MENDA35844防靜(jing)電凈化(hua)吸(xi)吹塵(chen)機

產(chan)品(pin)分類

• 氫檢(jian)儀(yi)氣密性(xing)檢(jian)漏(lou)檢(jian)測(ce)儀(yi)
• 國產源(yuan)表(biao)，替代keithley
  • > 替(ti)代進口功率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 替代(dai)進口(kou)電源(yuan)
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)環(huan)境試(shi)驗(yan)箱
  • > 國產替代進(jin)口射頻儀(yi)器
  • > 替(ti)代進(jin)口高阻表(biao)
  • > 電池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)器
  • > 電池(chi)絕緣電阻替(ti)代HIOKI
  • > SMU源(yuan)表(biao)替代KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)/信號源(yuan)替(ti)代(dai)是(shi)德(de)
• 體(ti)積(ji)電阻率(lv)/表(biao)面電阻測(ce)試(shi)
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電橋LCR
• 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
• 介電常數(shu)/電導率(lv)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)
• 大(da)眾VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準(zhun)測(ce)試(shi)
  • > 微(wei)中(zhong)斷(duan)
• 電化(hua)學(xue)工作(zuo)站/恒(heng)電位儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
• 電池(chi)/光(guang)伏(fu)/汽車充電樁測(ce)試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電測(ce)試(shi)
  • > 靜(jing)電CDM/HBM/MM
  • > 重錘表(biao)面靜(jing)電電阻/電阻率(lv)
  • > 靜(jing)電場/靜(jing)電消散/離子(zi)平衡
  • > 離子(zi)風機(ji)/無風型(xing)靜(jing)電消除(chu)器(qi)
  • > 手(shou)腕帶(dai)防(fang)靜(jing)電工鞋(xie)人(ren)體(ti)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > MENDA防靜(jing)電吹吸塵(chen)器/抽(chou)煙機
  • > EMIT工(gong)位接地(di)電阻監(jian)測(ce)儀(yi)
  • > 平板(ban)測(ce)試(shi)儀(yi)/離子(zi)風機(ji)測(ce)試(shi)儀(yi)/靜(jing)電監測(ce)器
  • > 靜(jing)電電荷(he)庫倫電量(liang)/衰(shuai)減
• 體(ti)積(ji)電阻，電阻計，記(ji)錄儀(yi)
  • > 高阻表(biao)/高阻計
  • > 耐(nai)壓絕緣漏(lou)電流測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > LCR電橋/阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 功率(lv)計/功率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 萬用(yong)表(biao)/多(duo)用(yong)表(biao)
  • > 電能質量(liang)分析(xi)儀(yi)
  • > 電池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 數據采集(ji)記(ji)錄儀(yi)
  • > 微(wei)電阻計/微(wei)歐(ou)姆計
• 吉(ji)時利KEITHLEY/泰(tai)克Tektronix
  • > 半導體(ti)圖(tu)示儀(yi)
  • > 示波器(qi)
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)
  • > 數據采集(ji)/開(kai)關矩(ju)陣
  • > 高阻表(biao)/靜(jing)電計
  • > 源(yuan)表(biao)
  • > 電源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 函數信(xin)號發生(sheng)器
• 安(an)捷(jie)倫Agilent/是(shi)德(de)KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通信(xin)專(zhuan)用(yong)電源(yuan)，帶(dai)電池(chi)仿真
  • > 射頻RF/脈沖(chong)碼型(xing)發生(sheng)器
  • > 直(zhi)流電源(yuan)/交(jiao)流電源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 示波器(qi)
  • > 手(shou)持(chi)式(shi)示波表(biao)/手(shou)持(chi)式(shi)小(xiao)表(biao)
  • > 函數信(xin)號發生(sheng)器
  • > LCR電橋
  • > 數(shu)據采集(ji)儀(yi)
  • > 源(yuan)表(biao)/高阻表(biao)/皮(pi)安(an)表(biao)微(wei)安(an)計
  • > 頻率(lv)計/頻譜儀(yi)/網(wang)絡(luo)分析(xi)儀(yi)
• 愛(ai)斯佩(pei)克(ke)ESPEC環(huan)境試(shi)驗(yan)箱
  • > 穩(wen)定性(xing)試(shi)驗(yan)箱
  • > 小(xiao)型恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試(shi)驗(yan)箱
  • > 快(kuai)速(su)溫度(du)變化(hua)濕(shi)熱試(shi)驗(yan)箱
  • > 溫度(du)/結露循環(huan)試(shi)驗(yan)箱
  • > 冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱
  • > 烘(hong)箱/幹(gan)燥箱(xiang)/高溫試(shi)驗(yan)箱
  • > 高低溫濕(shi)熱試(shi)驗(yan)箱
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試(shi)驗(yan)箱
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐蝕(shi)試(shi)驗(yan)箱
  • > 步(bu)進式恒(heng)溫老化(hua)試(shi)驗(yan)室
  • > 高低溫濕(shi)振動復合(he)試(shi)驗(yan)箱
  • > 高壓加速老化(hua)試(shi)驗(yan)箱
  • > IP砂(sha)塵(chen)防水(shui)淋(lin)雨(yu)試(shi)驗(yan)箱
  • > 快(kuai)速(su)除(chu)濕(shi)設備/除(chu)濕(shi)櫃/惰(duo)性(xing)氮(dan)氣防潮(chao)櫃
• 普(pu)源(yuan)RIGOL/致遠ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
  • > 手(shou)持(chi)式(shi)示波表(biao)
  • > 射頻微(wei)波網(wang)絡(luo)分析(xi)儀(yi)
  • > 可編(bian)程直(zhi)流電子(zi)負載(zai)
  • > 射頻信號源(yuan)
  • > 數(shu)據采集(ji)儀(yi)
  • > 功率(lv)計/功率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 示波器(qi)
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 直(zhi)流穩(wen)壓電源(yuan)
  • > 頻譜分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 函數(shu)信號發生(sheng)器
• Chroma致茂/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
  • > 電源(yuan)自動測(ce)試(shi)系統
  • > 光(guang)照度(du)/亮色(se)度(du)測(ce)試(shi)
  • > 電參數(shu)測(ce)量(liang)功率(lv)計
  • > LCR電橋
  • > 其(qi)他測(ce)試(shi)儀(yi)器
  • > 交(jiao)流電源(yuan)
  • > 耐(nai)壓絕緣/泄漏(lou)電流/接(jie)地(di)
  • > 電子(zi)負載(zai)
  • > 直(zhi)流電源(yuan)
• 邏(luo)輯分(fen)析(xi)儀(yi)/總(zong)線協議測(ce)試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議分析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻總(zong)線協議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線協議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線測(ce)試(shi)
  • > 其(qi)他虛擬示波器(qi)/協(xie)議解碼(ma)
• EMI/EMC/EMS電磁幹(gan)擾(rao)兼(jian)容(rong)
  • > 汽車設備電源(yuan)故(gu)障(zhang)模擬器
  • > 拋(pao)負(fu)載(zai)
  • > 電纜束(shu)註入(ru)敏(min)感(gan)度(du)測(ce)試(shi)系統
  • > 寬(kuan)帶(dai)功率(lv)放(fang)大(da)器
  • > 汽車電子(zi)電磁兼(jian)容(rong)EMC/波(bo)形
  • > 耦(ou)合(he)去(qu)耦(ou)合(he)
  • > 諧波(bo)和(he)閃爍(shuo)
  • > 射頻傳(chuan)導(dao)抗(kang)擾(rao)度(du)測(ce)試(shi)系統
  • > 阻(zu)尼(ni)振蕩(dang)磁場(chang)測(ce)試(shi)系統
  • > 振鈴(ling)波發生(sheng)器
  • > 電壓跌(die)落(luo)模(mo)擬器
  • > 電快(kuai)速(su)瞬(shun)變(bian)脈沖(chong)群(qun)發生(sheng)器
  • > 耐(nai)壓絕緣電阻測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 絕緣電阻測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > AC/DC交直(zhi)流耐(nai)壓測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 泄漏(lou)電流測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 雷擊(ji)浪湧(yong)/EMC電磁兼(jian)容(rong)測(ce)試(shi)
  • > 接(jie)地(di)導通電阻測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電放(fang)電發生(sheng)器
  • > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)校(xiao)準(zhun)盒
• 愛色(se)麗X-Rite/電色(se)NIPPON
  • > 標(biao)準(zhun)光源(yuan)/對(dui)色(se)燈箱(xiang)
  • > 色(se)差儀(yi)/測(ce)色(se)儀(yi)/分光(guang)光度(du)計
• 梅(mei)特勒(le)METTLER
  • > 熱(re)機(ji)械(xie)分析(xi)儀(yi)
  • > 分析(xi)天(tian)平(ping)
• 物(wu)料(liao)輪廓(kuo)顏(yan)色(se)缺(que)料視覺(jiao)篩(shai)選(xuan)
• 博(bo)勒飛(fei)Brookfield
  • > 流變(bian)儀(yi)
  • > 粘度(du)計
  • > 質構分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 粉體(ti)流動測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 恒(heng)溫水(shui)浴(yu)
  • > 粘度(du)標(biao)準(zhun)液/矽(gui)油(you)標(biao)準(zhun)液
  • > 水(shui)分(fen)、固(gu)含量(liang)、灰(hui)分(fen)測(ce)定儀(yi)
• 賓(bin)德(de)BINDER試(shi)驗(yan)箱
  • > 二(er)氧化(hua)碳CO₂培養(yang)箱
  • > 高低溫交變氣候(hou)箱
  • > 微(wei)生(sheng)物培養(yang)箱
  • > 真空(kong)幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 安(an)全(quan)幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 幹(gan)燥箱(xiang)和(he)烘箱(xiang)
  • > 生(sheng)物生(sheng)長箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)箱
  • > 超低(di)溫冰箱(xiang)
• 金(jin)相切割(ge)/鑲(xiang)嵌/研磨(mo)拋(pao)光(guang)
  • > 冷(leng)/熱鑲(xiang)嵌機
  • > 磨拋(pao)機(ji)/研(yan)磨機(ji)
  • > 金相耗(hao)材(cai)
  • > 電子(zi)天平(ping)/顯微(wei)鏡
• 紅外(wai)熱像(xiang)儀(yi)
• 美國BK PRECISION
  • > 信號源(yuan)等(deng)儀(yi)器
  • > 電子(zi)負載(zai)
  • > 示波器(qi)
  • > LCR電橋
  • > 萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > 電源(yuan)
• ADCMT愛(ai)德萬ADVANTEST
  • > 臺(tai)式(shi)數(shu)字(zi)萬(wan)用(yong)表(biao)
  • > I-V曲線測(ce)試(shi)系統
  • > 直(zhi)流電源(yuan)/恒(heng)流電流源(yuan)
  • > 高阻表(biao)/體(ti)積(ji)電阻率(lv)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 光功率(lv)計/光波(bo)長計
• COSMOS氣體(ti)/鐵粉濃度(du)計
• ITECH艾(ai)德(de)克(ke)斯/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試(shi)專(zhuan)用(yong)電子(zi)負載(zai)
  • > 直(zhi)流電子(zi)負載(zai)
  • > 回(hui)饋式電網(wang)模擬(ni)器交(jiao)流電源(yuan)
  • > 可(ke)編(bian)程(cheng)三(san)路(lu)直(zhi)流電源(yuan)
  • > 雙向(xiang)電源(yuan)和(he)回(hui)饋式負(fu)載(zai)
  • > 新(xin)能(neng)源(yuan)汽車/電池(chi)/充電樁測(ce)試(shi)系統
  • > 可(ke)編程(cheng)直(zhi)流電源(yuan)
  • > 小(xiao)功率(lv)電子(zi)負載(zai)
  • > 大(da)功率(lv)直(zhi)流電源(yuan)和(he)電子(zi)負載(zai)壹(yi)體(ti)的機器
  • > 大(da)功率(lv)電子(zi)負載(zai)
  • > 能(neng)量(liang)回饋式直(zhi)流電子(zi)負載(zai)
  • > AC交(jiao)流電子(zi)負載(zai)
  • > 大(da)功率(lv)直(zhi)流電源(yuan)
  • > 新(xin)能(neng)源(yuan)汽車/電池(chi)/充電樁
  • > 雙極(ji)性(xing)電源(yuan)
  • > AC交(jiao)流電源(yuan)
  • > 直(zhi)流電源(yuan)
• 羅德(de)與(yu)施瓦茨(ci)R&S（惠(hui)美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠(hui)/長(chang)盛/安(an)柏
  • > 半導體(ti)參(can)數分析(xi)儀(yi)
  • > 揚聲(sheng)器喇(la)叭(ba)電機馬(ma)達(da)測(ce)試(shi)
  • > 功率(lv)分析(xi)儀(yi)/電參數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)/高阻計/靜(jing)電計
  • > 直(zhi)流低(di)電阻，微(wei)歐(ou)姆計
  • > 交流低(di)電阻，電池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 線材，線纜，線束測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 脈沖(chong)線圈測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 電感(gan)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 電容測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 溫度(du)采集(ji)記(ji)錄儀(yi)
  • > LCR電橋阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 高阻測(ce)試(shi)
  • > 安(an)規(gui)接(jie)地(di)電阻/漏(lou)電流
  • > 安(an)規(gui)耐(nai)壓絕緣
• 標(biao)準(zhun)源(yuan)/計量(liang)校(xiao)準(zhun)檢(jian)定(ding)設備
• 晶(jing)圓、芯(xin)片、屏幕(mu)Particle
• 日(ri)置HIOKI/國產替代
• 鎖(suo)相放(fang)大(da)器
• 噪(zao)聲(sheng)/振動/聲學(xue)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)
• 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲器(qi)件測(ce)試(shi)設備
• 長(chang)盛耐(nai)壓絕緣電阻安(an)規(gui)測(ce)試(shi)
  • > 200mA大(da)電流耐(nai)壓儀(yi)
• 永(yong)磁軟(ruan)磁磁通量(liang)測(ce)試(shi)
• 汽車電子(zi)標(biao)準(zhun)波形可(ke)編(bian)程電源(yuan)
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德(de)維(wei)創DEWETRON
  • > 功率(lv)分析(xi)儀(yi)
  • > 數據采集(ji)儀(yi)記(ji)錄儀(yi)
• ARC電池(chi)絕熱量(liang)熱儀(yi)/熱安(an)全(quan)性(xing)能(neng)