MENDA35848防(fang)靜電(dian)吸塵(chen)器技(ji)術(shu)規(gui)格(ge)說(shuo)明(ming)書(shu)

產品分類(lei)

• 氫檢(jian)儀氣密(mi)性(xing)檢漏(lou)檢測儀
• 國產源表，替代(dai)keithley
  • > 替代(dai)進(jin)口功(gong)率(lv)分析(xi)儀
  • > 替代(dai)進(jin)口電(dian)源
  • > 替代(dai)進(jin)口環(huan)境(jing)試(shi)驗箱
  • > 國產替代(dai)進(jin)口射頻(pin)儀器
  • > 替代(dai)進(jin)口高(gao)阻表
  • > 電(dian)池測(ce)試(shi)儀器
  • > 電(dian)池絕(jue)緣電阻替代(dai)HIOKI
  • > SMU源表替代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用表/信(xin)號源替代(dai)是德(de)
• 體(ti)積電(dian)阻率(lv)/表(biao)面電(dian)阻測試(shi)
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗(kang)分析(xi)儀
  • > 電橋(qiao)LCR
• 半導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介(jie)電常(chang)數(shu)/電導(dao)率(lv)測(ce)試方案(an)
• 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測(ce)試(shi)
  • > 微(wei)中斷(duan)
• 電化(hua)學(xue)工(gong)作站/恒(heng)電(dian)位儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池/光伏(fu)/汽車(che)充電(dian)樁測試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測(ce)試(shi)
  • > 靜電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重錘表面靜電(dian)電(dian)阻/電阻率(lv)
  • > 靜電(dian)場/靜電(dian)消(xiao)散(san)/離子平衡(heng)
  • > 離子風機(ji)/無(wu)風型靜電(dian)消(xiao)除(chu)器
  • > 手腕(wan)帶(dai)防(fang)靜電(dian)工(gong)鞋人(ren)體綜(zong)合測試(shi)儀
  • > MENDA防靜電(dian)吹(chui)吸塵(chen)器/抽煙(yan)機(ji)
  • > EMIT工(gong)位接(jie)地電阻監測(ce)儀
  • > 平板(ban)測(ce)試儀/離子風機(ji)測試儀/靜電(dian)監(jian)測(ce)器
  • > 靜電(dian)電(dian)荷(he)庫(ku)倫電(dian)量/衰減(jian)
• 體積(ji)電(dian)阻，電阻計(ji)，記錄儀
  • > 高(gao)阻表/高(gao)阻計(ji)
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  • > LCR電橋(qiao)/阻抗(kang)分析(xi)儀
  • > 功率(lv)計(ji)/功率(lv)分析(xi)儀
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  • > 電(dian)能(neng)質量分析(xi)儀
  • > 電池測(ce)試(shi)儀
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  • > 微(wei)電(dian)阻計(ji)/微(wei)歐(ou)姆(mu)計(ji)
• 吉(ji)時(shi)利(li)KEITHLEY/泰克Tektronix
  • > 半導(dao)體(ti)圖(tu)示儀
  • > 示波(bo)器
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  • > 數(shu)據采集儀
  • > 源表/高(gao)阻表/皮(pi)安(an)表微(wei)安(an)計(ji)
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  • > 快(kuai)速(su)溫(wen)度變(bian)化(hua)濕熱試(shi)驗(yan)箱
  • > 溫(wen)度/結(jie)露循(xun)環試(shi)驗箱
  • > 冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱
  • > 烘(hong)箱/幹(gan)燥(zao)箱/高(gao)溫(wen)試驗箱
  • > 高(gao)低溫(wen)濕熱試(shi)驗(yan)箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗(yan)箱
  • > 鹽(yan)霧腐(fu)蝕(shi)試驗(yan)箱
  • > 步(bu)進(jin)式(shi)恒(heng)溫(wen)老化試驗(yan)室
  • > 高(gao)低溫(wen)濕振動(dong)復(fu)合(he)試(shi)驗(yan)箱
  • > 高(gao)壓加速(su)老(lao)化試(shi)驗箱
  • > IP砂(sha)塵(chen)防(fang)水淋(lin)雨試驗(yan)箱
  • > 快(kuai)速(su)除(chu)濕設備/除(chu)濕櫃(gui)/惰(duo)性氮氣防(fang)潮(chao)櫃(gui)
• 普(pu)源RIGOL/致遠ZLG/鼎(ding)陽SIGLENT
  • > 手持式(shi)示波(bo)表(biao)
  • > 射頻(pin)微(wei)波(bo)網絡分析(xi)儀
  • > 可編程直(zhi)流(liu)電(dian)子負(fu)載
  • > 射頻(pin)信(xin)號源
  • > 數(shu)據采集儀
  • > 功率(lv)計(ji)/功率(lv)分析(xi)儀
  • > 示波(bo)器
  • > 萬(wan)用表
  • > 直(zhi)流(liu)穩(wen)壓電源
  • > 頻譜(pu)分析(xi)儀
  • > 函數(shu)信號(hao)發生器
• Chroma致茂(mao)/EEC華儀EXTECH
  • > 電源自動測(ce)試(shi)系統
  • > 光照(zhao)度/亮色(se)度測(ce)試(shi)
  • > 電參(can)數(shu)測量功(gong)率(lv)計(ji)
  • > LCR電橋(qiao)
  • > 其(qi)他測(ce)試儀器
  • > 交(jiao)流(liu)電源
  • > 耐壓絕(jue)緣/泄漏(lou)電流/接(jie)地
  • > 電子負(fu)載
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 邏(luo)輯分析(xi)儀/總(zong)線(xian)協議測試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議分析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻(pin)總(zong)線(xian)協議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線(xian)協議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線(xian)測試(shi)
  • > 其(qi)他虛(xu)擬(ni)示波(bo)器/協(xie)議解碼(ma)
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹(gan)擾兼(jian)容
  • > 汽車(che)設備電(dian)源故(gu)障(zhang)模擬(ni)器
  • > 拋(pao)負(fu)載
  • > 電(dian)纜(lan)束註(zhu)入敏感(gan)度測(ce)試(shi)系統(tong)
  • > 寬帶(dai)功(gong)率(lv)放大器
  • > 汽車(che)電子電磁兼容EMC/波形(xing)
  • > 耦(ou)合去耦(ou)合(he)
  • > 諧波(bo)和(he)閃爍
  • > 射頻(pin)傳(chuan)導(dao)抗(kang)擾度測(ce)試(shi)系統(tong)
  • > 阻尼振(zhen)蕩(dang)磁場測試(shi)系(xi)統
  • > 振鈴波發生器
  • > 電(dian)壓跌落模擬(ni)器
  • > 電(dian)快(kuai)速(su)瞬(shun)變(bian)脈(mai)沖群發生器
  • > 耐(nai)壓絕(jue)緣電阻測試(shi)儀
  • > 絕(jue)緣電阻測試(shi)儀
  • > 安(an)規綜(zong)合測(ce)試儀
  • > AC/DC交直(zhi)流(liu)耐(nai)壓測試儀
  • > 泄漏(lou)電流測試儀
  • > 雷擊(ji)浪湧/EMC電磁(ci)兼容(rong)測(ce)試(shi)
  • > 接(jie)地導(dao)通電阻測試(shi)儀
  • > ESD靜電(dian)放電發生器
  • > 安(an)規綜(zong)合校準盒(he)
• 愛(ai)色(se)麗X-Rite/電色(se)NIPPON
  • > 標(biao)準光源/對(dui)色(se)燈(deng)箱
  • > 色(se)差(cha)儀/測色(se)儀/分光光度計(ji)
• 梅(mei)特(te)勒(le)METTLER
  • > 熱(re)機械分析(xi)儀
  • > 分析(xi)天(tian)平
• 物料(liao)輪廓(kuo)顏(yan)色(se)缺(que)料(liao)視覺(jiao)篩選
• 博勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流變(bian)儀
  • > 粘(zhan)度計(ji)
  • > 質構分析(xi)儀
  • > 粉體流動測(ce)試(shi)儀
  • > 恒(heng)溫(wen)水浴(yu)
  • > 粘(zhan)度標(biao)準液(ye)/矽(gui)油(you)標準液(ye)
  • > 水分、固(gu)含量、灰(hui)分測(ce)定儀
• 賓德(de)BINDER試驗(yan)箱
  • > 二氧(yang)化(hua)碳(tan)CO₂培(pei)養箱
  • > 高(gao)低溫(wen)交變(bian)氣候(hou)箱
  • > 微(wei)生物(wu)培養箱
  • > 真空幹(gan)燥(zao)箱
  • > 安(an)全幹(gan)燥(zao)箱
  • > 幹(gan)燥(zao)箱和(he)烘(hong)箱
  • > 生物(wu)生長(chang)箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱
  • > 超(chao)低溫(wen)冰箱
• 金相切割(ge)/鑲嵌/研磨拋光
  • > 冷(leng)/熱鑲嵌機
  • > 磨(mo)拋(pao)機(ji)/研磨機
  • > 金相耗材
  • > 電(dian)子天(tian)平/顯微(wei)鏡(jing)
• 紅外熱像(xiang)儀
• 美(mei)國BK PRECISION
  • > 信(xin)號(hao)源等儀器
  • > 電(dian)子負(fu)載
  • > 示波(bo)器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬(wan)用表
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛(ai)德(de)萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式(shi)數(shu)字萬(wan)用表
  • > I-V曲(qu)線(xian)測試(shi)系統
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/恒(heng)流(liu)電流源
  • > 高(gao)阻表/體(ti)積(ji)電阻率(lv)測(ce)試儀
  • > 光功(gong)率(lv)計(ji)/光波(bo)長(chang)計(ji)
• COSMOS氣體(ti)/鐵粉濃度計(ji)
• ITECH艾(ai)德(de)克斯/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試專(zhuan)用電子負(fu)載
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子負(fu)載
  • > 回(hui)饋(kui)式(shi)電(dian)網(wang)模擬(ni)器交(jiao)流(liu)電源
  • > 可編程三(san)路直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 雙向電源和(he)回(hui)饋(kui)式(shi)負(fu)載
  • > 新(xin)能(neng)源汽車(che)/電池/充(chong)電(dian)樁測試(shi)系(xi)統
  • > 可編程直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 小(xiao)功率(lv)電(dian)子負(fu)載
  • > 大功率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源和(he)電(dian)子負(fu)載壹體的機器
  • > 大功率(lv)電(dian)子負(fu)載
  • > 能(neng)量回(hui)饋(kui)式(shi)直(zhi)流(liu)電(dian)子負(fu)載
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)子負(fu)載
  • > 大功率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 新能(neng)源汽車(che)/電池/充(chong)電(dian)樁
  • > 雙極性(xing)電(dian)源
  • > AC交流電源
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 羅德(de)與施瓦茨R&S（惠美(mei)HAMEG）
• 同惠/長盛/安(an)柏
  • > 半導(dao)體(ti)參(can)數(shu)分析(xi)儀
  • > 揚(yang)聲器喇(la)叭電機(ji)馬(ma)達(da)測(ce)試(shi)
  • > 功(gong)率(lv)分析(xi)儀/電參(can)數(shu)測試(shi)儀
  • > 皮安(an)表/高(gao)阻計(ji)/靜電(dian)計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低電(dian)阻，微(wei)歐(ou)姆(mu)計(ji)
  • > 交流低電(dian)阻，電池測(ce)試(shi)儀
  • > 線(xian)材，線(xian)纜(lan)，線(xian)束測(ce)試儀
  • > 脈沖(chong)線(xian)圈測(ce)試儀
  • > 電感(gan)測試儀
  • > 電容(rong)測(ce)試儀
  • > 溫(wen)度采集記錄儀
  • > LCR電橋(qiao)阻抗(kang)分析(xi)儀
  • > 高(gao)阻測試(shi)
  • > 安(an)規接(jie)地電阻/漏(lou)電流
  • > 安(an)規耐(nai)壓絕(jue)緣
• 標(biao)準源/計(ji)量校準檢(jian)定設備
• 晶圓(yuan)、芯片、屏幕(mu)Particle
• 日(ri)置(zhi)HIOKI/國產替代(dai)
• 鎖相放大器
• 噪(zao)聲/振(zhen)動/聲學(xue)測試(shi)方案(an)
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲器件(jian)測(ce)試設備
• 長(chang)盛耐壓絕(jue)緣電阻安(an)規測(ce)試
  • > 200mA大電流(liu)耐(nai)壓儀
• 永(yong)磁軟(ruan)磁磁(ci)通量測(ce)試(shi)
• 汽車(che)電子標準波(bo)形(xing)可(ke)編程電(dian)源
• SHIMAZU島津(jin)
• 德(de)維創(chuang)DEWETRON
  • > 功率(lv)分析(xi)儀
  • > 數(shu)據采集儀記錄儀
• ARC電池絕(jue)熱(re)量熱(re)儀/熱安(an)全性能(neng)