USB2.0測試分析(xi)儀規格書

產(chan)品(pin)分類(lei)

• 氫(qing)檢儀氣(qi)密性檢漏(lou)檢測(ce)儀
• 國(guo)產(chan)源表(biao)，替(ti)代(dai)keithley
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)功(gong)率分析(xi)儀
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)電(dian)源
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)環(huan)境(jing)試驗(yan)箱
  • > 國(guo)產(chan)替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)射(she)頻儀器
  • > 替(ti)代(dai)進(jin)口(kou)高阻表(biao)
  • > 電(dian)池測試儀器
  • > 電(dian)池絕緣電(dian)阻替(ti)代(dai)HIOKI
  • > SMU源表(biao)替(ti)代(dai)KEITHLEY2400
  • > 萬用表(biao)/信(xin)號(hao)源替(ti)代(dai)是(shi)德
• 體(ti)積電(dian)阻率/表(biao)面(mian)電(dian)阻測試
• 穩(wen)科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻(zu)抗分析(xi)儀
  • > 電(dian)橋LCR
• 半(ban)導體(ti)I-V/C-V/I-R測試
• 介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)/電(dian)導率測(ce)試方(fang)案
• 大(da)眾(zhong)VW80000/通(tong)用GMW3172/ISO16750標(biao)準(zhun)測(ce)試
  • > 微(wei)中斷(duan)
• 電(dian)化學工作站/恒電(dian)位儀
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(ce)試
• 電(dian)池/光伏/汽(qi)車充(chong)電(dian)樁測試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電(dian)測試
  • > 靜(jing)電(dian)CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘(chui)表(biao)面(mian)靜(jing)電(dian)電(dian)阻/電(dian)阻率
  • > 靜(jing)電(dian)場/靜(jing)電(dian)消散/離(li)子(zi)平衡(heng)
  • > 離(li)子(zi)風機(ji)/無(wu)風型靜(jing)電(dian)消除器
  • > 手腕帶(dai)防靜(jing)電(dian)工鞋(xie)人(ren)體(ti)綜合(he)測(ce)試儀
  • > MENDA防靜(jing)電(dian)吹吸塵(chen)器/抽煙(yan)機(ji)
  • > EMIT工位接(jie)地電(dian)阻監(jian)測儀
  • > 平板測(ce)試儀/離(li)子(zi)風機(ji)測試儀/靜(jing)電(dian)監(jian)測器
  • > 靜(jing)電(dian)電(dian)荷(he)庫(ku)倫(lun)電(dian)量(liang)/衰(shuai)減
• 體(ti)積電(dian)阻，電(dian)阻計，記(ji)錄儀
  • > 高阻表(biao)/高(gao)阻(zu)計
  • > 耐壓(ya)絕緣漏(lou)電(dian)流測試儀
  • > LCR電(dian)橋/阻抗分析(xi)儀
  • > 功(gong)率計/功(gong)率分析(xi)儀
  • > 萬用表(biao)/多(duo)用(yong)表(biao)
  • > 電(dian)能(neng)質量(liang)分析(xi)儀
  • > 電(dian)池測試儀
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集記(ji)錄儀
  • > 微電(dian)阻計/微歐姆(mu)計
• 吉時利(li)KEITHLEY/泰克Tektronix
  • > 半(ban)導體(ti)圖示(shi)儀
  • > 示波器
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集/開關矩陣
  • > 高阻表(biao)/靜(jing)電(dian)計
  • > 源表(biao)
  • > 電(dian)源
  • > 萬用表(biao)
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號(hao)發生(sheng)器
• 安捷倫Agilent/是(shi)德KEYSIGHT
  • > 移動通(tong)信專用電(dian)源，帶(dai)電(dian)池仿真(zhen)
  • > 射(she)頻RF/脈沖碼型發生(sheng)器
  • > 直流電(dian)源/交流電(dian)源
  • > 萬用表(biao)
  • > 示(shi)波(bo)器
  • > 手持(chi)式示(shi)波(bo)表(biao)/手(shou)持(chi)式小表(biao)
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號(hao)發生(sheng)器
  • > LCR電(dian)橋
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀
  • > 源表(biao)/高(gao)阻(zu)表(biao)/皮(pi)安(an)表(biao)微(wei)安(an)計
  • > 頻率計/頻譜儀/網絡分析(xi)儀
• 愛(ai)斯(si)佩(pei)克ESPEC環(huan)境(jing)試驗(yan)箱
  • > 穩(wen)定性試驗(yan)箱
  • > 小型恒溫恒濕試驗(yan)箱
  • > 快(kuai)速溫度變化濕熱試驗(yan)箱
  • > 溫(wen)度(du)/結露循環(huan)試驗(yan)箱
  • > 冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱
  • > 烘(hong)箱(xiang)/幹(gan)燥箱/高(gao)溫試驗(yan)箱
  • > 高(gao)低溫濕熱試驗(yan)箱
  • > 恒溫恒濕試驗(yan)箱
  • > 鹽(yan)霧腐(fu)蝕試驗(yan)箱
  • > 步(bu)進(jin)式(shi)恒溫老(lao)化試驗(yan)室
  • > 高低溫濕振動復合(he)試驗(yan)箱
  • > 高(gao)壓(ya)加速(su)老(lao)化(hua)試驗(yan)箱
  • > IP砂(sha)塵(chen)防(fang)水(shui)淋(lin)雨試驗(yan)箱
  • > 快(kuai)速除濕設(she)備/除(chu)濕櫃/惰性氮氣(qi)防(fang)潮(chao)櫃(gui)
• 普(pu)源RIGOL/致遠ZLG/鼎(ding)陽SIGLENT
  • > 手(shou)持(chi)式示(shi)波(bo)表(biao)
  • > 射(she)頻微波(bo)網絡(luo)分析(xi)儀
  • > 可編程直流電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 射(she)頻信號(hao)源
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀
  • > 功(gong)率計/功(gong)率分析(xi)儀
  • > 示波器
  • > 萬用表(biao)
  • > 直流穩(wen)壓(ya)電(dian)源
  • > 頻譜分析(xi)儀
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號(hao)發生(sheng)器
• Chroma致茂/EEC華(hua)儀EXTECH
  • > 電(dian)源自動測試系(xi)統
  • > 光(guang)照度/亮(liang)色(se)度測(ce)試
  • > 電(dian)參數(shu)測(ce)量(liang)功(gong)率計
  • > LCR電(dian)橋
  • > 其他測(ce)試儀器
  • > 交流電(dian)源
  • > 耐壓(ya)絕緣/泄(xie)漏電(dian)流/接(jie)地
  • > 電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 直流電(dian)源
• 邏(luo)輯(ji)分析(xi)儀/總線協(xie)議測試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議分析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音頻總線(xian)協議
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線協議
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線測試
  • > 其他虛(xu)擬(ni)示波(bo)器/協議解(jie)碼(ma)
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)兼容
  • > 汽(qi)車設(she)備電(dian)源故障(zhang)模擬(ni)器
  • > 拋(pao)負載(zai)
  • > 電(dian)纜束(shu)註(zhu)入敏感度(du)測試系(xi)統
  • > 寬(kuan)帶(dai)功(gong)率放(fang)大(da)器
  • > 汽(qi)車電(dian)子(zi)電(dian)磁(ci)兼容EMC/波形(xing)
  • > 耦(ou)合去耦(ou)合
  • > 諧(xie)波(bo)和(he)閃(shan)爍
  • > 射(she)頻傳(chuan)導抗擾(rao)度測試系(xi)統
  • > 阻(zu)尼(ni)振蕩(dang)磁(ci)場(chang)測(ce)試系(xi)統
  • > 振鈴(ling)波發生(sheng)器
  • > 電(dian)壓(ya)跌落模擬(ni)器
  • > 電(dian)快(kuai)速瞬變脈沖群發生(sheng)器
  • > 耐壓(ya)絕緣電(dian)阻測試儀
  • > 絕緣電(dian)阻測試儀
  • > 安規綜(zong)合測試儀
  • > AC/DC交直流耐壓(ya)測試儀
  • > 泄漏電(dian)流測試儀
  • > 雷擊(ji)浪(lang)湧/EMC電(dian)磁(ci)兼容測試
  • > 接(jie)地導通(tong)電(dian)阻測試儀
  • > ESD靜(jing)電(dian)放電(dian)發生(sheng)器
  • > 安規綜合校準(zhun)盒(he)
• 愛色(se)麗X-Rite/電(dian)色(se)NIPPON
  • > 標準(zhun)光(guang)源/對色(se)燈箱(xiang)
  • > 色(se)差(cha)儀/測色(se)儀/分光光(guang)度計
• 梅特勒(le)METTLER
  • > 熱機(ji)械分析(xi)儀
  • > 分析(xi)天平
• 物(wu)料輪(lun)廓(kuo)顏色(se)缺料視(shi)覺(jiao)篩選
• 博(bo)勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流變儀
  • > 粘度(du)計
  • > 質構分析(xi)儀
  • > 粉體(ti)流動測試儀
  • > 恒溫水(shui)浴
  • > 粘度(du)標準(zhun)液/矽(gui)油(you)標準(zhun)液
  • > 水(shui)分、固(gu)含(han)量(liang)、灰分測定(ding)儀
• 賓(bin)德(de)BINDER試驗(yan)箱
  • > 二(er)氧(yang)化(hua)碳CO₂培養箱
  • > 高低溫交變(bian)氣(qi)候(hou)箱(xiang)
  • > 微(wei)生(sheng)物培(pei)養箱
  • > 真(zhen)空幹(gan)燥箱
  • > 安(an)全幹(gan)燥箱
  • > 幹(gan)燥箱和(he)烘(hong)箱
  • > 生(sheng)物生(sheng)長箱
  • > 恒溫恒濕箱
  • > 超低溫冰(bing)箱(xiang)
• 金相(xiang)切(qie)割/鑲嵌(qian)/研磨(mo)拋(pao)光
  • > 冷(leng)/熱鑲嵌(qian)機(ji)
  • > 磨拋(pao)機/研磨(mo)機(ji)
  • > 金相(xiang)耗材(cai)
  • > 電(dian)子(zi)天平(ping)/顯(xian)微鏡
• 紅外(wai)熱像(xiang)儀
• 美國(guo)BK PRECISION
  • > 信號(hao)源等儀器
  • > 電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 示(shi)波(bo)器
  • > LCR電(dian)橋
  • > 萬用表(biao)
  • > 電(dian)源
• ADCMT愛德(de)萬ADVANTEST
  • > 臺式(shi)數(shu)字(zi)萬用表(biao)
  • > I-V曲線(xian)測(ce)試系(xi)統
  • > 直流電(dian)源/恒流電(dian)流源
  • > 高阻(zu)表(biao)/體(ti)積電(dian)阻率測試儀
  • > 光功(gong)率計/光波(bo)長計
• COSMOS氣(qi)體(ti)/鐵粉濃(nong)度(du)計
• ITECH艾(ai)德(de)克斯(si)/NGI恩智(zhi)
  • > LED測(ce)試專用電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 直流電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 回饋式(shi)電(dian)網模擬(ni)器交流電(dian)源
  • > 可編程三(san)路(lu)直流電(dian)源
  • > 雙向(xiang)電(dian)源和(he)回饋式(shi)負載(zai)
  • > 新(xin)能(neng)源汽(qi)車/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁測試系(xi)統
  • > 可編程直流電(dian)源
  • > 小功(gong)率電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率直流電(dian)源和(he)電(dian)子(zi)負載(zai)壹(yi)體(ti)的(de)機(ji)器
  • > 大(da)功(gong)率電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 能(neng)量(liang)回饋式(shi)直流電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > AC交流電(dian)子(zi)負載(zai)
  • > 大(da)功(gong)率直流電(dian)源
  • > 新(xin)能(neng)源汽(qi)車/電(dian)池/充(chong)電(dian)樁
  • > 雙極(ji)性電(dian)源
  • > AC交流電(dian)源
  • > 直流電(dian)源
• 羅(luo)德(de)與(yu)施(shi)瓦茨(ci)R&S（惠美HAMEG）
• 同惠/長盛/安(an)柏(bai)
  • > 半(ban)導體(ti)參數(shu)分析(xi)儀
  • > 揚聲器喇叭電(dian)機馬(ma)達測(ce)試
  • > 功(gong)率分析(xi)儀/電(dian)參數(shu)測(ce)試儀
  • > 皮(pi)安(an)表(biao)/高(gao)阻(zu)計/靜(jing)電(dian)計
  • > 直流低電(dian)阻，微歐姆(mu)計
  • > 交流低電(dian)阻，電(dian)池測試儀
  • > 線材(cai)，線纜，線束(shu)測(ce)試儀
  • > 脈沖線圈測試儀
  • > 電(dian)感測試儀
  • > 電(dian)容測試儀
  • > 溫度采(cai)集記(ji)錄儀
  • > LCR電(dian)橋阻抗分析(xi)儀
  • > 高阻測(ce)試
  • > 安(an)規接(jie)地電(dian)阻/漏電(dian)流
  • > 安規(gui)耐壓(ya)絕緣
• 標(biao)準(zhun)源/計量(liang)校準(zhun)檢(jian)定(ding)設(she)備
• 晶圓(yuan)、芯片(pian)、屏幕(mu)Particle
• 日置(zhi)HIOKI/國(guo)產(chan)替(ti)代(dai)
• 鎖相放大(da)器
• 噪(zao)聲/振動/聲學(xue)測試方(fang)案
• 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲器件測試設(she)備
• 長盛耐壓(ya)絕緣電(dian)阻安規測試
  • > 200mA大(da)電(dian)流耐壓(ya)儀
• 永(yong)磁(ci)軟(ruan)磁(ci)磁(ci)通(tong)量(liang)測試
• 汽(qi)車電(dian)子(zi)標準(zhun)波(bo)形(xing)可編程電(dian)源
• SHIMAZU島(dao)津
• 德維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功(gong)率分析(xi)儀
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀記(ji)錄儀
• ARC電(dian)池絕熱量(liang)熱儀/熱安(an)全(quan)性能(neng)