日本(ben)橫(heng)河YOKOGAWA WT310，WT332功(gong)率計說明書(shu)

產(chan)品分類(lei)

• 氫檢儀氣密(mi)性(xing)檢漏檢測(ce)儀(yi)
• 國(guo)產源表，替(ti)代keithley
  • > 替(ti)代進口功率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
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  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀器(qi)
  • > 電池(chi)絕緣電(dian)阻(zu)替(ti)代HIOKI
  • > SMU源表替(ti)代KEITHLEY2400
  • > 萬用(yong)表/信(xin)號(hao)源替(ti)代是德(de)
• 體積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)/表面(mian)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)
• 穩(wen)科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電橋(qiao)LCR
• 半導體I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
• 介電(dian)常數/電(dian)導率測(ce)試(shi)方案(an)
• 大眾VW80000/通用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準測(ce)試(shi)
  • > 微中(zhong)斷
• 電化學(xue)工(gong)作站/恒(heng)電位(wei)儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
• 電池(chi)/光伏(fu)/汽(qi)車充(chong)電樁(zhuang)測(ce)試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測(ce)試(shi)
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  • > 重錘(chui)表面(mian)靜(jing)電(dian)電阻(zu)/電(dian)阻(zu)率(lv)
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  • > 手腕帶(dai)防(fang)靜(jing)電(dian)工鞋人體(ti)綜(zong)合測(ce)試(shi)儀
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  • > EMIT工位接地(di)電阻(zu)監測(ce)儀(yi)
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• 體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)，電(dian)阻(zu)計，記錄儀
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  • > 接地(di)導通電阻(zu)測(ce)試(shi)儀
  • > ESD靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)發(fa)生(sheng)器(qi)
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• 物(wu)料(liao)輪(lun)廓顏色缺料(liao)視(shi)覺篩(shai)選(xuan)
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  • > 水分、固(gu)含(han)量、灰(hui)分測(ce)定(ding)儀
• 賓(bin)德BINDER試(shi)驗箱
  • > 二(er)氧化碳(tan)CO₂培(pei)養箱
  • > 高(gao)低(di)溫(wen)交(jiao)變(bian)氣候箱
  • > 微(wei)生(sheng)物(wu)培(pei)養箱
  • > 真(zhen)空(kong)幹(gan)燥箱
  • > 安(an)全(quan)幹燥箱
  • > 幹(gan)燥箱和(he)烘(hong)箱
  • > 生(sheng)物(wu)生(sheng)長(chang)箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕箱
  • > 超(chao)低溫(wen)冰箱
• 金相切割(ge)/鑲嵌/研(yan)磨(mo)拋光(guang)
  • > 冷(leng)/熱鑲嵌機(ji)
  • > 磨(mo)拋機(ji)/研磨(mo)機
  • > 金(jin)相耗材
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• 紅(hong)外熱像儀
• 美國(guo)BK PRECISION
  • > 信號(hao)源等(deng)儀器(qi)
  • > 電子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 示波器(qi)
  • > LCR電橋(qiao)
  • > 萬用(yong)表
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛(ai)德(de)萬ADVANTEST
  • > 臺(tai)式數字(zi)萬(wan)用(yong)表
  • > I-V曲(qu)線(xian)測(ce)試(shi)系統(tong)
  • > 直流(liu)電(dian)源/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源
  • > 高(gao)阻(zu)表/體(ti)積(ji)電阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀
  • > 光(guang)功(gong)率(lv)計/光波長計
• COSMOS氣體/鐵(tie)粉(fen)濃(nong)度計
• ITECH艾德克(ke)斯(si)/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試(shi)專用(yong)電子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 回(hui)饋(kui)式(shi)電(dian)網(wang)模擬器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 可(ke)編程(cheng)三(san)路(lu)直流(liu)電(dian)源
  • > 雙向(xiang)電(dian)源和(he)回(hui)饋(kui)式(shi)負(fu)載(zai)
  • > 新(xin)能(neng)源汽(qi)車/電(dian)池(chi)/充(chong)電樁(zhuang)測(ce)試(shi)系統(tong)
  • > 可(ke)編程(cheng)直流(liu)電(dian)源
  • > 小(xiao)功率電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率直流(liu)電(dian)源和(he)電子負(fu)載(zai)壹體(ti)的(de)機器(qi)
  • > 大功(gong)率電子負(fu)載(zai)
  • > 能(neng)量回(hui)饋(kui)式(shi)直流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率直流(liu)電(dian)源
  • > 新(xin)能(neng)源汽(qi)車/電(dian)池(chi)/充(chong)電樁(zhuang)
  • > 雙極性電源
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 直流(liu)電(dian)源
• 羅(luo)德(de)與(yu)施瓦茨(ci)R&S（惠(hui)美HAMEG）
• 同惠(hui)/長(chang)盛/安柏
  • > 半導體參數分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 揚(yang)聲(sheng)器(qi)喇叭(ba)電(dian)機(ji)馬達測(ce)試(shi)
  • > 功率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)/電參數測(ce)試(shi)儀
  • > 皮安(an)表/高(gao)阻(zu)計/靜(jing)電(dian)計
  • > 直流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，微(wei)歐姆計
  • > 交(jiao)流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀
  • > 線(xian)材(cai)，線(xian)纜，線束測(ce)試(shi)儀
  • > 脈(mai)沖線(xian)圈測(ce)試(shi)儀
  • > 電(dian)感(gan)測(ce)試(shi)儀
  • > 電(dian)容(rong)測(ce)試(shi)儀
  • > 溫(wen)度采(cai)集記錄儀
  • > LCR電(dian)橋(qiao)阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 高阻(zu)測(ce)試(shi)
  • > 安規(gui)接地(di)電阻(zu)/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安(an)規(gui)耐(nai)壓(ya)絕緣
• 標(biao)準源/計量校準檢定(ding)設(she)備
• 晶圓、芯(xin)片(pian)、屏幕(mu)Particle
• 日置(zhi)HIOKI/國(guo)產替(ti)代
• 鎖(suo)相放(fang)大(da)器(qi)
• 噪聲(sheng)/振(zhen)動/聲(sheng)學測(ce)試(shi)方案(an)
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲(sheng)器(qi)件測(ce)試(shi)設(she)備
• 長盛(sheng)耐(nai)壓(ya)絕緣電(dian)阻(zu)安(an)規(gui)測(ce)試(shi)
  • > 200mA大電(dian)流(liu)耐(nai)壓(ya)儀
• 永磁(ci)軟磁(ci)磁(ci)通量測(ce)試(shi)
• 汽(qi)車電(dian)子(zi)標(biao)準波(bo)形(xing)可(ke)編程(cheng)電(dian)源
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德(de)維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 數據(ju)采(cai)集儀記錄儀(yi)
• ARC電池(chi)絕熱量(liang)熱儀(yi)/熱安(an)全(quan)性能(neng)