安(an)捷(jie)倫(lun)Agilent 34970A，34972A數(shu)據(ju)采(cai)集用(yong)戶手冊(ce)

產(chan)品分(fen)類(lei)

• 氫檢儀(yi)氣密(mi)性檢(jian)漏檢測儀(yi)
• 國產源表，替(ti)代keithley
  • > 替(ti)代進(jin)口功率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 替代進(jin)口電源
  • > 替代進(jin)口環(huan)境試驗箱
  • > 國產替代進(jin)口射頻(pin)儀(yi)器
  • > 替代進(jin)口高阻表
  • > 電池測試儀(yi)器
  • > 電池絕緣電阻(zu)替(ti)代HIOKI
  • > SMU源(yuan)表替代KEITHLEY2400
  • > 萬(wan)用(yong)表/信(xin)號源替代是(shi)德
• 體積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)/表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)測試
• 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
  • > 阻抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 電橋LCR
• 半導(dao)體(ti)I-V/C-V/I-R測試
• 介電常(chang)數(shu)/電(dian)導(dao)率(lv)測試方案(an)
• 大眾VW80000/通(tong)用(yong)GMW3172/ISO16750標(biao)準測試
  • > 微(wei)中(zhong)斷(duan)
• 電化(hua)學工(gong)作站/恒(heng)電(dian)位儀(yi)
• IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
• 電池/光(guang)伏/汽(qi)車充電(dian)樁測試
• DESCO/KLEINWACHTER靜(jing)電測試
  • > 靜(jing)電CDM/HBM/MM
  • > 重(zhong)錘(chui)表(biao)面(mian)靜(jing)電電(dian)阻/電阻率(lv)
  • > 靜(jing)電場(chang)/靜(jing)電消散(san)/離(li)子(zi)平(ping)衡(heng)
  • > 離子(zi)風(feng)機(ji)/無風型(xing)靜(jing)電消除器(qi)
  • > 手腕帶(dai)防靜(jing)電工(gong)鞋人體(ti)綜合測試儀(yi)
  • > MENDA防靜(jing)電吹(chui)吸(xi)塵(chen)器(qi)/抽煙(yan)機(ji)
  • > EMIT工(gong)位接地(di)電(dian)阻(zu)監(jian)測儀(yi)
  • > 平板(ban)測試儀(yi)/離子(zi)風(feng)機(ji)測試儀(yi)/靜(jing)電監(jian)測器
  • > 靜(jing)電電(dian)荷庫(ku)倫(lun)電量(liang)/衰減
• 體積(ji)電(dian)阻(zu)，電阻計，記(ji)錄儀(yi)
  • > 高阻表(biao)/高(gao)阻計
  • > 耐壓(ya)絕(jue)緣漏電(dian)流(liu)測試儀(yi)
  • > LCR電橋/阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 功率(lv)計/功率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 萬(wan)用(yong)表/多用(yong)表
  • > 電(dian)能(neng)質量(liang)分析(xi)儀(yi)
  • > 電池測試儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集記(ji)錄儀(yi)
  • > 微(wei)電阻(zu)計/微(wei)歐姆(mu)計
• 吉(ji)時(shi)利KEITHLEY/泰(tai)克(ke)Tektronix
  • > 半導(dao)體(ti)圖示儀(yi)
  • > 示波器
  • > 皮(pi)安(an)表
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集/開關(guan)矩陣(zhen)
  • > 高阻(zu)表/靜(jing)電計
  • > 源表
  • > 電(dian)源(yuan)
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號發生器
• 安(an)捷(jie)倫(lun)Agilent/是德KEYSIGHT
  • > 移(yi)動通(tong)信專(zhuan)用(yong)電源(yuan)，帶(dai)電(dian)池仿真
  • > 射頻(pin)RF/脈沖(chong)碼型(xing)發(fa)生器(qi)
  • > 直流(liu)電(dian)源/交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 示波器
  • > 手持式(shi)示波表/手持式(shi)小表(biao)
  • > 函(han)數(shu)信(xin)號發生器
  • > LCR電(dian)橋(qiao)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀(yi)
  • > 源表/高(gao)阻(zu)表/皮(pi)安(an)表微(wei)安(an)計
  • > 頻(pin)率(lv)計/頻(pin)譜(pu)儀(yi)/網絡分析儀(yi)
• 愛斯(si)佩(pei)克(ke)ESPEC環(huan)境試驗箱
  • > 穩定性試驗箱
  • > 小型(xing)恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試驗箱
  • > 快(kuai)速(su)溫度變(bian)化(hua)濕熱試驗箱
  • > 溫度/結(jie)露(lu)循環(huan)試驗箱
  • > 冷熱沖(chong)擊(ji)試驗箱
  • > 烘箱/幹燥箱/高溫試驗箱
  • > 高低溫濕熱試驗箱
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試驗箱
  • > 鹽(yan)霧(wu)腐蝕(shi)試驗箱
  • > 步進式恒(heng)溫老(lao)化(hua)試驗室(shi)
  • > 高(gao)低溫濕振動復(fu)合試驗箱
  • > 高壓(ya)加(jia)速(su)老(lao)化(hua)試驗箱
  • > IP砂(sha)塵(chen)防水淋雨(yu)試驗箱
  • > 快(kuai)速(su)除濕(shi)設(she)備/除濕(shi)櫃/惰性氮(dan)氣防潮櫃
• 普源RIGOL/致(zhi)遠ZLG/鼎(ding)陽(yang)SIGLENT
  • > 手持式(shi)示波表
  • > 射頻(pin)微(wei)波網絡分析儀(yi)
  • > 可編(bian)程直流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 射(she)頻(pin)信號源
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀(yi)
  • > 功率(lv)計/功率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 示波器
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 直流(liu)穩(wen)壓(ya)電(dian)源(yuan)
  • > 頻(pin)譜(pu)分析(xi)儀(yi)
  • > 函數(shu)信(xin)號發生器
• Chroma致茂/EEC華儀(yi)EXTECH
  • > 電源自(zi)動(dong)測試系統
  • > 光(guang)照(zhao)度(du)/亮色度(du)測試
  • > 電參(can)數(shu)測量功率(lv)計
  • > LCR電橋
  • > 其(qi)他(ta)測試儀(yi)器
  • > 交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 耐壓(ya)絕(jue)緣/泄漏(lou)電(dian)流(liu)/接地(di)
  • > 電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)源
• 邏(luo)輯分(fen)析儀(yi)/總線(xian)協(xie)議(yi)測試
  • > RGMII，RMII，SGMII
  • > USB3.0/USB2.0協(xie)議(yi)分(fen)析(xi)
  • > DP AUX，Soundwire音(yin)頻(pin)總線(xian)協(xie)議(yi)
  • > USB、UART（RS232/485）
  • > I²C、I²S、SPI總線(xian)協(xie)議(yi)
  • > CAN、LIN、Flexray、MVB/WTB
  • > SD3.0、eMMC5.1總線(xian)測試
  • > 其他(ta)虛(xu)擬(ni)示波器/協(xie)議(yi)解碼
• EMI/EMC/EMS電(dian)磁(ci)幹擾兼容
  • > 汽(qi)車設(she)備(bei)電源故障(zhang)模擬(ni)器(qi)
  • > 拋(pao)負(fu)載(zai)
  • > 電(dian)纜(lan)束(shu)註入(ru)敏(min)感(gan)度(du)測試系統
  • > 寬帶(dai)功率(lv)放(fang)大器
  • > 汽(qi)車電(dian)子(zi)電(dian)磁兼容EMC/波形
  • > 耦合去耦合
  • > 諧波和閃爍(shuo)
  • > 射頻(pin)傳(chuan)導(dao)抗擾度測試系統
  • > 阻尼振蕩(dang)磁場(chang)測試系統
  • > 振鈴(ling)波發生器(qi)
  • > 電(dian)壓(ya)跌落模擬(ni)器(qi)
  • > 電快(kuai)速(su)瞬(shun)變(bian)脈沖(chong)群(qun)發生(sheng)器
  • > 耐壓(ya)絕(jue)緣電阻(zu)測試儀(yi)
  • > 絕緣電阻(zu)測試儀(yi)
  • > 安(an)規綜(zong)合測試儀(yi)
  • > AC/DC交(jiao)直流(liu)耐壓(ya)測試儀(yi)
  • > 泄漏電(dian)流(liu)測試儀(yi)
  • > 雷擊(ji)浪(lang)湧/EMC電磁(ci)兼容測試
  • > 接地(di)導(dao)通(tong)電阻(zu)測試儀(yi)
  • > ESD靜(jing)電放(fang)電發生器
  • > 安(an)規綜(zong)合校準盒(he)
• 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
  • > 標(biao)準光(guang)源(yuan)/對(dui)色燈(deng)箱
  • > 色差(cha)儀(yi)/測色儀(yi)/分光(guang)光(guang)度(du)計
• 梅(mei)特(te)勒(le)METTLER
  • > 熱機(ji)械分析(xi)儀(yi)
  • > 分析天平(ping)
• 物料(liao)輪(lun)廓(kuo)顏(yan)色缺料視(shi)覺(jiao)篩選
• 博(bo)勒(le)飛(fei)Brookfield
  • > 流(liu)變(bian)儀(yi)
  • > 粘度計
  • > 質構(gou)分析儀(yi)
  • > 粉體(ti)流(liu)動(dong)測試儀(yi)
  • > 恒(heng)溫水浴
  • > 粘(zhan)度標(biao)準液(ye)/矽(gui)油標(biao)準液(ye)
  • > 水分、固含量、灰分測定儀(yi)
• 賓德BINDER試驗箱
  • > 二(er)氧(yang)化(hua)碳CO₂培(pei)養箱
  • > 高低溫交(jiao)變氣候箱
  • > 微(wei)生物培(pei)養(yang)箱
  • > 真空幹(gan)燥箱
  • > 安(an)全(quan)幹(gan)燥箱
  • > 幹燥箱和烘箱
  • > 生物生(sheng)長(chang)箱
  • > 恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)箱
  • > 超(chao)低溫冰箱
• 金相(xiang)切(qie)割/鑲(xiang)嵌(qian)/研(yan)磨(mo)拋(pao)光(guang)
  • > 冷/熱鑲(xiang)嵌(qian)機(ji)
  • > 磨(mo)拋(pao)機(ji)/研(yan)磨(mo)機(ji)
  • > 金相(xiang)耗材
  • > 電子(zi)天平(ping)/顯微(wei)鏡
• 紅外(wai)熱像(xiang)儀(yi)
• 美國BK PRECISION
  • > 信號源等儀(yi)器
  • > 電子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 示波器
  • > LCR電橋(qiao)
  • > 萬(wan)用(yong)表
  • > 電(dian)源(yuan)
• ADCMT愛德萬(wan)ADVANTEST
  • > 臺(tai)式(shi)數(shu)字(zi)萬(wan)用(yong)表
  • > I-V曲(qu)線(xian)測試系統
  • > 直流(liu)電(dian)源/恒(heng)流(liu)電(dian)流(liu)源(yuan)
  • > 高阻表/體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測試儀(yi)
  • > 光(guang)功率(lv)計/光(guang)波長計
• COSMOS氣體(ti)/鐵粉濃(nong)度(du)計
• ITECH艾(ai)德克(ke)斯/NGI恩(en)智(zhi)
  • > LED測試專用(yong)電子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 直流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 回(hui)饋式電(dian)網(wang)模擬(ni)器(qi)交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 可編(bian)程三(san)路直流(liu)電(dian)源
  • > 雙向電(dian)源(yuan)和(he)回饋式負(fu)載(zai)
  • > 新(xin)能(neng)源汽(qi)車/電(dian)池/充電(dian)樁測試系統
  • > 可編(bian)程直流(liu)電(dian)源
  • > 小功率(lv)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 大功率(lv)直流(liu)電(dian)源和電子(zi)負(fu)載(zai)壹體的(de)機(ji)器
  • > 大功率(lv)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 能(neng)量回(hui)饋式直流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)
  • > 大功率(lv)直流(liu)電(dian)源
  • > 新能(neng)源汽(qi)車/電(dian)池/充電(dian)樁
  • > 雙極(ji)性電(dian)源
  • > AC交(jiao)流(liu)電(dian)源
  • > 直流(liu)電(dian)源
• 羅(luo)德與施瓦茨(ci)R&S（惠美HAMEG）
• 同惠/長(chang)盛/安(an)柏(bai)
  • > 半導(dao)體(ti)參(can)數(shu)分(fen)析儀(yi)
  • > 揚(yang)聲器喇叭電機(ji)馬達(da)測試
  • > 功率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)/電參(can)數(shu)測試儀(yi)
  • > 皮(pi)安(an)表/高(gao)阻(zu)計/靜(jing)電計
  • > 直流(liu)低(di)電阻，微(wei)歐姆(mu)計
  • > 交(jiao)流(liu)低(di)電阻，電池測試儀(yi)
  • > 線材，線纜，線(xian)束(shu)測試儀(yi)
  • > 脈沖(chong)線圈(quan)測試儀(yi)
  • > 電感(gan)測試儀(yi)
  • > 電容測試儀(yi)
  • > 溫度采(cai)集記(ji)錄儀(yi)
  • > LCR電橋阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 高阻測試
  • > 安(an)規接地(di)電(dian)阻(zu)/漏(lou)電流(liu)
  • > 安(an)規耐壓(ya)絕(jue)緣
• 標(biao)準源(yuan)/計量校準檢(jian)定設備
• 晶圓、芯(xin)片、屏(ping)幕Particle
• 日(ri)置HIOKI/國產替代
• 鎖相(xiang)放大器
• 噪(zao)聲(sheng)/振動/聲(sheng)學(xue)測試方案(an)
• 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
• 電(dian)聲(sheng)器件測試設備(bei)
• 長盛耐壓(ya)絕(jue)緣電阻(zu)安(an)規測試
  • > 200mA大電流(liu)耐壓(ya)儀(yi)
• 永磁軟(ruan)磁磁(ci)通(tong)量測試
• 汽(qi)車電(dian)子(zi)標(biao)準波形可編(bian)程電(dian)源(yuan)
• SHIMAZU島(dao)津(jin)
• 德維(wei)創(chuang)DEWETRON
  • > 功率(lv)分(fen)析(xi)儀(yi)
  • > 數(shu)據(ju)采(cai)集儀(yi)記(ji)錄儀(yi)
• ARC電池絕熱量熱儀(yi)/熱安(an)全(quan)性能(neng)