愛斯(si)佩克(ke)ESPEC高低(di)溫(wen)濕(shi)熱(re)試(shi)驗(yan)箱(xiang)規(gui)格(ge)選(xuan)型(xing)，說明書，指標參數

產(chan)品(pin)分類

• 氫檢(jian)儀氣密(mi)性檢(jian)漏檢(jian)測儀
• 國產源表，替(ti)代(dai)keithley
  • > 替(ti)代(dai)進口(kou)功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 替(ti)代(dai)進口(kou)電(dian)源
  • > 替(ti)代(dai)進口(kou)環(huan)境(jing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 國產替(ti)代(dai)進口(kou)射頻儀(yi)器(qi)
  • > 替(ti)代(dai)進口(kou)高阻(zu)表
  • > 電(dian)池測(ce)試儀器
  • > 電(dian)池絕(jue)緣電(dian)阻(zu)替(ti)代(dai)HIOKI
  • > SMU源表(biao)替(ti)代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬用表/信(xin)號(hao)源替(ti)代(dai)是德
• 體積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)/表(biao)面電(dian)阻(zu)測試(shi)
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗分析儀(yi)
  • > 電(dian)橋LCR
• 半(ban)導體I-V/C-V/I-R測(ce)試
• 介(jie)電(dian)常數/電(dian)導率(lv)測(ce)試方(fang)案(an)
• 大(da)眾(zhong)VW80000/通(tong)用GMW3172/ISO16750標準測試(shi)
  • > 微(wei)中斷(duan)
• 電(dian)化學工作(zuo)站(zhan)/恒(heng)電(dian)位儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池/光(guang)伏(fu)/汽車充電(dian)樁(zhuang)測試(shi)
• DESCO/KLEINWACHTER靜電(dian)測試(shi)
  • > 靜電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重錘(chui)表面靜電(dian)電(dian)阻(zu)/電(dian)阻(zu)率(lv)
  • > 靜(jing)電(dian)場/靜電(dian)消(xiao)散/離子(zi)平衡
  • > 離子(zi)風(feng)機(ji)/無(wu)風(feng)型(xing)靜電(dian)消(xiao)除(chu)器(qi)
  • > 手(shou)腕帶(dai)防(fang)靜(jing)電(dian)工鞋人體(ti)綜(zong)合(he)測試(shi)儀
  • > MENDA防靜(jing)電(dian)吹(chui)吸(xi)塵(chen)器/抽(chou)煙機(ji)
  • > EMIT工(gong)位接地電(dian)阻(zu)監(jian)測(ce)儀
  • > 平板測試儀(yi)/離子(zi)風(feng)機(ji)測(ce)試(shi)儀(yi)/靜電(dian)監(jian)測(ce)器
  • > 靜(jing)電(dian)電(dian)荷庫倫(lun)電(dian)量/衰減
• 體積(ji)電(dian)阻(zu)，電(dian)阻(zu)計，記(ji)錄儀(yi)
  • > 高阻(zu)表/高阻(zu)計
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣漏(lou)電(dian)流測(ce)試儀
  • > LCR電(dian)橋/阻(zu)抗分析儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 萬用表/多(duo)用表
  • > 電(dian)能(neng)質量分(fen)析儀(yi)
  • > 電(dian)池測(ce)試儀
  • > 數據(ju)采集(ji)記(ji)錄儀(yi)
  • > 微(wei)電(dian)阻(zu)計/微(wei)歐姆計(ji)
• 吉時利(li)KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
  • > 半導體圖(tu)示(shi)儀(yi)
  • > 示(shi)波器
  • > 皮安表(biao)
  • > 數據(ju)采集(ji)/開關(guan)矩陣(zhen)
  • > 高阻(zu)表/靜(jing)電(dian)計
  • > 源(yuan)表
  • > 電(dian)源
  • > 萬(wan)用表
  • > 函(han)數信(xin)號(hao)發生(sheng)器(qi)
• 安(an)捷(jie)倫Agilent/是(shi)德KEYSIGHT
  • > 移(yi)動(dong)通(tong)信(xin)專(zhuan)用電(dian)源，帶(dai)電(dian)池仿(fang)真(zhen)
  • > 射頻RF/脈沖(chong)碼型(xing)發生(sheng)器
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/交(jiao)流電(dian)源
  • > 萬(wan)用表
  • > 示(shi)波(bo)器(qi)
  • > 手(shou)持(chi)式(shi)示波表/手持式(shi)小(xiao)表
  • > 函(han)數信(xin)號(hao)發生(sheng)器(qi)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 數據(ju)采集(ji)儀(yi)
  • > 源(yuan)表(biao)/高阻(zu)表/皮(pi)安表微(wei)安計(ji)
  • > 頻率(lv)計(ji)/頻譜(pu)儀/網(wang)絡分(fen)析儀(yi)
• 愛斯(si)佩克(ke)ESPEC環境(jing)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 穩(wen)定(ding)性試驗(yan)箱(xiang)
  • > 小(xiao)型(xing)恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 快速(su)溫(wen)度(du)變化濕(shi)熱(re)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 溫(wen)度(du)/結(jie)露(lu)循環試驗(yan)箱(xiang)
  • > 冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 烘箱(xiang)/幹(gan)燥箱(xiang)/高溫(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 高低(di)溫(wen)濕(shi)熱(re)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 鹽(yan)霧腐蝕試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 步(bu)進(jin)式(shi)恒(heng)溫老化試驗(yan)室(shi)
  • > 高低(di)溫(wen)濕(shi)振動復合(he)試驗(yan)箱(xiang)
  • > 高壓(ya)加速老(lao)化試驗(yan)箱(xiang)
  • > IP砂(sha)塵(chen)防水(shui)淋雨(yu)試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 快速(su)除(chu)濕(shi)設備(bei)/除(chu)濕(shi)櫃(gui)/惰性氮氣防(fang)潮(chao)櫃(gui)
• 普源(yuan)RIGOL/致遠(yuan)ZLG/鼎陽(yang)SIGLENT
  • > 手(shou)持(chi)式(shi)示波表
  • > 射頻微(wei)波網(wang)絡分(fen)析儀(yi)
  • > 可編程(cheng)直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 射頻信(xin)號(hao)源
  • > 數據(ju)采集(ji)儀(yi)
  • > 功(gong)率(lv)計(ji)/功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 示波(bo)器(qi)
  • > 萬(wan)用表
  • > 直(zhi)流(liu)穩(wen)壓(ya)電(dian)源
  • > 頻譜(pu)分析儀(yi)
  • > 函(han)數信(xin)號(hao)發生(sheng)器(qi)
• Chroma致茂/EEC華(hua)儀(yi)EXTECH
  • > 電(dian)源自(zi)動(dong)測試系(xi)統
  • > 光照(zhao)度(du)/亮色(se)度(du)測(ce)試(shi)
  • > 電(dian)參數測量功(gong)率(lv)計(ji)
  • > LCR電(dian)橋
  • > 其(qi)他(ta)測試(shi)儀(yi)器(qi)
  • > 交流電(dian)源
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣/泄(xie)漏(lou)電(dian)流/接地
  • > 電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 邏(luo)輯分(fen)析儀(yi)/總線(xian)協(xie)議(yi)測(ce)試(shi)
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議(yi)分(fen)析
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻總(zong)線(xian)協(xie)議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總(zong)線(xian)協(xie)議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總(zong)線(xian)測試
  • > 其他(ta)虛(xu)擬示波(bo)器/協(xie)議(yi)解(jie)碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁幹(gan)擾兼容
  • > 汽車設(she)備(bei)電(dian)源故(gu)障模(mo)擬器
  • > 拋負載(zai)
  • > 電(dian)纜束(shu)註(zhu)入(ru)敏(min)感度測(ce)試(shi)系(xi)統
  • > 寬(kuan)帶(dai)功(gong)率(lv)放大(da)器(qi)
  • > 汽車電(dian)子(zi)電(dian)磁兼容EMC/波(bo)形
  • > 耦合(he)去耦合(he)
  • > 諧波(bo)和閃爍(shuo)
  • > 射頻傳導抗擾度測(ce)試系(xi)統
  • > 阻(zu)尼振蕩磁(ci)場測試系(xi)統
  • > 振鈴波(bo)發(fa)生器
  • > 電(dian)壓(ya)跌落模擬器
  • > 電(dian)快速(su)瞬(shun)變脈沖(chong)群(qun)發生器(qi)
  • > 耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測試(shi)儀
  • > 絕(jue)緣電(dian)阻(zu)測試(shi)儀
  • > 安規(gui)綜(zong)合(he)測試(shi)儀
  • > AC/DC交直(zhi)流(liu)耐(nai)壓(ya)測試儀(yi)
  • > 泄(xie)漏電(dian)流測(ce)試儀
  • > 雷(lei)擊(ji)浪(lang)湧(yong)/EMC電(dian)磁兼容測(ce)試
  • > 接地導通電(dian)阻(zu)測試(shi)儀
  • > ESD靜電(dian)放電(dian)發生(sheng)器
  • > 安規(gui)綜(zong)合(he)校準(zhun)盒(he)
• 愛色(se)麗(li)X-Rite/電(dian)色(se)NIPPON
  • > 標準光源(yuan)/對(dui)色(se)燈(deng)箱(xiang)
  • > 色(se)差儀/測(ce)色(se)儀(yi)/分(fen)光(guang)光(guang)度計
• 梅特勒METTLER
  • > 熱(re)機(ji)械(xie)分(fen)析儀(yi)
  • > 分析天(tian)平
• 物料輪(lun)廓顏(yan)色(se)缺(que)料(liao)視覺篩(shai)選(xuan)
• 博(bo)勒飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變儀
  • > 粘度計(ji)
  • > 質構分(fen)析儀(yi)
  • > 粉體流(liu)動測(ce)試儀
  • > 恒(heng)溫水(shui)浴(yu)
  • > 粘度標準液(ye)/矽(gui)油標準液(ye)
  • > 水(shui)分、固含(han)量(liang)、灰分測(ce)定(ding)儀(yi)
• 賓德BINDER試(shi)驗(yan)箱(xiang)
  • > 二氧化碳CO₂培養箱(xiang)
  • > 高低(di)溫(wen)交變氣候(hou)箱(xiang)
  • > 微(wei)生物培養箱(xiang)
  • > 真(zhen)空(kong)幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 安(an)全(quan)幹(gan)燥箱(xiang)
  • > 幹(gan)燥箱(xiang)和(he)烘箱(xiang)
  • > 生(sheng)物生長(chang)箱(xiang)
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)箱
  • > 超(chao)低溫冰(bing)箱(xiang)
• 金(jin)相(xiang)切割/鑲嵌/研(yan)磨(mo)拋光
  • > 冷/熱(re)鑲(xiang)嵌機(ji)
  • > 磨(mo)拋機(ji)/研(yan)磨(mo)機(ji)
  • > 金(jin)相(xiang)耗材(cai)
  • > 電(dian)子(zi)天平/顯微(wei)鏡
• 紅外熱(re)像(xiang)儀
• 美(mei)國BK PRECISION
  • > 信(xin)號(hao)源等(deng)儀(yi)器(qi)
  • > 電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 示波器
  • > LCR電(dian)橋
  • > 萬(wan)用表
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式(shi)數字萬用表
  • > I-V曲(qu)線(xian)測試系(xi)統
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源/恒(heng)流電(dian)流源(yuan)
  • > 高阻(zu)表/體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試儀
  • > 光(guang)功(gong)率(lv)計(ji)/光波長(chang)計(ji)
• COSMOS氣(qi)體/鐵粉濃度(du)計
• ITECH艾(ai)德克(ke)斯(si)/NGI恩(en)智
  • > LED測(ce)試專(zhuan)用電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 回(hui)饋(kui)式(shi)電(dian)網(wang)模擬器交(jiao)流電(dian)源
  • > 可編程(cheng)三路直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 雙(shuang)向電(dian)源和(he)回(hui)饋(kui)式(shi)負載
  • > 新能(neng)源(yuan)汽車/電(dian)池/充電(dian)樁(zhuang)測試(shi)系(xi)統
  • > 可編程(cheng)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 小(xiao)功(gong)率(lv)電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源和(he)電(dian)子(zi)負載(zai)壹(yi)體的機(ji)器(qi)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 能(neng)量(liang)回(hui)饋(kui)式(shi)直(zhi)流(liu)電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > AC交流電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率(lv)直(zhi)流(liu)電(dian)源
  • > 新能(neng)源(yuan)汽車/電(dian)池/充電(dian)樁(zhuang)
  • > 雙極(ji)性電(dian)源
  • > AC交(jiao)流電(dian)源
  • > 直(zhi)流(liu)電(dian)源
• 羅德與(yu)施(shi)瓦茨(ci)R&S（惠美(mei)HAMEG）
• 同(tong)惠/長盛(sheng)/安柏(bai)
  • > 半(ban)導體參(can)數分析儀(yi)
  • > 揚聲器喇(la)叭電(dian)機(ji)馬(ma)達測試
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)/電(dian)參數測試儀(yi)
  • > 皮(pi)安表(biao)/高阻(zu)計/靜(jing)電(dian)計
  • > 直(zhi)流(liu)低(di)電(dian)阻(zu)，微(wei)歐姆計(ji)
  • > 交流低電(dian)阻(zu)，電(dian)池測(ce)試儀
  • > 線(xian)材(cai)，線(xian)纜，線(xian)束測試儀
  • > 脈沖(chong)線(xian)圈測試儀
  • > 電(dian)感測試(shi)儀(yi)
  • > 電(dian)容測(ce)試儀
  • > 溫度采集(ji)記(ji)錄儀(yi)
  • > LCR電(dian)橋阻(zu)抗分析儀(yi)
  • > 高阻(zu)測試(shi)
  • > 安規(gui)接地電(dian)阻(zu)/漏電(dian)流
  • > 安(an)規(gui)耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣
• 標準源/計(ji)量校準檢(jian)定(ding)設(she)備(bei)
• 晶圓(yuan)、芯(xin)片(pian)、屏幕Particle
• 日置(zhi)HIOKI/國產替(ti)代(dai)
• 鎖相(xiang)放大(da)器(qi)
• 噪(zao)聲/振動/聲學測(ce)試(shi)方(fang)案(an)
• 日本(ben)KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲器件(jian)測(ce)試設備(bei)
• 長(chang)盛(sheng)耐壓(ya)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)安規(gui)測(ce)試(shi)
  • > 200mA大(da)電(dian)流耐(nai)壓(ya)儀
• 永磁軟(ruan)磁(ci)磁(ci)通(tong)量測(ce)試
• 汽車電(dian)子(zi)標準波形(xing)可編程(cheng)電(dian)源
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德維(wei)創DEWETRON
  • > 功(gong)率(lv)分(fen)析儀(yi)
  • > 數據(ju)采集(ji)儀(yi)記(ji)錄儀(yi)
• ARC電(dian)池絕(jue)熱(re)量(liang)熱(re)儀(yi)/熱(re)安(an)全性能(neng)