堅(jian)融實業日(ri)本(ben)愛德(de)萬(wan)ADCMT8230光功(gong)率(lv)計(ji)技(ji)術(shu)指標參數

產品(pin)分(fen)類

• 氫檢儀(yi)氣密(mi)性(xing)檢漏(lou)檢測(ce)儀(yi)
• 國(guo)產(chan)源(yuan)表(biao)，替代keithley
  • > 替代進口(kou)功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 替代進口(kou)電(dian)源(yuan)
  • > 替代進口(kou)環(huan)境(jing)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 國(guo)產(chan)替代進口(kou)射(she)頻(pin)儀(yi)器(qi)
  • > 替代進口(kou)高(gao)阻(zu)表(biao)
  • > 電池(chi)測試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池(chi)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)替代HIOKI
  • > SMU源表(biao)替代KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用表(biao)/信號(hao)源替代是德(de)
• 體積電阻(zu)率(lv)/表(biao)面電阻(zu)測(ce)試(shi)
• 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)
  • > 電橋(qiao)LCR
• 半導體I-V/C-V/I-R測試
• 介(jie)電常數/電導(dao)率(lv)測(ce)試(shi)方案
• 大眾VW80000/通(tong)用(yong)GMW3172/ISO16750標準(zhun)測試
  • > 微(wei)中(zhong)斷
• 電化學(xue)工(gong)作(zuo)站/恒(heng)電位儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
• 電(dian)池(chi)/光伏/汽車(che)充電(dian)樁測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電測試(shi)
  • > 靜(jing)電CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘(chui)表(biao)面靜(jing)電電阻(zu)/電(dian)阻(zu)率(lv)
  • > 靜(jing)電場(chang)/靜(jing)電消散/離子(zi)平衡(heng)
  • > 離子(zi)風(feng)機(ji)/無風(feng)型(xing)靜(jing)電消除(chu)器(qi)
  • > 手腕(wan)帶(dai)防靜(jing)電工鞋(xie)人體綜(zong)合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防靜(jing)電吹吸(xi)塵(chen)器(qi)/抽(chou)煙機
  • > EMIT工位接(jie)地電(dian)阻(zu)監(jian)測(ce)儀(yi)
  • > 平板(ban)測試(shi)儀(yi)/離子(zi)風(feng)機(ji)測(ce)試(shi)儀(yi)/靜(jing)電監測(ce)器(qi)
  • > 靜(jing)電電荷(he)庫(ku)倫電量/衰(shuai)減
• 體積電阻(zu)，電(dian)阻(zu)計(ji)，記錄儀(yi)
  • > 高阻(zu)表(biao)/高阻(zu)計(ji)
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > LCR電橋(qiao)/阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 萬(wan)用表(biao)/多(duo)用表(biao)
  • > 電能質(zhi)量分(fen)析儀(yi)
  • > 電池(chi)測試(shi)儀(yi)
  • > 數據采(cai)集(ji)記錄儀(yi)
  • > 微(wei)電(dian)阻(zu)計(ji)/微(wei)歐(ou)姆(mu)計(ji)
• 吉時利(li)KEITHLEY/泰克Tektronix
  • > 半導體圖示(shi)儀(yi)
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)
  • > 數據采(cai)集(ji)/開(kai)關矩(ju)陣
  • > 高阻(zu)表(biao)/靜(jing)電計(ji)
  • > 源(yuan)表(biao)
  • > 電源
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 函數信號(hao)發生(sheng)器(qi)
• 安捷(jie)倫Agilent/是德(de)KEYSIGHT
  • > 移動(dong)通(tong)信專(zhuan)用(yong)電(dian)源，帶(dai)電池(chi)仿(fang)真
  • > 射(she)頻(pin)RF/脈(mai)沖(chong)碼型(xing)發生(sheng)器(qi)
  • > 直流(liu)電(dian)源/交(jiao)流(liu)電源(yuan)
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > 手持式示(shi)波表(biao)/手持式小(xiao)表(biao)
  • > 函數信號(hao)發生(sheng)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數據采(cai)集(ji)儀(yi)
  • > 源表(biao)/高阻(zu)表(biao)/皮安表(biao)微(wei)安(an)計(ji)
  • > 頻(pin)率(lv)計(ji)/頻(pin)譜儀(yi)/網(wang)絡(luo)分(fen)析儀(yi)
• 愛(ai)斯(si)佩克ESPEC環(huan)境(jing)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 穩(wen)定(ding)性試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 小(xiao)型(xing)恒(heng)溫恒(heng)濕試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 快(kuai)速(su)溫度變化濕熱(re)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 溫(wen)度(du)/結(jie)露循環(huan)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 烘(hong)箱(xiang)/幹(gan)燥(zao)箱(xiang)/高(gao)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)低(di)溫濕熱(re)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 鹽(yan)霧腐蝕(shi)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 步(bu)進式恒(heng)溫老(lao)化試驗(yan)室(shi)
  • > 高低(di)溫濕振動復合(he)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 高(gao)壓加速(su)老(lao)化試驗(yan)箱(xiang)
  • > IP砂(sha)塵(chen)防(fang)水淋雨試驗(yan)箱(xiang)
  • > 快(kuai)速(su)除(chu)濕設(she)備/除(chu)濕櫃/惰(duo)性氮(dan)氣防(fang)潮(chao)櫃
• 普(pu)源RIGOL/致遠(yuan)ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
  • > 手持式示(shi)波表(biao)
  • > 射(she)頻(pin)微(wei)波(bo)網(wang)絡(luo)分(fen)析儀(yi)
  • > 可編(bian)程(cheng)直流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > 射(she)頻(pin)信號(hao)源
  • > 數據采(cai)集(ji)儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 直流(liu)穩(wen)壓電源(yuan)
  • > 頻(pin)譜分(fen)析儀(yi)
  • > 函數信號(hao)發生(sheng)器(qi)
• Chroma致茂(mao)/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
  • > 電源(yuan)自(zi)動測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 光照(zhao)度(du)/亮(liang)色度測(ce)試
  • > 電(dian)參數測量功(gong)率(lv)計(ji)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 其他測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 交(jiao)流(liu)電源(yuan)
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)/泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)/接(jie)地
  • > 電(dian)子負載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)源
• 邏輯分(fen)析儀(yi)/總線協議(yi)測(ce)試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議(yi)分(fen)析
  • > DP AUX，Soundwire音頻(pin)總線協議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線協議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線測試(shi)
  • > 其他虛(xu)擬(ni)示(shi)波器(qi)/協(xie)議(yi)解(jie)碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹擾(rao)兼(jian)容
  • > 汽(qi)車(che)設備電(dian)源故障模(mo)擬(ni)器(qi)
  • > 拋(pao)負載(zai)
  • > 電(dian)纜束(shu)註(zhu)入(ru)敏感度(du)測(ce)試(shi)系統(tong)
  • > 寬帶(dai)功(gong)率(lv)放大器(qi)
  • > 汽(qi)車(che)電子(zi)電磁兼容EMC/波(bo)形(xing)
  • > 耦合(he)去耦(ou)合(he)
  • > 諧(xie)波和閃(shan)爍(shuo)
  • > 射(she)頻(pin)傳(chuan)導(dao)抗(kang)擾(rao)度測試系(xi)統(tong)
  • > 阻(zu)尼(ni)振蕩(dang)磁場(chang)測試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 振鈴波(bo)發生(sheng)器(qi)
  • > 電(dian)壓跌落(luo)模(mo)擬(ni)器(qi)
  • > 電(dian)快(kuai)速(su)瞬(shun)變脈(mai)沖(chong)群(qun)發生(sheng)器(qi)
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 安規(gui)綜(zong)合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直流(liu)耐(nai)壓測試(shi)儀(yi)
  • > 泄漏(lou)電(dian)流(liu)測試儀(yi)
  • > 雷擊(ji)浪(lang)湧(yong)/EMC電(dian)磁兼容測(ce)試
  • > 接(jie)地導(dao)通電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電放電發生(sheng)器(qi)
  • > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)校準(zhun)盒
• 愛色麗X-Rite/電色(se)NIPPON
  • > 標準光源/對(dui)色燈箱(xiang)
  • > 色(se)差(cha)儀(yi)/測色(se)儀(yi)/分(fen)光光(guang)度計(ji)
• 梅特(te)勒METTLER
  • > 熱(re)機械分(fen)析儀(yi)
  • > 分(fen)析天(tian)平
• 物(wu)料輪廓(kuo)顏(yan)色(se)缺(que)料視(shi)覺篩(shai)選
• 博勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流變(bian)儀(yi)
  • > 粘度計(ji)
  • > 質(zhi)構(gou)分(fen)析儀(yi)
  • > 粉體流動測試(shi)儀(yi)
  • > 恒(heng)溫水(shui)浴
  • > 粘度標準液(ye)/矽(gui)油(you)標(biao)準(zhun)液(ye)
  • > 水(shui)分(fen)、固(gu)含量、灰分(fen)測定(ding)儀(yi)
• 賓德(de)BINDER試驗(yan)箱(xiang)
  • > 二(er)氧(yang)化碳CO₂培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 高(gao)低(di)溫交(jiao)變(bian)氣候(hou)箱(xiang)
  • > 微(wei)生(sheng)物(wu)培(pei)養(yang)箱(xiang)
  • > 真空(kong)幹燥(zao)箱(xiang)
  • > 安(an)全幹燥(zao)箱(xiang)
  • > 幹(gan)燥(zao)箱(xiang)和烘(hong)箱(xiang)
  • > 生(sheng)物(wu)生長箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕箱(xiang)
  • > 超(chao)低(di)溫冰(bing)箱(xiang)
• 金(jin)相切割/鑲(xiang)嵌(qian)/研磨(mo)拋(pao)光(guang)
  • > 冷(leng)/熱鑲(xiang)嵌(qian)機(ji)
  • > 磨(mo)拋(pao)機(ji)/研磨(mo)機
  • > 金(jin)相耗(hao)材(cai)
  • > 電子天(tian)平/顯(xian)微(wei)鏡(jing)
• 紅(hong)外熱(re)像儀(yi)
• 美(mei)國(guo)BK PRECISION
  • > 信號(hao)源等(deng)儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 電源
• ADCMT愛德(de)萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺式數字萬(wan)用表(biao)
  • > I-V曲(qu)線測試(shi)系統(tong)
  • > 直流(liu)電(dian)源/恒(heng)流電(dian)流源(yuan)
  • > 高阻(zu)表(biao)/體積電阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 光功(gong)率(lv)計(ji)/光(guang)波(bo)長計(ji)
• COSMOS氣體/鐵(tie)粉濃度(du)計(ji)
• ITECH艾德(de)克斯(si)/NGI恩智(zhi)
  • > LED測試專(zhuan)用(yong)電(dian)子負載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > 回(hui)饋式電(dian)網(wang)模(mo)擬(ni)器(qi)交(jiao)流(liu)電源(yuan)
  • > 可編(bian)程(cheng)三(san)路(lu)直流(liu)電(dian)源
  • > 雙(shuang)向電源(yuan)和回(hui)饋式負載(zai)
  • > 新(xin)能源(yuan)汽(qi)車(che)/電池(chi)/充電(dian)樁測(ce)試系(xi)統(tong)
  • > 可編(bian)程(cheng)直流(liu)電(dian)源
  • > 小(xiao)功(gong)率(lv)電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直流(liu)電(dian)源和電(dian)子負載(zai)壹(yi)體的機器(qi)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 能量回(hui)饋式直流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > AC交(jiao)流(liu)電子(zi)負載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直流(liu)電(dian)源
  • > 新(xin)能源(yuan)汽(qi)車(che)/電池(chi)/充電(dian)樁
  • > 雙(shuang)極性(xing)電源
  • > AC交(jiao)流(liu)電源(yuan)
  • > 直流(liu)電(dian)源
• 羅德(de)與(yu)施(shi)瓦茨R&S（惠(hui)美(mei)HAMEG）
• 同惠(hui)/長盛/安柏
  • > 半導體參數分(fen)析儀(yi)
  • > 揚聲(sheng)器(qi)喇(la)叭(ba)電機(ji)馬(ma)達(da)測試(shi)
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)/電參數測試(shi)儀(yi)
  • > 皮安(an)表(biao)/高阻(zu)計(ji)/靜(jing)電計(ji)
  • > 直流(liu)低(di)電阻(zu)，微(wei)歐(ou)姆(mu)計(ji)
  • > 交(jiao)流(liu)低(di)電阻(zu)，電(dian)池(chi)測試(shi)儀(yi)
  • > 線材(cai)，線纜，線束測(ce)試儀(yi)
  • > 脈(mai)沖(chong)線圈測(ce)試儀(yi)
  • > 電感測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 電容測(ce)試儀(yi)
  • > 溫度(du)采(cai)集(ji)記錄儀(yi)
  • > LCR電橋(qiao)阻(zu)抗(kang)分(fen)析儀(yi)
  • > 高阻(zu)測(ce)試(shi)
  • > 安(an)規(gui)接(jie)地電(dian)阻(zu)/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安(an)規耐(nai)壓絕緣(yuan)
• 標(biao)準源/計(ji)量校準(zhun)檢定(ding)設備
• 晶(jing)圓(yuan)、芯片、屏幕Particle
• 日置HIOKI/國(guo)產(chan)替代
• 鎖相放大器(qi)
• 噪聲(sheng)/振動/聲(sheng)學(xue)測(ce)試(shi)方案
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲(sheng)器(qi)件測試(shi)設備
• 長盛耐(nai)壓絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)安(an)規(gui)測(ce)試(shi)
  • > 200mA大電流耐(nai)壓儀(yi)
• 永(yong)磁軟(ruan)磁磁通量測(ce)試
• 汽(qi)車(che)電子(zi)標準(zhun)波(bo)形(xing)可編(bian)程(cheng)電(dian)源(yuan)
• SHIMAZU島津(jin)
• 德(de)維創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 數據采(cai)集(ji)儀(yi)記錄儀(yi)
• ARC電(dian)池(chi)絕熱量熱(re)儀(yi)/熱安(an)全性能