GT526S激(ji)光粒(li)子計(ji)數器(qi)說(shuo)明(ming)書

產(chan)品(pin)分(fen)類(lei)

• 氫檢儀(yi)氣(qi)密性檢(jian)漏檢測儀(yi)
• 國產(chan)源(yuan)表(biao)，替(ti)代keithley
  • > 替(ti)代(dai)進口功(gong)率分析(xi)儀(yi)
  • > 替(ti)代進口電源
  • > 替(ti)代進口環境試驗箱
  • > 國(guo)產(chan)替(ti)代(dai)進口射(she)頻(pin)儀(yi)器(qi)
  • > 替代進口高(gao)阻表(biao)
  • > 電池測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 電池絕緣(yuan)電阻替(ti)代HIOKI
  • > SMU源(yuan)表(biao)替(ti)代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬用(yong)表/信號(hao)源替代(dai)是(shi)德
• 體(ti)積(ji)電阻率/表面(mian)電阻測(ce)試
• 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 電橋LCR
• 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
• 介(jie)電常(chang)數/電導率測試(shi)方案(an)
• 大(da)眾(zhong)VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準(zhun)測試
  • > 微(wei)中斷
• 電化學(xue)工(gong)作站(zhan)/恒(heng)電位儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試(shi)
• 電池/光(guang)伏(fu)/汽車充(chong)電樁測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜電測試(shi)
  • > 靜電CDM/HBM/MM
  • > 重錘(chui)表面靜電電阻/電阻率
  • > 靜電場/靜電消散/離子(zi)平衡(heng)
  • > 離(li)子風(feng)機/無(wu)風(feng)型靜(jing)電消除器(qi)
  • > 手腕(wan)帶(dai)防(fang)靜電工(gong)鞋(xie)人體(ti)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜電吹(chui)吸(xi)塵器/抽煙機
  • > EMIT工(gong)位接(jie)地(di)電阻監(jian)測儀(yi)
  • > 平(ping)板測試(shi)儀(yi)/離(li)子風機測試儀(yi)/靜(jing)電監測(ce)器
  • > 靜(jing)電電荷庫(ku)倫(lun)電量(liang)/衰(shuai)減(jian)
• 體(ti)積(ji)電阻，電阻計(ji)，記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > 高(gao)阻表(biao)/高(gao)阻計(ji)
  • > 耐壓絕緣(yuan)漏電流測(ce)試儀(yi)
  • > LCR電橋/阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 功(gong)率計(ji)/功(gong)率分析(xi)儀(yi)
  • > 萬(wan)用表/多(duo)用表(biao)
  • > 電能(neng)質(zhi)量(liang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電池測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 數(shu)據采(cai)集(ji)記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > 微(wei)電阻計(ji)/微歐(ou)姆(mu)計(ji)
• 吉(ji)時利KEITHLEY/泰克(ke)Tektronix
  • > 半導體(ti)圖示(shi)儀(yi)
  • > 示(shi)波器
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)
  • > 數據采(cai)集(ji)/開(kai)關矩(ju)陣(zhen)
  • > 高(gao)阻表(biao)/靜電計(ji)
  • > 源表(biao)
  • > 電源
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 函數(shu)信號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
• 安(an)捷(jie)倫(lun)Agilent/是(shi)德(de)KEYSIGHT
  • > 移(yi)動(dong)通信專(zhuan)用電源，帶(dai)電池仿真
  • > 射(she)頻(pin)RF/脈沖(chong)碼型發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 直(zhi)流電源/交(jiao)流(liu)電源
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > 手持式示(shi)波(bo)表/手持式小表
  • > 函數(shu)信號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > LCR電橋
  • > 數(shu)據采(cai)集(ji)儀(yi)
  • > 源(yuan)表/高(gao)阻表(biao)/皮安(an)表(biao)微安(an)計(ji)
  • > 頻率計(ji)/頻譜(pu)儀(yi)/網(wang)絡分(fen)析(xi)儀(yi)
• 愛(ai)斯佩(pei)克(ke)ESPEC環境試驗箱
  • > 穩定(ding)性(xing)試(shi)驗箱
  • > 小型恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗箱
  • > 快(kuai)速(su)溫(wen)度(du)變化濕熱(re)試驗箱
  • > 溫(wen)度(du)/結(jie)露(lu)循環試(shi)驗箱
  • > 冷(leng)熱(re)沖擊(ji)試(shi)驗箱
  • > 烘(hong)箱(xiang)/幹(gan)燥(zao)箱(xiang)/高(gao)溫試(shi)驗箱
  • > 高(gao)低溫(wen)濕熱(re)試驗箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗箱
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐(fu)蝕試驗箱
  • > 步(bu)進式恒(heng)溫(wen)老(lao)化試驗室
  • > 高(gao)低溫(wen)濕振動(dong)復合(he)試驗箱
  • > 高(gao)壓加(jia)速老化試驗箱
  • > IP砂(sha)塵(chen)防(fang)水淋雨試(shi)驗箱
  • > 快(kuai)速(su)除濕設備(bei)/除濕櫃/惰性氮氣(qi)防(fang)潮(chao)櫃
• 普(pu)源(yuan)RIGOL/致遠ZLG/鼎陽(yang)SIGLENT
  • > 手持式示(shi)波(bo)表
  • > 射(she)頻(pin)微波網(wang)絡分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 可編程(cheng)直(zhi)流電子負(fu)載
  • > 射(she)頻(pin)信號(hao)源
  • > 數據采(cai)集(ji)儀(yi)
  • > 功(gong)率計(ji)/功(gong)率分析(xi)儀(yi)
  • > 示(shi)波器
  • > 萬(wan)用表
  • > 直(zhi)流穩壓電源
  • > 頻(pin)譜分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 函數(shu)信號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)
• Chroma致(zhi)茂(mao)/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
  • > 電源自(zi)動(dong)測試(shi)系統
  • > 光照(zhao)度(du)/亮色度(du)測試(shi)
  • > 電參(can)數測(ce)量(liang)功(gong)率計(ji)
  • > LCR電橋
  • > 其(qi)他測試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 交(jiao)流(liu)電源
  • > 耐壓絕緣(yuan)/泄(xie)漏電流/接(jie)地(di)
  • > 電子負(fu)載
  • > 直(zhi)流電源
• 邏輯(ji)分析(xi)儀(yi)/總(zong)線(xian)協議(yi)測(ce)試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協議(yi)分(fen)析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音頻總線(xian)協議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線(xian)協議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線(xian)測試
  • > 其(qi)他虛擬示波器/協議(yi)解碼
• EMI/EMC/EMS電磁幹(gan)擾兼容(rong)
  • > 汽(qi)車設備(bei)電源故障(zhang)模擬器
  • > 拋(pao)負載
  • > 電纜束(shu)註入(ru)敏感(gan)度(du)測試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 寬帶功(gong)率放大(da)器
  • > 汽車電子電磁兼容(rong)EMC/波(bo)形(xing)
  • > 耦合(he)去耦合(he)
  • > 諧(xie)波和(he)閃爍(shuo)
  • > 射頻(pin)傳導抗(kang)擾度(du)測試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 阻尼(ni)振蕩磁場測試(shi)系統(tong)
  • > 振鈴波(bo)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 電壓跌(die)落(luo)模(mo)擬器
  • > 電快速(su)瞬變(bian)脈沖(chong)群(qun)發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 耐壓絕緣(yuan)電阻測(ce)試儀(yi)
  • > 絕緣(yuan)電阻測(ce)試儀(yi)
  • > 安(an)規(gui)綜合(he)測試(shi)儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直(zhi)流耐壓測(ce)試儀(yi)
  • > 泄(xie)漏電流測(ce)試儀(yi)
  • > 雷(lei)擊(ji)浪(lang)湧/EMC電磁兼容(rong)測(ce)試
  • > 接(jie)地(di)導通電阻測(ce)試儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電放電發(fa)生(sheng)器(qi)
  • > 安(an)規(gui)綜合(he)校準(zhun)盒
• 愛(ai)色麗(li)X-Rite/電色NIPPON
  • > 標準(zhun)光源(yuan)/對(dui)色燈箱(xiang)
  • > 色差儀(yi)/測(ce)色儀(yi)/分(fen)光光度(du)計(ji)
• 梅(mei)特勒(le)METTLER
  • > 熱(re)機械分析(xi)儀(yi)
  • > 分(fen)析(xi)天平(ping)
• 物(wu)料輪廓(kuo)顏(yan)色缺料(liao)視覺篩選
• 博勒(le)飛Brookfield
  • > 流變(bian)儀(yi)
  • > 粘(zhan)度(du)計(ji)
  • > 質(zhi)構(gou)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 粉體(ti)流(liu)動(dong)測試(shi)儀(yi)
  • > 恒(heng)溫(wen)水(shui)浴(yu)
  • > 粘(zhan)度(du)標準(zhun)液(ye)/矽(gui)油(you)標(biao)準(zhun)液(ye)
  • > 水(shui)分、固(gu)含量(liang)、灰分(fen)測(ce)定(ding)儀(yi)
• 賓德BINDER試(shi)驗箱
  • > 二(er)氧化碳CO₂培(pei)養(yang)箱
  • > 高(gao)低溫(wen)交(jiao)變(bian)氣(qi)候箱
  • > 微(wei)生物(wu)培(pei)養(yang)箱
  • > 真空(kong)幹(gan)燥(zao)箱
  • > 安(an)全幹燥(zao)箱(xiang)
  • > 幹燥箱(xiang)和烘(hong)箱(xiang)
  • > 生(sheng)物(wu)生長箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱
  • > 超低溫(wen)冰(bing)箱(xiang)
• 金(jin)相切割(ge)/鑲(xiang)嵌/研(yan)磨拋(pao)光
  • > 冷(leng)/熱(re)鑲嵌機
  • > 磨拋(pao)機/研(yan)磨機
  • > 金相耗(hao)材
  • > 電子天(tian)平/顯(xian)微鏡(jing)
• 紅外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)
• 美國(guo)BK PRECISION
  • > 信號(hao)源等儀(yi)器(qi)
  • > 電子負(fu)載
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > LCR電橋
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 電源
• ADCMT愛(ai)德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式數(shu)字(zi)萬(wan)用(yong)表
  • > I-V曲(qu)線(xian)測試系統
  • > 直(zhi)流電源/恒(heng)流(liu)電流源(yuan)
  • > 高(gao)阻表(biao)/體(ti)積(ji)電阻率測試(shi)儀(yi)
  • > 光(guang)功(gong)率計(ji)/光波(bo)長(chang)計(ji)
• COSMOS氣(qi)體(ti)/鐵粉濃度(du)計(ji)
• ITECH艾(ai)德克(ke)斯/NGI恩智
  • > LED測試專(zhuan)用電子負(fu)載
  • > 直(zhi)流電子負(fu)載
  • > 回(hui)饋(kui)式電網(wang)模擬器交(jiao)流(liu)電源
  • > 可編程(cheng)三(san)路(lu)直(zhi)流電源
  • > 雙(shuang)向電源和(he)回饋(kui)式負(fu)載
  • > 新(xin)能(neng)源汽(qi)車/電池/充(chong)電樁測(ce)試系統
  • > 可編程(cheng)直(zhi)流電源
  • > 小功(gong)率電子負(fu)載
  • > 大(da)功(gong)率直(zhi)流電源和(he)電子負(fu)載壹體(ti)的(de)機器
  • > 大(da)功(gong)率電子負(fu)載
  • > 能(neng)量(liang)回(hui)饋(kui)式直(zhi)流電子負(fu)載
  • > AC交(jiao)流(liu)電子負(fu)載
  • > 大(da)功(gong)率直(zhi)流電源
  • > 新(xin)能(neng)源汽(qi)車/電池/充(chong)電樁
  • > 雙(shuang)極(ji)性(xing)電源
  • > AC交(jiao)流(liu)電源
  • > 直(zhi)流電源
• 羅(luo)德(de)與(yu)施瓦茨R&S（惠美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠/長(chang)盛/安(an)柏
  • > 半導體(ti)參(can)數分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 揚(yang)聲器喇叭(ba)電機馬達測試(shi)
  • > 功(gong)率分析(xi)儀(yi)/電參(can)數測(ce)試儀(yi)
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)/高(gao)阻計(ji)/靜電計(ji)
  • > 直(zhi)流低電阻，微(wei)歐姆(mu)計(ji)
  • > 交(jiao)流(liu)低(di)電阻，電池測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 線(xian)材，線(xian)纜，線(xian)束(shu)測試(shi)儀(yi)
  • > 脈沖(chong)線(xian)圈測試儀(yi)
  • > 電感(gan)測試(shi)儀(yi)
  • > 電容(rong)測(ce)試儀(yi)
  • > 溫(wen)度(du)采(cai)集(ji)記(ji)錄(lu)儀(yi)
  • > LCR電橋阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 高(gao)阻測(ce)試
  • > 安(an)規(gui)接(jie)地(di)電阻/漏電流
  • > 安(an)規(gui)耐壓絕緣(yuan)
• 標準(zhun)源/計(ji)量(liang)校(xiao)準(zhun)檢(jian)定(ding)設備(bei)
• 晶(jing)圓(yuan)、芯片、屏幕(mu)Particle
• 日置HIOKI/國(guo)產(chan)替代(dai)
• 鎖相放大(da)器
• 噪聲(sheng)/振動(dong)/聲學(xue)測(ce)試(shi)方案(an)
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲器(qi)件測(ce)試(shi)設備(bei)
• 長盛耐壓絕緣(yuan)電阻安(an)規(gui)測試(shi)
  • > 200mA大(da)電流耐壓儀(yi)
• 永磁軟磁磁通(tong)量(liang)測(ce)試(shi)
• 汽(qi)車電子標(biao)準波(bo)形(xing)可編程(cheng)電源
• SHIMAZU島(dao)津
• 德維(wei)創DEWETRON
  • > 功(gong)率分析(xi)儀(yi)
  • > 數(shu)據采(cai)集(ji)儀(yi)記(ji)錄(lu)儀(yi)
• ARC電池絕熱(re)量(liang)熱(re)儀(yi)/熱(re)安(an)全性能(neng)