DESCO50671，desco50672離(li)子風(feng)機(ji)說(shuo)明書

產(chan)品(pin)分(fen)類(lei)

• 氫(qing)檢(jian)儀氣(qi)密性(xing)檢(jian)漏(lou)檢(jian)測(ce)儀
• 國產源表，替(ti)代(dai)keithley
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)功率(lv)分(fen)析(xi)儀
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)電(dian)源
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)環(huan)境(jing)試(shi)驗(yan)箱
  • > 國產(chan)替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)射(she)頻(pin)儀器
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)高(gao)阻(zu)表(biao)
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀器
  • > 電(dian)池(chi)絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)替(ti)代(dai)HIOKI
  • > SMU源表替(ti)代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬用表(biao)/信號(hao)源替(ti)代(dai)是德
• 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)/表面電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)
• 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀
  • > 電(dian)橋(qiao)LCR
• 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
• 介電(dian)常(chang)數(shu)/電(dian)導率測(ce)試(shi)方案(an)
• 大眾(zhong)VW80000/通(tong)用GMW3172/ISO16750標(biao)準(zhun)測(ce)試(shi)
  • > 微中(zhong)斷(duan)
• 電(dian)化(hua)學工(gong)作站(zhan)/恒(heng)電(dian)位儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
• 電(dian)池(chi)/光(guang)伏(fu)/汽(qi)車(che)充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測(ce)試(shi)
  • > 靜(jing)電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重錘(chui)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)電(dian)阻(zu)/電(dian)阻(zu)率(lv)
  • > 靜(jing)電(dian)場(chang)/靜(jing)電(dian)消散(san)/離(li)子平(ping)衡
  • > 離(li)子風(feng)機(ji)/無(wu)風(feng)型(xing)靜(jing)電(dian)消除器
  • > 手腕(wan)帶(dai)防(fang)靜(jing)電(dian)工(gong)鞋人(ren)體(ti)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀
  • > MENDA防靜(jing)電(dian)吹(chui)吸(xi)塵(chen)器/抽(chou)煙(yan)機(ji)
  • > EMIT工位接地電(dian)阻(zu)監(jian)測(ce)儀
  • > 平(ping)板測(ce)試(shi)儀/離(li)子風(feng)機(ji)測(ce)試(shi)儀/靜(jing)電(dian)監(jian)測(ce)器
  • > 靜(jing)電(dian)電(dian)荷(he)庫(ku)倫電(dian)量(liang)/衰(shuai)減(jian)
• 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)，電(dian)阻(zu)計(ji)，記(ji)錄儀
  • > 高阻表/高(gao)阻(zu)計(ji)
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)儀
  • > LCR電(dian)橋(qiao)/阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀
  • > 功率(lv)計(ji)/功率(lv)分(fen)析(xi)儀
  • > 萬用表(biao)/多用表(biao)
  • > 電(dian)能(neng)質量(liang)分(fen)析(xi)儀
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀
  • > 數(shu)據采集記(ji)錄儀
  • > 微電(dian)阻(zu)計(ji)/微(wei)歐(ou)姆計(ji)
• 吉(ji)時利(li)KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
  • > 半導體(ti)圖(tu)示(shi)儀
  • > 示波器
  • > 皮安表
  • > 數(shu)據采集/開關(guan)矩(ju)陣(zhen)
  • > 高(gao)阻(zu)表(biao)/靜(jing)電(dian)計(ji)
  • > 源表
  • > 電(dian)源
  • > 萬用表(biao)
  • > 函數(shu)信號(hao)發(fa)生(sheng)器
• 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
  • > 移動通(tong)信(xin)專(zhuan)用電(dian)源，帶(dai)電(dian)池(chi)仿(fang)真(zhen)
  • > 射頻(pin)RF/脈(mai)沖(chong)碼型發(fa)生(sheng)器
  • > 直(zhi)流電(dian)源/交流(liu)電(dian)源
  • > 萬用表(biao)
  • > 示波器
  • > 手持式示波表/手持式小(xiao)表(biao)
  • > 函數(shu)信號(hao)發(fa)生(sheng)器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數(shu)據采集儀
  • > 源表/高(gao)阻(zu)表(biao)/皮安表微安計(ji)
  • > 頻(pin)率計(ji)/頻(pin)譜儀/網絡(luo)分(fen)析(xi)儀
• 愛(ai)斯佩(pei)克(ke)ESPEC環(huan)境(jing)試(shi)驗(yan)箱
  • > 穩定(ding)性(xing)試(shi)驗(yan)箱
  • > 小(xiao)型(xing)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)試(shi)驗(yan)箱
  • > 快速(su)溫(wen)度變化(hua)濕(shi)熱(re)試(shi)驗(yan)箱
  • > 溫(wen)度/結(jie)露循(xun)環(huan)試(shi)驗(yan)箱
  • > 冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱
  • > 烘(hong)箱(xiang)/幹燥箱(xiang)/高(gao)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱
  • > 高低(di)溫(wen)濕(shi)熱(re)試(shi)驗(yan)箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)試(shi)驗(yan)箱
  • > 鹽霧(wu)腐(fu)蝕(shi)試(shi)驗(yan)箱
  • > 步進(jin)式(shi)恒(heng)溫(wen)老化(hua)試(shi)驗(yan)室
  • > 高低(di)溫(wen)濕(shi)振(zhen)動復合(he)試(shi)驗(yan)箱
  • > 高壓加(jia)速(su)老化(hua)試(shi)驗(yan)箱
  • > IP砂塵防(fang)水淋(lin)雨(yu)試(shi)驗(yan)箱
  • > 快速(su)除濕(shi)設(she)備/除濕(shi)櫃/惰性(xing)氮氣(qi)防(fang)潮(chao)櫃
• 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽(yang)SIGLENT
  • > 手持式示波表
  • > 射(she)頻(pin)微波網絡(luo)分(fen)析(xi)儀
  • > 可編程直流電(dian)子負載(zai)
  • > 射頻(pin)信號(hao)源
  • > 數(shu)據采集儀
  • > 功率(lv)計(ji)/功率(lv)分(fen)析(xi)儀
  • > 示波器
  • > 萬用表(biao)
  • > 直流穩壓電(dian)源
  • > 頻(pin)譜分(fen)析(xi)儀
  • > 函數(shu)信號(hao)發(fa)生(sheng)器
• Chroma致茂/EEC華(hua)儀EXTECH
  • > 電(dian)源自(zi)動測(ce)試(shi)系統
  • > 光(guang)照度/亮(liang)色(se)度測(ce)試(shi)
  • > 電(dian)參(can)數(shu)測(ce)量功率(lv)計(ji)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 其(qi)他(ta)測(ce)試(shi)儀器
  • > 交流(liu)電(dian)源
  • > 耐壓絕緣(yuan)/泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)/接地
  • > 電(dian)子負載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)源
• 邏輯(ji)分(fen)析(xi)儀/總線(xian)協(xie)議測(ce)試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議(yi)分(fen)析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音頻(pin)總線(xian)協(xie)議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線(xian)協(xie)議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線(xian)測(ce)試(shi)
  • > 其他(ta)虛(xu)擬示波器/協(xie)議解(jie)碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹擾(rao)兼(jian)容
  • > 汽(qi)車(che)設(she)備電(dian)源故障(zhang)模(mo)擬器
  • > 拋(pao)負(fu)載(zai)
  • > 電(dian)纜束註(zhu)入(ru)敏感(gan)度測(ce)試(shi)系統
  • > 寬(kuan)帶(dai)功率(lv)放(fang)大器
  • > 汽(qi)車(che)電(dian)子電(dian)磁(ci)兼(jian)容EMC/波形(xing)
  • > 耦合(he)去耦合(he)
  • > 諧波和(he)閃爍
  • > 射頻(pin)傳(chuan)導抗(kang)擾(rao)度測(ce)試(shi)系統
  • > 阻尼振(zhen)蕩(dang)磁(ci)場測(ce)試(shi)系統
  • > 振(zhen)鈴波發生(sheng)器
  • > 電(dian)壓跌落(luo)模(mo)擬器
  • > 電(dian)快速(su)瞬變脈(mai)沖(chong)群(qun)發(fa)生(sheng)器
  • > 耐(nai)壓絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
  • > 絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
  • > 安規綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀
  • > AC/DC交直(zhi)流(liu)耐壓測(ce)試(shi)儀
  • > 泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)儀
  • > 雷擊浪(lang)湧/EMC電(dian)磁(ci)兼(jian)容測(ce)試(shi)
  • > 接地導通(tong)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
  • > ESD靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)發(fa)生(sheng)器
  • > 安規綜(zong)合(he)校準(zhun)盒(he)
• 愛(ai)色(se)麗X-Rite/電(dian)色(se)NIPPON
  • > 標(biao)準(zhun)光(guang)源/對(dui)色(se)燈(deng)箱
  • > 色(se)差(cha)儀/測(ce)色(se)儀/分(fen)光(guang)光(guang)度計(ji)
• 梅(mei)特勒METTLER
  • > 熱(re)機(ji)械分(fen)析(xi)儀
  • > 分(fen)析(xi)天(tian)平(ping)
• 物料輪廓(kuo)顏(yan)色(se)缺(que)料視(shi)覺篩(shai)選
• 博(bo)勒飛Brookfield
  • > 流(liu)變儀
  • > 粘度計(ji)
  • > 質(zhi)構(gou)分(fen)析(xi)儀
  • > 粉體(ti)流(liu)動測(ce)試(shi)儀
  • > 恒(heng)溫(wen)水浴
  • > 粘度標(biao)準(zhun)液(ye)/矽(gui)油(you)標(biao)準(zhun)液(ye)
  • > 水(shui)分(fen)、固含量(liang)、灰分(fen)測(ce)定儀
• 賓德BINDER試(shi)驗(yan)箱
  • > 二氧(yang)化(hua)碳(tan)CO₂培養(yang)箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫(wen)交變氣(qi)候(hou)箱(xiang)
  • > 微生(sheng)物培養(yang)箱(xiang)
  • > 真(zhen)空(kong)幹燥箱(xiang)
  • > 安全(quan)幹燥箱(xiang)
  • > 幹燥箱(xiang)和(he)烘(hong)箱(xiang)
  • > 生(sheng)物生(sheng)長(chang)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)箱
  • > 超低溫(wen)冰(bing)箱(xiang)
• 金相切(qie)割(ge)/鑲(xiang)嵌(qian)/研(yan)磨拋(pao)光(guang)
  • > 冷/熱(re)鑲(xiang)嵌(qian)機(ji)
  • > 磨拋(pao)機(ji)/研磨機(ji)
  • > 金相(xiang)耗(hao)材(cai)
  • > 電(dian)子天平(ping)/顯微(wei)鏡
• 紅(hong)外(wai)熱(re)像儀
• 美國(guo)BK PRECISION
  • > 信號(hao)源等儀器
  • > 電(dian)子負載(zai)
  • > 示波器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬用表(biao)
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛(ai)德萬ADVANTEST
  • > 臺式(shi)數(shu)字萬用表(biao)
  • > I-V曲線測(ce)試(shi)系統
  • > 直流(liu)電(dian)源/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源
  • > 高阻(zu)表(biao)/體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀
  • > 光(guang)功率(lv)計(ji)/光(guang)波長計(ji)
• COSMOS氣(qi)體(ti)/鐵(tie)粉濃(nong)度計(ji)
• ITECH艾(ai)德(de)克(ke)斯/NGI恩(en)智(zhi)
  • > LED測(ce)試(shi)專(zhuan)用電(dian)子負載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > 回(hui)饋式(shi)電(dian)網模(mo)擬器交流(liu)電(dian)源
  • > 可編程三路直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 雙向(xiang)電(dian)源和(he)回(hui)饋式(shi)負(fu)載
  • > 新(xin)能(neng)源汽(qi)車(che)/電(dian)池(chi)/充(chong)電(dian)樁(zhuang)測(ce)試(shi)系統
  • > 可編程直流電(dian)源
  • > 小(xiao)功率(lv)電(dian)子負載(zai)
  • > 大功率(lv)直流電(dian)源和(he)電(dian)子負載(zai)壹體(ti)的(de)機(ji)器
  • > 大(da)功率(lv)電(dian)子負載(zai)
  • > 能(neng)量回(hui)饋式(shi)直(zhi)流電(dian)子負載(zai)
  • > AC交流(liu)電(dian)子負載(zai)
  • > 大功率(lv)直流電(dian)源
  • > 新(xin)能(neng)源汽(qi)車(che)/電(dian)池(chi)/充(chong)電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙極性(xing)電(dian)源
  • > AC交流(liu)電(dian)源
  • > 直流(liu)電(dian)源
• 羅德與(yu)施(shi)瓦(wa)茨R&S（惠(hui)美HAMEG）
• 同(tong)惠(hui)/長盛(sheng)/安柏
  • > 半導體(ti)參(can)數(shu)分(fen)析(xi)儀
  • > 揚(yang)聲器喇(la)叭(ba)電(dian)機(ji)馬達(da)測(ce)試(shi)
  • > 功率(lv)分(fen)析(xi)儀/電(dian)參(can)數(shu)測(ce)試(shi)儀
  • > 皮安表/高阻計(ji)/靜(jing)電(dian)計(ji)
  • > 直(zhi)流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，微(wei)歐姆計(ji)
  • > 交流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀
  • > 線材(cai)，線纜，線束(shu)測(ce)試(shi)儀
  • > 脈(mai)沖(chong)線(xian)圈(quan)測(ce)試(shi)儀
  • > 電(dian)感(gan)測(ce)試(shi)儀
  • > 電(dian)容(rong)測(ce)試(shi)儀
  • > 溫(wen)度采集記(ji)錄儀
  • > LCR電(dian)橋(qiao)阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀
  • > 高阻測(ce)試(shi)
  • > 安規接地電(dian)阻(zu)/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安規耐壓絕緣(yuan)
• 標(biao)準(zhun)源/計(ji)量(liang)校準(zhun)檢(jian)定(ding)設(she)備
• 晶圓、芯片(pian)、屏幕(mu)Particle
• 日(ri)置HIOKI/國(guo)產(chan)替(ti)代(dai)
• 鎖(suo)相放(fang)大器
• 噪聲(sheng)/振(zhen)動/聲(sheng)學測(ce)試(shi)方案(an)
• 日(ri)本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲(sheng)器件(jian)測(ce)試(shi)設(she)備
• 長盛(sheng)耐壓絕緣(yuan)電(dian)阻(zu)安規測(ce)試(shi)
  • > 200mA大電(dian)流(liu)耐(nai)壓儀
• 永磁(ci)軟(ruan)磁(ci)磁通(tong)量(liang)測(ce)試(shi)
• 汽(qi)車(che)電(dian)子標(biao)準(zhun)波形(xing)可編程電(dian)源
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德(de)維創DEWETRON
  • > 功率(lv)分(fen)析(xi)儀
  • > 數(shu)據采集儀記(ji)錄儀
• ARC電(dian)池(chi)絕熱(re)量(liang)熱(re)儀/熱(re)安全(quan)性(xing)能(neng)