KEYSIGHT是(shi)德E4980AL電(dian)橋(qiao)LCR測(ce)試(shi)變(bian)壓(ya)器線(xian)圈

產品分(fen)類(lei)

• 氫(qing)檢(jian)儀氣(qi)密(mi)性檢(jian)漏(lou)檢測(ce)儀(yi)
• 國產源表(biao)，替(ti)代keithley
  • > 替代進(jin)口功(gong)率分(fen)析(xi)儀
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口電(dian)源
  • > 替(ti)代進(jin)口環境(jing)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 國(guo)產替代(dai)進(jin)口射(she)頻儀器(qi)
  • > 替(ti)代進(jin)口高(gao)阻表(biao)
  • > 電(dian)池測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 電池絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻替代(dai)HIOKI
  • > SMU源表(biao)替(ti)代KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用表(biao)/信(xin)號源替(ti)代是(shi)德
• 體(ti)積電阻率/表(biao)面(mian)電(dian)阻測(ce)試(shi)
• 穩科(ke)Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗分(fen)析(xi)儀
  • > 電(dian)橋(qiao)LCR
• 半導體(ti)I-V/C-V/I-R測(ce)試(shi)
• 介電常數(shu)/電(dian)導率(lv)測(ce)試(shi)方案(an)
• 大(da)眾(zhong)VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biao)準測(ce)試(shi)
  • > 微中斷
• 電(dian)化(hua)學工作站(zhan)/恒(heng)電位(wei)儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試(shi)
• 電(dian)池/光(guang)伏/汽(qi)車充電樁測(ce)試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測(ce)試(shi)
  • > 靜(jing)電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘(chui)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)電(dian)阻/電阻率
  • > 靜(jing)電(dian)場/靜電消散(san)/離子(zi)平(ping)衡(heng)
  • > 離子(zi)風(feng)機/無(wu)風型靜電(dian)消除(chu)器(qi)
  • > 手(shou)腕帶(dai)防(fang)靜(jing)電工鞋(xie)人(ren)體(ti)綜合測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > MENDA防(fang)靜(jing)電吹(chui)吸(xi)塵(chen)器(qi)/抽(chou)煙(yan)機
  • > EMIT工位(wei)接地(di)電(dian)阻監(jian)測(ce)儀(yi)
  • > 平(ping)板測(ce)試(shi)儀(yi)/離子(zi)風(feng)機測(ce)試(shi)儀(yi)/靜(jing)電監(jian)測(ce)器(qi)
  • > 靜(jing)電(dian)電荷(he)庫(ku)倫電量/衰(shuai)減(jian)
• 體(ti)積電阻，電阻計，記錄儀
  • > 高阻表(biao)/高(gao)阻計
  • > 耐壓(ya)絕(jue)緣(yuan)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋/阻抗分(fen)析(xi)儀
  • > 功(gong)率計/功(gong)率分(fen)析(xi)儀
  • > 萬(wan)用表(biao)/多(duo)用表(biao)
  • > 電(dian)能(neng)質量分(fen)析(xi)儀
  • > 電(dian)池測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 數(shu)據采(cai)集記(ji)錄儀
  • > 微電阻計/微歐(ou)姆計
• 吉(ji)時利KEITHLEY/泰克Tektronix
  • > 半導體(ti)圖(tu)示(shi)儀(yi)
  • > 示(shi)波器
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)
  • > 數(shu)據采集/開關矩陣(zhen)
  • > 高(gao)阻表(biao)/靜(jing)電計
  • > 源表(biao)
  • > 電(dian)源
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 函(han)數信(xin)號發生器(qi)
• 安(an)捷倫Agilent/是(shi)德KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通信(xin)專用電(dian)源，帶(dai)電池仿真
  • > 射(she)頻RF/脈沖(chong)碼(ma)型發生器(qi)
  • > 直流電(dian)源/交流(liu)電源
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 示(shi)波器
  • > 手(shou)持式(shi)示(shi)波表(biao)/手(shou)持式(shi)小表(biao)
  • > 函(han)數信(xin)號發生器(qi)
  • > LCR電橋(qiao)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀(yi)
  • > 源表(biao)/高(gao)阻表(biao)/皮(pi)安(an)表(biao)微安(an)計
  • > 頻率計/頻譜(pu)儀(yi)/網(wang)絡(luo)分(fen)析(xi)儀
• 愛(ai)斯佩(pei)克ESPEC環境(jing)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 穩(wen)定(ding)性試(shi)驗箱(xiang)
  • > 小型恒溫(wen)恒濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 快速溫(wen)度(du)變(bian)化(hua)濕(shi)熱(re)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 溫(wen)度(du)/結(jie)露循環試(shi)驗箱(xiang)
  • > 冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗箱(xiang)
  • > 烘(hong)箱/幹燥箱/高(gao)溫(wen)試驗箱(xiang)
  • > 高(gao)低溫(wen)濕(shi)熱(re)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫(wen)恒濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)
  • > 鹽(yan)霧腐蝕試驗箱(xiang)
  • > 步進(jin)式(shi)恒溫(wen)老化(hua)試驗室(shi)
  • > 高(gao)低溫(wen)濕(shi)振(zhen)動復合試驗箱(xiang)
  • > 高(gao)壓加(jia)速老化(hua)試驗箱(xiang)
  • > IP砂(sha)塵(chen)防(fang)水淋雨(yu)試驗箱(xiang)
  • > 快速除(chu)濕(shi)設(she)備(bei)/除(chu)濕(shi)櫃(gui)/惰(duo)性氮(dan)氣防(fang)潮櫃
• 普(pu)源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
  • > 手(shou)持式(shi)示(shi)波表(biao)
  • > 射(she)頻微波網絡(luo)分(fen)析(xi)儀
  • > 可(ke)編(bian)程直流電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 射(she)頻信(xin)號源
  • > 數(shu)據采(cai)集儀(yi)
  • > 功(gong)率計/功(gong)率分(fen)析(xi)儀
  • > 示(shi)波器
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 直流穩(wen)壓(ya)電源
  • > 頻譜(pu)分(fen)析(xi)儀
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號發生器(qi)
• Chroma致茂/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
  • > 電源自(zi)動測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 光(guang)照度(du)/亮色(se)度(du)測(ce)試(shi)
  • > 電(dian)參(can)數測(ce)量功(gong)率計
  • > LCR電橋
  • > 其他(ta)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 交流(liu)電源
  • > 耐壓(ya)絕(jue)緣(yuan)/泄漏電(dian)流/接地(di)
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 直流電(dian)源
• 邏(luo)輯分(fen)析(xi)儀/總(zong)線協(xie)議(yi)測(ce)試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議(yi)分(fen)析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音頻總(zong)線協(xie)議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線協(xie)議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線測(ce)試(shi)
  • > 其他(ta)虛(xu)擬示(shi)波器/協(xie)議解碼(ma)
• EMI/EMC/EMS電磁(ci)幹擾兼(jian)容(rong)
  • > 汽(qi)車設備電源故障(zhang)模擬器
  • > 拋負(fu)載(zai)
  • > 電纜束註(zhu)入敏(min)感(gan)度(du)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 寬帶(dai)功(gong)率放(fang)大(da)器(qi)
  • > 汽(qi)車電子(zi)電(dian)磁(ci)兼(jian)容(rong)EMC/波形
  • > 耦(ou)合去耦(ou)合
  • > 諧波和閃爍(shuo)
  • > 射(she)頻傳導(dao)抗(kang)擾度(du)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 阻尼(ni)振蕩磁(ci)場測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 振(zhen)鈴(ling)波發生器(qi)
  • > 電壓(ya)跌(die)落(luo)模擬器
  • > 電快速瞬變(bian)脈沖(chong)群(qun)發生器(qi)
  • > 耐壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 安(an)規綜合測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > AC/DC交直流耐壓(ya)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 泄漏電(dian)流測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 雷(lei)擊浪(lang)湧(yong)/EMC電(dian)磁(ci)兼(jian)容(rong)測(ce)試(shi)
  • > 接地(di)導(dao)通(tong)電阻測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電放(fang)電(dian)發生器(qi)
  • > 安(an)規綜合校準盒
• 愛(ai)色(se)麗(li)X-Rite/電(dian)色(se)NIPPON
  • > 標(biao)準光(guang)源/對色(se)燈(deng)箱
  • > 色(se)差(cha)儀(yi)/測(ce)色(se)儀(yi)/分(fen)光(guang)光(guang)度(du)計
• 梅(mei)特(te)勒(le)METTLER
  • > 熱(re)機械分(fen)析(xi)儀
  • > 分(fen)析(xi)天平(ping)
• 物料輪(lun)廓顏色(se)缺(que)料視(shi)覺篩(shai)選
• 博(bo)勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀
  • > 粘度(du)計
  • > 質構(gou)分(fen)析(xi)儀
  • > 粉體(ti)流動測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 恒(heng)溫(wen)水浴
  • > 粘(zhan)度(du)標(biao)準液(ye)/矽(gui)油(you)標(biao)準液(ye)
  • > 水分(fen)、固(gu)含量、灰(hui)分(fen)測(ce)定(ding)儀
• 賓德(de)BINDER試驗箱(xiang)
  • > 二(er)氧化(hua)碳CO₂培(pei)養(yang)箱
  • > 高(gao)低溫(wen)交變(bian)氣候箱
  • > 微生物(wu)培養(yang)箱
  • > 真空幹(gan)燥(zao)箱
  • > 安(an)全幹燥(zao)箱(xiang)
  • > 幹燥箱(xiang)和烘(hong)箱
  • > 生物(wu)生長(chang)箱
  • > 恒(heng)溫(wen)恒濕(shi)箱(xiang)
  • > 超低(di)溫(wen)冰箱
• 金相切(qie)割/鑲(xiang)嵌/研(yan)磨拋(pao)光(guang)
  • > 冷(leng)/熱(re)鑲(xiang)嵌(qian)機
  • > 磨(mo)拋機/研(yan)磨機
  • > 金相耗(hao)材(cai)
  • > 電(dian)子(zi)天(tian)平(ping)/顯(xian)微鏡
• 紅(hong)外熱(re)像(xiang)儀(yi)
• 美國BK PRECISION
  • > 信(xin)號源等(deng)儀器(qi)
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 示(shi)波器
  • > LCR電(dian)橋
  • > 萬(wan)用表(biao)
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛德(de)萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺式(shi)數字(zi)萬(wan)用表(biao)
  • > I-V曲線(xian)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 直流電(dian)源/恒(heng)流電(dian)流(liu)源
  • > 高(gao)阻表(biao)/體(ti)積電阻率測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 光(guang)功(gong)率計/光(guang)波長計
• COSMOS氣體(ti)/鐵粉濃(nong)度(du)計
• ITECH艾(ai)德(de)克斯/NGI恩(en)智
  • > LED測(ce)試(shi)專用電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 直流電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 回饋式(shi)電網(wang)模擬器交流(liu)電源
  • > 可(ke)編(bian)程三(san)路直流電(dian)源
  • > 雙(shuang)向電源和回(hui)饋式(shi)負載(zai)
  • > 新能(neng)源汽(qi)車/電池/充電樁測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
  • > 可(ke)編(bian)程直流電(dian)源
  • > 小功(gong)率電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 大功(gong)率直流電(dian)源和電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)壹體(ti)的機器(qi)
  • > 大功(gong)率電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 能(neng)量回(hui)饋(kui)式(shi)直流電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > AC交流(liu)電子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 大功(gong)率直流電(dian)源
  • > 新能(neng)源汽(qi)車/電池/充電樁
  • > 雙(shuang)極性電(dian)源
  • > AC交流(liu)電源
  • > 直流電(dian)源
• 羅德(de)與施(shi)瓦(wa)茨R&S（惠美(mei)HAMEG）
• 同惠/長(chang)盛/安(an)柏
  • > 半導體(ti)參數分(fen)析(xi)儀
  • > 揚(yang)聲(sheng)器喇叭電機馬達(da)測(ce)試(shi)
  • > 功(gong)率分(fen)析(xi)儀/電(dian)參(can)數測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)/高(gao)阻計/靜電計
  • > 直流低(di)電(dian)阻，微歐(ou)姆計
  • > 交流(liu)低電阻，電池測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 線(xian)材，線(xian)纜，線束測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 脈沖(chong)線(xian)圈測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 電(dian)感測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 電(dian)容(rong)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 溫(wen)度(du)采(cai)集記(ji)錄儀
  • > LCR電橋阻抗分(fen)析(xi)儀
  • > 高(gao)阻測(ce)試(shi)
  • > 安(an)規接地(di)電(dian)阻/漏電(dian)流(liu)
  • > 安(an)規耐壓(ya)絕(jue)緣(yuan)
• 標準源/計量校準檢(jian)定(ding)設備(bei)
• 晶(jing)圓、芯(xin)片、屏(ping)幕Particle
• 日(ri)置HIOKI/國(guo)產替代(dai)
• 鎖(suo)相放(fang)大(da)器(qi)
• 噪(zao)聲(sheng)/振(zhen)動/聲學(xue)測(ce)試(shi)方案(an)
• 日(ri)本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電聲(sheng)器(qi)件測(ce)試(shi)設(she)備(bei)
• 長(chang)盛耐壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻安(an)規測(ce)試(shi)
  • > 200mA大(da)電(dian)流耐壓(ya)儀
• 永(yong)磁(ci)軟(ruan)磁(ci)磁(ci)通量測(ce)試(shi)
• 汽(qi)車電子(zi)標(biao)準波形可(ke)編(bian)程電源
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德(de)維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率分(fen)析(xi)儀
  • > 數(shu)據(ju)采集儀(yi)記(ji)錄儀
• ARC電池絕(jue)熱(re)量熱(re)儀(yi)/熱(re)安(an)全性能(neng)