬用(yong)表
  • > 函(han)數信號(hao)發生(sheng)器(qi)
• 安(an)捷倫Agilent/是德(de)KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通信專用(yong)電(dian)源，帶電(dian)池仿(fang)真(zhen)
  • > 射(she)頻RF/脈(mai)沖碼(ma)型(xing)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/交流電(dian)源
  • > 萬用(yong)表
  • > 示波器(qi)
  • > 手(shou)持(chi)式(shi)示(shi)波(bo)表(biao)/手(shou)持(chi)式(shi)小(xiao)表
  • > 函(han)數信號(hao)發生(sheng)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數據采集(ji)儀(yi)
  • > 源表(biao)/高(gao)阻表(biao)/皮(pi)安(an)表微安計(ji)
  • > 頻率(lv)計(ji)/頻譜(pu)儀(yi)/網絡(luo)分(fen)析儀
• 愛斯佩(pei)克ESPEC環境(jing)試(shi)驗箱
  • > 穩(wen)定(ding)性(xing)試(shi)驗箱
  • > 小(xiao)型(xing)恒(heng)溫恒濕(shi)試(shi)驗箱
  • > 快(kuai)速溫度變化濕(shi)熱(re)試(shi)驗箱
  • > 溫度/結露循環試(shi)驗箱
  • > 冷(leng)熱(re)沖擊(ji)試(shi)驗箱
  • > 烘箱/幹(gan)燥(zao)箱(xiang)/高(gao)溫試(shi)驗箱
  • > 高(gao)低溫濕(shi)熱(re)試(shi)驗箱
  • > 恒溫恒濕(shi)試(shi)驗箱
  • > 鹽霧腐蝕試(shi)驗箱
  • > 步進式(shi)恒(heng)溫老(lao)化試(shi)驗室
  • > 高(gao)低溫濕(shi)振動復(fu)合(he)試(shi)驗箱
  • > 高(gao)壓加速老(lao)化試(shi)驗箱
  • > IP砂(sha)塵(chen)防水(shui)淋(lin)雨(yu)試(shi)驗箱
  • > 快(kuai)速除濕(shi)設備(bei)/除濕(shi)櫃/惰(duo)性(xing)氮氣(qi)防潮櫃
• 普源(yuan)RIGOL/致遠ZLG/鼎(ding)陽SIGLENT
  • > 手(shou)持(chi)式(shi)示(shi)波(bo)表(biao)
  • > 射(she)頻微(wei)波網絡(luo)分(fen)析儀
  • > 可編程直(zhi)流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 射(she)頻信號(hao)源
  • > 數據采集(ji)儀(yi)
  • > 功率(lv)計(ji)/功率(lv)分(fen)析儀
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 直(zhi)流(liu)穩(wen)壓電(dian)源
  • > 頻譜分(fen)析儀
  • > 函(han)數信號(hao)發生(sheng)器(qi)
• Chroma致茂/EEC華(hua)儀EXTECH
  • > 電(dian)源自動測(ce)試(shi)系統
  • > 光(guang)照度/亮色度測(ce)試(shi)
  • > 電(dian)參數測(ce)量(liang)功率(lv)計(ji)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 其(qi)他測(ce)試(shi)儀器(qi)
  • > 交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 耐(nai)壓絕緣/泄漏電(dian)流/接(jie)地(di)
  • > 電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 邏輯分(fen)析儀/總線協(xie)議測(ce)試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議分(fen)析
  • > DP AUX，Soundwire音頻(pin)總線協(xie)議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線協(xie)議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線測(ce)試(shi)
  • > 其他虛(xu)擬示波(bo)器(qi)/協(xie)議(yi)解(jie)碼(ma)
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹(gan)擾兼(jian)容
  • > 汽車設備電(dian)源故障模(mo)擬器(qi)
  • > 拋(pao)負(fu)載(zai)
  • > 電(dian)纜(lan)束註(zhu)入(ru)敏感度測(ce)試(shi)系統
  • > 寬帶功率(lv)放(fang)大(da)器(qi)
  • > 汽(qi)車(che)電(dian)子電(dian)磁(ci)兼(jian)容EMC/波形
  • > 耦合(he)去(qu)耦合(he)
  • > 諧(xie)波和閃(shan)爍
  • > 射(she)頻傳(chuan)導抗(kang)擾度測(ce)試(shi)系統
  • > 阻(zu)尼(ni)振蕩(dang)磁(ci)場測(ce)試(shi)系統
  • > 振鈴波(bo)發(fa)生器(qi)
  • > 電(dian)壓跌落模(mo)擬器(qi)
  • > 電(dian)快(kuai)速瞬(shun)變脈(mai)沖群發(fa)生器(qi)
  • > 耐(nai)壓絕緣電(dian)阻測(ce)試(shi)儀
  • > 絕緣電(dian)阻測(ce)試(shi)儀
  • > 安規綜合(he)測(ce)試(shi)儀
  • > AC/DC交直(zhi)流(liu)耐(nai)壓測(ce)試(shi)儀
  • > 泄漏電(dian)流測(ce)試(shi)儀
  • > 雷擊(ji)浪(lang)湧/EMC電(dian)磁(ci)兼(jian)容測(ce)試(shi)
  • > 接(jie)地(di)導通電(dian)阻測(ce)試(shi)儀
  • > ESD靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)發生器(qi)
  • > 安(an)規綜合(he)校準(zhun)盒
• 愛色麗X-Rite/電(dian)色NIPPON
  • > 標(biao)準光(guang)源/對色燈(deng)箱(xiang)
  • > 色差儀/測(ce)色儀/分(fen)光光度計(ji)
• 梅(mei)特(te)勒(le)METTLER
  • > 熱(re)機械(xie)分(fen)析儀
  • > 分(fen)析天(tian)平(ping)
• 物(wu)料(liao)輪廓(kuo)顏色缺料(liao)視覺(jiao)篩選
• 博勒(le)飛Brookfield
  • > 流變儀(yi)
  • > 粘(zhan)度計(ji)
  • > 質構(gou)分(fen)析儀
  • > 粉(fen)體(ti)流(liu)動測(ce)試(shi)儀
  • > 恒溫水(shui)浴
  • > 粘(zhan)度標(biao)準液(ye)/矽油標(biao)準液(ye)
  • > 水(shui)分(fen)、固(gu)含量(liang)、灰(hui)分(fen)測(ce)定(ding)儀
• 賓(bin)德BINDER試(shi)驗箱
  • > 二(er)氧(yang)化碳(tan)CO₂培養(yang)箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫交變(bian)氣(qi)候(hou)箱(xiang)
  • > 微生物培(pei)養箱(xiang)
  • > 真(zhen)空幹(gan)燥(zao)箱(xiang)
  • > 安(an)全(quan)幹(gan)燥(zao)箱(xiang)
  • > 幹(gan)燥(zao)箱(xiang)和(he)烘(hong)箱(xiang)
  • > 生(sheng)物(wu)生長箱
  • > 恒(heng)溫恒濕(shi)箱
  • > 超(chao)低溫冰箱(xiang)
• 金相切割/鑲嵌/研磨拋(pao)光
  • > 冷(leng)/熱(re)鑲嵌機
  • > 磨拋(pao)機/研磨機
  • > 金相耗(hao)材
  • > 電(dian)子天(tian)平(ping)/顯微(wei)鏡
• 紅外(wai)熱(re)像儀
• 美國(guo)BK PRECISION
  • > 信號(hao)源等(deng)儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛(ai)德萬ADVANTEST
  • > 臺式(shi)數字(zi)萬用(yong)表
  • > I-V曲線測(ce)試(shi)系統
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/恒流電(dian)流源
  • > 高(gao)阻表(biao)/體(ti)積電(dian)阻率測(ce)試(shi)儀
  • > 光功率(lv)計(ji)/光波(bo)長計(ji)
• COSMOS氣(qi)體(ti)/鐵(tie)粉(fen)濃度計(ji)
• ITECH艾德克斯/NGI恩(en)智(zhi)
  • > LED測(ce)試(shi)專用(yong)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 回(hui)饋(kui)式(shi)電(dian)網模(mo)擬器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 可編程三路(lu)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 雙向(xiang)電(dian)源和回饋(kui)式(shi)負(fu)載(zai)
  • > 新(xin)能源汽(qi)車(che)/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁測(ce)試(shi)系統
  • > 可編程直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 小(xiao)功率(lv)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 大(da)功率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源和電(dian)子負(fu)載(zai)壹(yi)體(ti)的(de)機器(qi)
  • > 大(da)功率(lv)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 能量(liang)回饋(kui)式(shi)直(zhi)流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 大(da)功率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 新能源汽(qi)車(che)/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁
  • > 雙極性(xing)電(dian)源
  • > AC交流電(dian)源
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 羅(luo)德(de)與(yu)施瓦茨(ci)R&S（惠美HAMEG）
• 同惠(hui)/長盛(sheng)/安(an)柏
  • > 半導體(ti)參數分(fen)析儀
  • > 揚聲器(qi)喇(la)叭電(dian)機馬達(da)測(ce)試(shi)
  • > 功率(lv)分(fen)析儀/電(dian)參數測(ce)試(shi)儀
  • > 皮(pi)安(an)表/高(gao)阻計(ji)/靜(jing)電(dian)計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低電(dian)阻，微歐(ou)姆(mu)計(ji)
  • > 交流(liu)低電(dian)阻，電(dian)池測(ce)試(shi)儀
  • > 線材(cai)，線纜(lan)，線束(shu)測(ce)試(shi)儀
  • > 脈沖線圈測(ce)試(shi)儀
  • > 電(dian)感測(ce)試(shi)儀
  • > 電(dian)容測(ce)試(shi)儀
  • > 溫度采集(ji)記(ji)錄儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀
  • > 高(gao)阻測(ce)試(shi)
  • > 安規接(jie)地(di)電(dian)阻/漏電(dian)流
  • > 安規耐(nai)壓絕緣
• 標(biao)準源(yuan)/計(ji)量(liang)校準(zhun)檢(jian)定(ding)設備
• 晶(jing)圓、芯(xin)片(pian)、屏(ping)幕(mu)Particle
• 日置(zhi)HIOKI/國(guo)產替(ti)代
• 鎖相放(fang)大(da)器(qi)
• 噪聲/振動/聲學測(ce)試(shi)方案
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲器(qi)件(jian)測(ce)試(shi)設備
• 長盛(sheng)耐(nai)壓絕緣電(dian)阻安規測(ce)試(shi)
  • > 200mA大電(dian)流耐(nai)壓儀
• 永磁(ci)軟(ruan)磁(ci)磁(ci)通(tong)量(liang)測(ce)試(shi)
• 汽車電(dian)子標(biao)準波(bo)形可編程電(dian)源
• SHIMAZU島津(jin)
• 德(de)維創DEWETRON
  • > 功率(lv)分(fen)析儀
  • > 數據采集(ji)儀(yi)記錄(lu)儀
• ARC電(dian)池絕(jue)熱(re)量(liang)熱(re)儀/熱(re)安全(quan)性(xing)能