安(an)捷(jie)倫KEYSIGHT示波器DSOX2000用(yong)戶手冊(ce)說明(ming)書(shu)

產(chan)品分(fen)類(lei)

• 氫檢儀(yi)氣(qi)密性檢漏(lou)檢測儀(yi)
• 國產(chan)源(yuan)表，替(ti)代(dai)keithley
  • > 替代(dai)進口(kou)功(gong)率分析儀(yi)
  • > 替(ti)代(dai)進口(kou)電(dian)源(yuan)
  • > 替代(dai)進口(kou)環(huan)境試驗(yan)箱(xiang)
  • > 國產(chan)替代(dai)進口(kou)射(she)頻儀(yi)器
  • > 替代(dai)進口(kou)高阻表
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)器
  • > 電(dian)池(chi)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻替代(dai)HIOKI
  • > SMU源(yuan)表替(ti)代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用(yong)表/信(xin)號源(yuan)替代(dai)是德(de)
• 體積電(dian)阻率/表面電(dian)阻測試(shi)
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)橋(qiao)LCR
• 半(ban)導體I-V/C-V/I-R測試(shi)
• 介電(dian)常(chang)數(shu)/電(dian)導率測試方(fang)案
• 大(da)眾(zhong)VW80000/通(tong)用(yong)GMW3172/ISO16750標準(zhun)測(ce)試
  • > 微(wei)中斷(duan)
• 電(dian)化(hua)學(xue)工(gong)作(zuo)站/恒(heng)電(dian)位(wei)儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池(chi)/光伏(fu)/汽(qi)車充電(dian)樁(zhuang)測(ce)試
• DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測(ce)試(shi)
  • > 靜電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘(chui)表面靜(jing)電(dian)電(dian)阻/電(dian)阻率
  • > 靜電(dian)場(chang)/靜(jing)電(dian)消(xiao)散(san)/離子平(ping)衡
  • > 離子風(feng)機/無(wu)風(feng)型(xing)靜(jing)電(dian)消(xiao)除(chu)器
  • > 手腕(wan)帶(dai)防靜電(dian)工(gong)鞋(xie)人(ren)體綜合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > MENDA防靜電(dian)吹吸(xi)塵(chen)器/抽(chou)煙(yan)機
  • > EMIT工(gong)位(wei)接(jie)地(di)電(dian)阻監測(ce)儀(yi)
  • > 平(ping)板(ban)測(ce)試(shi)儀(yi)/離子風(feng)機測(ce)試(shi)儀(yi)/靜(jing)電(dian)監(jian)測(ce)器
  • > 靜電(dian)電(dian)荷(he)庫(ku)倫電(dian)量(liang)/衰減
• 體積電(dian)阻，電(dian)阻計，記(ji)錄儀(yi)
  • > 高阻表/高阻計
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)/阻抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 功(gong)率計/功(gong)率分析儀(yi)
  • > 萬(wan)用(yong)表/多(duo)用(yong)表
  • > 電(dian)能(neng)質(zhi)量(liang)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采集記(ji)錄儀(yi)
  • > 微(wei)電(dian)阻計/微(wei)歐(ou)姆(mu)計
• 吉時(shi)利(li)KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
  • > 半(ban)導體圖示(shi)儀(yi)
  • > 示(shi)波器
  • > 皮安(an)表(biao)
  • > 數(shu)據(ju)采集/開關(guan)矩(ju)陣
  • > 高阻表/靜(jing)電(dian)計
  • > 源(yuan)表
  • > 電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號發生器
• 安(an)捷(jie)倫Agilent/是德(de)KEYSIGHT
  • > 移動(dong)通(tong)信專(zhuan)用(yong)電(dian)源(yuan)，帶(dai)電(dian)池(chi)仿真(zhen)
  • > 射(she)頻RF/脈沖(chong)碼(ma)型(xing)發(fa)生器
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)/交(jiao)流電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 示(shi)波(bo)器
  • > 手持式示(shi)波表/手持式小表(biao)
  • > 函數(shu)信(xin)號發生器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀(yi)
  • > 源(yuan)表/高阻表/皮(pi)安(an)表(biao)微(wei)安(an)計
  • > 頻率計/頻譜儀(yi)/網絡(luo)分析儀(yi)
• 愛斯(si)佩(pei)克(ke)ESPEC環境(jing)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 穩(wen)定(ding)性試驗(yan)箱(xiang)
  • > 小型(xing)恒(heng)溫(wen)恒濕(shi)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 快速(su)溫(wen)度變化濕(shi)熱試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 溫度/結(jie)露循(xun)環(huan)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 冷熱沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 烘箱(xiang)/幹燥箱(xiang)/高溫試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高低溫濕(shi)熱試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 恒溫恒濕(shi)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 鹽霧腐蝕試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 步(bu)進式恒(heng)溫老(lao)化(hua)試(shi)驗(yan)室
  • > 高低溫濕(shi)振(zhen)動復(fu)合(he)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 高壓加速(su)老(lao)化(hua)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > IP砂塵(chen)防水淋雨試驗(yan)箱(xiang)
  • > 快速(su)除(chu)濕(shi)設(she)備(bei)/除(chu)濕(shi)櫃(gui)/惰(duo)性氮氣防潮(chao)櫃
• 普(pu)源(yuan)RIGOL/致遠(yuan)ZLG/鼎陽(yang)SIGLENT
  • > 手持式示(shi)波表
  • > 射(she)頻微(wei)波網絡(luo)分析儀(yi)
  • > 可編(bian)程直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 射(she)頻信(xin)號源(yuan)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀(yi)
  • > 功(gong)率計/功(gong)率分析儀(yi)
  • > 示(shi)波器
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 直(zhi)流(liu)穩(wen)壓(ya)電(dian)源(yuan)
  • > 頻譜分析(xi)儀(yi)
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號發生器
• Chroma致(zhi)茂(mao)/EEC華儀(yi)EXTECH
  • > 電(dian)源(yuan)自(zi)動測(ce)試(shi)系(xi)統
  • > 光照度(du)/亮(liang)色度(du)測(ce)試
  • > 電(dian)參數(shu)測(ce)量(liang)功(gong)率計
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 其(qi)他測試(shi)儀(yi)器
  • > 交(jiao)流電(dian)源(yuan)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)/泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)/接(jie)地
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 直(zhi)流電(dian)源(yuan)
• 邏(luo)輯分析儀(yi)/總(zong)線協(xie)議測試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議分析
  • > DP AUX，Soundwire音頻總(zong)線協(xie)議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線協(xie)議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線測(ce)試
  • > 其(qi)他虛(xu)擬示(shi)波器/協(xie)議解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹(gan)擾兼容
  • > 汽車(che)設(she)備(bei)電(dian)源(yuan)故障模擬(ni)器
  • > 拋負(fu)載
  • > 電(dian)纜(lan)束(shu)註入(ru)敏(min)感度(du)測(ce)試系統
  • > 寬(kuan)帶(dai)功(gong)率放大(da)器
  • > 汽車(che)電(dian)子(zi)電(dian)磁(ci)兼容EMC/波形
  • > 耦合(he)去耦合(he)
  • > 諧(xie)波(bo)和(he)閃(shan)爍
  • > 射(she)頻傳(chuan)導抗(kang)擾度(du)測(ce)試系(xi)統
  • > 阻尼振(zhen)蕩磁(ci)場(chang)測(ce)試(shi)系(xi)統
  • > 振(zhen)鈴波(bo)發(fa)生器
  • > 電(dian)壓(ya)跌(die)落模擬(ni)器
  • > 電(dian)快(kuai)速(su)瞬(shun)變脈沖(chong)群(qun)發生器
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻測試(shi)儀(yi)
  • > 絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻測試(shi)儀(yi)
  • > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)測(ce)試儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直流(liu)耐(nai)壓(ya)測試(shi)儀(yi)
  • > 泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)試儀(yi)
  • > 雷(lei)擊浪(lang)湧(yong)/EMC電(dian)磁(ci)兼容測試(shi)
  • > 接(jie)地(di)導通(tong)電(dian)阻測試(shi)儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電(dian)放(fang)電(dian)發(fa)生器
  • > 安(an)規(gui)綜(zong)合(he)校準(zhun)盒(he)
• 愛色麗X-Rite/電(dian)色NIPPON
  • > 標(biao)準(zhun)光源(yuan)/對(dui)色燈(deng)箱(xiang)
  • > 色差(cha)儀(yi)/測(ce)色儀(yi)/分(fen)光光度計
• 梅(mei)特(te)勒METTLER
  • > 熱機械分析(xi)儀(yi)
  • > 分(fen)析天平(ping)
• 物料(liao)輪(lun)廓(kuo)顏色缺(que)料(liao)視覺篩(shai)選(xuan)
• 博(bo)勒飛Brookfield
  • > 流變(bian)儀(yi)
  • > 粘(zhan)度計
  • > 質(zhi)構(gou)分(fen)析儀(yi)
  • > 粉體流動(dong)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 恒(heng)溫水(shui)浴
  • > 粘(zhan)度(du)標準液(ye)/矽油(you)標準液(ye)
  • > 水分(fen)、固(gu)含量(liang)、灰(hui)分(fen)測(ce)定(ding)儀(yi)
• 賓(bin)德(de)BINDER試驗(yan)箱(xiang)
  • > 二(er)氧(yang)化(hua)碳(tan)CO₂培養(yang)箱(xiang)
  • > 高低溫交(jiao)變氣(qi)候(hou)箱(xiang)
  • > 微(wei)生物培養(yang)箱(xiang)
  • > 真(zhen)空(kong)幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 安(an)全(quan)幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 幹燥箱(xiang)和烘箱(xiang)
  • > 生物生長(chang)箱(xiang)
  • > 恒溫恒濕(shi)箱(xiang)
  • > 超低溫(wen)冰箱(xiang)
• 金相(xiang)切(qie)割/鑲嵌/研(yan)磨(mo)拋光
  • > 冷/熱鑲嵌機
  • > 磨(mo)拋(pao)機/研(yan)磨(mo)機
  • > 金(jin)相(xiang)耗材
  • > 電(dian)子(zi)天平(ping)/顯(xian)微(wei)鏡
• 紅外熱像(xiang)儀(yi)
• 美(mei)國BK PRECISION
  • > 信(xin)號源(yuan)等儀(yi)器
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 示(shi)波器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 電(dian)源(yuan)
• ADCMT愛德(de)萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式數(shu)字(zi)萬(wan)用(yong)表
  • > I-V曲線測(ce)試系(xi)統
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)/恒流(liu)電(dian)流(liu)源(yuan)
  • > 高阻表/體積電(dian)阻率測試儀(yi)
  • > 光功(gong)率計/光波長(chang)計
• COSMOS氣體/鐵粉濃(nong)度(du)計
• ITECH艾德(de)克(ke)斯(si)/NGI恩智
  • > LED測試專(zhuan)用(yong)電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 直(zhi)流電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 回(hui)饋(kui)式電(dian)網模擬器交(jiao)流電(dian)源(yuan)
  • > 可編(bian)程三(san)路(lu)直流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 雙向(xiang)電(dian)源(yuan)和回(hui)饋(kui)式負(fu)載
  • > 新(xin)能源(yuan)汽車(che)/電(dian)池(chi)/充電(dian)樁(zhuang)測(ce)試系統
  • > 可編(bian)程直(zhi)流(liu)電(dian)源(yuan)
  • > 小功(gong)率電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 大(da)功(gong)率直流電(dian)源(yuan)和電(dian)子(zi)負(fu)載壹體的機器
  • > 大(da)功(gong)率電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 能(neng)量(liang)回(hui)饋(kui)式直(zhi)流電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > AC交(jiao)流電(dian)子(zi)負(fu)載
  • > 大(da)功(gong)率直流電(dian)源(yuan)
  • > 新能(neng)源(yuan)汽車(che)/電(dian)池(chi)/充電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙極(ji)性電(dian)源(yuan)
  • > AC交(jiao)流電(dian)源(yuan)
  • > 直流(liu)電(dian)源(yuan)
• 羅德(de)與施瓦茨(ci)R&S（惠(hui)美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠(hui)/長(chang)盛(sheng)/安(an)柏(bai)
  • > 半(ban)導體參數(shu)分(fen)析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲器喇叭(ba)電(dian)機馬達(da)測(ce)試(shi)
  • > 功(gong)率分析儀(yi)/電(dian)參數(shu)測(ce)試儀(yi)
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)/高阻計/靜電(dian)計
  • > 直流低(di)電(dian)阻，微(wei)歐(ou)姆(mu)計
  • > 交(jiao)流低(di)電(dian)阻，電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀(yi)
  • > 線材(cai)，線纜(lan)，線束(shu)測試(shi)儀(yi)
  • > 脈沖(chong)線圈測試儀(yi)
  • > 電(dian)感(gan)測(ce)試儀(yi)
  • > 電(dian)容測試(shi)儀(yi)
  • > 溫(wen)度采集記(ji)錄儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋(qiao)阻抗(kang)分析(xi)儀(yi)
  • > 高阻測試(shi)
  • > 安(an)規(gui)接(jie)地電(dian)阻/漏(lou)電(dian)流(liu)
  • > 安(an)規(gui)耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)
• 標(biao)準(zhun)源(yuan)/計量(liang)校準(zhun)檢定(ding)設備(bei)
• 晶圓、芯(xin)片(pian)、屏幕(mu)Particle
• 日置(zhi)HIOKI/國產(chan)替代(dai)
• 鎖相(xiang)放(fang)大(da)器
• 噪聲/振(zhen)動/聲(sheng)學(xue)測試方(fang)案
• 日(ri)本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲(sheng)器件測(ce)試(shi)設備
• 長(chang)盛(sheng)耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻安(an)規(gui)測(ce)試
  • > 200mA大(da)電(dian)流(liu)耐(nai)壓(ya)儀(yi)
• 永(yong)磁軟磁磁(ci)通量(liang)測(ce)試(shi)
• 汽車(che)電(dian)子(zi)標(biao)準波形可編(bian)程電(dian)源(yuan)
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德(de)維創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率分析儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采集儀(yi)記(ji)錄儀(yi)
• ARC電(dian)池(chi)絕(jue)熱量(liang)熱儀(yi)/熱安(an)全(quan)性能