ACL800兆歐(ou)表，表(biao)面電阻(zu)測試(shi)儀(yi)用戶(hu)手(shou)冊說明書(shu)

產(chan)品分(fen)類(lei)

• 氫(qing)檢儀(yi)氣(qi)密(mi)性(xing)檢漏(lou)檢測儀(yi)
• 國產(chan)源表，替(ti)代keithley
  • > 替代進口功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 替代進口電源(yuan)
  • > 替(ti)代進口環境試(shi)驗(yan)箱
  • > 國(guo)產(chan)替代進口射頻(pin)儀(yi)器(qi)
  • > 替(ti)代進口高阻(zu)表
  • > 電池測試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)池絕(jue)緣電阻(zu)替代HIOKI
  • > SMU源表替代KEITHLEY2400
  • > 萬用表(biao)/信(xin)號(hao)源(yuan)替代是(shi)德
• 體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)/表(biao)面電阻(zu)測試(shi)
• 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電橋(qiao)LCR
• 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測試(shi)
• 介(jie)電(dian)常數/電(dian)導率(lv)測試(shi)方案
• 大(da)眾(zhong)VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biao)準測試(shi)
  • > 微(wei)中斷(duan)
• 電化(hua)學(xue)工(gong)作站/恒(heng)電位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試(shi)
• 電(dian)池/光(guang)伏(fu)/汽車充電樁測試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測試(shi)
  • > 靜電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重錘(chui)表(biao)面靜電(dian)電阻(zu)/電阻(zu)率(lv)
  • > 靜電(dian)場/靜電(dian)消散(san)/離子平衡
  • > 離子風(feng)機(ji)/無風(feng)型靜電(dian)消除(chu)器(qi)
  • > 手(shou)腕(wan)帶(dai)防(fang)靜電(dian)工(gong)鞋人體(ti)綜合(he)測試(shi)儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜電(dian)吹吸(xi)塵(chen)器(qi)/抽(chou)煙機(ji)
  • > EMIT工(gong)位接(jie)地(di)電阻(zu)監(jian)測儀(yi)
  • > 平板(ban)測試(shi)儀(yi)/離子風(feng)機(ji)測試(shi)儀(yi)/靜電(dian)監(jian)測器(qi)
  • > 靜電(dian)電荷庫倫電(dian)量/衰減(jian)
• 體積(ji)電阻(zu)，電阻(zu)計，記(ji)錄儀(yi)
  • > 高阻(zu)表/高阻(zu)計
  • > 耐壓絕(jue)緣漏(lou)電流(liu)測試(shi)儀(yi)
  • > LCR電橋(qiao)/阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 萬用表(biao)/多(duo)用表(biao)
  • > 電(dian)能質量分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電池測試(shi)儀(yi)
  • > 數據采(cai)集記(ji)錄儀(yi)
  • > 微(wei)電阻(zu)計/微(wei)歐(ou)姆計(ji)
• 吉(ji)時利KEITHLEY/泰(tai)克Tektronix
  • > 半導體(ti)圖示儀(yi)
  • > 示波器(qi)
  • > 皮(pi)安(an)表
  • > 數據采(cai)集/開關矩陣
  • > 高阻(zu)表/靜電(dian)計
  • > 源(yuan)表(biao)
  • > 電(dian)源
  • > 萬用表(biao)
  • > 函(han)數信(xin)號(hao)發(fa)生器(qi)
• 安捷倫Agilent/是(shi)德KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通信(xin)專用電(dian)源(yuan)，帶電池仿(fang)真(zhen)
  • > 射頻(pin)RF/脈沖(chong)碼型發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)/交流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 萬用表(biao)
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > 手(shou)持(chi)式(shi)示(shi)波表/手(shou)持(chi)式(shi)小(xiao)表(biao)
  • > 函(han)數信(xin)號(hao)發(fa)生器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數據采(cai)集儀(yi)
  • > 源表(biao)/高阻(zu)表/皮安(an)表微(wei)安計
  • > 頻(pin)率(lv)計(ji)/頻譜儀(yi)/網(wang)絡(luo)分(fen)析(xi)儀(yi)
• 愛(ai)斯(si)佩(pei)克ESPEC環境試(shi)驗(yan)箱
  • > 穩定性試(shi)驗(yan)箱
  • > 小(xiao)型恒(heng)溫(wen)恒濕試(shi)驗(yan)箱
  • > 快速溫(wen)度(du)變(bian)化(hua)濕熱試(shi)驗(yan)箱
  • > 溫(wen)度(du)/結露循環試(shi)驗(yan)箱
  • > 冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱
  • > 烘(hong)箱/幹(gan)燥(zao)箱/高(gao)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)濕熱試(shi)驗(yan)箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試(shi)驗(yan)箱
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐蝕(shi)試(shi)驗(yan)箱
  • > 步(bu)進(jin)式(shi)恒溫老化(hua)試(shi)驗(yan)室(shi)
  • > 高(gao)低溫濕振動復合(he)試(shi)驗(yan)箱
  • > 高(gao)壓(ya)加(jia)速老(lao)化(hua)試(shi)驗(yan)箱
  • > IP砂(sha)塵(chen)防(fang)水淋雨(yu)試(shi)驗(yan)箱
  • > 快速除(chu)濕設備(bei)/除濕櫃/惰(duo)性(xing)氮(dan)氣(qi)防(fang)潮(chao)櫃
• 普(pu)源RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎(ding)陽SIGLENT
  • > 手(shou)持(chi)式(shi)示(shi)波表
  • > 射頻(pin)微(wei)波網(wang)絡(luo)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 可編程直流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 射頻(pin)信(xin)號(hao)源(yuan)
  • > 數據采(cai)集儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 示波器(qi)
  • > 萬用表(biao)
  • > 直流(liu)穩壓電(dian)源
  • > 頻(pin)譜分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 函數信(xin)號(hao)發(fa)生器(qi)
• Chroma致茂/EEC華儀(yi)EXTECH
  • > 電源(yuan)自(zi)動測試(shi)系統(tong)
  • > 光(guang)照度(du)/亮(liang)色度(du)測試(shi)
  • > 電(dian)參(can)數測量功(gong)率(lv)計(ji)
  • > LCR電橋(qiao)
  • > 其(qi)他(ta)測試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 交流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 耐壓絕(jue)緣/泄(xie)漏(lou)電流(liu)/接(jie)地(di)
  • > 電子(zi)負載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)
• 邏(luo)輯分(fen)析(xi)儀(yi)/總線協(xie)議(yi)測試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議(yi)分(fen)析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音頻總線協(xie)議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線協(xie)議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線測試(shi)
  • > 其(qi)他(ta)虛擬示波器(qi)/協(xie)議(yi)解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹(gan)擾(rao)兼容(rong)
  • > 汽(qi)車設備(bei)電源故障模(mo)擬器(qi)
  • > 拋(pao)負(fu)載
  • > 電纜束(shu)註(zhu)入(ru)敏(min)感(gan)度(du)測試(shi)系統(tong)
  • > 寬帶(dai)功(gong)率(lv)放(fang)大器(qi)
  • > 汽(qi)車電子電磁(ci)兼(jian)容(rong)EMC/波形
  • > 耦合(he)去(qu)耦合(he)
  • > 諧波和閃(shan)爍
  • > 射頻(pin)傳(chuan)導抗(kang)擾度(du)測試(shi)系統(tong)
  • > 阻(zu)尼(ni)振(zhen)蕩(dang)磁場測試(shi)系統(tong)
  • > 振(zhen)鈴(ling)波發生(sheng)器(qi)
  • > 電(dian)壓(ya)跌落模(mo)擬器(qi)
  • > 電(dian)快速瞬(shun)變(bian)脈(mai)沖(chong)群(qun)發生器(qi)
  • > 耐壓絕(jue)緣電阻(zu)測試(shi)儀(yi)
  • > 絕緣電阻(zu)測試(shi)儀(yi)
  • > 安規(gui)綜合(he)測試(shi)儀(yi)
  • > AC/DC交直流(liu)耐壓測試(shi)儀(yi)
  • > 泄(xie)漏(lou)電流(liu)測試(shi)儀(yi)
  • > 雷(lei)擊浪(lang)湧(yong)/EMC電磁(ci)兼容測試(shi)
  • > 接(jie)地(di)導通電阻(zu)測試(shi)儀(yi)
  • > ESD靜電(dian)放(fang)電發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 安(an)規(gui)綜合校(xiao)準盒
• 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
  • > 標準光源/對色燈箱
  • > 色差(cha)儀(yi)/測色儀(yi)/分(fen)光(guang)光度(du)計(ji)
• 梅特(te)勒(le)METTLER
  • > 熱機(ji)械分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 分(fen)析(xi)天(tian)平
• 物(wu)料(liao)輪廓(kuo)顏(yan)色缺料(liao)視(shi)覺(jiao)篩(shai)選
• 博(bo)勒(le)飛Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀(yi)
  • > 粘度(du)計(ji)
  • > 質構分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 粉體(ti)流(liu)動測試(shi)儀(yi)
  • > 恒溫(wen)水浴(yu)
  • > 粘度(du)標(biao)準液(ye)/矽油標準液(ye)
  • > 水分(fen)、固(gu)含(han)量、灰分(fen)測定儀(yi)
• 賓德BINDER試(shi)驗(yan)箱
  • > 二(er)氧化(hua)碳(tan)CO₂培(pei)養箱
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)交變(bian)氣(qi)候(hou)箱
  • > 微(wei)生物培(pei)養箱
  • > 真(zhen)空(kong)幹(gan)燥(zao)箱
  • > 安(an)全幹(gan)燥(zao)箱
  • > 幹(gan)燥(zao)箱和烘(hong)箱
  • > 生(sheng)物(wu)生(sheng)長箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱
  • > 超低(di)溫冰(bing)箱
• 金相切割(ge)/鑲嵌(qian)/研磨(mo)拋(pao)光(guang)
  • > 冷/熱鑲嵌(qian)機(ji)
  • > 磨拋(pao)機(ji)/研磨(mo)機(ji)
  • > 金相耗材(cai)
  • > 電(dian)子(zi)天(tian)平/顯(xian)微(wei)鏡
• 紅外熱像(xiang)儀(yi)
• 美(mei)國(guo)BK PRECISION
  • > 信(xin)號(hao)源(yuan)等儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子(zi)負載
  • > 示(shi)波器(qi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬用表(biao)
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛德萬ADVANTEST
  • > 臺(tai)式數字萬用表(biao)
  • > I-V曲(qu)線測試(shi)系統(tong)
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源(yuan)
  • > 高(gao)阻(zu)表/體積(ji)電阻(zu)率(lv)測試(shi)儀(yi)
  • > 光功(gong)率(lv)計(ji)/光波長計(ji)
• COSMOS氣(qi)體(ti)/鐵粉濃度(du)計(ji)
• ITECH艾德克斯(si)/NGI恩智(zhi)
  • > LED測試(shi)專(zhuan)用電(dian)子(zi)負載
  • > 直流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 回(hui)饋(kui)式電(dian)網(wang)模(mo)擬器(qi)交流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 可(ke)編程三(san)路(lu)直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 雙(shuang)向電(dian)源和回(hui)饋(kui)式負(fu)載(zai)
  • > 新(xin)能源汽(qi)車/電池/充(chong)電(dian)樁測試(shi)系統(tong)
  • > 可(ke)編程直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 小(xiao)功(gong)率(lv)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直流(liu)電(dian)源(yuan)和電(dian)子負(fu)載(zai)壹體的機(ji)器(qi)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)電(dian)子負(fu)載(zai)
  • > 能(neng)量回饋(kui)式直流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > AC交流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 新(xin)能源(yuan)汽車/電池/充(chong)電(dian)樁
  • > 雙極(ji)性(xing)電源(yuan)
  • > AC交流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)
• 羅(luo)德與施(shi)瓦(wa)茨R&S（惠(hui)美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠(hui)/長(chang)盛/安柏(bai)
  • > 半導體(ti)參數分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 揚聲(sheng)器(qi)喇(la)叭(ba)電機(ji)馬(ma)達測試(shi)
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)/電參(can)數測試(shi)儀(yi)
  • > 皮安(an)表/高(gao)阻(zu)計/靜電(dian)計
  • > 直流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，微(wei)歐(ou)姆計(ji)
  • > 交流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，電池測試(shi)儀(yi)
  • > 線材(cai)，線纜，線束測試(shi)儀(yi)
  • > 脈沖(chong)線圈測試(shi)儀(yi)
  • > 電感(gan)測試(shi)儀(yi)
  • > 電容(rong)測試(shi)儀(yi)
  • > 溫度(du)采(cai)集記(ji)錄儀(yi)
  • > LCR電橋(qiao)阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 高阻(zu)測試(shi)
  • > 安(an)規(gui)接(jie)地(di)電阻(zu)/漏(lou)電流(liu)
  • > 安(an)規(gui)耐壓絕(jue)緣
• 標準源/計量校準檢定設備(bei)
• 晶圓、芯(xin)片(pian)、屏幕(mu)Particle
• 日置(zhi)HIOKI/國產(chan)替代
• 鎖(suo)相放(fang)大器(qi)
• 噪聲/振(zhen)動/聲學(xue)測試(shi)方案
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲器(qi)件(jian)測試(shi)設(she)備(bei)
• 長(chang)盛耐壓絕(jue)緣電阻(zu)安規測試(shi)
  • > 200mA大(da)電(dian)流(liu)耐壓儀(yi)
• 永(yong)磁(ci)軟磁磁(ci)通量測試(shi)
• 汽(qi)車電子標準波形可編程電源
• SHIMAZU島津
• 德維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 數據采(cai)集儀(yi)記(ji)錄儀(yi)
• ARC電池絕(jue)熱量熱儀(yi)/熱安全性(xing)能(neng)